CN209231390U - 一种集成电路测试用的探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试用的探针,包括探针主体与密封部件，所述探针主体内部活动设置有弹簧，所述弹簧顶部固定安装有上接触端，所述上接触端与探针主体顶部活动连接，所述弹簧底部固定安装有下接触端，所述下接触端与探针主体固定安装，所述密封部件固定安装在探针主体与上接触端连接处，所述密封部件内部固定设置有上密封圈，所述上密封圈底部固定安装有下密封圈，所述上密封圈和下密封圈之间通过卡槽相互扣合，所述上密封圈下端面固定安装有涨紧凸块，所述下密封圈的上端面开设有涨紧槽。本实用新型结构简单，使用便捷，通过在探针主体内部设置密封部件，可以有效的避免了后液体进入到探针主体内部影响测试的效率。

Description

一种集成电路测试用的探针

技术领域

本实用新型涉及电路测试设备技术领域，具体为一种集成电路测试用的探针。

背景技术

现有用于集成电路成品测试用的弹簧探针的结构，主要是由上顶针、下顶针、腔体、弹簧组成。其中腔体的结构是由圆筒形的金属套管构成，上、下顶针的较大端部置于腔体两端内，弹簧置于腔体的中间，腔体的两端向内卷边，将上、下顶针的较大端部包在腔体内。使用时，通过向腔体内挤压上、下顶针，压缩弹簧，形成稳定的弹力。

现有的测试用探针存在如下不足：

1、大多数集成电路成品测试用的探针，在对探针进行超声波清洗后，即利用酒精做媒介的超声浴后，液体容易进入到腔体中，影响弹簧，上、下顶针的运动，造成探针弹力、接触电阻不稳定，进而影响测试的效率；

2、由于测试用的探针是精密性较高的设备，但是市场上售卖的一些测试用探针，基本上没有对探针主体进行相应的保护，这样在使用中出现一些碰撞会很容易对探针主体造成损伤。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试用的探针，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试用的探针,包括探针主体与密封部件，所述探针主体内部活动设置有弹簧，所述弹簧顶部固定安装有上接触端，所述上接触端与探针主体顶部活动连接，所述弹簧底部固定安装有下接触端，所述下接触端与探针主体固定安装，所述密封部件固定安装在探针主体与上接触端连接处，所述密封部件内部固定设置有上密封圈，所述上密封圈底部固定安装有下密封圈，所述上密封圈和下密封圈之间通过卡槽相互扣合，所述上密封圈下端面固定安装有涨紧凸块，所述下密封圈的上端面开设有涨紧槽，所述涨紧凸块和涨紧槽均为半圆形结构，所述上密封圈和下密封圈的连接处设置有密封油。

优选的，所述探针主体外表面固定设置有缓冲层，所述缓冲层内部填充有若干橡胶球。

优选的，所述缓冲层底部与顶部均固定安装有保护块，所述保护块的材质为硬质合金材质。

优选的，所述探针主体外侧表面中间位置固定设置有凸块，所述凸块表面开设有防滑条纹。

优选的，所述上密封圈与下密封圈的材质均为耐磨性橡胶材料。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过在上密封圈底部固定安装有下密封圈，上密封圈和下密封圈之间通过卡槽相互扣合，上密封圈下端面固定安装有涨紧凸块，下密封圈的上端面开设有涨紧槽，涨紧凸块和涨紧槽均为半圆形结构，该密封部件由两个相互扣合的部分组合，两者之间相互嵌套，并且具有涨紧功能，有效的提高了密封效果好；

2、本实用新型同时还在探针主体外表面固定设置有缓冲层，缓冲层内部填充有若干橡胶球，可以有效的对探针主体表面进行很好的缓冲保护，缓冲层底部与顶部均固定安装有保护块，可以对探针主体顶部和底部边角进行很好的保护，承载了主要的撞击力。

