CN207742294U - 一种半导体二极管检验测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种半导体二极管检验测试装置，包括壳体和夹持机构，壳体上端面沿左右方向的中部设置有二极管插槽，二极管插槽左右两端对称设置有第一凹槽和第二凹槽，壳体内部上端面左右两侧分别设置有第一固定块和第二固定块，第一固定块内沿水平方向均设置有第一滑槽，第二固定块内内沿水平方向均设置有第二滑槽，壳体内设置有插座，第一固定块和第二固定块设置在插座上端面左右两侧，插座上设置有与二极管引线相对应的插孔，插座下端设置有导电板，导电板下端连接有导线，夹持机构包括左夹持机构和右夹持机构，左夹持机构包括第一固定板、第一夹持杆和第一夹持块，本实用新型机构简单，对二极管上部和下部同时夹持固定且二极管更换方便。
Description
技术领域
本实用新型属于二极管检测技术领域，具体涉及一种半导体二极管检验测试装置。
背景技术
在信号传输系统中，传输通道出现故障或新开通的传输通道出现不通的故障时，检测方法有两种，一种是用户检测法，另一种是仪表测试法，这两种检测方法均涉及到用户之间、用户与各机房之间、机房之间的协调配合问题，且检测过程复杂繁琐，造成查找处理故障的时间较长。虽然目前有人利用发光二极管制作了一种检测装置，但当故障为短路故障时，在检测过程中，发光二极管往往要承受较大的电流信号，这时容易将发光二极管损坏，如需更换损坏发光二极管时，由于上述检测装置的结构设置，在操作上有些不便。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题为：提供一种半导体二极管检验测试装置，能够在二极管检测的过程中对二极管进行固定夹持，便于二极管的更换。
为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：
一种半导体二极管检验测试装置，包括壳体和夹持机构，壳体上端面沿左右方向的中部设置有二极管插槽，二极管插槽左右两端对称设置有第一凹槽和第二凹槽，壳体内部上端面左右两侧分别设置有第一固定块和第二固定块，第一固定块内沿水平方向均设置有第一滑槽，第二固定块内内沿水平方向均设置有第二滑槽，壳体内设置有插座，第一固定块和第二固定块设置在插座上端面左右两侧，插座上设置有与二极管引线相对应的插孔，插座下端设置有导电板，导电板下端连接有导线，夹持机构包括左夹持机构和右夹持机构，左夹持机构包括第一固定板、第一夹持杆和第一夹持块，第一固定板设置在第一凹槽后方，第一夹持杆设置在第一凹槽内，第一夹持杆中部与第一固定板铰接，第一夹持杆下端与第一夹持块铰接，第一夹持块水平设置在第一滑槽内且与第一滑槽滑动连接，右夹持机构包括第二固定板、第二夹持杆和第二夹持块，第二固定板设置在第二凹槽后方，第二夹持杆设置在第二凹槽内，第二夹持杆中部与第二固定板铰接，第二夹持杆下端与第二夹持块铰接，第二夹持块水平设置在第二滑槽内且与第二滑槽滑动连接。
第一夹持杆右端面下部设置有第一拉伸弹簧，第一拉伸弹簧一端与第一夹持杆连接，第一拉伸弹簧另一端与壳体上端面连接。
第二夹持杆左端面下部设置有第二拉伸弹簧，第二拉伸弹簧一端与第二夹持杆连接，第二拉伸弹簧另一端与壳体上端面连接。
第一夹持块右方设置有第一缓冲块，第一夹持块和第一缓冲块之间设置有第一压缩弹簧。
第二夹持块左方设置有第二缓冲块，第二夹持块和第二缓冲块之间设置有第二压缩弹簧。
导线外侧套设有橡胶套管。
相对于现有技术，本实用新型的有益效果为：本实用新型设置有左右夹持机构，当二极管插入插座后，夹持杆可以对二极管露出壳体的部位进行扶持固定，防止二极管倾斜，进一步在夹持杆下端设置夹持块，夹持块可以对二极管插入壳体的那部分进行固定，进一步设置缓冲块，一方面防止夹持块夹紧力过大对二极管造成损失，另一方面可以增大二极管与夹持块的接触面积，使二极管被夹持的更稳固，进一步设置拉伸弹簧，当二极管拔出后可以实现夹持杆的自动复位。本实用新型机构简单，对二极管上部和下部同时夹持固定且二极管更换方便。
附图说明
图1为本实用新型使用状态结构示意图；
图2为本实用新型未使用状态结构示意图；
图3为图1的俯视图。
图中：1、二极管 2、第一夹持杆 3、第一固定板 4、壳体 4-1、二极管插槽 4-2、第一凹槽 4-3、第二凹槽 5、第一固定块 5-1、第一滑槽 6、第一夹持块 7、插座 8、导电板 9、导线 10、橡胶套管 11、二极管引线 12、第二压缩弹簧 13、第二缓冲块 14、第二固定块14-1、第二滑槽 15、第二夹持块 16、第二夹持杆 17、第二固定板 18、第一拉伸弹簧 19、第二拉伸弹簧 20、第一缓冲块 21、第一压缩弹簧。
具体实施方式
