CN209264635U - 表面波检测时基线调整与检测深度测试装置 - Google Patents
表面波检测时基线调整与检测深度测试装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型提供表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，包括测试块本体和固定在测试块本体下的基体，所述测试块本体下表面具有一个以上的由测试块本体下表面向上表面延伸的线槽，所述线槽的宽度相同，线槽的顶部到测试块本体上表面的距离不相同，在测试块本体上表面具有标记线，测试块本体一侧具有台阶，台阶形成测试块本体端面、和测试块本体端面垂直的台阶垂直面和与测试块本体端面平行的台阶平行面，标记线位于线槽和台阶平行面之间。本实用新型用于超声表面波检测时的时基线调整和可检测深度的评估，结构简单，操作方便，实用性强。
Description
技术领域
本实用新型涉及表面波检测技术领域，具体涉及表面波检测时基线调整与检测深度测试装置。
背景技术
表面及近表面缺陷的危害性极大，超声表面波检测技术对发现材料表面及近表面缺陷具有很好的效果。超声波探伤仪是超声表面波检测常用的一种设备，是一种便携式工业无损探伤仪器，它能够快速、便捷、无损伤、精确地进行工件内部多种缺陷。超声波探伤仪在使用前必须进行超声波探伤扫描速度调整，这样才能准确的探测出表面及近表面缺陷的位置。市面上超声波探伤仪各种各样，对表面缺陷可检测缺陷存在深度都不一样，而且超声探伤仪长时间使用后，对近表面缺陷可检测深度会发生变化，如果不确定可检测深度，超出可检测深度的近表面缺陷就无法被检测出来，表面缺陷就无法发现，出现漏检，现有技术如专利申请号为CN201620668776.5，公告日为2016.12.07，其公开了一种表面波检测表面开口缺陷的对比试块，具体公开了其包括试块本体，试块本体的一侧面开设有第一线槽及第二线槽，试块本体的另一侧面开设有第三线槽及第四线槽，第一线槽的宽度、第二线槽的宽度、第三线槽的宽度及第四线槽的宽度均相同，第一线槽的深度、第二线槽的深度、第三线槽的深度及第四线槽的深度均不同，该结构用于超声检测仪和表面波探头的组合性能的校验、检测灵敏度和缺陷大小的确定，该结构主要是通过在试块上设有向下表面开设的凹槽，且凹槽的深度不同，用于超声检测仪可以检测到的缺陷开口的大小，其并不能检测缺陷隐藏在产品的深度位置，同时其仅仅只能检测缺陷开口大小并不能确定时基线的位置，但是如果时基线位置的不准确将导致检测过程中检测数据不准确，因此，有必要设计表面波检测时基线调整与检测深度评估试装置，用于超声表面波检测时的时基线调整和可检测深度的评估。
发明内容
为解决现有技术中存在的问题，本实用新型提供一种表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，用于超声表面波检测时的时基线调整和可检测深度的评估，结构简单，操作方便，实用性强。
本实用新型的技术方案为，表面波检测时基线调整与检测深度测试装置包括测试块本体和固定在测试块本体下的基体，所述测试块本体下表面具有一个以上的由测试块本体下表面向上表面延伸的线槽，所述线槽的宽度相同，线槽的顶部到测试块本体上表面的距离不相同，在测试块本体上表面具有标记线，测试块本体一侧具有台阶，台阶包括测试块本体端面、和测试块本体端面垂直的台阶垂直面和与测试块本体端面平行的台阶平行面，标记线位于线槽和台阶平行面之间。以上结构，由于线槽是从测试块本体的下表面向上表面延伸的方向设置，从而设置基体，防止测试块本体变形，影响时基线调整和可检测深度的评估的结果。