CN207946496U - 检测装置及半导体检测仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种检测装置及半导体检测仪，属于探针式连接器技术领域。本实用新型的检测装置包括：主体结构，其内部为中空腔体；探针，插设于主体结构的一端；绝缘组件，设置在主体结构的中空腔体内，且靠近探针的一端，并与探针相接触；电压生成单元，设置在主体结构的中空腔体内，位于绝缘组件远离探针的一侧；报警单元，其与电压生成单元电连接；绝缘组件能够在探针受到压力时，沿主体结构的中空腔体的长度方向运动，并将探针所受到的压力传导至电压生成单元，以使电压生成单元生成相应的电压，驱动报警单元进行报警。
Description
技术领域
本实用新型属于探针式连接器技术领域，具体涉及一种检测装置及半导体检测仪。
背景技术
目前，操作者在使用半导体检测仪中的探针对半导体的测试区进行测试时，其往往是通过肉眼观察，来判断探针与待测试区域的距离，以将探针插入到半导体的测试区域内。
然而，对于经验不够丰富的操作者而言，将探针插入到半导体的测试区域的力度与观察度是很难掌控的，若其在插入探针的时候，观察不够仔细，或者插入探针的力度过大，很容易使探针与半导体的测试区域发生碰撞，使得探针发生弯曲变形，从而损坏探针；同时，由于探针与测试区域接触的表面很尖锐，在探针碰撞待进行测试的测试区域时，尖锐的探针很可能会划伤该测试区域，进而损坏半导体。
实用新型内容
本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种能够避免半导体的测试区域被探针划伤的检测装置。
解决本实用新型技术问题所采用的技术方案是一种检测装置，包括：
主体结构，其内部为中空腔体；
探针，插设于所述主体结构的一端；
绝缘组件，设置在所述主体结构的中空腔体内，且靠近所述探针的一端，并与所述探针相接触；
电压生成单元，设置在所述主体结构的中空腔体内，位于所述绝缘组件远离所述探针的一侧；
报警单元，其与所述电压生成单元电连接；
所述绝缘组件能够在所述探针受到压力时，沿所述主体结构的中空腔体的长度方向运动，并将所述探针所受到的压力传导至所述电压生成单元，以使所述电压生成单元生成相应的电压，驱动所述报警单元进行报警。
优选的是，所述检测装置还包括：伸缩组件，所述伸缩组件的一端连接所述绝缘组件，其另一端连接所述电压生成单元。
优选的是，所述伸缩组件包括：弹簧。
优选的是，所述检测装置还包括：中空结构的套筒，其设置在所述主体结构的中空腔体内，且所述套筒的外壁与所述主体结构的内壁相贴合；
所述套筒的外壁为绝缘层，其内壁为导电层；其中，
所述电压生成单元固定于所述套筒的中空结构内，且通过所述套筒的内壁与所述报警单元电连接。
优选的是，所述检测装置还包括：固定部件，所述固定部件将所述电压生成单元与所述套筒连接。
优选的是，所述套筒的总长度小于所述主体结构的总长度；
所述绝缘组件沿所述主体结构长度方向的截面为凸形，所述绝缘组件的凸出部分靠近所述电压生成单元，且所述凸出部分的宽度与所述套筒内壁的宽度相同。
优选的是，所述主体结构的外壁为绝缘层，其内壁为导电层。
优选的是，所述电压生成单元包括：压电陶瓷。
优选的是，所述报警单元包括：LED灯或声音播放器。
解决本实用新型技术问题所采用的技术方案是一种半导体检测仪，其包括上述的检测装置。
本实用新型具有如下有益效果：
本实用新型所提供的检测装置设置有报警单元，由于该报警单元与电压生成单元电连接，故当探针接触到半导体的测试区域时，绝缘组件能够将探针所受到的压力传导至电压生成单元，以使电压生成单元生成相应的电压，驱动报警单元进行报警，从而告知操作者该探针已接触到待进行测试的测试区域，使其停止向测试区域插入探针，进而避免由于操作者在插入探针的时候，观察不够仔细，或者插入探针的力度过大，使探针与半导体的测试区域发生碰撞，使得探针发生弯曲变形，损坏探针的问题的发生；进一步地，避免了由于探针与测试区域接触的表面很尖锐，在探针碰撞待进行测试的测试区域时，尖锐的探针很可能会划伤该测试区域，进而损坏半导体的问题的发生。
附图说明
图1为本实用新型的实施例1的检测装置的结构图；
图2为本实用新型的实施例1的检测装置的部分结构图；
图3为本实用新型的实施例2的检测装置的部分结构图；
