CN208384045U - 用于电子装置的接口的检测治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于电子装置的接口的检测治具，包括：与接口配合的插头，接口内具有多个第一引脚，插头内具有多个与第一引脚配合的第二引脚；多根连接线，多根连接线的一端分别与多个第二引脚连接；和板体，板体上设有多个间隔开的导电件，多个导电件与多个连接线一一对应，多个连接线的另一端分别与多个导电件连接。根据本实用新型的检测治具，通过设置与电子装置的接口配合的插头，并将与插头内的第二引脚连接的连接线的另一端连接在板体上相应地导电件上，当需要测量电子装置的接口内的多个第一引脚的短路情况时，可以直接测量板体上对应的导电件的短路情况，便于操作人员测量。

Description

用于电子装置的接口的检测治具

技术领域

本实用新型涉及电子装置的检测技术领域，尤其是涉及一种用于电子装置的接口的检测治具。

背景技术

相关技术中，电子装置上的接口在使用的过程中会遇到不同的环境，例如雨雾、灰尘、毛发、碎屑等均可能导致接口内部短路，从而引起不充电或充电被识别成OTG等一些问题。一般情况下，遇到上述问题会通过万用表针测量接口内的舌片，但是万用表针比较粗，无法伸入接口内，测量不便。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型的一个目的在于提出一种用于电子装置的接口的检测治具，使用上述治具，便于检测电子装置接口是否出现短路。

根据本实用新型实施例的用于电子装置的接口的检测治具，包括：与所述接口配合的插头，所述接口内具有多个第一引脚，所述插头内具有多个与所述第一引脚配合的第二引脚；多根连接线，多根所述连接线的一端分别与多个所述第二引脚连接；和板体，所述板体上设有多个间隔开的导电件，多个所述导电件与多个所述连接线一一对应，多个所述连接线的另一端分别与多个所述导电件连接。

根据本实用新型实施例的用于电子装置的接口的检测治具，通过设置与电子装置的接口配合的插头，并将与插头内的第二引脚连接的连接线的另一端连接在板体上相应地导电件上，当需要测量电子装置的接口内的多个第一引脚的短路情况时，可以直接测量板体上对应的导电件的短路情况，便于操作人员测量。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述第一引脚和多个所述第二引脚一一对应。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一引脚的数量大于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括两个相互连接的电源引脚，多个所述第二引脚包括一个电源引脚，多个所述第二引脚中的电源引脚与多个所述第一引脚中的两个电源引脚中的一个连接。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一引脚的数量大于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括两个相互连接的接地引脚，多个所述第二引脚包括一个接地引脚，多个所述第二引脚中的接地引脚与多个所述第一引脚中的两个接地引脚中的一个连接。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一引脚的数量小于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括一个电源引脚，多个所述第二引脚包括两个相互连接的电源引脚，多个所述第一引脚中的电源引脚与多个所述第二引脚中的两个电源引脚中的一个连接。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一引脚的数量小于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括一个接地引脚，多个所述第二引脚包括两个相互连接的接地引脚，多个所述第一引脚中的接地引脚与多个所述第二引脚中的两个接地引脚中的一个连接。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述第二引脚包括两个相互连接的电源引脚，多个所述第二引脚中的两个电源引脚与同一根所述连接线的一端连接。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述第二引脚包括两个相互连接的接地引脚，多个所述第二引脚中两个接地引脚与同一根所述连接线的一端连接。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述第二引脚与多根所述连接线一一对应。

根据本实用新型的一些实施例，所述板体上设有多个凹槽，多个所述凹槽与多个所述导电件一一对应，每个所述导电件设在相应的所述凹槽内。

在本实用新型的一些实施例中，多个所述凹槽并排设置。

在本实用新型的一些实施例中，每个所述凹槽形成为长条形，所述导电件位于所述凹槽的一端，所述凹槽的另一端设有焊盘，所述焊盘与所述导电件电连接。

在本实用新型的一些实施例中，所述导电件为铜箔。

在本实用新型的一些实施例中，所述连接线与所述导电件焊接连接。

根据本实用新型的一些实施例，多个所述连接线的外部套设有保护套。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

