CN209198340U - 电子元器件检测设备 - Google Patents
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Abstract
本实用新型揭示了电子元器件检测设备，包括载料单元、传动单元、检测单元和分拣单元，其中传动单元包括透明传动盘、电机、编码器、及起始传感器；检测单元包括至少八个检测机位，其中六个检测机位为针对六面的基础检测机位，其余的检测机位为任意面的选择性加强机位。本实用新型创新地设计了选择性加强机位，能针对单面进行多机位检测，一次性得到综合检测数据，检测更精确，且满足检测效率。摄像机构、角度调节机构、频闪光源均为多轴式可调节结构，能根据不同的被动元件进行适应性调整，尤其是针对非常规六面的检测，具备较为广泛的适用性。设备整体设计严谨，检测过程流畅，适于推广应用。
Description
技术领域
本实用新型涉及检测设备，尤其涉及一种电子元器件检测设备，属于电子被动元件检测设备的技术领域。
背景技术
被动元件（Passive Components）是电子行业对某些电子元器件的叫法，区别于主动元件Active Components）。在中国大陆则称为无源器件和有源器件。目前国内也一般沿用被动元件（电容，电阻，电感），以及主动元件（集成电路）的叫法。
一般地，被动元件大体为六面结构体，需要通过检测设备对被动元件的六面进行表面检测，包括破损、裂纹、锈面、露铜、尺寸等检测。
传统的被动元件检测设备包括双面检测、四面检测、或六面检测，检测机位固定、检测光源恒定，因此存在检测数据不全面、不够准确等缺陷。
实用新型内容
本实用新型的目的是解决上述现有技术的不足，针对传统被动元件检测数据不全面、不够准确的问题，提出电子元器件检测设备。
为了达到上述目的，本实用新型所采用的技术方案为：
电子元器件检测设备，所述电子元器件包括电容、电阻、电感，
所述检测设备包括：
载料单元，用于装载电子元器件并进行出料；
传动单元，包括承载所述电子元器件及传输的透明传动盘、用于驱动透明传动盘旋转的电机、用于控制所述透明传动盘旋转量的编码器、及与所述编码器通讯相连的用于监控电子元器件起始位置的起始传感器；
检测单元，用于检测所述电子元器件六面，其包括至少八个检测机位，其中六个检测机位为基础检测机位，所述基础检测机位对应所述电子元器件的六面，另外的检测机位为任意面的选择性加强机位；
分拣单元，用于根据所述检测单元检测状况对所述电子元器件进行分拣收集。
优选地，所述检测机位包括摄像机构和用于调整摄像角度的角度调节机构，
所述摄像机构包括基座及设置在所述基座上的摄像模块，所述基座具备沿所述透明传动盘的径向位移、垂直于所述径向位移的水平向位移、及垂直向升降位移。
优选地，所述检测机位包括用于暗箱操作的可拆卸式的频闪光源。
优选地，所述基础检测机位与所述选择性加强机位的摄像机构的类型相差异、频闪光源的类型相差异或照射角度相差异。
优选地，所述基础检测机位的摄像机构为彩色摄像机构，所述加强机位的摄像机构为黑白摄像机构。
优选地，所述摄像机构的景深可调。
优选地，所述角度调节机构包括三轴调节基座，所述三轴调节基座上设有摄像角度调节件。
优选地，所述摄像角度调节件为镜面或三棱镜。
本实用新型的有益效果主要体现在：
1.创新地设计了选择性加强机位，能针对单面进行多机位检测，一次性得到综合检测数据，检测更精确，且满足检测效率。
2.摄像机构、角度调节机构、频闪光源均为多轴式可调节结构，能根据不同的被动元件进行适应性调整，尤其是针对非常规六面的检测，具备较为广泛的适用性。
3.设备整体设计严谨，检测过程流畅，适于推广应用。