其中附图标记为：1、套筒；2、主体结构；3、电压生成单元； 4、伸缩组件；5、绝缘组件；6、探针；7、报警单元。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本实用新型的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细描述。
除非另外定义，本实用新型使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型中使用的“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“上”、“下”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
实施例1：
如图1和图2所示，本实施例提供一种检测装置，其包括：主体结构2、探针6、绝缘组件5、电压生成单元3、报警单元7；其中，主体结构2的内部为中空腔体；探针6插设在主体结构2 的一端；绝缘组件5设置在主体结构2的中空腔体内，且靠近探针6的一端，并与该探针6相接触；电压生成单元3设置在主体结构2的中空腔体内，并位于绝缘组件5远离探针6的一侧；报警单元7与电压生成单元3电连接；其中，绝缘组件5能够在探针6受到压力时，沿主体结构2的中空腔体的长度方向运动，并将探针6所受到的压力传导至电压生成单元3，以使电压生成单元 3生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警。
由于本实施例所提供的检测装置具有上述结构，故当操作者使用本实施例中的检测装置对半导体的测试区域进行测试，且探针6接触到待测试区域表面并不断插入待测试区域时，待测试区域会向探针6施加一个与探针6的运动方向相反的作用力，该作用力经过绝缘组件5传导给电压生成单元3，以使电压生成单元3 能够生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警，以此来通知操作者探针6已接触到测试区域的表面，从而解决了现有技术中的操作者在对半导体的待测试区域进行测试时，由于其无法明确探针6与待测试区域的位置关系，使得操作者在向测试区域插入探针6的时候，探针6与半导体的测试区域发生碰撞，从而导致探针6发生弯曲变形，损坏探针6的问题；进而避免了尖锐的探针6 划伤该测试区域，以损坏半导体的情况的发生。
实施例2：
如图2和图3所示，本实施例提供了一种可以通知操作者探针6已接触到半导体的测试区域，以防止尖锐的探针6损坏该测试区域，进一步地损坏半导体的检测装置，其包括：主体结构2、探针6、绝缘组件5、电压生成单元3、报警单元7；其中，主体结构2的内部为中空腔体；探针6插设在主体结构2的一端；绝缘组件5设置在主体结构2的中空腔体内，且靠近探针6的一端，并与该探针6相接触；电压生成单元3设置在主体结构2的中空腔体内，并位于绝缘组件5远离探针6的一侧；报警单元7与电压生成单元3电连接；其中，绝缘组件5能够在探针6受到压力时，沿主体结构2的中空腔体的长度方向运动，并将探针6所受到的压力传导至电压生成单元3，以使电压生成单元3生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警。
其中，本实施例优选的，电压生成单元3包括：压电陶瓷，该压电陶瓷可在外界压力的作用下，向外放电，也即向与其电连接的报警单元7放电，以驱动报警单元7进行报警。当然，电压生成单元3也不局限于压电陶瓷，也可以采用其他能够在压力所用下产生电压的器件。
其中，本实施例优选的，报警单元包括：LED灯或声音播放器。当然，报警单元7还可以为其它器件，只要其能够在接收到与其电连接的电压生成单元3所放出的电信号后，向外放出警示信号，以使使用该检测装置的操作者知道探针6已接触到半导体的测试区域，无需再向半导体的测试区域插入探针6即可，在此不再赘述。
