CN209001982U - 一种多业务测试仪表 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种多业务测试仪表，包括SFP业务接口，所述SFP业务接口与可编程逻辑芯片FPGA电连接，所述可编程逻辑芯片FPGA与中央处理器CPU电连接，所述中央处理器CPU对所述可编程逻辑芯片FPGA进行管理控制并进行人机交互，所述SFP业务接口包括以太网GE端口和无源光网络EPON端口。本实用新型仪表能支持以太网和PON两种业务，可以在两种业务测试中不需要进行仪表更换，便捷使用。

Description

一种多业务测试仪表

技术领域

本实用新型涉通信业务测试仪表领域，特别是一种多业务测试仪表。

背景技术

现有的通信业务测试仪表，多为国外早期仪表，虽然测试较为精准，但是一般都体积较大，且端口较多，功能复杂且价格昂贵。不同数量业务烈性采用不同的硬件平台，比如以太网测试仪表、PON业务测试仪表等，使用ASIC专用芯片或者FPGA可编程芯片技术实现仪表功能。单一芯片实现单一功能；且现有仪表一般都采用机架式结构，通过背板总线实现主控板和各种类型业务子卡的互联，各子卡采用独立的芯片实现测试仪表的业务端口。

也就是说，现有测试仪表中，要么价格昂贵，一般企业/现场施工队伍难以接受；要么体积较大、比较笨重，不利于移动，更不用说给现场业务开局使用；要么不同接口、业务类型，需要不同的测试仪表或子卡。

实用新型内容

本实用新型所要达到的目的就是提供一种多业务测试仪表，可方便便捷、成本低且可以进行多业务测试，同时便于各类工厂产线、现场业务的开局使用。

为了达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案：一种多业务测试仪表，包括SFP业务接口，所述SFP业务接口与可编程逻辑芯片FPGA电连接，所述可编程逻辑芯片FPGA与中央处理器CPU电连接，所述中央处理器CPU对所述可编程逻辑芯片FPGA进行管理控制并进行人机交互，所述SFP业务接口包括以太网GE端口和无源光网络EPON端口。

进一步的，所述以太网GE端口与无源光网络EPON端口与所述可编程逻辑芯片FPGA的SERDES高速通道电连接。

进一步的，所述中央处理器CPU嵌入所述测试仪表，所述中央处理器CPU通过LocalBus总线、RGMII接口和PCIE接口实现对可编程逻辑芯片FPGA的管理。

进一步的，所述中央处理器CPU通过与上位机进行通信实现人机交互，所述中央处理器CPU通过FE电口与上位机进行通信。

进一步的，所述测试仪表包括电源模块，所述电源模块的供电输出为12V直流电源。

进一步的，所述电源模块为外设于所述测试仪表本体外的AC/DC适配器。

进一步的，所述测试仪表内还设有FLASH存储模块、时钟模块、CPLD模块。

进一步的，所述时钟模块与所述CPLD模块电连接，所述FLASH存储模块、CPLD模块与所述中央处理器CPU电连接。

进一步的，所述以太网GE端口包括2个以太网电口和/或2个以太网光口。

进一步的，所述EPON端口包括2个光线路终端GEPON-OLT口和/或2个光网络单元GEPON-ONU口。

采用上述技术方案后，本实用新型具有如下优点：本测试仪表主要由可编程逻辑芯片FPGA来实现功能逻辑。内部可编程逻辑芯片FPGA通过逻辑编程实现报文的产生、编辑、发送、接收、分析和存储等功能。采用可编程逻辑芯片FPGA芯片的SERDES高速通道实现以太网接口、GEPON接口处理。降低设备成本，通过减少设备功能体积，明确使用范围，精减多余部件，多接口类型实现适应不同环境的测试要求以达到降成本的目的。且方便使用操作，因体积的减少，能方便地携带到需要的地方进行业务测试，同时因为仪表能支持以太网和PON两种业务，可以在两种业务测试中不需要进行仪表更换。

附图说明

下面结合附图对本实用新型作进一步说明：

图1为本实用新型多业务测试仪表的模块框图。

具体实施方式

实施例：

本实用新型的一种多业务测试仪表，包括SFP业务接口，所述SFP业务接口与可编程逻辑芯片FPGA电连接，所述可编程逻辑芯片FPGA与中央处理器CPU电连接，所述中央处理器CPU对所述可编程逻辑芯片FPGA进行管理控制并进行人机交互，所述SFP业务接口包括以太网GE端口和无源光网络EPON端口。

