CN210037887U - 一种处理芯片测试夹具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种处理芯片测试夹具，其结构包括检测台、凹口、顶盖、测试箱、螺纹孔、底座和夹具座，检测台下表面与底座上表面相贴合，夹具座上设有凹口，夹具座上表面与顶盖下表面相焊接，顶盖位于测试箱上方，测试箱外表面嵌入安装于检测台上，该测试夹具在芯片连接处设置了夹具座，将芯片置于测试板表面，利用主夹块、侧夹板进行固定，主夹块、侧夹板会压缩小弹簧，收缩后依靠小弹簧自身恢复弹性形变的力进行固定，固定后将封盖盖上进行检测，达到了自适应的卡扣芯片，增强适用范围，实用性强的优点。

Description

一种处理芯片测试夹具

技术领域

本实用新型涉及芯片测试夹具技术领域，具体涉及一种处理芯片测试夹具。

背景技术

目前，在半导体集成电路制造工艺中，需要对切割封装后的成品芯片进行进一步测试，测试夹具更起到了关键作用，在芯片测试调试过程中，具体做法是在测试板卡上安装测试插座采用翻盖旋转式手动拧紧测试盖提供压力保证芯片与测试插座的连接性，但是，在处理芯片测试夹具使用过程中，由于固定处不具备夹具座，这样就使得部分芯片连接偏差，从而造成测试难以继续进行的事情发生，现有处理芯片测试夹具难以进行自适应的锁定封闭，导致芯片连接偏差，从而造成芯片测试效果不佳现象的发生。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

为了克服现有技术不足，现提出一种处理芯片测试夹具，解决了现有处理芯片测试夹具难以进行自适应的锁定封闭，导致芯片连接偏差，从而造成芯片测试效果不佳现象发生的问题，达到了自适应的卡扣芯片，增强适用范围，实用性强的优点。

(二)技术方案

本实用新型通过如下技术方案实现：本实用新型提出了一种处理芯片测试夹具，包括检测台、凹口、顶盖、测试箱、螺纹孔、底座和夹具座，所述检测台下表面与底座上表面相贴合，所述夹具座上设有凹口，所述夹具座上表面与顶盖下表面相焊接，所述顶盖位于测试箱上方，所述测试箱外表面嵌入安装于检测台上，所述螺纹孔贯穿于检测台上，所述底座位于顶盖下方，所述夹具座包括嵌块、封盖、测试槽、边座、铰接杆和紧固块，所述嵌块背面与封盖正面通过粘剂相粘结，所述封盖底端与边座顶端通过铰接杆相连接，所述测试槽底面嵌入安装于边座上，所述紧固块外表面嵌入安装于封盖，所述边座位于底座上方。

进一步的，所述测试槽包括小弹簧、外壳、抵板、主夹块、测试板和侧夹板，所述小弹簧顶端与抵板底端弹性连接，所述外壳内嵌入安装有抵板，所述主夹块顶端与弹簧底端相焊接，所述测试板背面嵌入安装于外壳上，所述侧夹板外表面嵌入安装于外壳上，所述测试板背面与测试箱通过导线电连接。

进一步的，所述边座包括连接块和主板，所述连接块与主板为一体化结构，所述连接块底端嵌入安装于检测台上。

进一步的，所述连接块共设有4个，并且采取上下、左右对称式设计。

进一步的，所述底座底端设置有条形防滑纹，并且防滑纹沿底座表面均匀分布。

进一步的，所述底座与检测台尺寸相同，并且两者间通过螺丝进行螺纹连接。

进一步的，所述弹簧共有8个，并且分布上下对称、左右对称。

进一步的，所述弹簧为弹簧钢材料，弹性势能优良。

进一步的，所述边座为塑料材质，质量轻、绝缘性良好。

(三)有益效果

本实用新型相对于现有技术，具有以下有益效果：

1)、为解决现有处理芯片测试夹具难以进行自适应的锁定封闭，导致芯片连接偏差，从而造成芯片测试效果不佳现象发生的问题，通过在芯片连接处设置了夹具座，将芯片置于测试板表面，利用主夹块、侧夹板进行固定，主夹块、侧夹板会压缩小弹簧，收缩后依靠小弹簧自身恢复弹性形变的力进行固定，固定后将封盖盖上进行检测，达到了自适应的卡扣芯片，增强适用范围，实用性强的优点。

附图说明

通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的夹具座结构示意图；

图3为本实用新型的测试槽结构示意图；

图4为本实用新型的边座结构示意图。

图中：检测台-1、凹口-3、顶盖-4、测试箱-5、螺纹孔-6、底座-7、夹具座-2、嵌块-201、封盖-202、测试槽-203、边座-204、铰接杆-205、紧固块-206、小弹簧-2031、外壳-2032、抵板-2033、主夹块-2034、测试板-2035、侧夹板-2036、连接块-2041、主板-2042。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

请参阅图1、图2、图3和图4，本实用新型提供一种处理芯片测试夹具：包括检测台1、凹口3、顶盖4、测试箱5、螺纹孔6、底座7和夹具座2，检测台1下表面与底座7上表面相贴合，夹具座2上设有凹口3，夹具座2上表面与顶盖4下表面相焊接，顶盖4位于测试箱5上方，测试箱5外表面嵌入安装于检测台1上，螺纹孔6贯穿于检测台1上，底座7位于顶盖4下方，夹具座2包括嵌块201、封盖202、测试槽203、边座204、铰接杆205和紧固块206，嵌块201背面与封盖202正面通过粘剂相粘结，封盖202底端与边座204顶端通过铰接杆205相连接，测试槽203底面嵌入安装于边座204上，紧固块206外表面嵌入安装于封盖202，边座204位于底座7上方。