其中，本实施例优选的，检测装置还包括：伸缩组件4，该伸缩组件4的一端连接绝缘组件5，其另一端连接电压生成单元3。具体的，当操作者使用本实施例中的检测装置对半导体的测试区域进行测试，且探针6接触到待测试区域表面并不断向下插入待测试区域时，由于待测试区域会向探针6施加一个向上的作用力，以迫使探针6向上运动，同时该作用力还会传导至绝缘组件5，以使绝缘组件5也会跟着探针6在主体结构2的中空腔体内一起向上运动，从而压缩伸缩组件4，以使伸缩组件4处于压缩状态，并将该压力传导至电压生成单元3，以使电压生成单元3生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警。另外，当操作者完成对半导体的待测试区域的测试工作后，其会将本实施例中的检测装置从待测试区域表面拿开，此时探针6不再与待测试区域表面接触，也即待测试区域向探针6施加的向上的作用力消失不见，此时伸缩组件4会处于伸展的状态，以使探针6恢复至初始状态，以为下次使用该检测装置检测半导体的测试区域做准备。
其中，作为本实施例的一种优选实现方式，本实施例中的检测装置还包括：中空结构的套筒1，其设置在主体结构2的中空腔体内，且该套筒1的外壁与主体结构2的内壁相贴合；套筒1的外壁为绝缘层，其内壁为导电层；其中，电压生成单元3固定于套筒1的中空结构内，以使操作者在使用本实施例中的检测装置对半导体的测试区域进行测试时，该电压生成单元3可以通过套筒1的内壁与报警单元7电连接，以驱动报警单元7进行报警，进一步地，以此来通知操作者探针6已与待测试区域的表面接触的消息，从而防止该探针6不断插入半导体的测试区域时，划伤待测试区域的表面，损坏半导体。
优选的，套筒1的总长度小于主体结构2的总长度，且两者的长度差为伸缩组件4的最大压缩量，绝缘组件5沿主体结构2 长度方向的截面为凸形，绝缘组件5的凸出部分靠近电压生成单元3，且凸出部分的宽度与套筒1内壁的宽度相同，以此来限制操作者向待测试区域内插入探针6的力度，从而避免由于插入探针6 的力度过大，探针6与待测试区域表面发生碰撞所导致的探针6 发生弯曲。
其中，本实施例优选的，检测装置还包括：固定部件，该固定部件将电压生成单元3与套筒1连接，以使电压生成单元3固定在套筒1内。
作为本实施例的第二种优选实现方式，本实施例中的检测装置的主体结构2外壁为绝缘层，用于防止检测装置漏电，以保证操作者的人身安全；而且，该主体结构2的内壁为导电层，用于传导探针6在测试区域所检测到的测试信号。与此同时，本实施例的检测装置中的电压生成单元3通过导线与报警单元7电连接，以使操作者在使用本实施例中的检测装置对半导体的测试区域进行测试时，该电压生成单元3可以通过导线将电信号传送给报警单元7，以驱动报警单元7进行报警，进一步地，以此来通知操作者探针6已与待测试区域的表面接触的消息，从而防止该探针6 不断插入半导体的测试区域时，划伤待测试区域的表面，损坏半导体。
由此可以看出，本实施例所提供的检测装置设置有报警单元 7，由于该报警单元7与电压生成单元3电连接，故当探针6接触到半导体的测试区域时，绝缘组件5能够将探针6所受到的压力传导至电压生成单元3，以使电压生成单元3生成相应的电压，驱动报警单元7进行报警，从而告知操作者该探针6已接触到待进行测试的测试区域，使其停止向测试区域插入探针6，进而避免由于操作者在插入探针6的时候，观察不够仔细，或者插入探针6 的力度过大，使探针6与半导体的测试区域发生碰撞，使得探针6 发生弯曲变形，损坏探针6的问题的发生；进一步地，避免了由于探针6与测试区域接触的表面很尖锐，在探针6碰撞待进行测试的测试区域时，尖锐的探针6很可能会划伤该测试区域，进而损坏半导体的问题的发生。
为了更清楚本实施例的意图，以本实施例中的检测装置包括：主体结构2、探针6、绝缘组件5、伸缩组件4、电压生成单元3、报警单元7、套筒1为例进行说明。
具体的，当操作者采用本实施例所提供的检测装置对半导体的测试区域进行测试时，由于探针6受到待测试区域向其施加的向上的作用力，故探针6会在该作用力的作用下向上运动；同时，与探针6相连接的绝缘组件5也会跟着探针6一起在主体结构2 的中空腔体内向上运动；进一步地，与绝缘组件5相连接的伸缩组件4也会向上运动，以使其自身处于收缩的状态；更进一步地，该伸缩组件4会将使其处于收缩状态的压力传导至电压生成单元3，以使电压生成单元3生成相应的电压，并将该电压通过套筒1 的内壁传导至报警单元7，以驱动报警单元7进行报警，以使操作者知道探针6已接触到半导体的测试区域，从而停止向测试区域插入探针6，以防止尖锐的探针6损坏测试区域的表面，损坏半导体。
实施例3：
