CN209417182U - 一种测试治具和转接板 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试治具和转接板。测试治具包括控制单元、第一信号接口、与控制单元电连接的信号产生单元和选通单元，信号产生单元包括至少两类信号输出端，信号产生单元的不同类信号输出端输出不同类型的信号。选通单元的控制端与控制单元电连接，选通单元的输入端与信号产生单元的输出端对应电连接，选通单元的输出端与第一信号接口的第一端子电连接；选通单元用于根据控制端的信号将自身输出端与一类信号输出端电连接的自身输入端选通。控制单元电连接第一信号端口的第二端子，控制单元能够通过第一信号接口电连接转接板上的存储器，测试治具读取存储器中与机种对应的测试信息，实现了测试治具可以输出不同机种的测试信号。

Description

一种测试治具和转接板

技术领域

本实用新型实施例涉及显示测试技术领域，尤其涉及一种测试治具和转接板。

背景技术

不同类型的显示屏在测试过程中需要不同的测试信号，例如，手机屏的测试信号通常为移动产业处理器接口(Mobile Industry Processor Interface，MIPI)信号，电脑屏的测试信号通常为低电压差分(Low-Voltage Differential Signaling，LVDS)信号。因此，在测试不同类型的显示屏时需要不同的测试治具以产生不同的测试信号。而且，同类型的显示屏因机种不同，也存在分辨率、初始化程序和测试画面不同的问题，例如，不同的手机屏分辨率、初始化不同，且测试画面也不同。这些均导致了在测试不同机种的显示屏时测试治具需要更新分辨率、测试画面和/或初始化程序等，浪费大量的时间，同时导致测试治具的利用率低。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试治具和转接板，以适用不同机种的显示屏，既能在测试不同机种的显示屏时节约时间，又能提高测试治具的利用率。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种测试治具，包括控制单元和第一信号接口，还包括与所述控制单元电连接的信号产生单元，所述信号产生单元包括输入端和至少两类信号输出端，所述信号产生单元的输入端与所述控制单元电连接，所述信号产生单元的不同类信号输出端输出不同类型的信号；

选通单元，包括控制端、多个输入端和多个输出端，所述选通单元的控制端与所述控制单元电连接，所述选通单元的输入端与所述信号产生单元的输出端对应电连接，所述选通单元的输出端与所述第一信号接口的第一端子电连接；所述选通单元用于根据所述控制端的信号将自身输出端与一类所述信号输出端电连接的自身输入端选通；

所述控制单元电连接所述第一信号端口的第二端子，所述控制单元能够通过所述第一信号接口电连接转接板上的存储器。

可选地，所述信号产生单元包括信号产生子单元、第一信号处理单元、第二信号处理单元；

所述信号产生子单元包括输入端、第一信号输出端和第二信号输出端，所述信号产生子单元的输入端为所述信号产生单元的输入端，所述第一信号输出端与所述第一信号处理单元的输入端电连接，所述第二信号输出端与所述第二信号处理单元的输入端电连接；所述第一信号处理单元的输出端和所述第二信号处理单元的输出端为所述信号产生单元的输出端。

可选地，所述信号产生子单元为现场可编程门阵列芯片，所述第一信号处理单元为缓冲器，所述第二信号处理单元为译码器。

可选地，所述第一信号处理单元为低电压差分信号缓冲器，所述第二信号处理单元为移动产业处理器接口信号译码器。

可选地，所述第二信号处理单元还包括初始信号输入端，所述第二信号处理单元的初始信号输入端与所述控制单元电连接；所述第二信号处理单元用于根据所述初始信号输入端的信号输出所述信号产生单元的一类信号。

可选地，所述测试治具还包括电源单元；

所述电源单元包括电源使能输入端和电源信号输出端；所述电源使能输入端与所述控制单元电连接，所述电源信号输出端与所述第一信号接口的第三端子电连接。

可选地，所述选通单元包括至少一个继电器；所述继电器包括控制端、电源输入端、至少一个公共触点、与所述公共触点一一对应的至少一个第一触点和至少一个第二触点；所述继电器的控制端作为所述选通单元的控制端，至少一个所述电源输入端与所述电源单元的输出端电连接，所述公共触点作为所述选通单元的输出端，所述第一触点与所述信号产生单元的一类信号输出端电连接，所述第二触点与所述信号产生单元的另一类信号输出端电连接。

