CN209280838U - 通用线束导通性检测电路 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种通用线束导通性检测电路,解决了现有技术的不足,技术方案为:由市电供电包括上位机、单片机、数字电源、变压器、稳压电路、适配调节电阻和若干组相同的检测指示电路,所有的检测指示电路均包括电阻R1、三极管Q1、发光二极管LED1、电阻R2和接口J1,所述电阻R1的一端与单片机的一个输入输出口连接,所述电阻R1的另一端与三极管Q1的基极连接,所述三极管Q1的集电极与稳压电路的输出端连接,所述三极管Q1的发射极与发光二极管LED1的阳极连接,发光二极管LED1的阴极通过电阻R2与接口J1的第一端连接,所述接口J1的第二端接地,接口J1的第一端与接口J1的第二端直接连接受测线束。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,具体涉及一种通用线束导通性检测电路。
背景技术
中国专利公开号 104391218A,在2015年曾公开过一种线束检测电路,其关键在于:所述线束检测电路包括采集电路和通讯电路;所述采集电路通过采集线束点与通讯电路相连,采集电路连接触摸屏液晶显示器显示线束检测的结果;所述采集电路包括单片机芯片IC1;所述通讯电路包括控制模块PIC。本发明中采集电路部分将单片机芯片IC1的引脚用PCB板连接到端子上面,端子用被检测线束端子的线束连接,再根据单片机芯片IC1引脚上的电平信号来判定线束是否连接良好,并通过485通讯方式将相关信号传递给通讯电路部分;通讯电路中的控制模块PIC将信号传送给电脑显示,把没有导通的线束用红色指出来,如导通良好,则显示检测通过;其操作方便,检测效率高。但是其设备的通用性较差,能够检测的设备较少。
例如有些场合中以加工完的线束上带有部分的设备、元件装置,此时采用此设备进行检测就会损坏线束上带有的部分的设备、元件,存在通用性较差的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于解决上述现有技术存在通用线束导通性检测电路通用性较差的问题,提供一种通用性较好的通用线束导通性检测电路。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种通用线束导通性检测电路,由市电供电,包括上位机、单片机、数字电源、变压器、稳压电路、适配调节电阻和若干组相同的检测指示电路,所述上位机与所述单片机通过RS232总线通信连接,所述单片机有数字电源供电,所述变压器的输入端与市电连接,所述变压器的输出端通过整流桥与稳压电路的输入端连接,所述稳压电路的输出端通过适配调节电阻接地,所有的检测指示电路均包括电阻R1、三极管Q1、发光二极管LED1、电阻R2和接口J1,所述电阻R1的一端与单片机的一个输入输出口连接,所述电阻R1的另一端与三极管Q1的基极连接,所述三极管Q1的集电极与稳压电路的输出端连接,所述三极管Q1的发射极与发光二极管LED1的阳极连接,发光二极管LED1的阴极通过电阻R2与接口J1的第一端连接,所述接口J1的第二端接地,接口J1的第一端与接口J1的第二端直接连接受测线束。本实用新型中适配调节电阻的默认值为最大,使用者在上电后,由于适配调节电阻阻值很大,不会产生大电流损坏线束上带有的部分的设备、元件,逐步调节适配调节电阻阻值,使得发光二极管逐步变亮,未发光的线路即为检测不合格的线束所在。
作为优选,所述稳压电路包括电容C1、稳压芯片LM7812和电容C2,所述电容C1的第一端与稳压芯片LM7812的输入端连接,所述电容C1的第二端接地,所述电容C2的第一端与稳压芯片LM7812的输出端连接,电容C2的第二端和稳压芯片LM7812的接地端接地。
作为优选,所述单片机的输入输出口为带有AD转换的输入输出口。
作为优选,所述稳压芯片LM7812的输出端通过二极管D1和电阻R3与单片机的一个带有AD转换的输入输出口电连接。这个电路的设置起到了自动断路的作用,但单片机从电阻R3处接收的信号表示适配调节电阻未达到预定的电阻值时,单片机不发出导通三极管Q1的信号,如此一来,确保不会因为忘记调整适配调节电阻的阻值而导致的产生大电流损坏线束上带有的部分的设备、元件的问题。
作为优选,每个发光二极管旁均配设有一个光敏电阻和一个限流电阻,光敏电阻的第一端连接稳压芯片LM7812的输出端,光敏电阻的第二端通过限流电阻与单片机的一个输入输出口连接。这样设置,单片机可以直接根据上位机的命令和反馈的输入直接得到所有线束的导通性并向上位机进行通信。
