CN209148559U - 一种二极管芯片表面质量检测设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种二极管芯片表面质量检测设备，包括二极管芯片输送流水线、保护壳体、光源、摄像机、透镜、遮光板，流水线为PVC透明输送带，保护壳体固定于地面，穿过流水线设置，所述光源、摄像机、透镜、遮光板相对固定的设置在保护壳体内部，分别组成第一检测系统和第二检测系统，分别位于流水线的上下两侧，第二检测系统位于第一检测系统后方工序的方向，摄像机与外部计算机通过线束相连，光源由外部电源供电。本检测设备通过上下相错开的两个检测系统实现对二极管芯片的全面表面检测，采用CCD摄像机成像和LED光源照明，成像质量高，外部计算机控制设备工作，本检测设备的检测效率高，适用于自动化流水线的工作模式。

Description

一种二极管芯片表面质量检测设备

技术领域

本实用新型涉及一种二极管芯片检测设备，具体是涉及一种二极管芯片表面质量检测设备。

背景技术

日趋激烈的世界范围内的竞争使得现代企业都在极力提高产品质量，包括产品的表面质量和外观质量，在生产过程中对产品的质量进行检测，并将检测结果用于自动控制是实现这一目标的重要的手段。

在现在的很多国内企业中，仍然采用人工视觉检测的方法进行产品的表面质量和外观质量检测，长时间连续进行相同的视觉处理，操作者就会感到单调、疲劳、厌倦，以致工作效率低或者判断错误，在二极管芯片的生产制造中。二极管芯片属于尺寸较小的元件，人工视觉检测的方法存在更大的缺点。并且人工检测具有主观性误差，使得检测合格率的可信度较低，因此对产品的质量和销售都有重要影响。

除此之外，随着电子产品的市场需求的日益增加，对二极管芯片的生产效率有了更高的要求，现在的企业生产模式均在向智能化和自动化方向发展，这样才能逐渐平衡需大于供的现象，人工视觉检测方法不仅不能满足高效率、低成本的要求，也不能满足现代化的智能工厂的发展潮流。

实用新型内容

为了克服现有技术中人工对二极管芯片表面质量检测存在的工作效率低、用人成本高、检测合格率低等缺陷，本实用新型提供一种二极管芯片表面质量检测设备，采用上下相错开的两个检测系统实现对二极管芯片的全面表面检测，采用CCD摄像机成像和LED光源照明，具有较高质量的成像条件，外部计算机控制设备工作，适用于自动化流水线的工作模式。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种二极管芯片表面质量检测设备，包括二极管芯片输送流水线、保护壳体、光源、摄像机、透镜、遮光板，位于检测工位的所述二极管芯片输送流水线为PVC材质的透明输送带，所述保护壳体固定于地面，穿过二极管芯片输送流水线设置，所述光源、摄像机、透镜、遮光板均相对固定的设置在保护壳体内部，所述光源包括第一光源、第二光源、第三光源、第四光源，所述摄像机包括第一摄像机和第二摄像机，所述透镜包括第一透镜和第二透镜，所述遮光板包括第一遮光板和第二遮光板；所述的第一透镜、第一光源、第二光源、第一摄像机、第一遮光板组成第一检测系统，第一透镜设置于二极管芯片输送流水线的上方，正对二极管芯片所要经过的路线上，所述第一透镜上方设置有第一摄像机，所述第一光源和第二光源设置在第一透镜的左右两侧的偏下方位置，第一光源和第二光源在二极管芯片输送流水线上的照明点位于第一透镜的正下方，且保证第一透镜不会干扰第一光源和第二光源的照明作用，位于所述第一摄像机和第一透镜正下方，且二极管芯片输送流水线的下方设置有第一遮光板；所述的第二透镜、第三光源、第四光源、第二摄像机、第二遮光板组成第二检测系统，第二检测系统位于第一检测系统的后序工序的方向，所述第二透镜设置于二极管芯片输送流水线的下方，正对二极管芯片所要经过的路线上，所述第二透镜下方设置有第二摄像机，所述第三光源和第四光源设置在第二透镜的左右两侧的偏上方位置，第三光源和第四光源在二极管芯片输送流水线上的照明点位于第二透镜的正上方，且保证第二透镜不会干扰第三光源和第四光源的照明作用，位于所述第二摄像机和第二透镜正上方，且二极管芯片输送流水线的上方设置有第二遮光板；所述第一遮光板和第二遮光板的表面上涂覆有一层纳米级的不规则粗糙颗粒，一方面遮光板可以屏蔽来自下方部件的漫反射光对摄像机成像的影响，另一方面可以吸收穿过透明流水线的光源，防止其对摄像机的成像造成影响，所述第一摄像机和第二摄像机与外部计算机通过线束相连，所述第一光源、第二光源、第三光源、第四光源均由外部电源供电和控制其开关。