可选地，多个所述第一触点为常开触点，多个所述第二触点为常闭触点；或者，多个所述第一触点为常闭触点，多个所述第二触点为常开触点。

可选地，所述继电器的型号为S-VSON4。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种转接板，包括第二信号接口，还包括存储器，所述存储器电连接所述第二信号接口上的对应的端子；所述第二信号接口用于与测试治具的第一信号接口电连接，所述第二信号接口与所述第一信号接口电连接后，所述存储器电连接所述测试治具的控制单元。

本实用新型的技术方案，测试治具的控制单元通过第一信号接口电连接转接板上的存储器，读取与转接板对应的机种的测试信号的信息，控制单元控制信号产生单元输出相应类型的测试信号，并通过选通单元输出测试信号至第一信号端口，使得测试治具可以根据转接板上的存储器存储的信息输出转接板对应的机种的测试信号，从而实现了测试治具可以输出不同机种的显示屏的测试信号，既能提高测试治具的利用率，同时可以避免在测试不同的机种的显示屏时测试治具需要更新分辨率、测试画面和/或初始化程序等操作，节约了测试时间。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的一种测试治具的结构示意图；

图2为本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图；

图3为本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图；

图4为本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图；

图5为图4提供的测试治具的工作流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

图1为本实用新型实施例提供的一种测试治具的结构示意图，如图1所示，该测试治具包括控制单元110、与控制单元110电连接的信号产生单元120、选通单元130和第一信号接口140，信号产生单元120包括输入端和至少两类信号输出端(例如图1中的Xout1和Xout2)，信号产生单元120的输入端与控制单元110电连接，信号产生单元120的不同类信号输出端输出不同类型的信号。

选通单元130包括控制端ctrl1、多个输入端in和多个输出端out(图1中仅是示例性地示出了一个输出端out)，选通单元130的控制端ctrl1与控制单元110电连接，选通单元130的输入端in与信号产生单元120的输出端对应电连接，选通单元130的输出端out与第一信号接口140的第一端子P1电连接；选通单元130用于根据控制端ctrl1的信号将自身输出端与一类信号输出端电连接的自身输入端选通。

控制单元110电连接第一信号端口140的第二端子P2，控制单元110能够通过第一信号接口140电连接转接板20上的存储器210。

具体地，信号产生单元120可以根据控制单元110的控制信号产生不同类型的信号。选通单元130的输入端in可与信号产生单元120的输出端一一对应。示例性地，当信号产生单元120的输出端包括两个不同类信号输出端Xout1和Xout2时，对应的选通单元130的输入端in也包括两个，并且分别与信号产生单元120的两个不同类型信号输出端Xout1和Xout2电连接。选通单元130的控制端ctrl1与控制单元110电连接，控制单元110通过选通单元130的控制端ctrl1控制选通单元130的输入端out与信号产生单元120的一类信号输出端对应的选通单元130的输入端in电连接。示例性地，控制单元110输出至选通单元130的控制端ctrl1的信号可以包括第一控制信号和第二控制信号，当控制单元110输出第一控制信号至选通单元130的控制端ctrl1时，选通单元130的输出端out与信号产生单元120的一类信号输出端Xout1对应的选通单元130的输入端in选通，即实现电连接，而选通单元130的输出端out与信号产生单元120的另一类信号输出端Xout2对应的选通单元130的输入端in处于断开状态，此时信号产生单元120产生的第一种类型的信号通过选通单元130输出至第一信号端口140的第一端子P1，并通过第一信号端口140输出至转接板20。当控制单元110输出第二控制信号至选通单元130的控制端ctrl1时，选通单元130的输出端out与信号产生单元120的另一类信号输出端Xout2对应的选通单元130的输入端in选通，即实现电连接，而选通单元130的输出端out与信号产生单元120的一类信号输出端Xout1对应的选通单元130的输入端in处于断开状态，此时信号产生单元120产生的第二种类型的信号通过选通单元130输出至第一信号端口140的第一端子P1，并通过第一信号端口140输出至转接板20。

需要说明的是，第一控制信号可以是高电平，第二控制信号可以是低电平。或者，第一控制信号可以是低电平，第二控制信号可以是高电平。此处第一控制信号和第二控制信号仅是一种示例，而不是限定。