本实用新型的实质性效果是:本实用新型中适配调节电阻的默认值为最大,使用者在上电后,由于适配调节电阻阻值很大,不会产生大电流损坏线束上带有的部分的设备、元件,逐步调节适配调节电阻阻值,使得发光二极管逐步变亮,未发光的线路即为检测不合格的线束所在。
附图说明
图1为本实用新型的电路原理图。
图中:1、数字电源,2、单片机,3、上位机。
具体实施方式
下面通过具体实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步的具体说明。
实施例1:
一种通用线束导通性检测电路(参加附图1),由市电供电,包括上位机、单片机、数字电源、变压器、稳压电路、适配调节电阻和若干组相同的检测指示电路,所述上位机与所述单片机通过RS232总线通信连接,所述单片机有数字电源供电,所述变压器的输入端与市电连接,所述变压器的输出端通过整流桥与稳压电路的输入端连接,所述稳压电路的输出端通过适配调节电阻接地,所有的检测指示电路均包括电阻R1、三极管Q1、发光二极管LED1、电阻R2和接口J1,所述电阻R1的一端与单片机的一个输入输出口连接,所述电阻R1的另一端与三极管Q1的基极连接,所述三极管Q1的集电极与稳压电路的输出端连接,所述三极管Q1的发射极与发光二极管LED1的阳极连接,发光二极管LED1的阴极通过电阻R2与接口J1的第一端连接,所述接口J1的第二端接地,接口J1的第一端与接口J1的第二端直接连接受测线束。 所述稳压电路包括电容C1、稳压芯片LM7812和电容C2,所述电容C1的第一端与稳压芯片LM7812的输入端连接,所述电容C1的第二端接地,所述电容C2的第一端与稳压芯片LM7812的输出端连接,电容C2的第二端和稳压芯片LM7812的接地端接地。所述单片机的输入输出口为带有AD转换的输入输出口。所述稳压芯片LM7812的输出端通过二极管D1和电阻R3与单片机的一个带有AD转换的输入输出口电连接。适配调节电阻为滑变RL1。
本实施例中适配调节电阻的默认值为最大,使用者在上电后,由于适配调节电阻阻值很大,不会产生大电流损坏线束上带有的部分的设备、元件,逐步调节适配调节电阻阻值,使得发光二极管逐步变亮,未发光的线路即为检测不合格的线束所在。而电阻R3处电路设置起到了自动断路的作用,但单片机从电阻R3处接收的信号表示适配调节电阻未达到预定的电阻值时,单片机不发出导通三极管Q1的信号,如此一来,进一步确保不会因为忘记调整适配调节电阻的阻值而导致的产生大电流损坏线束上带有的部分的设备、元件的问题。
实施例2:
本实施例与实施例1基本相同,不同之处在于,本实施例中,每个发光二极管旁均配设有一个光敏电阻和一个限流电阻,光敏电阻的第一端连接稳压芯片LM7812的输出端,光敏电阻的第二端通过限流电阻与单片机的一个输入输出口连接。这样设置,单片机可以直接根据上位机的命令和反馈的输入直接得到所有线束的导通性并向上位机进行通信。
以上所述的实施例只是本实用新型的一种较佳的方案,并非对本实用新型作任何形式上的限制,在不超出权利要求所记载的技术方案的前提下还有其它的变体及改型。
Claims (4)
1.一种通用线束导通性检测电路,由市电供电,其特征在于:包括上位机、单片机、数字电源、变压器、稳压电路、适配调节电阻和若干组相同的检测指示电路,所述上位机与所述单片机通过RS232总线通信连接,所述单片机有数字电源供电,所述变压器的输入端与市电连接,所述变压器的输出端通过整流桥与稳压电路的输入端连接,所述稳压电路的输出端通过适配调节电阻接地,所有的检测指示电路均包括电阻R1、三极管Q1、发光二极管LED1、电阻R2和接口J1,所述电阻R1的一端与单片机的一个输入输出口连接,所述电阻R1的另一端与三极管Q1的基极连接,所述三极管Q1的集电极与稳压电路的输出端连接,所述三极管Q1的发射极与发光二极管LED1的阳极连接,发光二极管LED1的阴极通过电阻R2与接口J1的第一端连接,所述接口J1的第二端接地,接口J1的第一端与接口J1的第二端直接连接受测线束。
2.根据权利要求1所述的通用线束导通性检测电路,其特征在于:所述稳压电路包括电容C1、稳压芯片LM7812和电容C2,所述电容C1的第一端与稳压芯片LM7812的输入端连接,所述电容C1的第二端接地,所述电容C2的第一端与稳压芯片LM7812的输出端连接,电容C2的第二端和稳压芯片LM7812的接地端接地。
3.根据权利要求2所述的通用线束导通性检测电路,其特征在于:所述单片机的输入输出口为带有AD转换的输入输出口。
4.根据权利要求3所述的通用线束导通性检测电路,其特征在于:所述稳压芯片LM7812的输出端通过二极管D1和电阻R3与单片机的一个带有AD转换的输入输出口电连接。
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