CN208707659U - 一种基于rmii接口的以太网口物理层检测电路 - Google Patents
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Abstract
一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路,包括以太网变压器,以太网变压器与以太网物理层芯片相连;以太网变压器的差分RX±信号端与以太网帧数据判定设备的测试网络端口相连;以太网变压器的差分TX±端与以太网帧数据判定设备的测试网络端口相连;切换产品模块工作在检测模式,实现对RMII接口的互联;外部以太网数据判定设备产生激励帧数据;激励数据帧按照:变压器→PHY芯片→RMII接口回环→PHY芯片→变压器的数据通路进入以太网数据判定设备;以太网数据判定设备依据接收数据是否跟发送帧数据一致;依据判定结果,判定当前物理层电路工作是否正常;加快网络通信故障隔离效率;降低生产测试成本,加快故障隔离,有效提高网络故障检测效率。
Description
技术领域
本实用新型属于计算机通信技术领域,具体涉及一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路。
背景技术
IEEE 802.3以太网网络标准已广泛应用在各种通信设备中,但其网络节点故障也随着网络规模的增大而增大,同时对网络故障节点的排查难度也急剧增加。为了在某一故障链路中尽快查出网络节点故障,加快排查速度,就必须采取故障隔离手段。目前,由于网络分层协议的实现,现阶段采用的主要测试手段无法单独进行物理接口层次的测试。
发明内容
为克服上述现有技术的不足,本实用新型的目的在于提供一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路,解决在复杂网络通信节点故障中,可快速完成某一通信模块的物理层电路检测,加快网络通信故障隔离效率;降低生产测试成本,加快故障隔离,有效提高网络故障检测效率。
为了实现上述目的,本实用新型采用的技术方案是:
一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路,包括以太网变压器、以太网物理层芯片、以太网物理层互连电路和以太网帧数据判定设备;
以太网变压器与以太网物理层芯片相连;以太网变压器的差分RX±信号端与以太网帧数据判定设备的测试网络端口相连;以太网变压器的差分TX±端与以太网帧数据判定设备的测试网络端口相连。
所述的以太网物理层互连电路:以太网物理层芯片的RMII接口的TXD[1:0]与RXD[1:0]互连,TX_EN与RX_DV互联,可采用现场可编程门阵列。
所述的以太网物理层芯片为PHY芯片,支持RMII接口。
所述的以太网物理层芯片型号为DP83848YB。
以太网物理层检测电路工作流程为:外部以太网数据判定设备产生激励帧数据,经IEEE802.3协议规定的差分RX±信号进入变压器,经以太网物理层芯片后,通过RMII信号互连后重新进入以太网物理层芯片和变压器后,通过差分TX±信号进入以太网帧数据判定设备。
所述的以太网物理层检测电路可通过现场可编程门阵列实现,也可通过电路预留方式实现。
所述的以太网物理层检测电路,是其在检测模式时互连方式;在正常工作模式时,RMII接口与MAC层互连;MAC层为介质访问控制层。
外部以太网数据判定设备可依据具体网络的通信数据特点,可自由设置测试帧数据特点,主要测试数据特点,考虑如下几点:a.短帧(帧长64字节);b.长帧(帧长1518字节);c.中等长度帧(1000字节);d.通信数据负荷(如连续发送10万帧)。
本实用新型的有益效果是:
与现有技术相比,本实用新型解决了以下技术问题:
1)由于采用了RMII接口(RMII接口的中文名称为:简化媒体独立接口)以太网物理层检测电路,解决了IEEE 802.3协议规定的物理层PHY和变压器等电路通信检测;
2)由于采用了以太网物理层的单独检测方法,与上层网络协议隔离,解决了在复杂通信网络中故障节点的通信隔离;
3)本检测电路实现简单,可在原有通信电路中快速搭建测试环境,加快故障排查效率;
4)本检测电路不仅实现了物理层的通信隔离,也对同一模块产品中的上层协议(包括:MAC层、数据链路层、网络层、应用层等)的故障隔离。
5)本测试电路的提出直接在产品中进行物理接口的测试,便于物理接口故障的快速排查定位。
相对于现有技术,本实用新型具有以下优点:本实用新型在现有通信电路的基础上,稍作修改,实现RMII接口的自环电路,即可完成以太网物理层的电路检测,隔离网络故障,并且尽量减少与上层协议的交互,极大的提高了检测效率。
附图说明
图1本实用新型的原理框图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步详细描述。
参见图1,一种通过以太网RMII接口实现以太网物理层的检测电路,包括以太网变压器1、以太网物理层芯片2(支持RMII接口)、自环电路3和以太网帧数据判定设备4。
以太网变压器1与以太网物理层芯片2相连;以太网变压器1的差分RX±信号端与以太网帧数据判定设备4的测试网络端口相连;以太网变压器1的差分TX±端与以太网帧数据判定设备的测试网络端口相连。
所述的以太网物理层检测电路为:以太网物理层芯片的RMII接口的TXD[1:0]与RXD[1:0]互连,TX_EN与RX_DV互联,可采用现场可编程门阵列。
通过上述以太网物理层芯片2的连接关系,形成了以太网物理层检测电路3。
所述的以太网物理层芯片为PHY芯片,支持RMII接口。
所述的以太网物理层芯片型号为DP83848YB。
RMII接口互连电路可通过现场可编程门阵列实现,也可通过电路预留方式等实现。RMII接口检测,是其在检测模式时互连方式。在正常工作模式时,RMII接口与MAC层互连。
本实用新型的检测原理如下:
a.切换产品模块工作在检测模式,实现对RMII接口的互联,具体信号互连方式为:TXD[1:0]与RXD[1:0]互联,TX_EN与RX_DV互连;
b.外部以太网数据判定设备产生激励帧数据。激励数据涵盖如下特征:a).短帧,短帧帧长64字节;b).长帧,长帧帧长1518字节;c).中等长度帧(1000字节);d).通信数据负荷,如连续发送10万帧。
c.激励数据帧按照:变压器→PHY芯片→RMII接口回环→PHY芯片→变压器的数据通路再次进入以太网数据判定设备;
d.外部以太网数据判定设备依据接收数据是否跟发送帧数据一致;
e.依据判定结果,判定当前物理层电路工作是否正常。
Claims (4)
1.一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路,其特征在于,包括以太网变压器、以太网物理层芯片、以太网物理层互连电路和以太网帧数据判定设备;
以太网变压器与以太网物理层芯片相连;以太网变压器的差分RX±信号端与以太网帧数据判定设备的测试网络端口相连;以太网变压器的差分TX±端与以太网帧数据判定设备的测试网络端口相连。
2.根据权利要求1所述的一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路,其特征在于,所述的以太网物理层互连电路:以太网物理层芯片的RMII接口的TXD[1:0]与RXD[1:0]互连,TX_EN与RX_DV互联,可采用现场可编程门阵列。
3.根据权利要求1所述的一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路,其特征在于,所述的以太网物理层芯片为PHY芯片,支持RMII接口。
4.根据权利要求1所述的一种基于RMII接口的以太网口物理层检测电路,其特征在于,所述的以太网物理层芯片型号为DP83848YB。
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