CN209311529U - 一种电学性能测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电学性能测试设备，包括底座、操作台、第一连接块、第一固定块、第二固定块和第三连接块，底座上设有第一凹槽，操作台设置在第一凹槽内，操作台上设有固定台，固定台的左右两侧上均设有多个电机箱，固定台的上侧上设有多个第二凹槽，多个第二凹槽的上端均设有第一固定夹块和第二固定夹块，且多个第一固定夹块的左侧和多个第二固定夹块的右侧上均设有第四连接块，本实用新型一种电学性能测试设备，通过固定台上的多个第一固定夹块和多个第二固定夹块所组成的夹具，可以对不同的设备或零件进行夹紧固定，这样就解决了传统的测试设备只能一次对一个或一种零件或设备来进行测试，测试效率低下的问题。

Description

一种电学性能测试设备

技术领域

本实用新型涉及电学性能测试技术领域，具体是一种电学性能测试设备。

背景技术

电学材料已经完全融入社会生产和个人生活当中，在各种方面都离不开，比如用于传输电流的导体、用于各种微电子功能元器件的半导体、起保护作用和储存电能的绝缘体、用于超高磁场与高能物理的超导体、力热光磁等外界条件作用下所表现出的各种电性在生活中的广泛应用，但是材料的电学性能却无法直接了解到，需要进行一定的测试才能显现出它的性能，现在的电学性能测试设备结构较为单一，无法做到同时对多种或多个材料进行测试，且一般的测试设备的固定结构和夹具，结构简单，夹紧和固定的效果不是很好，容易造成测试误差，从而对后续的试验造成很大的影响。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电学性能测试设备，以解决上述背景技术中提出的结构较为单一，无法做到同时对多种或多个材料进行测试，且一般的测试设备的固定结构和夹具，结构简单，夹紧和固定的效果不是很好，容易造成测试误差，从而对后续的试验造成很大的影响的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种电学性能测试设备，包括底座、操作台、第一连接块、第一固定块、第二固定块和第三连接块，所述底座上设有第一凹槽，所述操作台设置在第一凹槽内，所述操作台上设有固定台，所述固定台的左右两侧上均设有多个电机箱，所述固定台的上侧上设有多个第二凹槽，多个所述第二凹槽的上端均设有第一固定夹块和第二固定夹块，且多个所述第一固定夹块的左侧和多个第二固定夹块的右侧上均设有第四连接块，多个所述第一固定夹块的右侧和多个第二固定夹块的左侧上均设有放置槽，且所述第一固定夹块的右侧上放置槽的两侧和多个第二固定夹块的左侧上放置槽的两侧上分别设有插槽和插杆，多个所述电机箱内均设有微型伺服电机，多个所述第二凹槽内均设有两个转轴，且两个转轴的一端分别与对应的微型伺服电机的输出端转动连接，两个转轴的另一端上均设有螺纹，多个所述第二凹槽内均设有两个连接滑动块，且多个所述连接滑动块上均设有两个滑孔和轴承，且两个所述滑孔内均设有固定滑杆，且两个所述固定滑杆的一端分别与第二凹槽的左右两侧固定连接，所述轴承的内环上设有螺纹，且多个所述轴承与多个转轴的另一端通过螺纹连接。

进一步的，所述操作台的下侧通过多个支撑杆与第一凹槽的底部固定连接。

进一步的，所述第一固定块设置在底座上，所述第二固定块的背侧通过第一固定杆与第一固定块的前侧固定连接，且所述第二固定块的下侧上设有两个滑轨，所述第三连接块设置两个，且两个所述第三连接块的上侧均通过两个滑块分别与两个滑轨滑动连接，两个所述第三连接块的下侧上均设有多个检测针头。

进一步的，所述第一连接块设置两个，且两个所述第一连接块的一端均通过连接座与底座的上侧固定连接，且两个所述第一连接块的另一端上均与第二连接块的左侧固定连接，所述第二连接块的前侧通过多个第二固定杆与显示器的背侧固定连接。

进一步的，多个所述第一固定夹块、多个第二固定夹块和多个第四连接块上均设有连接固定螺孔，且多个所述第一固定夹块、多个第二固定夹块和多个第四连接块上的连接固定螺孔相互对应。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