实施例：如图1至图3所示，一种半导体二极管检验测试装置，包括壳体4和夹持机构，壳体4上端面沿左右方向的中部设置有二极管插槽4-1，二极管插槽4-1左右两端对称设置有第一凹槽4-2和第二凹槽4-3，壳体4内部上端面左右两侧分别设置有第一固定块5和第二固定块14，第一固定块5内沿水平方向均设置有第一滑槽5-1，第二固定块14内内沿水平方向均设置有第二滑槽14-1，壳体4内设置有插座7，第一固定块5和第二固定块14设置在插座7上端面左右两侧，插座7上设置有与二极管引线11相对应的插孔，插座7下端设置有导电板8，导电板8下端连接有导线9，导线9外侧套设有橡胶套管10，夹持机构包括左夹持机构和右夹持机构，左夹持机构包括第一固定板3、第一夹持杆2和第一夹持块6，第一固定板3设置在第一凹槽4-2后方，第一夹持杆2设置在第一凹槽4-2内，第一夹持杆2中部与第一固定板3铰接，第一夹持杆2下端与第一夹持块6铰接，第一夹持块6水平设置在第一滑槽5-1内且与第一滑槽5-1滑动连接，右夹持机构包括第二固定板17、第二夹持杆16和第二夹持块15，第二固定板17设置在第二凹槽4-3后方，第二夹持杆16设置在第二凹槽4-3内，第二夹持杆16中部与第二固定板17铰接，第二夹持杆16下端与第二夹持块15铰接，第二夹持块15水平设置在第二滑槽14-1内且与第二滑槽14-1滑动连接，第一夹持杆2右端面下部设置有第一拉伸弹簧18，第一拉伸弹簧18一端与第一夹持杆2连接，第一拉伸弹簧18另一端与壳体4上端面连接，第二夹持杆16左端面下部设置有第二拉伸弹簧19，第二拉伸弹簧19一端与第二夹持杆16连接，第二拉伸弹簧19另一端与壳体4上端面连接，第一夹持块6右方设置有第一缓冲块20，第一夹持块6和第一缓冲块20之间设置有第一压缩弹簧21，第二夹持块15左方设置有第二缓冲块13，第二夹持块15和第二缓冲块13之间设置有第二压缩弹簧12。
本实用新型在实施时，将二极管1插入二极管插槽4-1中，二极管1将第一夹持杆2和第二夹持杆16撑开，第一夹持杆2带动第一夹持块6沿第一滑槽5-1向右运动，第二夹持杆16带动第二夹持块15沿第二滑槽14-1向左运动，待二极管1插入插座7中的插孔后，第一夹持杆2在第一拉伸弹簧18的拉力作用下对二极管1左端进行夹持，第二夹持杆16在第二拉伸弹簧19的拉力作用下对二极管1右端进行夹持，第一夹持块6右方设置有第一缓冲块20和第一压缩弹簧21，第二夹持块15左方设置第二缓冲块13和第二压缩弹簧12，一方面防止夹持块夹紧力过大对二极管1造成损失，另一方面可以增大二极管1与夹持块的接触面积，使二极管1被夹持的更稳固。
Claims (6)
1.一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：包括壳体和夹持机构，壳体上端面沿左右方向的中部设置有二极管插槽，二极管插槽左右两端对称设置有第一凹槽和第二凹槽，壳体内部上端面左右两侧分别设置有第一固定块和第二固定块，第一固定块内沿水平方向均设置有第一滑槽，第二固定块内沿水平方向均设置有第二滑槽，壳体内设置有插座，第一固定块和第二固定块设置在插座上端面左右两侧，插座上设置有与二极管引线相对应的插孔，插座下端设置有导电板，导电板下端连接有导线，夹持机构包括左夹持机构和右夹持机构，左夹持机构包括第一固定板、第一夹持杆和第一夹持块，第一固定板设置在第一凹槽后方，第一夹持杆设置在第一凹槽内，第一夹持杆中部与第一固定板铰接，第一夹持杆下端与第一夹持块铰接，第一夹持块水平设置在第一滑槽内且与第一滑槽滑动连接，右夹持机构包括第二固定板、第二夹持杆和第二夹持块，第二固定板设置在第二凹槽后方，第二夹持杆设置在第二凹槽内，第二夹持杆中部与第二固定板铰接，第二夹持杆下端与第二夹持块铰接，第二夹持块水平设置在第二滑槽内且与第二滑槽滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所述的第一夹持杆右端面下部设置有第一拉伸弹簧，第一拉伸弹簧一端与第一夹持杆连接，第一拉伸弹簧另一端与壳体上端面连接。
3.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所述的第二夹持杆左端面下部设置有第二拉伸弹簧，第二拉伸弹簧一端与第二夹持杆连接，第二拉伸弹簧另一端与壳体上端面连接。
4.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所述的第一夹持块右方设置有第一缓冲块，第一夹持块和第一缓冲块之间设置有第一压缩弹簧。
5.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所述的第二夹持块左方设置有第二缓冲块，第二夹持块和第二缓冲块之间设置有第二压缩弹簧。
6.根据权利要求1所述的一种半导体二极管检验测试装置，其特征在于：所述的导线外侧套设有橡胶套管。
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