如图1所示，在本实施例中，所述SFP业务接口与外部需测试的网络等进行输入输出的信息交互。从而实现测试，所述SFP业务接口包括以太网GE端口和无源光网络EPON端口，图中均以SFP业务接口表示。所述以太网GE端口包括2个以太网电口和/或2个以太网光口，用于支持对以太网进行测试，所述EPON端口包括2个光线路终端GEPON-OLT口和/或2个光网络单元GEPON-ONU口，用于支持对PON网的业务测试。多接口类型实现适应不同环境的测试要求以达到降成本的目的，同时因为仪表能支持以太网和PON两种业务，可以在两种业务测试中不需要进行仪表更换。因此，仪表能同时收发以太网报文和PON报文，可分别在以太网和PON环境下工作，仪表适配不同的接口模块，可适配以太网电模块和以太网光模块和PON光模块。

在本实施例中，所述以太网GE端口与无源光网络EPON端口与所述可编程逻辑芯片FPGA的SERDES高速通道电连接。基于SERDES的设计增加了带宽，减少了信号数量，同时带来了诸如减少布线冲突、降低开关噪声、更低的功耗和封装成本等许多好处，充分利用传输媒体的信道容量，减少所需的传输信道和器件引脚数目，提升信号的传输速度，从而大大降低通信成本。

所述中央处理器CPU嵌入所述测试仪表，所述中央处理器CPU通过LocalBus总线、RGMII接口和PCIE接口实现对可编程逻辑芯片FPGA的管理。所述中央处理器CPU通过与上位机进行通信实现人机交互，所述中央处理器CPU通过FE电口与上位机进行通信。所述测试仪表内还设有FLASH存储模块、时钟模块、CPLD模块，所述时钟模块与所述CPLD模块电连接，所述FLASH存储模块、CPLD模块与所述中央处理器CPU电连接。所述时钟模块包括振荡模块和CLOCK模块，振荡模块为25M的晶振或者振荡器，提供时钟基准，所述FE电口味RJ45标准接口。在本实施例中，为了更好的匹配资源，所述CPU外设有DDR2型内存条，所述FPGA外设有DDR3存储器。

所述测试仪表包括电源模块，所述电源模块的供电输出为12V直流电源，可以为设置在仪表内部的蓄电模块或者电源转换模块，也可以是外设于测试仪表本体外的AC/DC适配器。

本测试仪表主要由可编程逻辑芯片FPGA来实现功能逻辑。内部可编程逻辑芯片FPGA通过逻辑编程实现报文的产生、编辑、发送、接收、分析和存储等功能。采用可编程逻辑芯片FPGA芯片的SERDES高速通道实现以太网接口、GEPON接口处理。降低设备成本，通过减少设备功能体积，明确使用范围，精减多余部件，因此，本实用新型中，测试仪表的外形的尺寸可以减小为不大于146*185*40mm,多接口类型实现适应不同环境的测试要求以达到降成本的目的。且方便使用操作，因体积的减少，能方。便地携带到需要的地方进行业务测试，同时因为仪表能支持以太网和PON两种业务，可以在两种业务测试中不需要进行仪表更换。

除上述优选实施例外，本实用新型还有其他的实施方式，本领域技术人员可以根据本实用新型作出各种改变和变形，只要不脱离本实用新型的精神，均应属于本实用新型所附权利要求所定义的范围。

Claims (10)

1.一种多业务测试仪表，其特征在于，包括SFP业务接口，所述SFP业务接口与可编程逻辑芯片FPGA电连接，所述可编程逻辑芯片FPGA与中央处理器CPU电连接，所述中央处理器CPU对所述可编程逻辑芯片FPGA进行管理控制并进行人机交互，所述SFP业务接口包括以太网GE端口和无源光网络EPON端口。

2.根据权利要求1所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述以太网GE端口与无源光网络EPON端口与所述可编程逻辑芯片FPGA的SERDES高速通道电连接。

3.根据权利要求2所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述中央处理器CPU嵌入所述测试仪表，所述中央处理器CPU通过LocalBus总线、RGMII接口和PCIE接口实现对可编程逻辑芯片FPGA的管理。

4.根据权利要求1所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述中央处理器CPU通过与上位机进行通信实现人机交互，所述中央处理器CPU通过FE电口与上位机进行通信。

5.根据权利要求1所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述测试仪表包括电源模块，所述电源模块的供电输出为12V直流电源。

6.根据权利要求5所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述电源模块为外设于所述测试仪表本体外的AC/DC适配器。

7.根据权利要求1所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述测试仪表内还设有FLASH存储模块、时钟模块、CPLD模块。

8.根据权利要求7所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述时钟模块与所述CPLD模块电连接，所述FLASH存储模块、CPLD模块与所述中央处理器CPU电连接。

9.根据权利要求1所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述以太网GE端口包括2个以太网电口和/或2个以太网光口。

10.根据权利要求1所述的多业务测试仪表，其特征在于，所述EPON端口包括2个光线路终端GEPON-OLT口和/或2个光网络单元GEPON-ONU口。