通过固定台上的多个第一固定夹块和多个第二固定夹块所组成的夹具，可以对不同的设备或零件进行夹紧固定，这样就解决了传统的测试设备只能一次对一个或一种零件或设备来进行测试，测试效率低下的问题，检测后的参数和数据会直接反馈到显示器上，使得数据的显示更加直观，便于观察和总结，有效的提高了测试的效率，加快试验的进程。

附图说明

图1是本实用新型的立体图。

图2是本实用新型的检测探头的结构示意图。

图3是本实用新型的图1中A处的放大图。

图4是本实用新型的操作台的剖视图。

图5是本实用新型的连接滑动块的立体图。

图中：1、底座；2、第一凹槽；3、操作台；4、支撑杆；5、固定台；6、电机箱；7、连接座；8、第一连接块；9、第二连接块；10、显示器；11、第一固定块；12、第二固定块；13、第一固定杆；14、第三连接块；15、检测针头；16、第二固定杆；17、滑轨；18、滑块；19、第二凹槽；20、第四连接块；21、第一固定夹块；22、连接固定螺孔；23、插槽；24、插杆；25、放置槽；26、第二固定夹块；27、微型伺服电机；28、转轴；29、螺纹；30、连接滑动块；31、固定滑杆；32、滑孔；33、轴承。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1～5，本实用新型实施例中，一种电学性能测试设备，包括底座1、操作台3、第一连接块8、第一固定块11、第二固定块12和第三连接块14，所述底座1上设有第一凹槽2，所述操作台3设置在第一凹槽2内，所述操作台3上设有固定台5，所述固定台5的左右两侧上均设有多个电机箱6，所述固定台5的上侧上设有多个第二凹槽19，多个所述第二凹槽19的上端均设有第一固定夹块21和第二固定夹块26，且多个所述第一固定夹块21的左侧和多个第二固定夹块26的右侧上均设有第四连接块20，多个所述第一固定夹块21的右侧和多个第二固定夹块26的左侧上均设有放置槽25，且所述第一固定夹块21的右侧上放置槽25的两侧和多个第二固定夹块26的左侧上放置槽25的两侧上分别设有插槽23和插杆24，多个所述电机箱6内均设有微型伺服电机27，多个所述第二凹槽19内均设有两个转轴28，且两个转轴28的一端分别与对应的微型伺服电机27的输出端转动连接，两个转轴28的另一端上均设有螺纹29，多个所述第二凹槽19内均设有两个连接滑动块30，且多个所述连接滑动块30上均设有两个滑孔32和轴承33，且两个所述滑孔32内均设有固定滑杆31，且两个所述固定滑杆31的一端分别与第二凹槽19的左右两侧固定连接，所述轴承33的内环上设有螺纹29，且多个所述轴承33与多个转轴28的另一端通过螺纹29连接。

所述操作台3的下侧通过多个支撑杆4与第一凹槽2的底部固定连接，所述第一固定块11设置在底座1上，所述第二固定块12的背侧通过第一固定杆13与第一固定块11的前侧固定连接，且所述第二固定块12的下侧上设有两个滑轨17，所述第三连接块14设置两个，且两个所述第三连接块14的上侧均通过两个滑块18分别与两个滑轨17滑动连接，两个所述第三连接块14的下侧上均设有多个检测针头15，所述第一连接块8设置两个，且两个所述第一连接块8的一端均通过连接座7与底座1的上侧固定连接，且两个所述第一连接块8的另一端上均与第二连接块9的左侧固定连接，所述第二连接块9的前侧通过多个第二固定杆16与显示器10的背侧固定连接，多个所述第一固定夹块21、多个第二固定夹块26和多个第四连接块20上均设有连接固定螺孔22，且多个所述第一固定夹块21、多个第二固定夹块26和多个第四连接块20上的连接固定螺孔22相互对应。

本实用新型一种电学性能测试设备，通过固定台上的多个第一固定夹块和多个第二固定夹块所组成的夹具，可以对不同的设备或零件进行夹紧固定，这样就解决了传统的测试设备只能一次对一个或一种零件或设备来进行测试，测试效率低下，检测后的参数和数据会直接反馈到显示器上，使得数据的显示更加直观，便于观察和总结，有效的提高了测试的效率，加快试验的进程。

