CN209167106U - 用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪 - Google Patents

用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪 Download PDF

Info

Publication number
CN209167106U
CN209167106U CN201821733691.6U CN201821733691U CN209167106U CN 209167106 U CN209167106 U CN 209167106U CN 201821733691 U CN201821733691 U CN 201821733691U CN 209167106 U CN209167106 U CN 209167106U
Authority
CN
China
Prior art keywords
mineral
analyzer
polariscope
polarisation
condenser
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201821733691.6U
Other languages
English (en)
Inventor
李继红
林劲畅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yunnan Land and Resources Vocational College
Original Assignee
Yunnan Land and Resources Vocational College
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yunnan Land and Resources Vocational College filed Critical Yunnan Land and Resources Vocational College
Priority to CN201821733691.6U priority Critical patent/CN209167106U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN209167106U publication Critical patent/CN209167106U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其包括目镜机构、检偏镜、检光板、偏光物镜、镜臂、旋转台、聚光镜升降螺钉、聚光镜、转轴、起偏镜、镜座、底座、脚垫、圆盘、镜架、白炽灯,目镜机构位于检偏镜的上方,检光板位于检偏镜的一侧,目镜机构、检偏镜、检光板、偏光物镜都安装在镜架上,镜架与镜臂的顶端固定,偏光物镜位于检偏镜的下方,旋转台与圆盘转动连接,圆盘的一端固定在镜臂上,聚光镜升降螺钉的一端位于聚光镜上。本实用新型能够通过检光板、偏光物镜以及起偏镜的配合,鉴别物质是单折射性或双折射性,从而确定矿物的轴性,折射性,这样提高了工作效率,且装置操作简单、设计合理。