其中，所述测试槽203包括小弹簧2031、外壳2032、抵板2033、主夹块2034、测试板2035和侧夹板2036，所述小弹簧2031顶端与抵板2033底端弹性连接，所述外壳2032内嵌入安装有抵板2033，所述主夹块2034顶端与弹簧2031底端相焊接，所述测试板2035背面嵌入安装于外壳2032上，所述侧夹板2036外表面嵌入安装于外壳2032上，所述测试板2035背面与测试箱5通过导线电连接，弹簧2031简单实用，利于对处理芯片进行固定。

其中，所述边座204包括连接块2041和主板2042，所述连接块2041与主板2042为一体化结构，所述连接块2041底端嵌入安装于检测台1上，结构紧凑，安装稳固。

其中，所述连接块2041共设有4个，并且采取上下、左右对称式设计，有利于进行安装，多处连接不易分离。

其中，所述底座7底端设置有条形防滑纹，并且防滑纹沿底座7表面均匀分布，能够防止偏移，实用性强。

其中，所述底座7与检测台1尺寸相同，并且两者间通过螺丝进行螺纹连接，连接方式稳定。

其中，所述弹簧2031共有8个，并且分布上下对称、左右对称，利于平均施力。

其中，所述弹簧2031为弹簧钢材料，弹性势能优良。

其中，所述边座204为塑料材质，质量轻、绝缘性良好。

本专利所述的弹簧2031是一种利用弹性来工作的机械零件，用弹性材料制成的零件在外力作用下发生形变，除去外力后又恢复原状，亦作“弹簧”，一般用弹簧钢制成，弹簧的种类复杂多样，按形状分，主要有螺旋弹簧、涡卷弹簧、板弹簧、异型弹簧等；所述铰接杆205为过渡杆件，用于辅助两个物体间的相对转动，其硬度较大，不易损坏。

工作原理：在使用一种处理芯片测试夹具时，检测台1上安装有测试箱5，用于测试处理芯片是否合格，检测时，底座7通过螺纹孔6固定在指定位置，打开封盖202，封盖202通过铰接杆205铰接打开，打开方式简单快捷，嵌块201与边座204局部分离，紧固块206不再嵌套于测试槽203上，将处理芯片置于测试板2035上，手动轻轻拨开测试板2035、侧夹板2036，由于小弹簧2031规格相同，所发生的弹性形变均一，且小弹簧2031对称式分布，在处理芯片放置好后，手放开即可在小弹簧2031恢复弹性形变作用力下进行固定，将封盖202盖上，紧固块206加强处理芯片与测试板2035的连接，自适应的卡扣芯片，增强适用范围，实用性强，结构简单，其中，整个边座204通过连接块2041进行组装，安装效果较好。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点,对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (7)

1.一种处理芯片测试夹具，包括检测台(1)、凹口(3)、顶盖(4)、测试箱(5)、螺纹孔(6)和底座(7)，其特征在于：还包括夹具座(2)，所述检测台(1)下表面与底座(7)上表面相贴合，所述夹具座(2)上设有凹口(3)，所述夹具座(2)上表面与顶盖(4)下表面相焊接，所述顶盖(4)位于测试箱(5)上方，所述测试箱(5)外表面嵌入安装于检测台(1)上，所述螺纹孔(6)贯穿于检测台(1)上，所述底座(7)位于顶盖(4)下方，所述夹具座(2)包括嵌块(201)、封盖(202)、测试槽(203)、边座(204)、铰接杆(205)和紧固块(206)，所述嵌块(201)背面与封盖(202)正面通过粘剂相粘结，所述封盖(202)底端与边座(204)顶端通过铰接杆(205)相连接，所述测试槽(203)底面嵌入安装于边座(204)上，所述紧固块(206)外表面嵌入安装于封盖(202)，所述边座(204)位于底座(7)上方。

2.根据权利要求1所述的一种处理芯片测试夹具，其特征在于：所述测试槽(203)包括小弹簧(2031)、外壳(2032)、抵板(2033)、主夹块(2034)、测试板(2035)和侧夹板(2036)，所述小弹簧(2031)顶端与抵板(2033)底端弹性连接，所述外壳(2032)内嵌入安装有抵板(2033)，所述主夹块(2034)顶端与弹簧(2031)底端相焊接，所述测试板(2035)背面嵌入安装于外壳(2032)上，所述侧夹板(2036)外表面嵌入安装于外壳(2032)上，所述测试板(2035)背面与测试箱(5)通过导线电连接。

3.根据权利要求1所述的一种处理芯片测试夹具，其特征在于：所述边座(204)包括连接块(2041)和主板(2042)，所述连接块(2041)与主板(2042)为一体化结构，所述连接块(2041)底端嵌入安装于检测台(1)上。

4.根据权利要求3所述的一种处理芯片测试夹具，其特征在于：所述连接块(2041)共设有4个，并且采取上下、左右对称式设计。

5.根据权利要求1所述的一种处理芯片测试夹具，其特征在于：所述底座(7)底端设置有条形防滑纹，并且防滑纹沿底座(7)表面均匀分布。

6.根据权利要求1所述的一种处理芯片测试夹具，其特征在于：所述底座(7)与检测台(1)尺寸相同，并且两者间通过螺丝进行螺纹连接。

7.根据权利要求2所述的一种处理芯片测试夹具，其特征在于：所述弹簧(2031)共有8个，并且分布上下对称、左右对称。

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