CN208334475U - 一种微电流设备的测试记录模块 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提出一种微电流设备的测试记录模块,实现微安级工作电流的跟踪和记录,适用于量化测试、长时间测试,其特征在于:集成有取样放大电路、微处理器和SD卡座模块,所述微处理器分别与取样放大电路和SD卡座模块连接,所述取样放大电路包括运算放大器AD8237,其正极性端与负极性端之间依次连接有电阻R19、R8和R18,所述电阻R18和R19等阻值、且所述电阻R8的阻值为电阻R18的1%,所述电阻R8接于待测的微电流设备电路中,所述正极性端经电容C18接地,所述负极性端经电容C14接地,所述运算放大器AD8237的输出端连接至微处理器,且该输出端与地端之间接有分压电阻R20和R42,且电阻R20和R42的连接点与运算放大器AD8237的反馈端FB连接,所述电阻R42与R20的阻值比为1:7‑10。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种微电流设备的测试记录模块。
背景技术
我们将一些工作电流较小的设备称为微电流设备,正因为其工作电流较小(一般是微安级的),在工作过程中即便超出正常值的小许电流波动都有可能对电流产生破坏性影响,所以微电流设备在出厂前都会进行持续性运作测试,一方面检验设备的整体运作性能,另一方面检测设备运作电流的波动是否在正常范围内。传统的做法是接入示波器对工作电流进行监测,由于示波器是实时监测的,所以需要技术人员全程跟踪发现异常,但对于测试周期较长、电流波动不频繁的设备,就较难达致预期的测试效果了,而且不能应付批量产品的测试,故需要能够实时测试并记录设备工作电流以便用于分析的产品。
实用新型内容
为克服现有技术中的缺陷,本实用新型提出一种微电流设备的测试记录模块,实现微安级工作电流的跟踪和记录,适用于量化测试、长时间测试,其具体技术内容如下:
一种微电流设备的测试记录模块,包括模块基板以及设于模块基板上的电源接口,所述电源接口用于与待测的微电流设备电路连接,所述模块基板上集成有取样放大电路、微处理器和SD卡座模块,所述微处理器分别与取样放大电路和SD卡座模块连接,经由取样放大电路获取待测微电流设备电路的电信号数据,并通过SD卡座模块的记录于SD卡上;所述取样放大电路包括运算放大器AD8237,其正极性端与负极性端之间依次连接有电阻R19、R8和R18,所述电阻R18和R19等阻值、且所述电阻R8的阻值为电阻R18的1%,所述电阻R8接于待测的微电流设备电路中,所述正极性端经电容C18接地,所述负极性端经电容C14接地,所述运算放大器AD8237的输出端连接至微处理器,且该输出端与地端之间接有分压电阻R20和R42,且电阻R20和R42的连接点与运算放大器AD8237的反馈端FB连接,所述电阻R42与R20的阻值比为1:7-10。
本实用新型的有益效果是:设计有微安级电流取样放大电路,运算放大器AD8237的正极性端与负极性端之间依次连接有电阻R19、R8和R18,所述电阻R18和R19等阻值、且所述电阻R8的阻值为电阻R18的1%,所述运算放大器AD8237的输出端与地端之间接有分压电阻R20和R42,且电阻R20和R42的连接点与运算放大器AD8237的反馈端FB连接,所述电阻R42与R20的阻值比为1:7-10,以实现工作电流的1%精度取样,满足0.01微安级工作电流的跟踪和记录需求;所获取的电信息经微处理器处理后生成记录存于SD卡中,整个测试工作无需人员值守,适合量化测试、长时间测试,而且模块实施成本低,具有较佳的经济性、技术性和实用性。
附图说明
图1为本实用新型微电流设备的测试记录模块的原理框图。
图2为本实用新型的取样放大电路结构示意图。
图3为本实用新型的微处理器及其外围电路结构示意图。
图4为本实用新型的SD卡座模块电路结构示意图。
图5为本实用新型微电流设备的测试记录模块的结构示意图。
具体实施方式
如下结合附图1至5,对本申请方案作进一步描述:
一种微电流设备的测试记录模块,包括模块基板1以及设于模块基板1上的电源接口2,所述电源接口2用于与待测的微电流设备电路连接,所述模块基板1上集成有取样放大电路3、微处理器4和SD卡座模块5;所述微处理器4分别与取样放大电路3和SD卡座模块4连接,经由取样放大电路3获取待测微电流设备电路的电信号数据,并通过SD卡座模块5的记录于SD卡6上;
所述取样放大电路3包括运算放大器AD8237,其正极性端与负极性端之间依次连接有电阻R19、R8和R18,所述电阻R18和R19等阻值、且所述电阻R8的阻值为电阻R18的1%,所述电阻R8接于待测的微电流设备电路中,所述正极性端经电容C18接地,所述负极性端经电容C14接地,所述运算放大器AD8237的输出端连接至微处理器4,且该输出端与地端之间接有分压电阻R20和R42,且电阻R20和R42的连接点与运算放大器AD8237的反馈端FB连接,所述电阻R42与R20的阻值比为1:7-10。所述运算放大器AD8237的+Vs端经由电感L1与VCC端连接,且该+Vs端经由相并联的电容C19和C30接地,所述运算放大器AD8237的BW端接地。所述微处理器4具有与SD卡座模块5连接的数据监控端CS、命令端SD0、时钟端CLK、数据传输端SD1和卡检测端CD,其中,所述数据监控端CS、时钟端CLK、数据传输端SD1经由偏置电阻连接VCC端以获得偏置电压。所述偏置电阻与VCC端之间设有电感L7,所述电感L7的两端分别设置有滤波电容C44、C46和C6。