上述的一种二极管芯片表面质量检测设备，二极管芯片是呈一定间隔距离依次经过保护壳体内部的，相邻二极管芯片的间隔大于第一检测系统与第二检测系统的中心距离，防止二极管芯片在成像的过程中受到相邻二极管芯片的成像干扰。

上述的一种二极管芯片表面质量检测设备，所述第一摄像机和第二摄像机选用面阵CCD摄像机，所述第一光源、第二光源、第三光源和第四光源同时均选用荧光灯、卤素灯、卤素金属蒸汽灯、LED灯、红外线或者紫外线中的一种。

上述的一种二极管芯片表面质量检测设备，所述外部计算机内设置有图像采集卡，由第一摄像机和第二摄像机所得的图像经过图像采集卡输入计算机的系统中，计算机的系统中设置有软件，可以进行图像预处理、图像识别与分析等，提取图像中的几何特征参数后分析二极管芯片表面是否存在质量问题。

本实用新型的有益效果是，本实用新型二极管芯片表面质量检测设备，采用上下相错开的两个检测系统实现对二极管芯片的全面表面检测，不需要担心存在漏检的问题，采用CCD摄像机成像和LED光源照明，光源均匀稳定，摄像机测量精度高、受影响小，具有较高质量的成像条件，本检测设备设置有保护壳体，保护壳体不仅起到保护内部元件不受外部的硬性伤害的作用，还起到防止内部的第一检测系统和第二检测系统的检测工作受到打扰的作用，由外部计算机控制本检测设备工作，适用于现代化的流水线的工作模式。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1为本实用新型的组成结构示意图。

图中1.二极管芯片输送流水线，2.第一光源，3.第一透镜，4.第一摄像机，5.第二光源，6.第二遮光板，7.保护壳体，8.二极管芯片，9.第四光源，10.第二摄像机，11.第二透镜，12.第三光源，13.第一遮光板。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好的理解本实用新型的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作详细说明。

一种二极管芯片表面质量检测设备，包括二极管芯片输送流水线1、保护壳体7、光源、摄像机、透镜、遮光板，位于检测工位的所述二极管芯片输送流水线1为PVC材质的透明输送带，所述保护壳体7固定于地面，穿过二极管芯片输送流水线1设置，所述光源、摄像机、透镜、遮光板均相对固定的设置在保护壳体7内部，所述光源包括第一光源2、第二光源5、第三光源12、第四光源9，所述摄像机包括第一摄像机4和第二摄像机10，所述透镜包括第一透镜3和第二透镜11，所述遮光板包括第一遮光板13和第二遮光板6；所述的第一透镜3、第一光源2、第二光源5、第一摄像机4、第一遮光板13组成第一检测系统，第一透镜3设置于二极管芯片输送流水线1的上方，正对二极管芯片8所要经过的路线上，所述第一透镜3上方设置有第一摄像机4，所述第一光源2和第二光源5设置在第一透镜3的左右两侧的偏下方位置，第一光源2和第二光源5在二极管芯片输送流水线1上的照明点位于第一透镜3的正下方，且保证第一透镜3不会干扰第一光源2和第二光源5的照明作用，位于所述第一摄像机4和第一透镜3正下方，且二极管芯片输送流水线1的下方设置有第一遮光板13；所述的第二透镜11、第三光源12、第四光源9、第二摄像机10、第二遮光板6组成第二检测系统，第二检测系统位于第一检测系统的后序工序的方向，所述第二透镜11设置于二极管芯片输送流水线1的下方，正对二极管芯片8所要经过的路线上，所述第二透镜11下方设置有第二摄像机10，所述第三光源12和第四光源9设置在第二透镜11的左右两侧的偏上方位置，第三光源12和第四光源9在二极管芯片输送流水线1上的照明点位于第二透镜11的正上方，且保证第二透镜不会干扰第三光源12和第四光源9的照明作用，位于所述第二摄像机10和第二透镜11正上方，且二极管芯片输送流水线1的上方设置有第二遮光板6；所述第一遮光板13和第二遮光板6的表面上涂覆有一层纳米级的不规则粗糙颗粒，一方面遮光板可以屏蔽来自下方部件的漫反射光对摄像机成像的影响，另一方面可以吸收穿过透明流水线的光源，防止其对摄像机的成像造成影响，所述第一摄像机4和第二摄像机10与外部计算机通过线束相连，所述第一光源2、第二光源5、第三光源12、第四光源9均由外部电源供电和控制其开关。

进一步的，所述二极管芯片8是呈一定间隔距离依次经过保护壳体7内部的，相邻二极管芯片8的间隔大于第一检测系统与第二检测系统的中心距离，防止二极管芯片8在成像的过程中受到相邻二极管芯片8的成像干扰。

