CN208984712U - 一种用于贴片芯片测试的治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于贴片芯片测试的治具，包括：基座、检测电路、第一指示灯、第二指示灯、旋钮变阻器，所述基座上设有用于放置贴片芯片的座体，所述座体上设有用于与贴片芯片的电源端导通的第一金属端，所述座体上设有用于与贴片芯片的接地端导通的第二金属端，所述检测电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、比较器、三极管、继电器，通过检测电路对贴片芯片的内阻进行检测，分别利用第一指示灯和第二指示灯指示出合格的贴片芯片和不合格的贴片芯片，十分方便，提高了质检员的效率。本实用新型可用于芯片测试技术领域中。

Description

一种用于贴片芯片测试的治具

技术领域

本发明创造涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种用于贴片芯片测试的治具。

背景技术

现有在使用新的贴片芯片前都需要对其内部阻值进行检测，从而确定该芯片是否正常工作，一般这种检测都是质检员利用万用表对芯片的电源端和接地端进行电阻的检测，但是这种检测耗费大量的精力，效率不高。

实用新型内容

本实用新型的目的：提供一种用于贴片芯片测试用的治具，提高质检员检测的效率。

本实用新型解决其技术问题的解决方案是：一种用于贴片芯片测试的治具，包括：基座、检测电路、第一指示灯、第二指示灯、旋钮变阻器，所述基座上设有用于放置贴片芯片的座体，所述座体上设有用于与贴片芯片的电源端导通的第一金属端，所述座体上设有用于与贴片芯片的接地端导通的第二金属端，所述检测电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、比较器、三极管、继电器，比较器的反相输入端分别与第一电阻的一端、旋钮变阻器的一端连接，比较器的同相输入端分别与第二电阻的一端、所述第一金属端连接，比较器的输出端分别与第三电阻的一端、三极管的基极连接，三极管的集电极与第六电阻的一端连接，第六电阻的另一端与继电器的线圈一端连接，第一指示灯的正极与第四电阻的一端连接，第四电阻的另一端与继电器的常开触点连接，第二指示灯的正极与第五电阻的一端连接，第五电阻的另一端与继电器的常闭触点连接，第一电阻的另一端、第二电阻的另一端、第三电阻的另一端、继电器的线圈另一端、继电器的动端触点分别与12V电源连接，旋钮变阻器的另一端、所述第二金属端、三极管的发射极、第一指示灯的负极、第二指示灯的负极分别对地连接。

进一步，所述比较器的型号为LM339。

进一步，所述第一指示灯和第二指示灯均为LED灯。

本实用新型的有益效果是：通过检测电路对贴片芯片的内阻进行检测，分别利用第一指示灯和第二指示灯指示出合格的贴片芯片和不合格的贴片芯片，十分方便，提高了质检员的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单说明。显然，所描述的附图只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他设计方案和附图。

图1是治具的结构示意图；

图2是检测电路的电路连接示意图。

具体实施方式

以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。另外，文中所提到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本发明创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。

实施例1，参考图1和图2，一种用于贴片芯片测试的治具，包括：基座1、检测电路、第一指示灯4、第二指示灯5、旋钮变阻器3，所述基座上设有用于放置贴片芯片的座体2，所述座体2上设有用于与贴片芯片的电源端导通的第一金属端a，所述座体2上设有用于与贴片芯片的接地端导通的第二金属端b，所述检测电路包括：第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、比较器U1、三极管Q1、继电器K，比较器U1的反相输入端分别与第一电阻R1的一端、旋钮变阻器3的一端连接，比较器U1的同相输入端分别与第二电阻R2的一端、所述第一金属端a连接，比较器U1的输出端分别与第三电阻R3的一端、三极管Q1的基极连接，三极管Q1的集电极与第六电阻R6的一端连接，第六电阻R6的另一端与继电器K的线圈一端连接，第一指示灯4的正极与第四电阻R4的一端连接，第四电阻R4的另一端与继电器K的常开触点连接，第二指示灯5的正极与第五电阻R5的一端连接，第五电阻R5的另一端与继电器K的常闭触点连接，第一电阻R1的另一端、第二电阻R2的另一端、第三电阻R3的另一端、继电器K的线圈另一端、继电器K的动端触点分别与12V电源连接，旋钮变阻器3的另一端、所述第二金属端b、三极管Q1的发射极、第一指示灯4的负极、第二指示灯5的负极分别对地连接。

当需要对贴片芯片进行测试时，可将贴片芯片放入到所述座体2中，检测电路工作，事先可通过旋钮变阻器3调整好参考电阻，当贴片芯片的内阻大于参考电阻时，比较器U1输出高电平，三极管Q1导通，所述继电器K的动端触点与所述继电器K的常开触点连通，第一指示灯4亮，从而提示贴片芯片的内阻合格；当贴片芯片的内阻小于参考电阻时，比较器U1输出低电平，三极管Q1截止，所述继电器K的动端触点与所述继电器K的常闭触点连通，第二指示灯5亮，从而提示贴片芯片的内阻不合格。通过检测电路对贴片芯片的内阻进行检测，十分方便，提高质检员的效率。

作为上述实施方式的进一步优化，所述比较器U1的型号为LM339。

作为上述实施方式的进一步优化，所述第一指示灯4和第二指示灯5均为LED灯。

以上对本实用新型的较佳实施方式进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可做出种种的等同变型或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (3)

1.一种用于贴片芯片测试的治具，包括：基座，所述基座上设有用于放置贴片芯片的座体，所述座体上设有用于与贴片芯片的电源端导通的第一金属端，所述座体上设有用于与贴片芯片的接地端导通的第二金属端，其特征在于，还包括：检测电路、第一指示灯、第二指示灯、旋钮变阻器，所述检测电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、比较器、三极管、继电器，比较器的反相输入端分别与第一电阻的一端、旋钮变阻器的一端连接，比较器的同相输入端分别与第二电阻的一端、所述第一金属端连接，比较器的输出端分别与第三电阻的一端、三极管的基极连接，三极管的集电极与第六电阻的一端连接，第六电阻的另一端与继电器的线圈一端连接，第一指示灯的正极与第四电阻的一端连接，第四电阻的另一端与继电器的常开触点连接，第二指示灯的正极与第五电阻的一端连接，第五电阻的另一端与继电器的常闭触点连接，第一电阻的另一端、第二电阻的另一端、第三电阻的另一端、继电器的线圈另一端、继电器的动端触点分别与12V电源连接，旋钮变阻器的另一端、所述第二金属端、三极管的发射极、第一指示灯的负极、第二指示灯的负极分别对地连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于贴片芯片测试的治具，其特征在于，所述比较器的型号为LM339。

3.根据权利要求1所述的一种用于贴片芯片测试的治具，其特征在于，所述第一指示灯和第二指示灯均为LED灯。