CN210243143U - 一种通用校靶镜校准装置 - Google Patents
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Abstract
一种通用校靶镜校准装置，属于计量校准技术领域。包括基座、放置待测校靶镜的支架、环形照明光源、准直光管、分划板和成像相机，支架置于基座一端，待测校靶镜安装于支架一侧，环形照明光源套置于待测校靶镜凸起端；准直光管与支架间隔设置，在准直光管1倍焦面处设有分划板，光线输出端设置成像相机，校靶镜和准直光管轴线同轴，光源经校靶镜平行进入准直光管，待测校靶镜提供的目标经准直光管成像在分划板上，通过成像相机获取分划板十字丝与准直光管分划板中心点的位置图像，根据图像微调，直到从捕获图像中看到清晰的十字丝为止，将校靶镜旋转180°，再通过成像相机获取两点之间的距离，得出偏移量，完成校准工作。提高了校准的准确性。
Description
技术领域
本实用新型属于计量校准技术领域，特别是涉及一种通用校靶镜校准装置。
背景技术
计量是实现单位统一、量值准确可靠的活动。它涉及整个测量领域，并按法律规定，对测量起着指导、监督、保证作用。校靶镜的使用在航天航空的军事演练和目标自动化识别方面起着关键性作用。传统的校靶镜结构，分划板经透镜组和物镜成像后与分划板相交，人眼通过目镜对分划板和的偏移量进行判读，以此检定校靶镜是否符合要求。目前还没有校靶镜校准的标准计量设备，大部分校靶镜只进行功能性检查，其光学参数的准确度无法得到精准测量。
实用新型内容
针对上述存在的技术问题，本实用新型提供一种通用校靶镜校准装置，实现对各个种类校靶镜的计量校准。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：
本实用新型一种通用校靶镜校准装置，包括基座、放置待测校靶镜的支架、环形照明光源、准直光管、分划板和成像相机，所述支架置于基座一端，待测校靶镜安装于支架一侧，环形照明光源套置于待测校靶镜凸起端；准直光管与安装待测校靶镜的支架间隔设置，在准直光管的光线输出端设置成像相机，在成像相机和准直光管间设置有分划板，所述分划板位于准直光管的1倍焦面处，所述待测校靶镜和准直光管轴线在同一直线上，光源从凸起镜头射入，经待测校靶镜内置反射镜平行射出，进入准直光管，待测校靶镜提供的目标经过准直光管成像在焦面的分划板上，通过成像相机获取待测校靶镜分划板十字丝交点与准直光管分划板中心点的位置图像，根据图像调节准直光管的准直微调机构，直到从成像相机捕获图像中看到清晰的两个分划板中心重合的十字丝为止；将校靶镜旋转180°，其余条件不变，再将两者的图像通过成像相机拍摄获取两点之间的距离，得出偏移量，完成校准工作。
优选地，所述支架截面为V型结构，其上设置安装待测校靶镜的标准套筒，所述标准套筒上设置有与其配合压紧的锁紧块，以锁紧待测校靶镜。
优选地，所述准直光管输出端设置的分划板为环形分划板。
优选地，所述环形照明光源的直径大于待测校靶镜直径加凸起端长度，以保证环形照明光源能将光线从校靶镜凸起端垂直射入。
优选地，所述待测校靶镜端部与准直光管间的距离L为10-15cm。
本实用新型的有益效果为：
本实用新型将被检校靶镜插入标准套筒，利用V型支架承载不同规格尺寸校靶镜，然后通过环形光源照明，待测校靶镜提供的目标经过平行光管成像在焦面的分划板上，采用CCD摄像系统获取校靶镜分划板十字丝与平行光管环形分划板位置图像，获取位置信息，得到偏移量，实现校准；提高了校准的准确性。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图。
图中：1.基座，2.支架，3.标准套筒，4.锁紧块，5.待测校靶镜，6.环形光管微调支架，7.准直光管，8.分划板，9.成像相机，10.微调机构，11.微调支架。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细描述。
实施例1：如图1所示，本实用新型一种通用校靶镜校准装置，包括基座1、放置待测校靶镜的支架2、环形照明光源、准直光管7、分划板8和成像相机9，所述支架2置于基座1一端，待测校靶镜5安装于支架2一侧，环形照明光源套置于待测校靶镜5的凸起端；准直光管7与安装待测校靶镜5的支架2间隔设置，靠近基座1的另一端，在准直光管7的光线输出端设置成像相机9，在成像相机9和准直光管7间设置有分划板8，所述分划板8位于准直光管7的1倍焦面处，所述待测校靶镜5和准直光管7轴线在同一直线上，环形照明光源从待测校靶镜5的凸起镜头射入，经待测校靶镜5内置反射镜平行射出，进入准直光管7，待测校靶镜5提供的目标经过准直光管7成像在焦面的分划板8上，通过成像相机9获取校靶镜分划板十字丝与准直光管分划板8上的位置图像，根据图像调节准直光管7的准直微调机构，即转动准直微调机构的调节螺丝，直到从成像相机捕获图像中看到清晰的两个分划板重合的十字丝为止。
如图1所示，所述支架2截面为V型结构，其上设置安装待测校靶镜5的标准套筒3，所述标准套筒3上设置有锁紧块4，以锁紧待测校靶镜5，所述锁紧块4与标准套筒3接触的表面与标准套筒3外表面配合接触，标准套筒3安装在支架2上后，通过锁紧块4固定锁紧。所述标准套筒3内筒直径与待测校靶镜5端部外径配合，用于套置待测校靶镜5。
所述准直光管7输出端设置的分划板8为环形分划板。所述准直光管7带有准直微调机构，微调时，通过转动调节螺丝，直到从CCD相机捕获图像中看到清晰的叉丝为止，从而实现微调。
所述环形照明光源的直径大于校靶镜直径加凸起端长度即可，所述环形照明光源能将光线从校靶镜凸起端垂直射入即可。
所述准直光管7通过微调支架11(为现有结构)安装在基座1上，所述微调支架11调节其安装高度。