通过将表面波探头置于标记线处，向测试块本体台阶方向发出波对测试块本体端面和台阶平行面进行检测，然后根据测试块本体端面和台阶平行面实际位置关系与测试到结果，调节试块本体端面和台阶平行面反射回波在显示屏上的位置来实现时基线调整，反射回波在显示屏上的位置显示为格数，通过测试块本体端面和台阶平行面的反射回波在显示屏上的位置确定每格表示的距离后，在对工件进行检测时，就可以根据反射回波在显示屏上的格数来确定表面缺陷的位置；将表面波探头置于标记线处，向线槽方向发出波，对不同埋深的线槽进行检测，因为线槽顶部到测试块本体上表面的距离不同，通过反射回波的位置确定探伤仪的最大可检测缺陷的深度，同时将时基线调整和检测深度测试集成在一个测试块上，共用一个时基线，防止分成两个测试块分别进行检测时无法将两个测试块的时基线保持一致从而导致测试误差的情况发生，测试准确。这样的结构简单，操作方便，实用性强。
进一步的，所述标记线到测试块本体端面的垂直距离是标记线到台阶平行面的垂直距离的两倍。将表面波探头置于标记线处，对台阶平行面发射表面波，由于标记线到测试块本体端面以及台阶平行面之间的实际距离为两倍关系，当表面波到达台阶平行面时会产生反射回波，形成显示在显示屏上的格数，调节好格数后，再对测试块本体端面发射表面波，如果测试块本体端面显示在显示屏上的格数是台阶平行面显示在显示屏上的格数的两倍，则扫描速度调整好，如果不是，则反复调节仪器，直至测试块本体端面显示在显示屏上的格数是台阶平行面显示在显示屏上的格数的两倍，完成扫描速度调整；这样方便调整扫描速度，实现时基线调整。
进一步的，所述测试块具有九条线槽，九条线槽的间距相同。设置九条线槽，九条线槽的埋藏深度不一样，可检测深度的评估范围大，九条线槽间距相同，对九条线槽进行检测时，方便确定是哪条线槽。
进一步的，九条线槽的宽度为0.2mm，九条线槽的间距均为10mm，九条线槽的顶部到测试块本体上表面的距离依次分别为：2.0mm、1.8mm、1.6mm、1.2mm、1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm，最靠近标记线的线槽为顶部到测试块本体上表面的距离为2.0mm的线槽，此线槽到标记线的垂直距离为50mm。九条线槽的顶部到测试块本体上表面的距离依次递减，这样就可以快速确定出九条线槽中到达那条线槽而产生反的反射回波，从而快速确定出具体的可检测深度。
进一步的，所述标记线到测试块本体端面的垂直距离为100mm，标记线到台阶平行面的垂直距离为50mm。如果将台阶平行面的反射回波在显示屏上的格数调整为五格，则一格表示距离标记线10mm，那么距离标记线100mm的位置的格数将显示为十格，这样将测试块本体端面的反射回波在显示屏上的格数调整为十格，这样扫描速度就调整完，方便调节。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为本实用新型的主视图。
图3为本实用新型的俯视图。
图4为图2中A处放大图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细说明。
如图1-3所示，一种表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，包括测试块本体1和固定在测试块本体1下的基体2，所述测试块本体下表面具有一个以上的向上表面延伸的线槽3，所述线槽3的宽度相同，线槽3的顶部到测试块本体上表面的距离不相同，在测试块本体上表面具有标记线4，测试块本体1一侧具有台阶5，台阶5形成测试块本体端面6、和本体端面垂直的台阶垂直面7和与测试块本体端面平行的台阶平行面8，标记线4位于线槽3和台阶5平行面之间。由于线槽3是从下表面向上表面延伸设置，设置基体2，防止测试块本体1变形，影响时基线调整和可检测深度的评估的结果。通过将表面波探头置于标记线4处，对测试块本体端面6和台阶平行面8进行检测，然后调节试块本体端面6和台阶平行面8的反射回波在显示屏上的位置来实现时基线调整，反射回波在显示屏上的位置显示为格数，通过测试块本体端面6和台阶平行面8的反射回波在显示屏上的位置确定每格表示的距离后，在对工件进行检测时，就可以根据反射回波在显示屏上的格数来确定表面缺陷的位置；将表面波探头置于标记线4处，对不同埋深的线槽进行检测，因为线槽顶部到测试块本体上表面的距离不同，通过反射回波的位置确定探伤仪的最大可检测缺陷的深度。这样的结构简单，操作方便，实用性强。