附图说明
图1是本实用新型电子元器件检测设备的结构示意图。
图2是图1中A部分的放大结构示意图。
具体实施方式
本实用新型提供电子元器件检测设备。以下结合附图对本实用新型技术方案进行详细描述，以使其更易于理解和掌握。
电子元器件检测设备，电子元器件包括电容、电阻、电感，如图1和图2所示，检测设备包括：载料单元1、传动单元2、检测单元3、分拣单元4。
其中载料单元1用于装载电子元器件并进行出料的，一般由载料舱、震动盘和出料导轨组成。
传动单元2包括承载电子元器件5及传输的透明传动盘21、用于驱动透明传动盘21旋转的电机、用于控制透明传动盘21旋转量的编码器、及与编码器通讯相连的用于监控电子元器件21起始位置的起始传感器22。
具体地说明，通过编码器进行电脉冲输出，即控制透明传动盘21的角度信号输出，触发检测单元3响应工作。而透明传动盘21用于承载电子元器件5，电子元器件5从载料单元1的出料导轨运输至透明传动盘21的外周上，通过透明旋转盘21的旋转进行各检测机位的切换并最终进入分拣单元4。
检测单元3用于检测电子元器件5的六面，其包括至少八个检测机位6，其中六个检测机位6为基础检测机位61，基础检测机位61对应电子元器件5的六面，另外的检测机位6为任意面的选择性加强机位62。
具体地说明，传统的检测单元3最多的仅包括六个固定机位，一次性对电子元器件5的六个面进行独立检测，无论采用多么精密的摄像机构，都无法一次性精确地将单面的全部缺陷检测出来。
本案采用选择性加强机位62进行补充性精确检测，能对某些特定要求较高某面进行二次甚至三次检测，准确的检测出破损、裂纹、颜色、露铜、尺寸情况。提高了设备的检测精度且不影响检测效率。
分拣单元4，用于根据检测单元3检测状况对电子元器件5进行分拣收集。
对检测机位6进行细化描述，其包括摄像机构7和用于调整摄像角度的角度调节机构8，摄像机构7包括基座71及设置在基座71上的摄像模块72，基座71具备沿透明传动盘的径向位移、垂直于径向位移的水平向位移、及垂直向升降位移。
通过基座71可以调节摄像模块72的位置，从而适应不同类型的产品规格需求。
而且，检测机位6包括用于暗箱操作的可拆卸式的频闪光源9。即在无自然光源下实现，无自然光干扰。
具体实施例中，基础检测机位61与选择性加强机位62的摄像机构的类型相差异、频闪光源的类型或照射角度相差异，
即基础检测机位61与选择性加强机位62存在检测差异，通过不同类型的摄像机构、不同类型的频闪光源的类型或照射角度相差异，从而得到不同的测试效果。
本案的一个实施例中，基础检测机位61的摄像机构为彩色摄像机构，加强机位62的摄像机构为黑白摄像机构。
具体原理说明：
众所周知，不同的摄像机构成像存在较大的差异，而被动元件一般是通过表面检测，即2D检测的方式进行缺陷检测。
对于成型显影方面，彩色与黑白存在差异、投射光源角度不同存在差异、光源亮度不同也存在差异等。
因此很难通过一个机位及配合光源即实现单面的全部缺陷检测。
本案中，针对特殊面，例如存在线圈的顶面和底面，可以采用多机位进行检测筛选。
针对此类面可以采用多种机位检测，例如，采用一个高清彩色摄像头和一个环状垂直光源作为基础检测机位61，采用一个高清黑白摄像头和一个平面测光光源作为选择性加强机位62，两者分侧重进行检测。基础检测机位61主要检测破损、裂纹深度、锈色、露铜、尺寸，选择性加强机位62主要检测破损外缘、裂纹横纵向长度、尺寸，通过多机位联合进行检测。
当然，该例子中还可以增加由高清彩色摄像头和一个环状内聚光源作为第二选择性加强机位62，能提供破损外缘、裂纹外缘、露铜的更精确参考，综合性检测。