本实用新型的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是根据本实用新型实施例的用于电子装置的接口的检测治具的主视图；

图2是根据本实用新型实施例的用于电子装置的接口的检测治具的后视图；

图3是根据本实用新型实施例的用于电子装置的接口的插头的结构示意图；

图4是根据本实用新型另一个实施例的用于电子装置的接口的插头的结构示意图；

图5是根据本实用新型实施例的电子装置的结构示意图；

图6是根据本实用新型另一个实施例的电子装置的结构示意图。

附图标记：

检测治具100，

插头1，第二引脚11，

连接线2，

板体3，凹槽31，导电件32，焊盘33，

保护套4，

电子装置200，

接口201，第一引脚202。

具体实施方式

下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。

下面参考图1-图6描述根据本实用新型实施例的用于电子装置200的接口201的检测治具100。

如图1和图2所示，根据本实用新型实施例的用于电子装置200的接口201的检测治具100，包括与接口201配合的插头1、多根连接线2及板体3。

具体而言，如图5和图6所示，电子装置200上设有接口201，接口201内设有多个第一引脚202，检测治具100包括与接口201配合的插头1，插头1内具有多个与第一引脚202配合的第二引脚11。其中，第一引脚202的数量和第二引脚11的数量可以相同，多个第一引脚202和多个第二引脚11一一对应，一一对应的两个引脚功能相同且相互配合连接。例如，如图5所示，电子装置200的接口201内可以设有五个第一引脚202，分别为VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、GND(接地引脚)。相应地，如图3所示，插头1内具有五个第二引脚11，分别为VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、GND(接地引脚)。接口201内的五个第一引脚202和插头1内的五个第二引脚11一一对应，一一对应的两个第一引脚202和第二引脚11功能相同，且相互配合连接。

再如，在图4和图6所示的示例中，电子装置200的接口201具有七个第一引脚202，分别为两个相互连接的VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、两个相互连接的GND(接地引脚)。插头1具有七个第二引脚11，分别为两个相互连接的VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、两个相互连接的GND(接地引脚)。七个第一引脚202和七个第二引脚11一一对应且相互连接。

当然，本实用新型不限于此，如图3和图6所示，第一引脚202的数量大于第二引脚11的数量，多个第一引脚202包括两个相互连接的电源引脚(位于图6中最左侧的两个第一引脚202)，多个第二引脚11包括一个电源引脚(位于图3中最左侧的第二引脚11)，多个第二引脚11中的电源引脚与多个第一引脚202中的两个相互连接的电源引脚中的一个连接。也就是说，电子装置200上的两个电源引脚中的一个与插头1中的一个电源引脚配合连接，另一个电源引脚可以悬空。

另外，如图3和图6所示，第一引脚202的数量大于第二引脚11的数量，多个第一引脚202包括两个相互连接的接地引脚(位于图6中最右侧的两个第一引脚202)，多个第二引脚11包括一个接地引脚(位于图3中最右侧的第二引脚11)，多个第二引脚11中的接地引脚与多个第一引脚202中的两个相互连接的接地引脚中的一个连接，另一个电源引脚可以悬空。也就是说，电子装置200上的两个接地引脚中的一个与插头1中的一个接地引脚配合连接，另一个接地引脚可以悬空。

例如，在图3和图6所示的示例中，插头1内具有五个第二引脚11，分别为VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、GND(接地引脚)。电子装置200的接口201具有七个第一引脚202，分别为两个相互连接的VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、两个相互连接的GND(接地引脚)。接口201内的两个电源引脚中的一个电源引脚与插头1内的电源引脚连接，接口201内的两个接地引脚中的一个与插头1内的接地引脚连接。