本实施例提供一种半导体检测仪，其包括实施例1或实施例 2所提供的检测装置。其中，该半导体检测仪可用于对半导体的测试区进行测试。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本实用新型的原理而采用的示例性实施方式，然而本实用新型并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本实用新型的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本实用新型的保护范围。
Claims (10)
1.一种检测装置，其特征在于，包括：
主体结构，其内部为中空腔体；
探针，插设于所述主体结构的一端；
绝缘组件，设置在所述主体结构的中空腔体内，且靠近所述探针的一端，并与所述探针相接触；
电压生成单元，设置在所述主体结构的中空腔体内，位于所述绝缘组件远离所述探针的一侧；
报警单元，其与所述电压生成单元电连接；
所述绝缘组件能够在所述探针受到压力时，沿所述主体结构的中空腔体的长度方向运动，并将所述探针所受到的压力传导至所述电压生成单元，以使所述电压生成单元生成相应的电压，驱动所述报警单元进行报警。
2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：伸缩组件，所述伸缩组件的一端连接所述绝缘组件，其另一端连接所述电压生成单元。
3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述伸缩组件包括：弹簧。
4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：中空结构的套筒，其设置在所述主体结构的中空腔体内，且所述套筒的外壁与所述主体结构的内壁相贴合；
所述套筒的外壁为绝缘层，其内壁为导电层；其中，
所述电压生成单元固定于所述套筒的中空结构内，且通过所述套筒的内壁与所述报警单元电连接。
5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：固定部件，所述固定部件将所述电压生成单元与所述套筒连接。
6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述套筒的总长度小于所述主体结构的总长度；
所述绝缘组件沿所述主体结构长度方向的截面为凸形，所述绝缘组件的凸出部分靠近所述电压生成单元，且所述凸出部分的宽度与所述套筒内壁的宽度相同。
7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述主体结构的外壁为绝缘层，其内壁为导电层。
8.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述电压生成单元包括：压电陶瓷。
9.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述报警单元包括：LED灯或声音播放器。
10.一种半导体检测仪，其特征在于，所述半导体检测仪包括权利要求1～9中任意一项所述的检测装置。
Priority Applications (1)
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Cited By (2)
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| CN109557438A (zh) * | 2018-12-14 | 2019-04-02 | 北京天智航医疗科技股份有限公司 | 探针误差检测装置 |
| CN113376092A (zh) * | 2021-06-10 | 2021-09-10 | 深圳市卓晶微智能机器人科技有限公司 | 一种半导体晶片贴装到基板后的封装检测设备 |
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| CN109557438B (zh) * | 2018-12-14 | 2024-02-27 | 北京天智航医疗科技股份有限公司 | 探针误差检测装置 |
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