CN208984756U - 一种igbt老化系统结构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种IGBT老化系统结构，包括柜体、设置在柜体内的单元测试箱和恒温试验箱、设置在柜体上的显示器、键盘鼠标操作台、工控机、K系数测试机，柜体分为左柜体和右柜体，左柜体中自上而下依次设有若干单元测试箱，单元测试箱为抽屉式测试箱，拉开后左右两侧均有一个大功率风机为待测器件风冷散热，每个单元测试箱内设有若干独立测试工位，每个待测器件与单元测试箱内的对应编码线对接后固定在散热铝板上。本实用新型的测试箱采用单元化设计，每个单元拥有独立的风冷系统，使用安全可靠，功能齐全，采用恒温测试箱和K系数测试机可以测得精准的K系数，方便数据算出更精准的Tj，而且操作简便，安装器件方便可靠，结构布局合理。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种器件测试设备，尤其涉及一种IGBT老化系统结构。
背景技术
随着电力电子技术的发展，IGBT功率模块广泛应用于风力发电、电力牵动和航空航天动力系统等领域，上诉应用场合不仅工况严酷，而且对IGBT的可靠性有很高的要求。IGBT重复的开通、关断时，在热冲击的反复作用下会产生失效或疲劳效应，影响工作寿命和可靠性，进而将影响整个装置或系统的运行。因此加速老化试验是研究IGBT可靠性的重要手段，功率循环试验方法对IGBT通以周期性的工作电流，利用IGBT自身产生的热量对其进行热循环冲击，可有效模拟实际工况下IGBT模块的老化失效。因实验相对复杂，对其结构的设计也起到至关重要的作用。
现有技术的缺点：目前市面上的IGBT老化系统的功能单一，使用不便，而且结构布局不合理，美观性差。
实用新型内容
本实用新型为了解决上述现有技术中存在的缺陷和不足，提供了一种测试箱采用单元化设计，各个单元相互独立，每个单元拥有独立的风冷系统，使用安全可靠，功能齐全，可以测得精准的K系数，方便数据算出更精准的Tj，而且操作简便，安装器件方便可靠，结构布局合理，美观性好的IGBT老化系统结构。
本实用新型的技术方案：一种IGBT老化系统结构，包括柜体、设置在柜体内的单元测试箱和恒温试验箱、设置在柜体上的显示器、键盘鼠标操作台、工控机、K系数测试机，所述柜体分为左柜体和右柜体，所述左柜体中自上而下依次设有若干单元测试箱，所述单元测试箱为抽屉式测试箱，拉开后左右两侧均有一个大功率风机为待测器件风冷散热，每个单元测试箱内设有若干独立测试工位，每个待测器件与单元测试箱内的对应编码线对接后固定在散热铝板上。
本实用新型的测试箱采用单元化设计，各个单元相互独立，每个单元拥有独立的风冷系统，使用安全可靠，功能齐全，采用恒温测试箱和K系数测试机可以测得精准的K系数，方便数据算出更精准的Tj，而且操作简便，安装器件方便可靠，结构布局合理，美观性好。
优选地，所述显示器、键盘鼠标操作台、工控机、K系数测试机和恒温试验箱均位于右柜体上，且显示器位于键盘鼠标操作台的上方，键盘鼠标操作台位于工控机的上方，工控机位于K系数测试机的上方，K系数测试机位于恒温试验箱的上方。
该种结构进一步使得其布局合理，外形美观，同时方便操作员操作和观察。
优选地，所述右柜体上还设有运行停止指示灯和运行急停按钮，所述运行急停按钮位于显示器的上方，所述运行停止指示灯位于运行急停按钮上方。
该种结构使得其状态显示直观，而且方便紧急停止，使用安全可靠。
优选地，所述单元测试箱内还设有配合编码线的引线排座。
该种结构确保待测器件的散热效果(待测器件放置在散热铝板上)，同时方便编码线的引线和对接。
优选地，所述单元测试箱的数量为8个，每个单元测试箱内设有4个独立测试工位，所述柜体底部设有带刹车的滚轮。
该种结构使得其最多可以测试32个器件，功能强大，而且方便其搬移。
本实用新型的测试箱采用单元化设计，各个单元相互独立，每个单元拥有独立的风冷系统，使用安全可靠，功能齐全，采用恒温测试箱和K系数测试机可以测得精准的K系数，方便数据算出更精准的Tj，而且操作简便，安装器件方便可靠，结构布局合理，美观性好。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型中单元测试箱的内部结构示意图；
图中1.单元测试箱，2.运行停止指示灯，3.运行急停按钮，4.显示器，5.键盘鼠标操作台，6.工控机，7.K系数测试机，8.恒温试验箱，9.左柜体，10.右柜体，11.带刹车的滚轮，12.大功率风机，13.散热铝板，14.引线排座。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步详细的说明，但并不是对本实用新型保护范围的限制。
如图1和2所示，一种IGBT老化系统结构，包括柜体、设置在柜体内的单元测试箱1和恒温试验箱8、设置在柜体上的显示器4、键盘鼠标操作台5、工控机6、K系数测试机7。柜体分为左柜体9和右柜体10，左柜体9中自上而下依次设有8个单元测试箱1，单元测试箱1为抽屉式测试箱，拉开后左右两侧均有一个大功率风机12为待测器件风冷散热，每个单元测试箱1内设有4个独立测试工位，每个待测器件与单元测试箱1内的对应编码线对接后固定在散热铝板13上。显示器4、键盘鼠标操作台5、工控机6、K系数测试机7和恒温试验箱8均位于右柜体10上，且显示器4位于键盘鼠标操作台5的上方，键盘鼠标操作台5位于工控机6的上方，工控机6位于K系数测试机7的上方，K系数测试机7位于恒温试验箱8的上方。单元测试箱1内还设有配合编码线的引线排座14。右柜体2上还设有运行停止指示灯2和运行急停按钮3，运行急停按钮3位于显示器4的上方，运行停止指示灯2位于运行急停按钮3上方。柜体底部设有带刹车的滚轮11。
