CN209542669U - 一种一拖多的通电测试装置以及一种触摸屏的测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种一拖多的通电测试装置,包括测试板和电连接线,所述测试板的数量N>=3;每个测试板均具有第一端和第二端,所述第一端是与待测试件连接的连接器,所述第二端是与电连接线相连接的接线插口;所述电连接线具有第三端和第四端,所述第三端跟测试板的第二端相连接,所述第四端是与外部电源相连接的电源连接端口。本实用新型还提供了一种触摸屏的测试系统,包括触摸屏和如上所述的通电测试装置。与现有技术相比,本实用新型通过将大板的PCB板更改为N个数量的测试板,使每个测试板成为小块的板,使占用的空间减小了。同时,一旦待测试件发生变化,只要进行更换测试板就可以继续使用,大大提升了通电测试装置的复用性。
Description
技术领域
本实用新型涉及电子产品测试技术领域,尤其涉及一种一拖多的通电测试装置以及一种触摸屏的测试系统。
背景技术
通电测试板主要用于电子产品的通电试验,例如通电老化试验。目前一拖多的通电测试板一般为大板的PCB板,但这种大板的PCB为整块PCB板,需要PCB Layout(印刷电路板设计)工程师花费大量的时间和精力去进行设计和制作,而且大板的PCB在测试机中占用大量的空间,在操作工程中因占用大量空间容易导致碰撞,不易于使用人员操作,且不具备通用性,可复用性不强。
实用新型内容
本实用新型针对以上问题,提出了一种改进的通电测试装置。
本实用新型提供了一种一拖多的通电测试装置,包括测试板和电连接线,所述测试板的数量N>=3;每个测试板均具有第一端和第二端,所述第一端是与待测试件连接的连接器,所述第二端是与电连接线相连接的接线插口;所述电连接线具有第三端和第四端,所述第三端跟测试板的第二端相连接,所述第四端是与外部电源相连接的电源连接端口。
本实用新型通过将大板的PCB板更改为N个数量的测试板,使每个测试板成为小块的板,使占用的空间减小了。同时,一旦待测试件发生变化,只要进行更换测试板就可以继续使用,大大提升了通电测试装置的复用性。
优选地,所述电源连接端口包括一个VDDIO接口、一个VDD接口和一个GND接口。
优选地,所述每个测试板的接线插口均包括VDDIO端、VDD端和GND端;所述VDDIO端通过电连接线与VDDIO接口相连接,所述VDD端通过电连接线与VDD接口相连接,所述GND端通过电连接线与GND接口相连接。
优选地,所述电连接线为三条杜邦线,所述每条杜邦线包括N条导线。
优选地,所述电连接线为引线,所述引线为3N条。
优选地,所述电连接线为FPC连接线。
优选地,所述测试板为具有测试电路的PCB板。
本实用新型还提供了一种触摸屏的测试系统,包括触摸屏和如上所述的通电测试装置。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:本实用新型通过将大板的PCB板更改为N个数量的测试板,使每个测试板成为小块的板,使占用的空间减小了。同时,一旦待测试件发生变化,只要进行更换测试板就可以继续使用,大大提升了通电测试装置的复用性。
附图说明
图1为本实用新型实施例所述的一种一拖多的通电测试装置的结构示意图;
图2为图1中的局部放大图。
10-测试板、11-接线插口、12-连接器、13-PCB板、20-电连接线、33-VDDIO接口、32-VDD接口、31-GND接口。
具体实施方式
下面结合附图和实施例,对本实用新型的的结构和作用原理作进一步说明:
实施例一
如图1~图2所示,本实用新型具体实施例提供了一种一拖多的通电测试装置,包括测试板和电连接线,所述测试板的数量N>=3。每个测试板均具有第一端和第二端,第一端是与待测试件连接的连接器,第二端是与电连接线相连接的接线插口。电连接线具有第三端和第四端,每个测试板的第二端与电连接线的第三端连接,电连接线的第四端是与外部电源相连接的电源连接端口。测试板为小块的PCB板,PCB板具有测试电路。待测试件为电子设备,例如为触摸屏。由于本通电测试装置具有N个测试板,因此可以与N个待测试件同时进行测试。
本实用新型通过将大板的PCB板更改为N个数量的测试板,使每个测试板成为小块的板,使占用的空间减小了。同时,一旦待测试件发生变化,只要进行更换测试板就可以继续使用,大大提升了通电测试装置的复用性。