在测试显示屏过程中，不同的机种测试信号不同。示例性地，手机屏的测试信号可以是MIPI信号，电脑屏的测试信号可以是LVDS信号。而且同为手机屏时，不同的手机屏的测试信号也不相同。例如，不同的手机屏的测试信号均为MIPI信号，而不同的手机屏的MIPI测试信号的分辨率、初始化和测试画面不同，因此不同的手机屏的同一种类型的测试信号的信号参数也不同，第一种类型的信号可以是LVDS测试信号，第二种类型的信号可以是MIPI测试信号。

另外，每一机种对应一类转接板20，当转接板20上的存储器210存储有转接板20对应的机种的测试信号的参数信息时，控制单元110通过第一信号端口140的第二端子P2读取存储器210上的参数信息，并根据存储器210上的参数信号输出相应的控制信号使信号产生单元120输出相应的测试信号，同时控制选通单元130选通对应的信号产生单元120的信号输出端与自身的输出端，输出机种对应的测试信号，从而实现对转接板20对应的机种的测试。

需要说明的是，不同的机种对应的转接板20不同，因此，当测试不同的机种时，转接板20对应更换，同时存储器210上的存储信息同时更新，从而可以实现测试治具根据转接板20上的存储器210上的存储信息对转接板20对应的机种的测试。

示例性地，转接板20上的存储器210存储的信息可以包括转接板20对应的机种的测试信号的信号类别、分辨率、初始化程序和测试画面参数等。其中，初始化程序主要针对的是手机屏的测试信号。当控制单元110从存储器210读取到测试信息时，控制单元110根据测试信息的信号类别确定信号产生单元120输出的信号的类型，同时根据信号类别控制选通单元130的自身输出端out与信号产生单元120的一类信号输出端对应的选通单元130的输入端in电连接。例如存储器210中的信号类别是MIPI信号，则控制单元110控制信号产生单元120输出MIPI信号，同时控制与信号产生单元120输出MIPI信号的信号输出端对应的选通单元130的输入端in与选通单元130的输出端out电连接。而且，控制单元110读取存储器210上的其他测试信息时，例如分辨率、初始化程序和测试画面参数等，可实现对具体的测试信号的参数进行设置。例如，控制单元110读取分辨率信息时，可将分辨率信息发送至信号产生单元120，信号产生单元120根据分辨率信息配置输出的测试信号的时序，从而可以输出对应机种的分辨率的测试信号。控制单元110读取测试画面参数时，同样可将测试画面参数信息发送至信号产生单元120，信号产生单元120根据测试画面参数信息输出相应画面的测试信号，通过选通单元130、第一信号接口140和转接板20输出至机种，使机种显示相应的测试画面。因此，通过控制单元110读取相应的测试信息，测试治具可以输出与机种对应的测试信号，实现了测试治具可以输出不同机种的显示屏的测试信号，既能提高测试治具的利用率，同时可以避免在测试不同的机种的显示屏时测试治具需要更新分辨率、测试画面和/或初始化程序等操作，节约了测试时间。

本实施例的技术方案，测试治具的控制单元通过第一信号接口电连接转接板上的存储器，读取与转接板对应的机种的测试信号的信息，控制单元控制信号产生单元输出相应类型的测试信号，并通过选通单元输出测试信号至第一信号端口，使得测试治具可以根据转接板上的存储器存储的信息输出转接板对应的机种的测试信号，从而实现了测试治具可以输出不同机种的显示屏的测试信号，既能提高测试治具的利用率，同时可以避免在测试不同的机种的显示屏时测试治具需要更新分辨率、测试画面和/或初始化程序等操作，节约了测试时间。

在上述各技术方案的基础上，图2为本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图，如图2所示，测试治具还包括电源单元150，电源单元150包括电源使能输入端EN和电源信号输出端Pout；电源使能输入端EN与控制单元110电连接，电源信号输出端Pout与第一信号接口140的第三端子P3电连接。

具体地，测试治具通过转接板为机种提供测试信号，同时，测试治具也需要为转接板和机种提供电源信号，以保证转接板的正常工作和机种的测试画面的正常显示。不同的机种的显示屏的电源时序不同。在测试过程中，控制单元110读取转接板上的存储器的测试信号的信息，并将电源时序信息发送至电源单元150，电源单元150根据电源时序信息输出对应的电源至转接板和机种，从而实现电源单元150可以为不同的机种提供电源信号，使测试治具能够测试不同的机种，既能提高测试治具的利用率，同时可以避免在测试不同的机种的显示屏时测试治具需要更新分辨率、测试画面和/或初始化程序等操作，节约了测试时间。

在上述各技术方案的基础上，图3为本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图，如图3所示，信号产生单元120包括信号产生子单元121、第一信号处理单元122、第二信号处理单元123。