Description

用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪
技术领域
本实用新型涉及一种偏光显微镜用偏光仪,特别是涉及一种用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪。
背景技术
随着科技的飞速发展,矿物研究也是越来越受到关注,而现在市面上出现了许多的偏光显微镜来进行矿物观察,但是其显微镜并不具备有专业偏光设备观察矿物属性,且工作效率不高,且装置操作复杂。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其能够通过检偏镜、检光板、偏光物镜以及起偏镜等元件的配合,鉴别物质是单折射性或双折射性,这样提高了工作效率,且装置操作简单、设计合理。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:一种用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其包括目镜机构、检偏镜、检光板、偏光物镜、镜臂、旋转台、聚光镜升降螺钉、聚光镜、转轴、起偏镜、镜座、底座、脚垫、圆盘、镜架、白炽灯,目镜机构位于检偏镜的上方,检光板位于检偏镜的一侧,目镜机构、检偏镜、检光板、偏光物镜都安装在镜架上,镜架与镜臂的顶端固定,偏光物镜位于检偏镜的下方,旋转台与圆盘转动连接,圆盘的一端固定在镜臂上,聚光镜升降螺钉的一端位于聚光镜上,聚光镜与圆盘连接,镜臂与底座的底端之间通过转轴转动连接,起偏镜的一端固定在镜座上,镜座的一端固定在底座上,白炽灯位于镜座内且位于起偏镜的下面,脚垫固定在底座的底端上,其中;
目镜机构包括十字线目镜机构、双目镜筒、镜筒调整螺钉、三目头镜筒,十字线目镜机构的一端与双目镜筒相连,镜筒调整螺钉位于双目镜筒的一侧,三目头镜筒位于双目镜筒的上方。
优选地,所述旋转台上设有标本夹。
优选地,所述转轴上带有刻度。
优选地,所述偏光物镜设有多个大小不一的镜筒。
优选地,所述检光板上设有补偿器。
优选地,所述起偏镜上设有一个偏光片。
本实用新型的积极进步效果在于:本实用新型能够通过检偏镜、检光板、偏光物镜以及起偏镜等元件的配合,鉴别物质是单折射性或双折射性,从而确定矿物的轴性、折射性,这样提高了工作效率,且装置操作简单、设计合理。
附图说明
图1为本实用新型的立体结构示意图。
图2为本实用新型的目镜机构的立体结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图给出本实用新型较佳实施例,以详细说明本实用新型的技术方案。
如图1至图2所示,本实用新型用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪包括目镜机构1、检偏镜2、检光板3、偏光物镜4、镜臂5、旋转台6、聚光镜升降螺钉7、聚光镜8、转轴9、起偏镜10、镜座11、底座12、脚垫13、圆盘14、镜架18、白炽灯19,目镜机构1位于检偏镜2的上方,检光板3位于检偏镜2的一侧,目镜机构1、检偏镜2、检光板3、偏光物镜4都安装在镜架18上,镜架18与镜臂5的顶端固定,偏光物镜4位于检偏镜2的下方,旋转台6与圆盘14转动连接,圆盘14的一端固定在镜臂5上,聚光镜升降螺钉7的一端位于聚光镜8上,聚光镜8与圆盘14连接,镜臂5与底座12的底端之间通过转轴9转动连接,起偏镜10的一端固定在镜座11上,镜座11的一端固定在底座12上,白炽灯19位于镜座11内且位于起偏镜10的下面,脚垫13固定在底座12的底端上,其中;
目镜机构1包括十字线目镜机构14、双目镜筒15、镜筒调整螺钉16、三目头镜筒17,十字线目镜机构14的一端与双目镜筒15相连,镜筒调整螺钉16位于双目镜筒15的一侧,三目头镜筒17位于双目镜筒15的上方。
旋转台6上设有标本夹,这样能够增强标本的固定。
转轴9上带有刻度,这样能够精准的控制微调的角度。
偏光物镜4设有多个大小不一的镜筒,这样能够调节放大倍数,增加观察效果。
检光板3上设有补偿器,这样能够校准光线补偿。
起偏镜上可以设有一个偏光片,这样方便调整偏光方向。
本实用新型的工作原理如下:本实用新型结构简单、设计合理,眼睛放于目镜上观察前方光学系统所成图像的目视光学器件,检偏镜是一种滤色镜,选择地让某个方向振动的光线通过,这样能够用以鉴别某一物质是单折射或双折射性。检光板是用于检查光线是否正确折射在物体上,这样能够保证工作效率和提高观察精度,偏光物镜用于将普通的光变为偏振光,镜臂用于安装目镜和旋转台,这样能够提高装置的实用性,旋转台用于在观察时使矿物得以旋转,这样能够充分观察鉴别矿物的成分及属性,提高了工作效率。聚光镜升降螺钉用于升降聚光镜,这样能够使聚光镜更好的对焦,聚光镜用于弥补光量的不足和适当改变从光源射来的光的性质,而且将光线聚焦于被检物体上,以得到最好的照明效果。转轴用于微调焦距,这样提高了工作效率,起偏镜用于使入射光变成偏振光,白炽灯用于产生光源(入射光)。镜座用于安装起偏镜,底座用于安装镜臂和镜座等其元件,这样能够稳定显微镜,使其有更好的工作环境,脚垫用于增大摩擦力和稳定性,其中目镜包括十字线目镜、三目头镜筒、双目镜筒以及镜筒调整螺钉,十字线目镜用于提高观察的细致度,双目镜筒用于安装十字线目镜,三目头镜筒用于连接电脑或者数码相机,镜筒调整螺钉用于加固镜筒的固定。镜架用于安装目镜机构、检偏镜、检光板、偏光物镜等,这样增加稳定性。
综上所述,本实用新型能够通过检偏镜、检光板、偏光物镜以及起偏镜等元件的配合,鉴别物质是单折射性或双折射性,从而确定矿物的轴性、折射性,这样提高了工作效率,且装置操作简单、设计合理。
以上所述的具体实施例,对本实用新型的解决的技术问题、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本实用新型的具体实施例而已,并不用于限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其特征在于,其包括目镜机构、检偏镜、检光板、偏光物镜、镜臂、旋转台、聚光镜升降螺钉、聚光镜、转轴、起偏镜、镜座、底座、脚垫、圆盘、镜架、白炽灯,目镜机构位于检偏镜的上方,检光板位于检偏镜的一侧,目镜机构、检偏镜、检光板、偏光物镜都安装在镜架上,镜架与镜臂的顶端固定,偏光物镜位于检偏镜的下方,旋转台与圆盘转动连接,圆盘的一端固定在镜臂上,聚光镜升降螺钉的一端位于聚光镜上,聚光镜与圆盘连接,镜臂与底座的底端之间通过转轴转动连接,起偏镜的一端固定在镜座上,镜座的一端固定在底座上,白炽灯位于镜座内且位于起偏镜的下面,脚垫固定在底座的底端上,其中;
目镜机构包括十字线目镜机构、双目镜筒、镜筒调整螺钉、三目头镜筒,十字线目镜机构的一端与双目镜筒相连,镜筒调整螺钉位于双目镜筒的一侧,三目头镜筒位于双目镜筒的上方。
2.如权利要求1所述的用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其特征在于,所述旋转台上设有标本夹。
3.如权利要求1所述的用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其特征在于,所述转轴上带有刻度。
4.如权利要求1所述的用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其特征在于,所述偏光物镜设有多个大小不一的镜筒。
5.如权利要求1所述的用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其特征在于,所述检光板上设有补偿器。
6.如权利要求1所述的用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪,其特征在于,所述起偏镜上设有一个偏光片。
CN201821733691.6U 2018-10-25 2018-10-25 用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪 Expired - Fee Related CN209167106U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201821733691.6U CN209167106U (zh) 2018-10-25 2018-10-25 用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201821733691.6U CN209167106U (zh) 2018-10-25 2018-10-25 用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN209167106U true CN209167106U (zh) 2019-07-26