所述标记线4到测试块本体端面6的垂直距离是标记线4到台阶平行面8的垂直距离的两倍。所述标记线4到测试块本体端面的垂直距离为100mm，标记线4到台阶平行面8的垂直距离为50mm。所述测试块本体1具有九条线槽3，九条线槽3的间距相同。九条线槽3的宽度为0.2mm，九条线槽3的间距均为10mm，九条线槽3的顶部到测试块本体上表面的距离依次分别为：2.0mm、1.8mm、1.6mm、1.2mm、1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm，最靠近标记线4的线槽3为顶部到测试块本体上表面的距离为2.0mm的线槽，此线槽3到标记线4的垂直距离为50mm。设置九条线槽，九条线槽的埋藏深度不一样，可检测深度的评估范围大，九条线槽间距相同，对就条线槽进行检测时，方便确定是哪条线槽。九条线槽的顶部到测试块本体上表面的距离依次递减，这样就可以快速确定出九条线槽中到达哪条线槽而产生反的反射回波，从而快速确定出具体的可检测深度。
本实用新型具体实施方式的检测步骤为：将表面波探头置于标记线4处，向台阶方向发出波，对台阶平行面发射表面波，当表面波到达台阶平行面时会产生反射回波，形成显示在显示屏上的格数，将台阶平行面的反射回波在显示屏上的格数调整为五格，则一格表示距离标记线10mm，那么距离标记线100mm的位置的格数将显示为十格；调节好格数后，再对测试块本体端面发射表面波，如果测试块本体端面的在显示屏上的格数是十格，则扫描速度调整好，如果不是，则反复调节仪器，直至测试块本体端面的反射回波在显示屏上的格数调整为十格，这样扫描速度就调整完；将表面波探头置于标记线4处，向线槽方向发出波，通过对不同埋深的线槽进行检测，根据是否有反射回波以及反射回波的幅度大小，评估可检测缺陷的深度。
Claims (5)
1.表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，其特征在于，包括测试块本体和固定在测试块本体下的基体，所述测试块本体下表面具有一个以上的由测试块本体下表面向上表面延伸的线槽，所述线槽的宽度相同，线槽的顶部到测试块本体上表面的距离不相同，在测试块本体上表面具有标记线，测试块本体一侧具有台阶，台阶包括测试块本体端面、和测试块本体端面垂直的台阶垂直面和与测试块本体端面平行的台阶平行面，标记线位于线槽和台阶平行面之间。
2.根据权利要求1所述的表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，其特征在于，所述标记线到测试块本体端面的垂直距离是标记线到台阶平行面的垂直距离的两倍。
3.根据权利要求1所述的表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，其特征在于，所述测试块本体具有九条线槽，九条线槽的间距相同。
4.根据权利要求3所述的表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，其特征在于，九条线槽的宽度为0.2mm，九条线槽的间距均为10mm，九条线槽的顶部到测试块本体上表面的距离依次分别为：2.0mm、1.8mm、1.6mm、1.2mm、1.0mm、0.8mm、0.6mm、0.4mm，最靠近标记线的线槽为顶部到测试块本体上表面的距离为2.0mm的线槽，最靠近标记线的线槽到标记线的垂直距离为50mm。
5.根据权利要求4所述的表面波检测时基线调整与检测深度测试装置，其特征在于，所述标记线到测试块本体端面的垂直距离为100mm，标记线到台阶平行面的垂直距离为50mm。
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