CN209167118U - 光学元件反射率测量仪 - Google Patents
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Abstract
光学元件反射率测量仪，它涉及测量仪技术领域。光学元件反射率测量仪它包含工作台、点光源、分光镜、升降台、旋转轴、置物板、夹片、光电二极管、前置放大器、锁相放大器、信号发射器、控制面板、信号采集系统、信号放大系统、数据分析处理系统、接收系统、显示系统，点光源设置在工作台的左侧，升降台上固定连接旋转轴，旋转轴上设置有置物板，置物板边缘设置有夹片，光电二极管设置在置物板右侧，锁相放大器的前侧表面上设置有信号发射器，控制面板设置在工作台最右侧。采用上述技术方案后，本实用新型的有益效果为：它的结构设计合理，可以对待测的光学元件的测量高度和角度进行调节，保证测量结果的精度更高，适合推广使用。
Description
技术领域
本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体涉及光学元件反射率测量仪。
背景技术
光谱测量在材料的分析测试和材料的特性研究中有着重要的作用。就光学加工而言，主要是利用各种光谱测量放大来对各类光学元件进行反射率的测量。在国家许多重要的应用工程和科研实验中，都需要大量的光学元件，而光学元件的质量是保障整个试验成功的重要因素，所以需要对光学元件的重要行难呢过反射率进行高精度的测量。在以前，测量光学元件的反射率的主要仪器是分光光度计，这种仪器测量结果精确，且能够测量光学元件在某个波段的透过率，但是分光光度计一般采用光电倍增管加积分球的技术手段，光电倍增管需要在 黑暗的环境中使用，造成这种仪器只能测量尺寸较小的光学元件的反射率，而不适合测量较大尺寸的光学元件，尤其不能实现在线测量。因此市面上开始出现对于光学元件反射率的测量仪。中国专利CN201620028723.7公开了一种光学元件反射率测量仪，用于光学元件反射率的测量。本实用新型的光学元件反射率测量仪采用光电二极管采集光学元件或光学标准片的反射光并转换为电信号，电信号再经过前置放大器和锁相放大器放大后，得到与信号光强度成正比的直流电压信号。该仪器以测量光学标准片反射光所获得的直流电压信号为基准，测量待测元件反射光所获得的直流电压信号与基准比对，获得待测光学元件的反射率。该实用新型虽然具有具有易于实现的优点，且能够实现对光学元件反射率的在线测量，但是它的结构过于简单，不能够对待测的光学元件的测量位置进行调节，无法保证光学元件测量角度的最佳，不利于测量的结果，不适合推广使用。
实用新型内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种光学元件反射率测量仪，它的结构设计合理，可以对待测的光学元件的测量高度和角度进行调节，保证测量结果的精度更高，适合推广使用。
为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案是：它包含工作台1、点光源2、分光镜3、升降台4、旋转轴41、置物板42、夹片421、光电二极管5、前置放大器6、锁相放大器7、信号发射器71、控制面板8、信号采集系统9、信号放大系统10、数据分析处理系统11、接收系统12、显示系统13，点光源2设置在工作台1的左侧，分光镜3设置在升降台4和点光源2之间，升降台4上固定连接旋转轴41，旋转轴41上设置有置物板42，置物板42边缘设置有夹片421，光电二极管5设置在置物板42右侧，锁相放大器7的左侧设置有前置放大器6，锁相放大器7的前侧表面上设置有信号发射器71，控制面板8设置在工作台1最右侧，信号采集系统9和信号放大系统10信号连接，信号放大系统10和数据分析处理系统11电性连接，数据分析处理系统11和信号发射器71电性连接，信号发射器71和接收系统12信号连接，接收系统12和显示系统13电性连接。
所述的升降台4包含支撑板43、固定板44、第一伸缩架45和第二伸缩架46，支撑板43设置在固定板44上方，固定板44和支撑板43通过第一伸缩架45和第二伸缩架46固定连接。
所述的第一伸缩架45和第二伸缩架46均呈“V”形，且第一伸缩架45和第二伸缩架46中设置有螺钉461。
所述的控制面板8前侧表面设置有显示屏81，显示屏81右下角设置有开关82。
所述的显示系统13为显示屏81。
所述的工作台1下表面边缘固定连接有支架14。
所述的信号放大系统10由前置放大器6和锁相放大器7组成。
本实用新型的工作原理：待测的光学元件放置在升降台的置物板上，并由夹片固定，可以通过调节升降台的高度来调节待测光学元件的高度，以及调节旋转轴来调节待测光学元件的测量角度，光电二极管作为光敏元件采集光信号，并由前置放大器和锁相放大器对信号进行放大，光电二极管为信号采集系统，采集信号由信号放大系统放大，放大后的信号在数据分析处理系统中被分析处理，处理后的数据通过信号发射器发射到控制面板中，信号通过控制面板中的接收系统接收，最后数据在显示系统中被显示。
采用上述技术方案后，本实用新型有益效果为：它的结构设计合理，可以对待测的光学元件的测量高度和角度进行调节，保证测量结果的精度更高，适合推广使用。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是本实用新型中升降台4的结构示意图；
图3是本实用新型的原理框图。
附图标记说明：工作台1、点光源2、分光镜3、升降台4、旋转轴41、置物板42、夹片421、支撑板43、固定板44、第一伸缩架45、第二伸缩架46、螺钉461、光电二极管5、前置放大器6、锁相放大器7、信号发射器71、控制面板8、显示屏81、开关82、信号采集系统9、信号放大系统10、数据分析处理系统11、接收系统12、显示系统13、支架14。
具体实施方式