所述待测校靶镜端部与准直光管间的距离L为10-15cm。本例选择L为10cm。
本实用新型在使用时，将待测校靶镜5插入标准套筒3，利用V型支架2承载不同规格尺寸校靶镜，然后通过环形照明光源的照明，待测校靶镜5提供的目标经过平行光管成像在焦面的分划板8上，通过准直光管7的准直微调机构的微调，将待测校靶镜5分划板十字丝与准直光管7的环形分划板8的中心点重合，将校靶镜旋转180°，其余条件不变，再将两者的像通过成像相机9(采用CCD相机)拍摄，找到两点之间的距离，得出偏移量，完成校准工作。
实施例2：本例与实施例1不同的是：本例所述待测校靶镜端部与准直光管间的距离L为15cm。同样可以实现本实用新型，达到本实用新型校准的目的。
实施例3：本例与实施例1不同的是：本例所述待测校靶镜端部与准直光管间的距离L为12cm。同样可以实现本实用新型，达到本实用新型校准的目的。
实施例4：本例与实施例1不同的是：本例所述待测校靶镜端部与准直光管间的距离L为13cm。同样可以实现本实用新型，达到本实用新型校准的目的。
可以理解的是，以上关于本实用新型的具体描述，仅用于说明本实用新型而并非受限于本实用新型实施例所描述的技术方案，本领域的普通技术人员应当理解，仍然可以对本实用新型进行修改或等同替换，以达到相同的技术效果；只要满足使用需要，都在本实用新型的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种通用校靶镜校准装置，其特征在于：包括基座、放置待测校靶镜的支架、环形照明光源、准直光管、分划板和成像相机，所述支架置于基座一端，待测校靶镜安装于支架一侧，环形照明光源套置于待测校靶镜凸起端；准直光管与安装待测校靶镜的支架间隔设置，在准直光管的光线输出端设置成像相机，在成像相机和准直光管间设置有分划板，所述分划板位于准直光管的1倍焦面处，所述待测校靶镜和准直光管轴线在同一直线上，光源从凸起镜头射入，经待测校靶镜内置反射镜平行射出，进入准直光管，待测校靶镜提供的目标经过准直光管成像在焦面的分划板上，通过成像相机获取待测校靶镜分划板十字丝交点与准直光管分划板中心点的位置图像，根据图像调节准直光管的准直微调机构，直到从成像相机捕获图像中看到清晰的两个分划板中心重合的十字丝为止；将校靶镜旋转180°，其余条件不变，再将两者的图像通过成像相机拍摄获取两点之间的距离，得出偏移量，完成校准工作。
2.根据权利要求1所述通用校靶镜校准装置，其特征在于：所述支架截面为V型结构，其上设置安装待测校靶镜的标准套筒，所述标准套筒上设置有与其配合压紧的锁紧块，以锁紧待测校靶镜。
3.根据权利要求1所述通用校靶镜校准装置，其特征在于：所述准直光管输出端设置的分划板为环形分划板。
4.根据权利要求1所述通用校靶镜校准装置，其特征在于：所述环形照明光源的直径大于待测校靶镜直径加凸起端长度，以保证环形照明光源能将光线从校靶镜凸起端垂直射入。
5.根据权利要求1所述通用校靶镜校准装置，其特征在于：所述待测校靶镜端部与准直光管间的距离L为10-15cm。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201921469649.2U CN210243143U (zh) | 2019-09-05 | 2019-09-05 | 一种通用校靶镜校准装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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| CN201921469649.2U CN210243143U (zh) | 2019-09-05 | 2019-09-05 | 一种通用校靶镜校准装置 |
Publications (1)
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| CN210243143U true CN210243143U (zh) | 2020-04-03 |
Family
ID=69963627
Family Applications (1)
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| CN201921469649.2U Active CN210243143U (zh) | 2019-09-05 | 2019-09-05 | 一种通用校靶镜校准装置 |
Country Status (1)
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|---|---|
| CN (1) | CN210243143U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112815932A (zh) * | 2021-01-07 | 2021-05-18 | 中铁二院工程集团有限责任公司 | 基座检核方法及基座与控制点对中的检核方法 |
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2019
- 2019-09-05 CN CN201921469649.2U patent/CN210243143U/zh active Active
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN112815932A (zh) * | 2021-01-07 | 2021-05-18 | 中铁二院工程集团有限责任公司 | 基座检核方法及基座与控制点对中的检核方法 |
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