作为优选的方案,电源连接端口包括一个VDDIO接口、一个VDD接口和一个GND接口。如图1所示,VDDIO接口、VDD接口和GND接口分别为圆形的插接端子。
作为优选的方案,每个测试板的接线插口均包括VDDIO端、VDD端和GND端。这样,N个测试板,共有N个VDDIO端、N个VDD端和N个GND端。每个VDDIO端通过电连接线与VDDIO接口相连接,每个VDD端通过电连接线与VDD接口相连接,每个GND端通过电连接线与GND接口相连接。
在本实施例中,电连接线为三条杜邦线,包括第一杜邦线、第二杜邦线、和第三杜邦线,每条杜邦线包括N条导线。第一杜邦线的一端与VDDIO接口相连接,另一端的N条导线分别与N个测试板的VDDIO端相连接。同理,第二杜邦线的一端与VDD接口相连接,另一端的N条导线分别与N个测试板的VDD端相连接。第三杜邦线的一端与GND接口相连接,另一端的N条导线分别与N个测试板的GND端相连接。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:本实用新型通过将大板的PCB板更改为N个数量的测试板,使每个测试板成为小块的板,使占用的空间减小了。同时,一旦待测试件发生变化,只要进行更换测试板就可以继续使用,大大提升了通电测试装置的复用性。
实施例二
与实施例一不同的是,在本实施例中,所述电连接线为引线,所述引线为3N条。例如,引线为铜芯的导线。从N个测试板的VDDIO端、VDD端和GND端分别连接N条引线。再把引线另一端电气属性相同的端点连接到一起,与对应的VDDIO接口、VDD接口、GND接口相连接。
实施例三
作为实施例一的改进方案,在本实施例中,所述电连接线为FPC连接线。
实施例四
本实用新型还提供了一种触摸屏的测试系统,包括触摸屏和如以上实施例中所述的通电测试装置。触摸屏与测试板第一端的连接器相连接。由于本通电测试装置具有N个测试板,因此可以与N个待测试的触摸屏同时进行测试。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
本实用新型通过将大板的PCB板更改为N个数量的测试板,使每个测试板成为小块的板,使占用的空间减小了。同时,一旦待测试件发生变化,只要进行更换测试板就可以继续使用,大大提升了通电测试装置的复用性。
最后需要说明的是,以上实施例仅用以说明本实用新型实施例的技术方案而非对其进行限制,尽管参照较佳实施例对本实用新型实施例进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解依然可以对本实用新型实施例的技术方案进行修改或者等同替换,而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本实用新型实施例技术方案的范围。
Claims (8)
1.一种一拖多的通电测试装置,其特征在于,包括测试板和电连接线,所述测试板的数量N>=3;每个测试板均具有第一端和第二端,所述第一端是与待测试件连接的连接器,所述第二端是与电连接线相连接的接线插口;所述电连接线具有第三端和第四端,所述第三端跟测试板的第二端相连接,所述第四端是与外部电源相连接的电源连接端口。
2.如权利要求1所述的通电测试装置,所述电源连接端口包括一个VDDIO接口、一个VDD接口和一个GND接口。
3.如权利要求2所述的通电测试装置,所述每个测试板的接线插口均包括VDDIO端、VDD端和GND端;所述VDDIO端通过电连接线与VDDIO接口相连接,所述VDD端通过电连接线与VDD接口相连接,所述GND端通过电连接线与GND接口相连接。
4.如权利要求3所述的通电测试装置,所述电连接线为三条杜邦线,所述每条杜邦线包括N条导线。
5.如权利要求3所述的通电测试装置,所述电连接线为引线,所述引线为3N条。
6.如权利要求3所述的通电测试装置,所述电连接线为FPC连接线。
7.如权利要求1所述的通电测试装置,所述测试板为具有测试电路的PCB板。
8.一种触摸屏的测试系统,包括触摸屏和如权利要求1~7任一项所述的通电测试装置。
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