参看图1-图3所示，本具体实施方式采用的技术方案是：它由工作台1、点光源2、分光镜3、升降台4、旋转轴41、置物板42、夹片421、光电二极管5、前置放大器6、锁相放大器7、信号发射器71、控制面板8、信号采集系统9、信号放大系统10、数据分析处理系统11、接收系统12、显示系统13组成 ，工作台1为一块矩形的钢铁薄板，工作台1的左侧安装有点光源2，点光源2通过一根圆柱安装在工作台1上，点光源2的右侧安装有一块分光镜3，分光镜3的右侧安装有升降台4，升降台4的上表面安装一个旋转轴41，旋转轴41的上表面焊接固定一块置物板42，置物板42的两侧边缘固定安装有夹片421，待测的光学元件安装在升降台4的置物板42上，并由置物板42上的夹片421固定，可以通过旋转轴41来调节待测光学元件的测量角度，升降台4的右侧安装有光电二极管5，光电二极管5的右侧安装有前置放大器6，锁相放大器7安装在前置放大器6的右侧，锁相放大器7的前侧表面安装有一个信号发射器71，控制面板8设置在锁相放大器7的右侧，并且控制面板8设置在工作台1的最右侧，信号采集系统9和信号放大系统10信号连接，信号放大系统10和数据分析处理系统11电性连接，数据分析处理系统11和信号发射器71电性连接，信号发射器71和接收系统12信号连接，接收系统12的输出端和显示系统13的输入端电性连接，光电二极管5作为光敏元件采集光信号，并由前置放大器6和锁相放大器7对信号进行放大，光电二极管5为信号采集系统9，采集信号由信号放大系统10放大，放大后的信号在数据分析处理系统11中被分析处理，处理后的数据通过信号发射器71发射到控制面板8中，信号通过控制面板8中的接收系统12接收，最后数据在显示系统13中被显示。
所述的升降台4由支撑板43、固定板44、第一伸缩架45和第二伸缩架46组成，支撑板43设置在固定板44的上方，固定板44的下表面固定连接在工作台1的上表面，第一伸缩架45和第二伸缩架46设置在固定板44和支撑板43之间，可以通过调节第一伸缩架45和第二伸缩架46来调节待测光学元件的高度。
所述的第一伸缩架45和第二伸缩架46均呈“V”形，且第一伸缩架45和第二伸缩架46的凸出部分均安装有螺钉461。
所述的控制面板8的前侧表面镶嵌安装一块显示屏81，显示屏81的右下角位置安装有一个凸起的开关82。
所述的显示系统13为显示屏81，显示屏81为液晶显示屏。
所述地工作台1的下表面四角处均焊接固定有支架14。
所述的信号放大系统10由前置放大器6和锁相放大器7组成，均起到放大信号的作用。
采用上述技术方案后，本实用新型有益效果为：它的结构设计合理，可以对待测的光学元件的测量高度和角度进行调节，保证测量结果的精度更高，适合推广使用。
以上所述，仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案所做的其它修改或者等同替换，只要不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (7)
1.光学元件反射率测量仪，其特征在于：它包含工作台(1)、点光源(2)、分光镜(3)、升降台(4)、旋转轴(41)、置物板(42)、夹片(421)、光电二极管(5)、前置放大器(6)、锁相放大器(7)、信号发射器(71)、控制面板(8)、信号采集系统(9)、信号放大系统(10)、数据分析处理系统(11)、接收系统(12)、显示系统(13)，点光源(2)设置在工作台(1)的左侧，分光镜(3)设置在升降台(4)和点光源(2)之间，升降台(4)上固定连接旋转轴(41)，旋转轴(41)上设置有置物板(42)，置物板(42)边缘设置有夹片(421)，光电二极管(5)设置在置物板(42)右侧，锁相放大器(7)的左侧设置有前置放大器(6)，锁相放大器(7)的前侧表面上设置有信号发射器(71)，控制面板(8)设置在工作台(1)最右侧，信号采集系统(9)和信号放大系统(10)信号连接，信号放大系统(10)和数据分析处理系统(11)电性连接，数据分析处理系统(11)和信号发射器(71)电性连接，信号发射器(71)和接收系统(12)信号连接，接收系统(12)和显示系统(13)电性连接。
2.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪，其特征在于：所述的升降台(4)包含支撑板(43)、固定板(44)、第一伸缩架(45)和第二伸缩架(46)，支撑板(43)设置在固定板(44)上方，固定板(44)和支撑板(43)通过第一伸缩架(45)和第二伸缩架(46)固定连接。
3.根据权利要求2所述的光学元件反射率测量仪，其特征在于：所述的第一伸缩架(45)和第二伸缩架(46)均呈“V”形，且第一伸缩架(45)和第二伸缩架(46)中设置有螺钉(461)。
4.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪，其特征在于：所述的控制面板(8)前侧表面设置有显示屏(81)，显示屏(81)右下角设置有开关(82)。
5.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪，其特征在于：所述的显示系统(13)为显示屏(81)。
6.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪，其特征在于：所述的工作台(1)下表面边缘固定连接有支架(14)。
7.根据权利要求1所述的光学元件反射率测量仪，其特征在于：所述的信号放大系统(10)由前置放大器(6)和锁相放大器(7)组成。
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| CN201822058103.XU CN209167118U (zh) | 2018-12-10 | 2018-12-10 | 光学元件反射率测量仪 |
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| CN (1) | CN209167118U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110441288A (zh) * | 2019-08-28 | 2019-11-12 | 南京信息工程大学 | 一种多角度目标等离子体收集装置 |
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2018
- 2018-12-10 CN CN201822058103.XU patent/CN209167118U/zh not_active Expired - Fee Related
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