CN208207179U - 一种径向单级磁通测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及磁通测试领域，具体涉及一种径向单级磁通测试装置。包括底座和线圈，线圈固定在底座上，通过导线与磁通计相连，底座上固设有支架，支架位于线圈内部，且支架顶端设有与被测产品形状匹配的凹槽；底座底部设有盲孔，盲孔中嵌有固定磁铁。线圈、盲孔和支架位于同一中轴线。该装置可以轻松固定径向充磁的圆柱或圆环形磁铁，使磁铁保持在线圈的有效范围内并且使其磁化方向与线圈轴向保持平行，从而确保高效、精确、稳定的测试结果。
Description
技术领域
本实用新型涉及磁通测试领域，具体涉及一种径向单级磁通测试装置。
背景技术
圆柱或圆环形径向充磁磁铁，广泛应用于各类电机马达的转子中，而马达的扭矩、转速等性能与转子磁体的磁力大小密切相关。
通常情况下，对于磁铁磁力的大小，最简单的方法就是利用线圈和磁通计来测试其磁通值。其测试原理就是通过线圈切割磁力线，产生电流，磁通计感知到线圈回路中电流的大小，从而计算出磁通值的大小，并显示出来。
测试磁通时，为了使测试值稳定，重复性好，我们需要确保每次测试时，磁铁都保持在线圈的有效测试范围内，且磁铁磁化方向与线圈的轴向保持平行。这对于方块产品或者轴向充磁的圆柱或圆环形产品来说很容易做到，我们将其与磁化方向垂直的端面与线圈底座保持贴合即可。但对于径向充磁的圆柱或圆环形产品来说，就非常困难。因为径向充磁的圆柱或圆环形产品放置在线圈中时，人的肉眼无法确定其磁化方向，因而无法确保其磁化方向与线圈轴向保持平行，这就会导致测试结果不准确。
目前，多数情况下，针对径向充磁的圆柱或圆环形产品，都是通过测试其圆柱表面磁场分布，以表磁的波峰、波谷值来判断其磁力的大小。这种方法效率很低，操作不便，且测试仪器较贵，不能得到广泛的应用。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种高效、精确、重复性好的径向单级磁通测试装置。为达到上述目的，本实用新型提供一种径向单级磁通测试装置，包括底座和线圈，线圈固定在底座上，通过导线与磁通计相连，底座上固设有支架，支架位于线圈内部，且支架顶端设有与被测产品形状匹配的凹槽；底座底部设有盲孔，盲孔中嵌有固定磁铁。线圈、盲孔和支架位于同一中轴线。
作为本实用新型的进一步方案：所述固定磁铁为永磁铁。
作为本实用新型的进一步方案：所述底座、线圈和支架均采用不导磁材料。
作为本实用新型的进一步方案：所述支架顶端的凹槽为光滑表面，且凹槽直径大于被测产品直径。
与现有技术相比，利用线圈和磁通计测试径向充磁的圆柱或圆环形产品，效率高且测试方便。线圈内部支架顶端的凹槽可以固定径向充磁的圆柱或圆环形磁铁，使磁铁保持在线圈的有效测试范围内，盲孔中的固定磁铁可以使被测磁铁磁化方向与线圈轴向保持平行，从而确保高效、精确、稳定的测试结果。
附图说明
下面对本实用新型各附图所表达的内容及图中标记做简要说明：
图1为本实用新型顶部示意图
图2为本实用新型底部示意图
图3为本实用新型剖视图
图中：1.底座，2.线圈，3.支架，4.盲孔，5.固定磁铁。
具体实施方式
下面结合附图，通过对实施例的描述，对本实用新型的具体实施方式做进一步说明。
一种径向单级磁通测试装置如图1-3所示，包括底座1和线圈2，线圈2固定在底座1上，通过导线与磁通计相连，其特征在于：底座1上固设有支架3，支架3位于线圈2内部，且支架3顶端设有与被测产品形状匹配的凹槽；底座1底部设有盲孔4，盲孔4中嵌有固定磁铁5；线圈2、支架3和盲孔4位于同一中轴线上。支架3顶端的凹槽可以与支架3是一体的，也可以设置为可更换凹槽。使用时，磁通计接通外部电源，线圈2通过导线与磁通计连接，使整个测试装置形成回路。将径向充磁的圆柱或圆环形产品放置于支架3顶端的凹槽中，由于受到盲孔4中固定磁铁5的吸引，被测产品立即转动，使自身磁化方向与固定磁铁5磁化方向保持一致，即都与线圈2的轴向保持平行。随后将磁通计清零，快速将被测产品从线圈2中取出，线圈2切割磁力线产生感应电流，磁通计获取线圈2电流后，通过内部运算，反馈出磁通值。此过程中，固定磁铁5与线圈2没有发生相对位移，所以最终切割磁力线结果均来自于被测磁铁。该装置中，支架3顶端的凹槽可以固定径向充磁的圆柱或圆环形磁铁，使磁铁保持在线圈的有效测试范围内；盲孔4中固定磁铁5使被测产品发生转动，从而使被测产品的磁化方向与线圈2轴向保持平行，从而确保测试结果高效、精确、稳定。