信号产生子单元121包括输入端in1、第一信号输出端out1和第二信号输出端out2，信号产生子单元121的输入端in1为信号产生单元120的输入端，第一信号输出端out1与第一信号处理单元122的输入端电连接，第二信号输出端out2与第二信号处理单元123的输入端电连接。第一信号处理单元122的输出端和第二信号处理单元123的输出端为信号产生单元120的输出端。

具体地，如图3所示，信号产生子单元121可以根据控制单元110输出的信号产生不同类型的测试信号，不同类型的测试信号分别通过第一信号输出端out1和第二信号输出端out2输出，而且，不同类型的测试信号分时输出。即第一信号输出端out1和第二信号输出端out2分时输出不同类型的测试信号。不同类型的测试信号分别通过第一信号处理单元122和第二信号处理单元123进行处理后输出至信号产生单元120的输出端。

示例性地，信号产生子单元121可以是现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGate Array，FPGA)芯片，当控制单元110输出不同的控制信号时，FPGA芯片可以产生不同类型的测试信号，并且不同类型的测试信号通过不同的信号输出端输出。示例性地，控制单元110可以输出第三控制信号和第四控制信号，FPGA芯片可以产生LVDS信号和MIPI信号。当控制单元110输出第三控制信号时，FPGA芯片可以产生LVDS信号，可以通过FPGA芯片的第一信号输出端out1输出LVDS信号。并且LVDS信号输入至与第一信号输出端out1电连接第一信号处理单元122，第一信号处理单元122对LVDS信号进行处理后从第一信号处理单元122的输出端输出，此时第一信号处理单元122的输出端可以作为信号产生单元120的一类信号输出端Xout1。当控制单元110输出第四控制信号时，FPGA芯片可以产生RGB信号，可以通过FPGA芯片的第二信号输出端out2可以输出RGB信号。并且RGB信号输入至与第二信号输出端out2电连接第二信号处理单元123，第二信号处理单元123对RGB信号进行处理后从第二信号处理单元123的输出端输出，此时第二信号处理单元123的输出端可以作为信号产生单元120的另一类信号输出端Xout2。因FPGA芯片的第一信号输出端out1和第二信号输出端out2分时输出不同类型的测试信号。第一信号处理单元122和第二信号处理单元123分时工作。

一般情况下，FPGA芯片输出的LVDS信号可以作为电脑屏的检测信号，因此第一信号处理单元122可以为缓冲器，对LVDS信号进行缓冲，从而提高FPGA芯片输出LVDS信号的速率。示例性地，第一信号处理单元122可以为LVDS缓冲器，不仅提高了输出LVDS信号的速率，同时可以改善输出LVDS信号的传输路径的传输性能。FPGA芯片输出的RGB信号可以作为手机屏的检测信号，而为了测试治具的第一信号接口140的一致性和兼容性，可以将RGB信号转换为MIPI信号后通过第一信号接口140输出，因此第二信号处理单元123可以为译码器，将RGB信号转换为MIPI信号，从而实现测试治具的第一信号接口140的一致性和兼容性。示例性地，第二信号处理单元123可以为MIPI信号译码器。

在上述技术方案的基础上，第二信号处理单元123还包括初始信号输入端IN，第二信号处理单元123的初始信号输入端IN与控制单元110电连接。第二信号处理单元123用于根据初始信号输入端IN的信号输出信号产生单元120的第二种类型的信号。

具体地，当转接板上的存储器存储的是MIPI信号类别的信息时，对应控制单元110控制FPAG芯片输出RGB信号，并通过第二信号输出端out2输出至第二信号处理单元123。而且存储器存储的信息包括初始化程序。控制单元110同时输出初始化程序至第二信号处理单元123，使第二信号处理单元123初始化，然后将信号产生单元120的第二信号输出端out2输出的RGB信号转换为MIPI信号并输出至第一信号接口140。

在上述各技术方案的基础上，图4为本实用新型实施例提供的另一种测试治具的结构示意图，如图4所示，选通单元130包括至少一个继电器131；继电器131包括控制端、电源输入端Pin、至少一个公共触点K1、与公共触点K1一一对应的至少一个第一触点K2和至少一个第二触点K3；继电器131的控制端作为选通单元的控制端ctrl1，至少一个电源输入端Pin与电源单元150的输出端电连接，公共触点K1作为选通单元130的输出端out，第一触点K2与信号产生单元120的一类信号输出端Xout1电连接，第二触点K3与信号产生单元120的另一类信号输出端Xout2电连接。