附图说明

图1为本实用新型一种集成电路测试用的探针整体结构示意图；

图2为本实用新型一种集成电路测试用的探针中密封部件的俯视图；

图3为本实用新型一种集成电路测试用的探针中密封部件的剖视图。

图中：1、探针主体；2、密封部件；3、弹簧；4、上接触端；5、下接触端；6、上密封圈；7、下密封圈；8、卡槽；9、涨紧凸块；10、涨紧槽；11、密封油；12、缓冲层；13、保护块；14、凸块。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种集成电路测试用的探针,包括探针主体1与密封部件2，所述探针主体1内部活动设置有弹簧3，所述弹簧3顶部固定安装有上接触端4，所述上接触端4与探针主体1顶部活动连接，所述弹簧3底部固定安装有下接触端5，所述下接触端5与探针主体1固定安装，所述密封部件2固定安装在探针主体1与上接触端4连接处，所述密封部件2内部固定设置有上密封圈6，所述上密封圈6底部固定安装有下密封圈7，所述上密封圈6和下密封圈7之间通过卡槽8相互扣合，所述上密封圈6下端面固定安装有涨紧凸块9，所述下密封圈7的上端面开设有涨紧槽10，所述涨紧凸块9和涨紧槽10均为半圆形结构，所述上密封圈6和下密封圈7的连接处设置有密封油11。

所述探针主体1外表面固定设置有缓冲层12，所述缓冲层12内部填充有若干橡胶球，对探针主体1表面起到很好的保护鲜果；所述缓冲层12底部与顶部均固定安装有保护块13，所述保护块13的材质为硬质合金材质，承受了碰撞时主要的橦击力；所述探针主体1外侧表面中间位置固定设置有凸块14，所述凸块14表面开设有防滑条纹，便于提高使用者手与探针主体的摩擦力；所述上密封圈6与下密封圈7的材质均为耐磨性橡胶材料，具有很好的密封性。

工作原理：该实用新型在使用时，通过在凸块14表面开设防滑条纹，这样有效的提高了使用者手与探针主体1的摩擦力，这样有效的避免探针主体1的滑落，通过在探针主体1外表面固定设置有缓冲层12，缓冲层12内部填充有若干橡胶球，可有有效的对探针主体1表面进行很好的缓冲保护，缓冲层12底部与顶部均固定安装有保护块13，可以对探针主体1顶部和底部边角进行很好的保护，承载了主要的撞击力，通过将密封部件2固定安装在探针主体1与上接触端4连接处，由于该密封部件2是通过两个相互扣合的部分组合，两者之间相互嵌套，并且具有涨紧功能，有效的提高了密封效果好，有效的避免了液体容易进入到探针主体内部，有效的延长了装置的使用寿命，该装置具有结构简单、使用方便、使用效果好的优点。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种集成电路测试用的探针，包括探针主体(1)与密封部件(2)，其特征在于：所述探针主体(1)内部活动设置有弹簧(3)，所述弹簧(3)顶部固定安装有上接触端(4)，所述上接触端(4)与探针主体(1)顶部活动连接，所述弹簧(3)底部固定安装有下接触端(5)，所述下接触端(5)与探针主体(1)固定安装，所述密封部件(2)固定安装在探针主体(1)与上接触端(4)连接处，所述密封部件(2)内部固定设置有上密封圈(6)，所述上密封圈(6)底部固定安装有下密封圈(7)，所述上密封圈(6)和下密封圈(7)之间通过卡槽(8)相互扣合，所述上密封圈(6)下端面固定安装有涨紧凸块(9)，所述下密封圈(7)的上端面开设有涨紧槽(10)，所述涨紧凸块(9)和涨紧槽(10)均为半圆形结构，所述上密封圈(6)和下密封圈(7)的连接处设置有密封油(11)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的探针，其特征在于：所述探针主体(1)外表面固定设置有缓冲层(12)，所述缓冲层(12)内部填充有若干橡胶球。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试用的探针，其特征在于：所述缓冲层(12)底部与顶部均固定安装有保护块(13)，所述保护块(13)的材质为硬质合金材质。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的探针，其特征在于：所述探针主体(1)外侧表面中间位置固定设置有凸块(14)，所述凸块(14)表面开设有防滑条纹。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用的探针，其特征在于：所述上密封圈(6)与下密封圈(7)的材质均为耐磨性橡胶材料。