当然，本实用新型不限于此，如图4和图5所示，第一引脚202的数量小于第二引脚11的数量，多个第一引脚202包括一个电源引脚(位于图5中最左侧的第一引脚202)，多个第二引脚11包括两个相互连接的电源引脚(位于图4中最左侧的两个第二引脚11)，多个第一引脚202中的电源引脚与多个第二引脚11中的两个电源引脚中的一个连接。也就是说，插头1上的两个电源引脚中的一个与接口201中的一个电源引脚配合连接，另一个电源引脚可以悬空。

另外，如图4和图5所示，第一引脚202的数量小于第二引脚11的数量，多个第一引脚202包括一个接地引脚(位于图5中最右侧的第一引脚202)，多个第二引脚11包括两个相互连接的接地引脚(位于图4中最右侧的两个第二引脚11)，多个第一引脚202中的接地引脚与多个第二引脚11中的两个接地引脚中的一个连接。也就是说，插头1上的两个接地引脚中的一个与接口201中的一个接地引脚配合连接，另一个接地引脚可以悬空。

例如，在图4和图5所示的示例中，电子装置200的接口201内具有五个第一引脚202，分别为VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、GND(接地引脚)。插头1具有七个第二引脚11，分别为两个相互连接的VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、两个相互连接的GND(接地引脚)。插头1内的两个电源引脚中的一个电源引脚与接口201内的电源引脚连接，插头1内的两个接地引脚中的一个与接口201内的接地引脚连接。

如图1-图4所示，多根连接线2的一端分别与多个第二引脚11连接。其中，如图1-图3所示，第二引脚11的数量与连接线2的数量相同，多个第二引脚11与多根连接线2一一对应，每个连接线2的一端分别与相应的第二引脚11连接。例如在图1和图3所示的示例中，插头1内具有五个第二引脚11，分别为VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、GND(接地引脚)，检测治具100包括五根连接线2，每根连接线2的一端分别与相应的一个第二引脚11连接。

当然，本实用新型不限于此，如图4所示，多个第二引脚11包括两个相互连接的电源引脚，多个第二引脚11中的两个电源引脚与同一根连接线2的一端连接。如图4所示，多个第二引脚11包括两个相互连接的接地引脚，多个第二引脚11中两个接地引脚与同一根连接线2的一端连接。由此可以简化检测治具100的结构。

例如，在图4所示的示例中，插头1具有七个第二引脚11，分别为两个相互连接的VBUS(电源引脚)、D-(数据-引脚)、D+(数据+引脚)、ID(识别不同的电缆端点的引脚)、两个相互连接的GND(接地引脚)，检测治具100包括五根连接线2，两个电源引脚与同一根连接线2的一端连接，两个接地引脚与同一根连接线2的一端连接。

如图1和图2所示，板体3上设有多个间隔开的导电件32，多个导电件32与多个连接线2一一对应，多个连接线2的另一端分别与多个导电件32连接。当插头1插入电子装置200的接口201内时，可以实现导电件32与电子装置200的接口201内的多个第一引脚202之间的连接，从而可以利用万用表测量板体3上对应的导电件32来实现测量电子装置200的接口201内的多个第一引脚202之间的短路情况，便于操作人员操作。

根据本实用新型实施例的用于电子装置200的接口201的检测治具100，通过设置与电子装置200的接口201配合的插头1，并将与插头1内的第二引脚11连接的连接线2的另一端连接在板体3上相应地导电件32上，当需要测量电子装置200的接口201内的多个第一引脚202的短路情况时，可以直接测量板体3上对应的导电件32的短路情况，便于操作人员测量。

在本实用新型的一些实施例中，如图1和图2所示，导电件32为铜箔，由此便于实现连接线2与导电件32之间的电连接。进一步地，连接线2与导电件32焊接连接。由此便于实现连接线2与导电件32之间的连接。具体地，导电件32及板体3上设有在其厚度方向上贯穿其的通孔，连接线2可以从板体3的一侧伸入通孔内并伸入导电件32的通孔内与导电件32焊接连接，由此可以提高导电件32与连接线2之间连接的可靠性。