优选的,所述电阻R8的阻值为22欧姆,电阻R18和R19的阻值为2200欧姆。所述运算放大器AD8237的输出端串联有一电阻R43,所述电阻R43的阻值为100欧姆,所述分压电阻R20的阻值为7500欧姆,分压电阻R42的阻值为1000欧姆。
上述优选实施方式应视为本申请方案实施方式的举例说明,凡与本申请方案雷同、近似或以此为基础作出的技术推演、替换、改进等,均应视为本专利的保护范围。
Claims (6)
1.一种微电流设备的测试记录模块,包括模块基板以及设于模块基板上的电源接口,所述电源接口用于与待测的微电流设备电路连接,其特征在于:所述模块基板上集成有取样放大电路、微处理器和SD卡座模块,所述微处理器分别与取样放大电路和SD卡座模块连接,经由取样放大电路获取待测微电流设备电路的电信号数据,并通过SD卡座模块的记录于SD卡上;所述取样放大电路包括运算放大器AD8237,其正极性端与负极性端之间依次连接有电阻R19、R8和R18,所述电阻R18和R19等阻值、且所述电阻R8的阻值为电阻R18的1%,所述电阻R8接于待测的微电流设备电路中,所述正极性端经电容C18接地,所述负极性端经电容C14接地,所述运算放大器AD8237的输出端连接至微处理器,且该输出端与地端之间接有分压电阻R20和R42,且电阻R20和R42的连接点与运算放大器AD8237的反馈端FB连接,所述电阻R42与R20的阻值比为1∶7-10。
2.根据权利要求1所述的微电流设备的测试记录模块,其特征在于:所述运算放大器AD8237的+Vs端经由电感L1与VCC端连接,且该+Vs端经由相并联的电容C19和G30接地,所述运算放大器AD8237的BW端接地。
3.根据权利要求1所述的微电流设备的测试记录模块,其特征在于:所述微处理器具有与SD卡座模块连接的数据监控端CS、命令端SDO、时钟端CLK、数据传输端SD1和卡检测端CD,其中,所述数据监控端CS、时钟端CLK、数据传输端SD1经由偏置电阻连接VCC端以获得偏置电压。
4.根据权利要求3所述的微电流设备的测试记录模块,其特征在于:所述偏置电阻与VCC端之间设有电感L7,所述电感L7的两端分别设置有若干滤波电容。
5.根据权利要求1或2所述的微电流设备的测试记录模块,其特征在于:所述电阻R8的阻值为22欧姆,电阻R18和R19的阻值为2200欧姆。
6.根据权利要求5所述的微电流设备的测试记录模块,其特征在于:所述运算放大器AD8237的输出端串联有一电阻R43,所述电阻R43的阻值为100欧姆,所述分压电阻R20的阻值为7500欧姆,分压电阻R42的阻值为1000欧姆。
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CN201820828953.0U CN208334475U (zh) | 2018-05-30 | 2018-05-30 | 一种微电流设备的测试记录模块 |
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CN201820828953.0U CN208334475U (zh) | 2018-05-30 | 2018-05-30 | 一种微电流设备的测试记录模块 |
Publications (1)
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ID=64772062
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CN201820828953.0U Active CN208334475U (zh) | 2018-05-30 | 2018-05-30 | 一种微电流设备的测试记录模块 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112798855A (zh) * | 2020-12-29 | 2021-05-14 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种飞安级直流微电流信号测量系统 |
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2018
- 2018-05-30 CN CN201820828953.0U patent/CN208334475U/zh active Active
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