CN208269840U - 一种新型半圆直径量具 - Google Patents

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张建
尚蕾
刘玉荣
秦元超
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Abstract

本实用新型公开了一种新型半圆直径量具,包括工作台,所述的工作台上设有传感器座,所述的传感器座上安装有位移传感器,所述的位移传感器下方安装在工作台上的卡槽内,所述的工作台上设有电子整形放大器,所述的电子整形放大器通过导线连接位移传感器,所述的工作台上设有光栅尺显示器,所述的光栅尺显示器通过导线连接电子整形放大器,所述的工作台一端设有上极限标准环规,所述的工作台另一端设有下极限标准环规。本实用新型与现有技术相比的优点在于:本实用新型操作简单,实用高效,可以提高测量效率,节省费用。

Description

一种新型半圆直径量具
技术领域
本实用新型涉及半圆直径量具技术领域,具体是指一种新型半圆直径量具。
背景技术
在机械加工中,经常需要检测零部件上一些非完整圆的直径半径,相对于完整圆的直径测量,非完整圆的直径测量比较困难,由于不存在直径上的对应点以及圆心的不确定性,很难直接使用通用量具进行测量,尤其对于不足一半的小半圆,目前,在实际应用中,非完整圆的直径大多是通过对借助通用量具测得的某些尺寸进行计算后间接求得,不仅测量误差较大,而且计算方法复杂繁琐,为了满足大批量生产中快速、高精度检测的要求,探讨半圆直径的快速精密测量原理,是解决这一问题的第一步,因此,有必要对小半圆直径的精密测量原理进行研究。
实用新型内容
本实用新型的目的是克服以上的技术缺陷,提供一种操作简单,实用高效,可以提高测量效率,节省费用的新型半圆直径量具。
为解决上述技术问题,本实用新型提供的技术方案为:一种新型半圆直径量具,包括工作台,所述的工作台上设有传感器座,所述的传感器座上安装有位移传感器,所述的位移传感器下方安装在工作台上的卡槽内,所述的工作台上设有电子整形放大器,所述的电子整形放大器通过导线连接位移传感器,所述的工作台上设有光栅尺显示器,所述的光栅尺显示器通过导线连接电子整形放大器,所述的工作台一端设有上极限标准环规,所述的工作台另一端设有下极限标准环规。
本实用新型与现有技术相比的优点在于:本实用新型利用两个标准环规界定极限值,减少了测量过程中计算以及计算误差,利用位移传感器进行测量弓高,通过电子整形放大器的作用,提高了测量精度。
作为改进,所述的位移传感器为光栅尺传感器。
作为改进,所述的传感器座通过紧定螺栓固定在工作台上。
作为改进,所述的位移传感器通过紧固螺栓固定在传感器座上。
作为改进,所述的电子整形放大器、光栅尺显示器、上极限标准环规、下极限标准环规均通过螺栓固定在工作台上。
附图说明
图1是本实用新型一种新型半圆直径量具的结构示意图。
图2是本实用新型一种新型半圆直径量具的测量示意图。
如图所示:1、工作台,2、传感器座,3、位移传感器,4、电子整形放大器,5、光栅尺显示器,6、上极限标准环规,7、下极限标准环规。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型做进一步的详细说明。
一种新型半圆直径量具,包括工作台1,所述的工作台1上设有传感器座2,所述的传感器座2上安装有位移传感器3,所述的位移传感器3下方安装在工作台1上的卡槽内,所述的工作台1上设有电子整形放大器4,所述的电子整形放大器4通过导线连接位移传感器3,所述的工作台1上设有光栅尺显示器5,所述的光栅尺显示器5通过导线连接电子整形放大器4,所述的工作台1一端设有上极限标准环规6,所述的工作台1另一端设有下极限标准环规7。
所述的位移传感器3为光栅尺传感器。
所述的传感器座2通过紧定螺栓固定在工作台1上。
所述的位移传感器3通过紧固螺栓固定在传感器座2上。
所述的电子整形放大器4、光栅尺显示器5、上极限标准环规6、下极限标准环规7均通过螺栓固定在工作台1上。
本实用新型在具体实施时,位移传感器是利用光栅的光学原理工作的测量反馈装置,可用作直线位移的检测,本装置利用位移传感器测量上极限标准环规、下极限标准环规,数据通过电子整形放大器,在光栅尺显示器屏幕上会得到两个极限测量值并记录,然后测量工件,记录光栅显示器的测量值,若测量值在两个极限值之间,则工件合格,若测量值不在两个极限值之间,则工件不合格。
以上对本实用新型及其实施方式进行了描述,这种描述没有限制性,附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一,实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示,在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下,不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例,均应属于本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种新型半圆直径量具,其特征在于:包括工作台(1),所述的工作台(1)上设有传感器座(2),所述的传感器座(2)上安装有位移传感器(3),所述的位移传感器(3)下方安装在工作台(1)上的卡槽内,所述的工作台(1)上设有电子整形放大器(4),所述的电子整形放大器(4)通过导线连接位移传感器(3),所述的工作台(1)上设有光栅尺显示器(5),所述的光栅尺显示器(5)通过导线连接电子整形放大器(4),所述的工作台(1)一端设有上极限标准环规(6),所述的工作台(1)另一端设有下极限标准环规(7)。
2.根据权利要求1所述的一种新型半圆直径量具,其特征在于:所述的位移传感器(3)为光栅尺传感器。
3.根据权利要求1所述的一种新型半圆直径量具,其特征在于:所述的传感器座(2)通过紧定螺栓固定在工作台(1)上。
4.根据权利要求1所述的一种新型半圆直径量具,其特征在于:所述的位移传感器(3)通过紧固螺栓固定在传感器座(2)上。
5.根据权利要求1所述的一种新型半圆直径量具,其特征在于:所述的电子整形放大器(4)、光栅尺显示器(5)、上极限标准环规(6)、下极限标准环规(7)均通过螺栓固定在工作台(1)上。
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