CN208109638U - 一种射线成像型超声波粒度分析仪 - Google Patents

一种射线成像型超声波粒度分析仪 Download PDF

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Abstract

本实用新型提供一种射线成像型超声波粒度分析仪,包括振动器、连接块、下固定板、平衡砝码、气囊观察室、上固定板、入料室、射线成像头、基座;振动器设在下固定板的底部中心位置,连接块设在振动器的顶部,下固定板的左右两侧设有平衡砝码,气囊观察室的左端设有容纳射线成像头的圆形孔,气囊观察室的回转面的正上方左侧设有入料室,射线成像头设在基座的上端面,本实用新型新颖独特,通过振动器使气囊观察室内的细微颗粒呈悬浮状,借助射线成像头实现颗粒成像,有效解决了现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题,能够提高测量的准确性,实现粒度分析功能,借助平衡砝码可以实现振动座振动过程中保持平衡。

Description

一种射线成像型超声波粒度分析仪
技术领域
本实用新型涉及一种射线成像型超声波粒度分析仪,属于粒度分析仪领域。
背景技术
激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的散射谱经计算机进行数据处理来分析颗粒分布的,它可以用来测量固态颗粒物质的粒度分布以及运动颗粒群的粒度分布。测试对象为各种非金属粉:如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等;跟中金属粉:如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉及稀土金属粉、合金粉等;其它粉体:如催化剂、水泥、磨粉、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料等,现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题。
实用新型内容
本实用新型针对现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题,设计了一种射线成像型超声波粒度分析仪。
本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是:
该一种射线成像型超声波粒度分析仪,其结构包括:振动器、连接块、下固定板、平衡砝码、气囊观察室、上固定板、入料室、射线成像头、基座;振动器设在下固定板的底部中心位置,连接块设在振动器的顶部,下固定板的左右两侧设有平衡砝码,气囊观察室的左端设有容纳射线成像头的圆形孔,所述气囊观察室的回转面的正上方左侧设有入料室,所述射线成像头设在基座的上端面。
所述气囊观察室的分布长度大于下固定板和上固定板的长度。
所述下固定板的左右两侧设有的两个平衡砝码设计结构和型号相同。
所述气囊观察室的左端容纳射线成像头的圆形孔与射线成像头通过胶体实现密封。
所述气囊观察室与入料室相通。
所述上固定板和下固定板通过胶黏贴在气囊观察室的上下两侧。
本实用新型有如下优点:
1.本实用新型新颖独特,通过振动器使得气囊观察室内的细微颗粒呈悬浮状,借助射线成像头实现颗粒成像,有效解决了现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题,能够提高测量的准确性,实现粒度分析功能,借助平衡砝码可以实现振动座振动过程中保持平衡。
2.本实用新型结构简单,部件材质价格低廉,工艺性好,制作成本低,应用性广。
附图说明
图1为本实用新型整体结构图。
图中:1振动器、2连接块、3下固定板、4平衡砝码、5气囊观察室、6上固定板、7入料室、8射线成像头、9基座。
具体实施方式
如图1所示:一种射线成像型超声波粒度分析仪,其结构包括:振动器1、连接块2、下固定板3、平衡砝码4、气囊观察室5、上固定板6、入料室7、射线成像头8、基座9;振动器1设在下固定板3的底部中心位置,连接块2设在振动器1的顶部,下固定板3的左右两侧设有平衡砝码4,气囊观察室5的左端设有容纳射线成像头8的圆形孔,所述气囊观察室5的回转面的正上方左侧设有入料室7,所述射线成像头8设在基座9的上端面,所述气囊观察室5的分布长度大于下固定板3和上固定板6的长度,所述下固定板3的左右两侧设有的两个平衡砝码4设计结构和型号相同,所述气囊观察室5的左端容纳射线成像头8的圆形孔与射线成像头8通过胶体实现密封,所述气囊观察室5与入料室7相通,所述上固定板6和下固定板3通过胶黏贴在气囊观察室5的上下两侧。
通过采用前述技术方案,本实用新型使用时将细微颗粒从入料室7倒入气囊观察室5,启动振动器1,振动后可以使得细微颗粒呈悬浮状,然后借助射线成像头8实现颗粒成像,本实用新型新颖独特,有效解决了现有的激光粒度分析仪存在测量范围窄、测试速度慢、测量结果准确性低的问题,能够提高测量的准确性,实现粒度分析功能,借助平衡砝码4可以实现振动座振动过程中保持平衡,本实用新型结构简单,部件材质价格低廉,工艺性好,制作成本低,应用性广。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型,具体实现该技术方案方法和途径很多,以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化,均为本实用新型的保护范围。

Claims (6)

1.一种射线成像型超声波粒度分析仪,结构包括:振动器(1)、连接块(2)、下固定板(3)、平衡砝码(4)、气囊观察室(5)、上固定板(6)、入料室(7)、射线成像头(8)、基座(9);其特征是:振动器(1)设在下固定板(3)的底部中心位置,连接块(2)设在振动器(1)的顶部,下固定板(3)的左右两侧设有平衡砝码(4),气囊观察室(5)的左端设有容纳射线成像头(8)的圆形孔,所述气囊观察室(5)的回转面的正上方左侧设有入料室(7),所述射线成像头(8)设在基座(9)的上端面。
2.根据权利要求1所述的一种射线成像型超声波粒度分析仪,其特征在于:所述气囊观察室(5)的分布长度大于下固定板(3)和上固定板(6)的长度。
3.根据权利要求1所述的一种射线成像型超声波粒度分析仪,其特征在于:所述下固定板(3)的左右两侧设有的两个平衡砝码(4)设计结构和型号相同。
4.根据权利要求1所述的一种射线成像型超声波粒度分析仪,其特征在于:所述气囊观察室(5)的左端容纳射线成像头(8)的圆形孔与射线成像头(8)通过胶体实现密封。
5.根据权利要求1所述的一种射线成像型超声波粒度分析仪,其特征在于:所述气囊观察室(5)与入料室(7)相通。
6.根据权利要求1所述的一种射线成像型超声波粒度分析仪,其特征在于:所述上固定板(6)和下固定板(3)通过胶黏贴在气囊观察室(5)的上下两侧。
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