进一步的，所述第一摄像机4和第二摄像机10选用面阵CCD摄像机，所述第一光源2、第二光源5、第三光源12和第四光源9均选用LED灯。

进一步的，所述外部计算机内设置有图像采集卡，由第一摄像机4和第二摄像机10所得的图像经过图像采集卡输入计算机的系统中，计算机的系统中设置有软件，可以进行图像预处理、图像识别与分析等，提取图像中的几何特征参数后分析二极管芯片8表面是否存在质量问题。

本实用新型设备为二极管芯片8的生产流水线中的一部分，工作时，二极管芯片8经PVC透明输送带经过第一摄像机4下方时，第一摄像机4对二极管芯片8的上表面扫描成像，二极管芯片8被继续向前方输送，经过第二摄像机10的上方时，第二摄像机10对二极管芯片8的下表面扫描成像，第一摄像机4和第二摄像机10将所得图像信号传输至计算机内的图像采集卡，然后输入计算机进行图像处理，本二极管芯片表面质量检测设备的后方工序上设置有自动控制设备，自动控制设备与外部计算机相连接，受计算机控制工作，当计算机检测出有表面质量的二极管芯片8时，后方的自动控制设备会将有质量缺陷的二极管芯片8分拣出来。

以上实施例仅为本实用新型的示例性实施例，不用于限制本实用新型，本实用新型的保护范围由权利要求书限定。本领域技术人员可以在本实用新型的实质和保护范围内，对本实用新型做出各种修改或等同替换，这种修改或等同替换也应视为落在本实用新型的保护范围内。

Claims (4)

1.一种二极管芯片表面质量检测设备，包括二极管芯片输送流水线(1)、保护壳体(7)、光源、摄像机、透镜、遮光板，其特征在于，位于检测工位的所述二极管芯片输送流水线(1)为PVC材质的透明输送带，所述保护壳体(7)固定于地面，穿过二极管芯片输送流水线(1)设置，所述光源、摄像机、透镜、遮光板均相对固定的设置在保护壳体(7)内部，所述光源包括第一光源(2)、第二光源(5)、第三光源(12)、第四光源(9)，所述摄像机包括第一摄像机(4)和第二摄像机(10)，所述透镜包括第一透镜(3)和第二透镜(11)，所述遮光板包括第一遮光板(13)和第二遮光板(6)；所述的第一透镜(3)、第一光源(2)、第二光源(5)、第一摄像机(4)、第一遮光板(13)组成第一检测系统，第一透镜(3)设置于二极管芯片输送流水线(1)的上方，正对二极管芯片(8)所要经过的路线上，所述第一透镜(3)上方设置有第一摄像机(4)，所述第一光源(2)和第二光源(5)设置在第一透镜(3)的左右两侧的偏下方位置，第一光源(2)和第二光源(5)在二极管芯片输送流水线(1)上的照明点位于第一透镜(3)的正下方，位于所述第一摄像机(4)和第一透镜(3)正下方，且二极管芯片输送流水线(1)的下方设置有第一遮光板(13)；所述的第二透镜(11)、第三光源(12)、第四光源(9)、第二摄像机(10)、第二遮光板(6)组成第二检测系统，第二检测系统位于第一检测系统的后序工序的方向，所述第二透镜(11)设置于二极管芯片输送流水线(1)的下方，正对二极管芯片(8)所要经过的路线上，所述第二透镜(11)下方设置有第二摄像机(10)，所述第三光源(12)和第四光源(9)设置在第二透镜(11)的左右两侧的偏上方位置，第三光源(12)和第四光源(9)在二极管芯片输送流水线(1)上的照明点位于第二透镜(11)的正上方，位于所述第二摄像机(10)和第二透镜(11)正上方，且二极管芯片输送流水线(1)的上方设置有第二遮光板(6)；所述第一遮光板(13)和第二遮光板(6)的表面上涂覆有一层纳米级的不规则粗糙颗粒，所述第一摄像机(4)和第二摄像机(10)与外部计算机通过线束相连，所述第一光源(2)、第二光源(5)、第三光源(12)、第四光源(9)均由外部电源供电和控制其开关。

2.根据权利要求1所述的一种二极管芯片表面质量检测设备，其特征在于，所述二极管芯片(8)是呈一定间隔距离依次经过保护壳体(7)内部的，相邻二极管芯片(8)的间隔大于第一检测系统与第二检测系统的中心距离。

3.根据权利要求1所述的一种二极管芯片表面质量检测设备，其特征在于，所述第一摄像机(4)和第二摄像机(10)选用面阵CCD摄像机，所述第一光源(2)、第二光源(5)、第三光源(12)和第四光源(9)同时均选用荧光灯、卤素灯、卤素金属蒸汽灯、LED灯、红外线或者紫外线中的一种。

4.根据权利要求1所述的一种二极管芯片表面质量检测设备，其特征在于，所述外部计算机内设置有图像采集卡，由第一摄像机(4)和第二摄像机(10)所得的图像经过图像采集卡输入计算机的系统中。