本实用新型的工作原理是：先启动操作台5两侧电机箱6内的电机27，通过微型伺服电机27的运作从而带动转轴28进行转动，转轴28在转动的同时螺纹29跟着进行转动，因转轴28另一端与连接滑动块30上轴承33之间的螺纹连接关系，从而使得转轴28在转动的同时连接滑动块30在转轴28和固定滑杆31上进行移动，通过微型伺服电机27的运作从而将第一固定夹块21和第二固定夹块26相互远离，然后将所需要测试的零件或设备放置在第一固定夹块21和第二固定夹块26之间，再次通过微型伺服电机27的运作将第一固定夹块21和第二固定夹块26相互靠近，当第一固定架空21和第二固定夹块26通过插槽23和插杆24机型插接时，即可将所需要测试的零件或设备进行夹紧固定在第一固定夹块和第二固定夹块26的放置槽25上，随后通过第三连接块14上的检测针头15对所需要测试的零件或设备进行检测和测试，通过滑块18在滑轨17上的滑动从而带动不同的检测针头15对零件或设备进行检测和测试，检测后的参数和数据会直接反馈到显示器10中，使得数据的显示更加直观，便于观察和总结。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (5)

1.一种电学性能测试设备，其特征在于，包括底座(1)、操作台(3)、第一连接块(8)、第一固定块(11)、第二固定块(12)和第三连接块(14)，所述底座(1)上设有第一凹槽(2)，所述操作台(3)设置在第一凹槽(2)内，所述操作台(3)上设有固定台(5)，所述固定台(5)的左右两侧上均设有多个电机箱(6)，所述固定台(5)的上侧上设有多个第二凹槽(19)，多个所述第二凹槽(19)的上端均设有第一固定夹块(21)和第二固定夹块(26)，且多个所述第一固定夹块(21)的左侧和多个第二固定夹块(26)的右侧上均设有第四连接块(20)，多个所述第一固定夹块(21)的右侧和多个第二固定夹块(26)的左侧上均设有放置槽(25)，且所述第一固定夹块(21)的右侧上放置槽(25)的两侧和多个第二固定夹块(26)的左侧上放置槽(25)的两侧上分别设有插槽(23)和插杆(24)，多个所述电机箱(6)内均设有微型伺服电机(27)，多个所述第二凹槽(19)内均设有两个转轴(28)，且两个转轴(28)的一端分别与对应的微型伺服电机(27)的输出端转动连接，两个转轴(28)的另一端上均设有螺纹(29)，多个所述第二凹槽(19)内均设有两个连接滑动块(30)，且多个所述连接滑动块(30)上均设有两个滑孔(32)和轴承(33)，且两个所述滑孔(32)内均设有固定滑杆(31)，且两个所述固定滑杆(31)的一端分别与第二凹槽(19)的左右两侧固定连接，所述轴承(33)的内环上设有螺纹(29)，且多个所述轴承(33)与多个转轴(28)的另一端通过螺纹(29)连接。

2.根据权利要求1所述的一种电学性能测试设备，其特征在于，所述操作台(3)的下侧通过多个支撑杆(4)与第一凹槽(2)的底部固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种电学性能测试设备，其特征在于，所述第一固定块(11)设置在底座(1)上，所述第二固定块(12)的背侧通过第一固定杆(13)与第一固定块(11)的前侧固定连接，且所述第二固定块(12)的下侧上设有两个滑轨(17)，所述第三连接块(14)设置两个，且两个所述第三连接块(14)的上侧均通过两个滑块(18)分别与两个滑轨(17)滑动连接，两个所述第三连接块(14)的下侧上均设有多个检测针头(15)。

4.根据权利要求1所述的一种电学性能测试设备，其特征在于，所述第一连接块(8) 设置两个，且两个所述第一连接块(8)的一端均通过连接座(7)与底座(1)的上侧固定连接，且两个所述第一连接块(8)的另一端上均与第二连接块(9)的左侧固定连接，所述第二连接块(9)的前侧通过多个第二固定杆(16)与显示器(10)的背侧固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种电学性能测试设备，其特征在于，多个所述第一固定夹块(21)、多个第二固定夹块(26)和多个第四连接块(20)上均设有连接固定螺孔(22)，且多个所述第一固定夹块(21)、多个第二固定夹块(26)和多个第四连接块(20)上的连接固定螺孔(22)相互对应。