本实用新型用于进行IGBT功率循环试验时，新设计的器件可先放入恒温试验箱利用K系数测试机将K系数测出来，然后将器件放入单元测试箱后通过工控制机设置好参数即可开始试验。每个测试单元包括恒温试验箱及K系数都可与计算机进行通讯。
本实用新型的优点：
1.采用单元测试箱并带有抽屉式的方式，共八个测试箱，每个可试验4个IGBT器件，最多可同时老化32个器件。相互独立，在需试验数量少的时候，其他单元可不用打开，达到节能、选择性多等优点；
2.增加小型恒温试验箱和K系数测试机的设计，在操作人员不知道K系数或者不确定的时候可通过此方法进行测量且小型高温试验箱可对IGBT进行简单的热循环试验，使试验变得更加多样化充分满足实验人员和工程师的要求；
3.运行急停按钮及其显示的直观设计，在遇故障或其他紧急情况是可随时通过此按钮整体断电保护；
4.整体外观具有模块化设计，清爽大方，各单元相互独立且右侧直观，键盘鼠标操作台符合大部分人身高要求，操作方便。
本实用新型中的工控机、K系数测试机和恒温试验箱均为市面采购的常规部件，故不作细述。
本实用新型的测试箱采用单元化设计，各个单元相互独立，每个单元拥有独立的风冷系统，使用安全可靠，功能齐全，采用恒温测试箱和K系数测试机可以测得精准的K系数，方便数据算出更精准的Tj，而且操作简便，安装器件方便可靠，结构布局合理，美观性好。
Claims (5)
1.一种IGBT老化系统结构，包括柜体、设置在柜体内的单元测试箱和恒温试验箱、设置在柜体上的显示器、键盘鼠标操作台、工控机、K系数测试机，其特征在于：所述柜体分为左柜体和右柜体，所述左柜体中自上而下依次设有若干单元测试箱，所述单元测试箱为抽屉式测试箱，拉开后左右两侧均有一个大功率风机为待测器件风冷散热，每个单元测试箱内设有若干独立测试工位，每个待测器件与单元测试箱内的对应编码线对接后固定在散热铝板上。
2.根据权利要求1所述的一种IGBT老化系统结构，其特征在于：所述显示器、键盘鼠标操作台、工控机、K系数测试机和恒温试验箱均位于右柜体上，且显示器位于键盘鼠标操作台的上方，键盘鼠标操作台位于工控机的上方，工控机位于K系数测试机的上方，K系数测试机位于恒温试验箱的上方。
3.根据权利要求1所述的一种IGBT老化系统结构，其特征在于：所述右柜体上还设有运行停止指示灯和运行急停按钮，所述运行急停按钮位于显示器的上方，所述运行停止指示灯位于运行急停按钮上方。
4.根据权利要求1所述的一种IGBT老化系统结构，其特征在于：所述单元测试箱内还设有配合编码线的引线排座。
5.根据权利要求1所述的一种IGBT老化系统结构，其特征在于：所述单元测试箱的数量为8个，每个单元测试箱内设有4个独立测试工位，所述柜体底部设有带刹车的滚轮。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201821625896.2U CN208984756U (zh) | 2018-10-08 | 2018-10-08 | 一种igbt老化系统结构 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
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| CN208984756U true CN208984756U (zh) | 2019-06-14 |
Family
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| CN201821625896.2U Active CN208984756U (zh) | 2018-10-08 | 2018-10-08 | 一种igbt老化系统结构 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN208984756U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108169654A (zh) * | 2018-01-02 | 2018-06-15 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） | 功率模块htrb可靠性测试系统 |
| CN111521891A (zh) * | 2020-03-02 | 2020-08-11 | 杭州高坤电子科技有限公司 | 一种模块功率循环试验系统 |
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2018
- 2018-10-08 CN CN201821625896.2U patent/CN208984756U/zh active Active
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