具体地，继电器131在上电时常开触点闭合，常闭触点断开，在断电时常开触点断开，常闭触点闭合。继电器131的电源输入端Pin与电源单元150的输出端电连接，对继电器131供电。继电器131的控制端可以控制继电器131是否上电，因此可以通过继电器131的控制端控制继电器131上电或断电实现公共触点K1与其对应的第一触点K2或第二触点K3实现电连接。示例性地，继电器131可以输出第一控制信号和第二控制信号，第一触点K2可以为常开触点，第二触点K3可以为常闭触点。当继电器131的控制端输入的控制信号为第一控制信号时，继电器131上电，第一触点K2闭合，第二触点K3断开，此时通过第一触点K2实现信号产生单元120的一类信号输出端Xout1与公共触点K1的电连接，测试治具可以输出第一种类型的信号至第一信号接口140。例如，可以输出LVDS信号至第一信号接口140，用于测试电脑屏。当继电器131的控制端输入的控制信号为第二控制信号时，继电器131断电，第一触点K2断开，第二触点K3闭合，此时通过第二触点K3实现信号产生单元120的另一类信号输出端Xout2与公共触点K1的电连接，测试治具可以输出第二种类型的信号至第一信号接口140。例如，可以输出MIPI信号至第一信号接口140，用于测试手机屏。

另外，第一控制信号也可以控制继电器131断电，对应的第二控制信号可以控制继电器131上电。而且，第一触点K2为常开触点，第二触点K3为常闭触点也仅是一种示例。在另一种技术方案中，第一触点K2也可以为常闭触点，第二触点K3也可以为常开触点。

需要说明的是，继电器131包括的公共触点K1的个数与测试信号传输过程中传输线的个数相等。示例性地，当信号产生单元120的输出端为串行外设接口(SerialPeripheral Interface，SPI)的通信总线，其在芯片的管脚上需要占用四根线，即测试信号需要四根线传输，此时对应的继电器131包括的公共触点K1的个数也为四个，对应的第一触点K2和第二触点K3的个数也为四个，四根线与继电器131的触点一一对应。并且，同一信号的四根线连接到相同的触点上，例如，LVDS信号的四根线连接到第一触点K2上，对应的MIPI信号的四根线连接到第二触点K3上。或者，LVDS信号的四根线连接到第二触点K3上，对应的MIPI信号的四根线连接到第一触点K2上。

在上述技术方案的基础上，继电器的型号为S-VSON4。

因测试治具的印刷电路板(Printed Circuit Board，PCB)的空间有限，而继电器的体积比较大，因此可以选用型号为S-VSON4的继电器，减小继电器占用PCB板的面积。一般情况下，S-VSON4型号的继电器的封装面积为2.00mm×1.45mm，因此当PCB板需要大量的继电器时，可以采用S-VSON4型号的继电器，从而减少继电器占用PCB板的面积。示例性地，S-VSON4型号的继电器可以采用片上芯片的封装技术进行封装。

图5为图4提供的测试治具的工作流程示意图。如图5所示，当测试治具上电后，测试治具开始工作，控制单元读取转接板上的存储器的信号类别并进行判断。当信号类别为LVDS信号时，控制单元控制继电器的第一触点闭合，选通单元可以输出第一信号处理单元输出的LVDS信号。同时控制单元读取转接板上的存储器的分辨率信息和电源时序，分辨率信息发送至信号产生子单元FPGA芯片，FPGA芯片产生LVDS信号的时序信号，电源时序信号发送至电源单元，电源单元输出电源信号至第一信号接口，为机种提供电源信号。从而实现测试治具为机种提供对应的测试信号。控制单元读取转接板上的存储器的测试画面参数，并发送至信号产生子单元FPGA芯片，信号产生子单元产生LVDS信号，并从第一信号输出端输出至第一信号处理单元，并通过选通单元输出至第一信号接口。当信号类别为MIPI信号时，控制单元控制继电器的第二触点闭合，选通单元可以输出第二信号处理单元输出的MIPI信号。同时控制单元读取转接板上的存储器分辨率信息和电源时序，分辨率信息发送至信号产生子单元FPGA芯片，FPGA芯片产生RGB信号的时序信号，电源时序信号发送至电源单元，电源单元输出电源信号至第一信号接口，为机种提供电源信号。从而实现测试治具为机种提供对应的测试信号。控制单元还读取初始化程序，用于对第二信号处理单元初始化。控制单元读取转接板上的存储器的测试画面参数，并发送至信号产生子单元FPGA芯片，FPGA芯片产生RGB信号并从第二信号输出端输出至第二信号处理单元，第二信号处理单元将其转换为MIPI信号，并通过选通单元输出至第一信号接口。