进一步的，盲孔4中的固定磁铁5采用永磁铁，优选为高矫顽力稀土永磁铁。测试装置长期使用后，固定磁铁5自身磁力减弱，导致其固定磁场发生变化，使测试装置的测试值发生偏移而导致测试结果失准。采用永磁铁，能有效避免上述情况，保证测试结果精确、稳定。
进一步的，本实用新型中的底板1、线圈2和支架3均采用不导磁材料。采用不导磁材料能有效避免材料本身的磁场影响测试结果，保证测试结果的精确、稳定。
优选的，支架3顶端的凹槽为光滑表面，且凹槽直径大于被测磁铁直径。光滑的表面，利于被测磁铁的转动。
以上所述的实施例仅仅是对本实用新型的优选实施方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型精神的前提下，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。
Claims (4)
1.一种径向单级磁通测试装置，包括底座（1）和线圈（2），线圈（2）固定在底座（1）上，通过导线与磁通计相连，其特征在于：底座（1）上固设有支架（3），支架（3）位于线圈（2）内部，且支架（3）顶端设有与被测产品形状匹配的凹槽；底座（1）底部设有盲孔（4），盲孔（4）中嵌有固定磁铁（5）；线圈（2）、支架（3）和盲孔（4）位于同一中轴线上。
2.根据权利要求1所述的径向单级磁通测试装置，其特征在于：所述固定磁铁（5）为永磁铁。
3.根据权利要求1所述的径向单级磁通测试装置，其特征在于：所述底座（1）、线圈（2）和支架（3）均采用不导磁材料。
4.根据权利要求1所述的径向单级磁通测试装置，其特征在于：所述支架（3）顶端的凹槽为光滑表面，且凹槽直径大于被测产品直径。
Priority Applications (1)
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| CN201820655361.3U CN208207179U (zh) | 2018-05-03 | 2018-05-03 | 一种径向单级磁通测试装置 |
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Publications (1)
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| CN208207179U true CN208207179U (zh) | 2018-12-07 |
Family
ID=64522247
Family Applications (1)
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| CN201820655361.3U Active CN208207179U (zh) | 2018-05-03 | 2018-05-03 | 一种径向单级磁通测试装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN208207179U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111896899A (zh) * | 2020-07-06 | 2020-11-06 | 苏州佳祺仕信息科技有限公司 | 一种高斯检测探头 |
| CN112394305A (zh) * | 2020-10-23 | 2021-02-23 | 联钢精密科技(中国)有限公司 | 一种磁通率检测设备 |
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2018
- 2018-05-03 CN CN201820655361.3U patent/CN208207179U/zh active Active
Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
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| CN112394305A (zh) * | 2020-10-23 | 2021-02-23 | 联钢精密科技(中国)有限公司 | 一种磁通率检测设备 |
| CN112394305B (zh) * | 2020-10-23 | 2022-12-20 | 联钢精密科技(中国)有限公司 | 一种磁通率检测设备 |
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