在本实用新型的一些实施例中，如图1所示，板体3上设有多个凹槽31，多个凹槽31与多个导电件32一一对应，每个导电件32设在相应的凹槽31内。由此在利用万用表针进行测量时，万用表针可以位于凹槽31内，便于实现万用表针与导电件32之间的接触，避免万用表针在测量的过程中发生移动，从而保证测量的准确性和快速性。

进一步地，如图1所示，多个凹槽31并排设置。由此可以简化板体3的结构及加工工艺，且便于识别多个导电件32与多个连接线2之间的一一对应关系。例如，通过连接线2与多个第二引脚11连接的多个导电件32所在的多个凹槽31可以按照电子装置200接口201中的多个第一引脚202的排列顺序排列。

可选地，如图1所示，每个凹槽31形成为长条形，导电件32位于凹槽31的一端，凹槽31的另一端设有焊盘33，焊盘33与导电件32电连接。由此在采用万用表测量短路情况时，可以通过测量多个焊盘33之间的短路情况来实现测量电子装置200的接口201内的多个第一引脚202之间的短路情况。

进一步地，如图1所示，多个凹槽31内的多个导电件32位于相应的凹槽31的同一端，多个凹槽31内的多个焊盘33位于相应的凹槽31的同一端。由此可以简化板体3的结构。

在本实用新型的一些实施例中，如图1和图2所示，多个连接线2的外部套设有保护套4。由此可以将多跟连接线2固定在一起，且可以起到保护连接线2的作用。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“厚度”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示意性实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本实用新型的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (15)

1.一种用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，包括：

与所述接口配合的插头，所述接口内具有多个第一引脚，所述插头内具有多个与所述第一引脚配合的第二引脚；

多根连接线，多根所述连接线的一端分别与多个所述第二引脚连接；和

板体，所述板体上设有多个间隔开的导电件，多个所述导电件与多个所述连接线一一对应，多个所述连接线的另一端分别与多个所述导电件连接。

2.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，多个所述第一引脚和多个所述第二引脚一一对应。

3.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，所述第一引脚的数量大于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括两个相互连接的电源引脚，多个所述第二引脚包括一个电源引脚，多个所述第二引脚中的电源引脚与多个所述第一引脚中的两个电源引脚中的一个连接。

4.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，所述第一引脚的数量大于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括两个相互连接的接地引脚，多个所述第二引脚包括一个接地引脚，多个所述第二引脚中的接地引脚与多个所述第一引脚中的两个接地引脚中的一个连接。

5.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，所述第一引脚的数量小于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括一个电源引脚，多个所述第二引脚包括两个相互连接的电源引脚，多个所述第一引脚中的电源引脚与多个所述第二引脚中的两个电源引脚中的一个连接。

6.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，所述第一引脚的数量小于所述第二引脚的数量，多个所述第一引脚包括一个接地引脚，多个所述第二引脚包括两个相互连接的接地引脚，多个所述第一引脚中的接地引脚与多个所述第二引脚中的两个接地引脚中的一个连接。

7.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，多个所述第二引脚包括两个相互连接的电源引脚，多个所述第二引脚中的两个电源引脚与同一根所述连接线的一端连接。

8.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，多个所述第二引脚包括两个相互连接的接地引脚，多个所述第二引脚中两个接地引脚与同一根所述连接线的一端连接。

9.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，多个所述第二引脚与多根所述连接线一一对应。

10.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，所述板体上设有多个凹槽，多个所述凹槽与多个所述导电件一一对应，每个所述导电件设在相应的所述凹槽内。

11.根据权利要求10所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，多个所述凹槽并排设置。

12.根据权利要求10所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，每个所述凹槽形成为长条形，所述导电件位于所述凹槽的一端，所述凹槽的另一端设有焊盘，所述焊盘与所述导电件电连接。

13.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，所述导电件为铜箔。

14.根据权利要求13所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，所述连接线与所述导电件焊接连接。

15.根据权利要求1所述的用于电子装置的接口的检测治具，其特征在于，多个所述连接线的外部套设有保护套。