本实用新型实施例还提供一种转接板，继续参考图1，转接板20上包括存储器210和第二信号接口220，存储器210电连接第二信号接口220上的对应的端子；第二信号接口220用于与测试治具的第一信号接口140电连接，第二信号接口220与第一信号接口140电连接后，存储器210电连接测试治具的控制单元110。

具体地，每一机种对应一类转接板20，转接板20上的存储器210存储有转接板20对应的机种的测试信号的参数信息，而存储器210通过第二信号接口220与第一信号接口140电连接，并通过第一信号接口140的第二端子P2与测试治具的控制单元110电连接。控制单元110通过第一信号端口140的第二端子P2读取存储器210上的参数信息，并根据存储器210上的参数信号输出相应的控制信号使信号产生单元120输出相应的测试信号，同时控制选通单元130选通对应的信号产生单元120的信号输出端与自身的输出端，输出机种对应的测试信号，从而实现对转接板20对应的机种的测试。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种测试治具，包括控制单元和第一信号接口，其特征在于，还包括与所述控制单元电连接的信号产生单元，所述信号产生单元包括输入端和至少两类信号输出端，所述信号产生单元的输入端与所述控制单元电连接，所述信号产生单元的不同类信号输出端输出不同类型的信号；

选通单元，包括控制端、多个输入端和多个输出端，所述选通单元的控制端与所述控制单元电连接，所述选通单元的输入端与所述信号产生单元的输出端对应电连接，所述选通单元的输出端与所述第一信号接口的第一端子电连接；所述选通单元用于根据所述控制端的信号将自身输出端与一类所述信号输出端电连接的自身输入端选通；

所述控制单元电连接所述第一信号端口的第二端子，所述控制单元能够通过所述第一信号接口电连接转接板上的存储器。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述信号产生单元包括信号产生子单元、第一信号处理单元、第二信号处理单元；

所述信号产生子单元包括输入端、第一信号输出端和第二信号输出端，所述信号产生子单元的输入端为所述信号产生单元的输入端，所述第一信号输出端与所述第一信号处理单元的输入端电连接，所述第二信号输出端与所述第二信号处理单元的输入端电连接；所述第一信号处理单元的输出端和所述第二信号处理单元的输出端为所述信号产生单元的输出端。

3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述信号产生子单元为现场可编程门阵列芯片，所述第一信号处理单元为缓冲器，所述第二信号处理单元为译码器。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于，所述第一信号处理单元为低电压差分信号缓冲器，所述第二信号处理单元为移动产业处理器接口信号译码器。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述第二信号处理单元还包括初始信号输入端，所述第二信号处理单元的初始信号输入端与所述控制单元电连接；所述第二信号处理单元用于根据所述初始信号输入端的信号输出所述信号产生单元的一类信号。

6.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括电源单元；

所述电源单元包括电源使能输入端和电源信号输出端；所述电源使能输入端与所述控制单元电连接，所述电源信号输出端与所述第一信号接口的第三端子电连接。

7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述选通单元包括至少一个继电器；所述继电器包括控制端、电源输入端、至少一个公共触点、与所述公共触点一一对应的至少一个第一触点和至少一个第二触点；所述继电器的控制端作为所述选通单元的控制端，至少一个所述电源输入端与所述电源单元的输出端电连接，所述公共触点作为所述选通单元的输出端，所述第一触点与所述信号产生单元的一类信号输出端电连接，所述第二触点与所述信号产生单元的另一类信号输出端电连接。

8.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，多个所述第一触点为常开触点，多个所述第二触点为常闭触点；或者，多个所述第一触点为常闭触点，多个所述第二触点为常开触点。

9.根据权利要求7所述的测试治具，其特征在于，所述继电器的型号为S-VSON4。

10.一种转接板，包括第二信号接口，其特征在于，还包括存储器，所述存储器电连接所述第二信号接口上的对应的端子；所述第二信号接口用于与测试治具的第一信号接口电连接，所述第二信号接口与所述第一信号接口电连接后，所述存储器电连接所述测试治具的控制单元。