基础检测机位61与选择性加强机位62的频闪光源9的照射角度相差异，通过不同的照射角度得到不同的检测图像数据，从而易于综合分析检测。
任意摄像机构7的景深可调，此为现有技术，在此不再赘述。
角度调节机构8包括三轴调节基座81，三轴调节基座81上设有摄像角度调节件82。摄像角度调节件82为镜面或三棱镜。
如此设计，全部的检测机位6的拍摄角度可以与透明传动盘21相垂直，通过摄像角度调节件82的调节位置进行各面的视线转换，易于检测机位6的设计。
另外，针对较为特殊的电子元器件有意想不到的效果，该特殊电子元器件的任意面上设有电子触片，通过摄像角度调节件82可以调节任意性的摄像角度，从而能使摄像角度与非规则的电子触片相垂直，如此能检测到电子触片根部的情况。具体地说明，有的电子触片会人工调节角度，而由于人工作业会存在电子触片疲劳折损，传统的检测设备根本无法检测该情况，本案的检测设备通过调节摄像角度，能检测到该细节点，满足实际需求。
通过以上描述可以发现，本实用新型电子元器件检测设备，创新地设计了选择性加强机位，能针对单面进行多机位检测，一次性得到综合检测数据，检测更精确，且满足检测效率。摄像机构、角度调节机构、频闪光源均为多轴式可调节结构，能根据不同的被动元件进行适应性调整，尤其是针对非常规六面的检测，具备较为广泛的适用性。设备整体设计严谨，检测过程流畅，适于推广应用。
以上对本实用新型的技术方案进行了充分描述，需要说明的是，本实用新型的具体实施方式并不受上述描述的限制，本领域的普通技术人员依据本实用新型的精神实质在结构、方法或功能等方面采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本实用新型的保护范围之内。
Claims (8)
1.电子元器件检测设备，所述电子元器件包括电容、电阻、电感，
其特征在于所述检测设备包括：
载料单元，用于装载电子元器件并进行出料；
传动单元，包括承载所述电子元器件及传输的透明传动盘、用于驱动透明传动盘旋转的电机、用于控制所述透明传动盘旋转量的编码器、及与所述编码器通讯相连的用于监控电子元器件起始位置的起始传感器；
检测单元，用于检测所述电子元器件六面，其包括至少八个检测机位，其中六个检测机位为基础检测机位，所述基础检测机位对应所述电子元器件的六面，另外的检测机位为任意面的选择性加强机位；
分拣单元，用于根据所述检测单元检测状况对所述电子元器件进行分拣收集。
2.根据权利要求1所述电子元器件检测设备，其特征在于：所述检测机位包括摄像机构和用于调整摄像角度的角度调节机构，
所述摄像机构包括基座及设置在所述基座上的摄像模块，所述基座具备沿所述透明传动盘的径向位移、垂直于所述径向位移的水平向位移、及垂直向升降位移。
3.根据权利要求2所述电子元器件检测设备，其特征在于：所述检测机位包括用于暗箱操作的可拆卸式的频闪光源。
4.根据权利要求3所述电子元器件检测设备，其特征在于：所述基础检测机位与所述选择性加强机位的摄像机构的类型相差异、频闪光源的类型相差异。
5.根据权利要求4所述电子元器件检测设备，其特征在于：所述基础检测机位的摄像机构为彩色摄像机构，所述加强机位的摄像机构为黑白摄像机构。
6.根据权利要求2所述电子元器件检测设备，其特征在于：所述摄像机构的景深可调。
7.根据权利要求2所述电子元器件检测设备，其特征在于：所述角度调节机构包括三轴调节基座，所述三轴调节基座上设有摄像角度调节件。
8.根据权利要求7所述电子元器件检测设备，其特征在于：所述摄像角度调节件为镜面或三棱镜。
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