Family

ID=67335019

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201821733691.6U Expired - Fee Related CN209167106U (zh) 2018-10-25 2018-10-25 用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN209167106U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111579371A (zh) * 2020-06-02 2020-08-25 昆明智旺实业有限公司 一种高分子材料内部的应力分布检测设备

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111579371A (zh) * 2020-06-02 2020-08-25 昆明智旺实业有限公司 一种高分子材料内部的应力分布检测设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10831010B2 (en) Optical measurement method and device
US8624967B2 (en) Integrated portable in-situ microscope
US6847480B2 (en) Lenses and uses, including microscopes
JP2016537671A (ja) 光学的伝達システムおよびそのような伝達システムを備える顕微鏡
CN103033942A (zh) 光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件
CN209167106U (zh) 用于矿物鉴定的偏光显微镜用偏光仪
CN113218635A (zh) 一种非接触式矢量偏振光场测试系统
WO2018087665A1 (en) Portable upright bright field microscope with smart device compatibility
Chamot Elementary chemical microscopy
CN104267488B (zh) 光学显微镜分束器装置
CN101620044A (zh) 无反射镜光杠杆杨氏弹性模量测定仪
TW201605456A (zh) 顯微鏡裝置及其應用
Tadrous PUMA–An open‐source 3D‐printed direct vision microscope with augmented reality and spatial light modulator functions
CN1913043A (zh) 一种原子力显微镜的扫描探头
US9459438B2 (en) Optical microscope apparatus
Eastaugh et al. Optical microscopy
Cogswell et al. The specimen illumination path and its effect on image quality
Oldenbourg Analysis of microtubule dynamics by polarized light
US2730008A (en) Optical micrometer
CN208937294U (zh) 一种待测光学镜头色差测量装置
CN202025119U (zh) 带偏光连续变倍单筒视频显微系统
CN2577274Y (zh) 扫描探针显微镜上的观察装置
Kapoor et al. Introduction to Simple (Handheld) Microscope
JP2022517107A (ja) ソリッドイマージョンメニスカスレンズのための装置、システム及び方法
CN212722579U (zh) 一种偏光显微镜中间镜筒组

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20190726

Termination date: 20201025

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee