CN209148833U - 一种芯片测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出一种芯片测试装置，包括：分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换。本实用新型解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及机电领域，尤其涉及一种芯片测试装置。
背景技术
现有技术中，LM324N和LM224N四路运算放大器常用于煤矿QBZ-30、QBZ2-30真空电磁启动，以及用在ZBZ-4.0煤电钻综保和ZBZ-4.0(M)照明综保等保护插件关键元件上。上述元件由于井下供电环境复杂属易损元件，但是目前没有简单有效的方法测试上述元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升。
实用新型内容
基于以上问题，本实用新型提出一种芯片测试装置，解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。
本实用新型提出一种芯片测试装置，包括：
分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；
电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯与拨码器并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座上，电压表一端与电源的负极连接，电压表另一端连接拨码器的公共触点。
此外，所述分压电阻为4个串联的电阻。
此外，分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口焊接在PCB电路板上。
此外，所述电源输入接口为USB接口，USB接口焊接在PCB电路板的边缘处。
此外，所述输出指示灯1与拨码器并接被测芯片的输出脚包括：拨码器的每一个引脚对应一个指示灯，共有4组引脚和指示灯，每组引脚和指示灯并联接入被测芯片的一个输出引脚。
此外，所述电源为5V电源。
通过采用上述技术方案，具有如下有益效果：
本实用新型解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。本实施例能够简单方便的检测LM324N和LM224N中的芯片是否损坏，从而使其仅更换芯片即可。
附图说明
图1是本实用新型一个实施例提供的芯片测试装置的电路原理图；
图2是本实用新型一个实施例提供的芯片测试装置的示意图。
具体实施方式
以下结合具体实施方案和附图对本实用新型进行进一步的详细描述。其只意在详细阐述本实用新型的具体实施方案，并不对本实用新型产生任何限制，本实用新型的保护范围以权利要求书为准。
参照图1，本实用新型提出一种芯片测试装置，包括：
分压电阻2、输出指示灯1、电压表3、拨码器6、转换开关4、芯片测试座5、电源7和电源输入接口8，
电源7通过电源输入接口8输入，电源7分为两路，一路电源连接芯片测试座5，一路电源连接分压电阻2，分压电阻2为多个串联的电阻，在分压电阻2的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关4以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯1与拨码器6并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座5上，电压表3一端与电源7的负极连接，电压表3另一端连接拨码器6的公共触点。
本实施例提供的芯片测试装置在使用时，针对QJZ-30、QBZ2-30和QBZ-30型真空电磁开关保护插件主芯片为LM324N或LM224N型四路运算放大器进行检测时，当被测芯片的同相端的电位高于反相端电位时，此时被测芯片的输出脚有输出电压，电压值为被测芯片的供电电压减去1.5伏。当被测芯片的同相端的电位低于反相端电位时，此时被测芯片的输出脚无输出电压。当有输出电压时，通过输出指示灯1进行点亮指示，本实施例中通过转换开关4切换各同相端和反相端的电位，当转换开关4拨动向一侧时，此时4个输出指示灯1全部点亮，当转换开关4拨动向另一侧时，此时4个输出指示灯1全部灭掉，当转换开关4的在1、2、3和4位时的电压与转换开关4在0位时的电压之差为1.5v时，此时判断LM324N或LM224N芯片为正常芯片，未损坏，否则为损坏芯片。
可选地，本实施例中的电压表3为电子式电压表，量程0-30V，精度为小数点后两位，尺寸为48*29*28mm。可选地，芯片测试座5为DIP封装14脚型IC插座。可选地，拨码器6为废旧插件中拆得的KSA-1 8421型10位拨码器开关。可选地，输出指示灯1工作电压为2.0V-3.2V。可选地，转换开关4为FS-22F03型6脚自锁按钮。可选地，电源输入接口8即常用的安卓手机充电接口。可选地，装置的外壳通过3D打印完成，材料为可降解PLA材料。可选地，分压电阻的2阻值为1000欧姆。
组装时，可选地，将上述元件按原理图焊接在一块42*42mm的实验型PCB板上，电源部分需要外接供电，用常用的手机5V USB充电器即可。因为分压电阻为1000欧姆的四个电阻串接，被测芯片的输入脚输入电压为0V和2.5V，输出指示灯1工作电阻远大于分压电阻，所以输出指示灯1工作时电压近似2.75V，位于输出指示灯1正常工作电压区间。
本实施例解决了现有技术中没有简单有效的方法测试LM324N和LM224N元件的好坏，使得一旦出现故障就需要更换整个元件，造成矿企生产成本上升的技术问题。本实施例能够简单方便的检测LM324N和LM224N中的芯片是否损坏，从而使其仅更换芯片即可。
在其中的一个实施例中，所述分压电阻2为4个串联的电阻。通过4个串联电阻即可以提供合适的电压差。
在其中的一个实施例中，分压电阻2、输出指示灯1、电压表3、拨码器6、转换开关4、芯片测试座5、电源7和电源输入接口8焊接在PCB电路板上。通过将元件焊接在PCB电路板上，使整体所占空间更小，适合搬动和携带。
参照图2，在其中的一个实施例中，所述电源输入接口8为USB接口，USB接口焊接在PCB电路板10的边缘处。USB接口的使用，使手机充电器等充电设备都可以为其提供电源。装置的外壳10为塑料材质。
在其中的一个实施例中，所述输出指示灯1与拨码器6并接被测芯片的输出脚包括：拨码器6的每一个引脚对应一个指示灯，共有4组引脚和指示灯，每组引脚和指示灯并联接入被测芯片的一个输出引脚。拨码器6的一个引脚接电源正极，拨码器6的5个引脚与公共触点构成了切换开关。
在其中的一个实施例中，所述电源为5V电源。
以上所述的仅是本实用新型的原理和较佳的实施例。应当指出，对于本领域的普通技术人员来说，在本实用新型原理的基础上，还可以做出若干其它变型，也应视为本实用新型的保护范围。
Claims (6)
1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：
分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口；
电源通过电源输入接口输入，电源分为两路，一路电源连接芯片测试座，一路电源连接分压电阻，分压电阻为多个串联的电阻，在分压电阻的电阻中取高电位和低电位分别作为被测芯片的同相端和反相端，在高电位和低电位中间串接转换开关以实现被测芯片的同相端和反相端的输入电位进行高低切换，输出指示灯与拨码器并接被测芯片的输出脚，被测芯片在测试时安装在芯片测试座上，电压表一端与电源的负极连接，电压表另一端连接拨码器的公共触点。
2.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，
所述分压电阻为4个串联的电阻。
3.根据权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于，
分压电阻、输出指示灯、电压表、拨码器、转换开关、芯片测试座、电源和电源输入接口焊接在PCB电路板上。
4.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，
所述电源输入接口为USB接口，USB接口焊接在PCB电路板的边缘处。
5.根据权利要求3所述的芯片测试装置，其特征在于，
所述输出指示灯1与拨码器并接被测芯片的输出脚包括：拨码器的每一个引脚对应一个指示灯，共有4组引脚和指示灯，每组引脚和指示灯并联接入被测芯片的一个输出引脚。
6.根据权利要求1至5任一项所述的芯片测试装置，其特征在于，
所述电源为5V电源。
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| US20220178983A1 (en) * | 2020-12-07 | 2022-06-09 | Duke University | Electronic device characterization systems and methods |
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2018
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