CN207586739U - 一种温度自动控制装置测试系统 - Google Patents

一种温度自动控制装置测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN207586739U
CN207586739U CN201721687450.8U CN201721687450U CN207586739U CN 207586739 U CN207586739 U CN 207586739U CN 201721687450 U CN201721687450 U CN 201721687450U CN 207586739 U CN207586739 U CN 207586739U
Authority
CN
China
Prior art keywords
temperature control
automatic temperature
thermometric
microprocessor
module
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201721687450.8U
Other languages
English (en)
Inventor
周文杰
谭振中
周全
阳建华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hunan Aerospace Yuanwang Technology Co Ltd
Original Assignee
Hunan Aerospace Yuanwang Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hunan Aerospace Yuanwang Technology Co Ltd filed Critical Hunan Aerospace Yuanwang Technology Co Ltd
Priority to CN201721687450.8U priority Critical patent/CN207586739U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN207586739U publication Critical patent/CN207586739U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

本实用新型提供一种温度自动控制装置测试系统,包括工控机、微处理器、可调电阻模块、AD转换模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关;可调电阻模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关均与微处理器连接,可调电阻模块可切换地与各个测温输入口、各个控温输入口连接;AD转换模块的输入可切换地与控温输出口连接,其输出与微处理器连接;测温输出口与工控机连接。本实用新型利用高精度箔电阻模拟温度变化,能够自动测试温度自动控制装置的测温功能和控温功能。本实用新型的测试系统能够实现温度自动控制装置测试的自动化,解决了人工测试工作效率低下、精度差的问题,且能避免人工测量误差。

Description

一种温度自动控制装置测试系统
技术领域
[0001] 本实用新型涉及温度自动控制装置的测量,属于温度控制装置的测量校准领域。
背景技术
[0002] 在惯组系统内部,各关键部位的温度需保持在设定值。温度自动控制装置能够精 确测量各关键部位的温度值,并能够使各关键部位的温度值保持在设定值。温度自动控制 装置在使用前需测试测温输出口和控温输出口的温度数据,每个通道需测试若干个测试 点。温度自动控制装置在使用前需进行多次测试,防止测试过程中的外界干扰和接触不良 产生的坏值影响测量精度。
[0003] 目前温度自动控制装置的测试工作使用多功能校准仪作为模拟温度负载,人工输 入模拟阻值,人工切换测试通道,人工记录测试数据。目前,每个温度自动控制装置测试需 时较长,记录人员需人工记录数据并判断是否合格,极易疲劳出错。另外,由于需连接的温 控调试装置电缆的接点较多,极易发生接触不良或其他不稳定现象,不但延长调试时间,还 使测量精度容易出现较大误差。
[0004] 因此,现有温度自动控制装置无法满足工程实际要求。 实用新型内容
[0005] 本实用新型要解决的问题是提供一种温度自动控制装置测试系统,解决现有对目 前温度自动控制装置进行人工测试的测试需时较长、测试结果易出错的问题。
[0006] 为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种温度自动控制装置测 试系统,所述温度自动控制装置上设置有测温输出口、控温输出口、测温输入口和控温输入 口,所述温度自动控制装置测试系统包括相互连接的工控机和微处理器,还包括可调电阻 模块、AD转换模块、第一多路切换开关、第二多路切换开关;所述可调电阻模块、第一多路切 换开关、第二多路切换开关均与微处理器连接;所述可调电阻模块的输出通过第一多路切 换开关可切换地与温度自动控制装置的各个测温输入口、各个控温输入口连接;所述ADR 换模块的输入通过第二多路切换开关可切换地与温度自动控制装置的控温输出口连接,其 输出与微处理器连接;所述温度自动控制装置的测温输出口与工控机连接。
[0007] 本实用新型中,可以根据测试需求,通过微处理器控制可调电阻模块的输出电阻 实现各种不同的组合,即可通过不同电阻模拟不同的温度,而且通过微处理器控制第一多 路切换开关,使得可调电阻模块通过第一多路切换开关可切换地与温度自动控制装置的各 个测温输入口、控温输入口连接,即通过控制温度自动控制装置的输入电阻的变化来模拟 环境温度的变化,无需人工切换,即可实现依次对各个测温通道、各个控温通道是否工作正 常、精度是否符合要求进行测试,测试方便、测试需时时间短、测试效率高。
[0008] 进一步地,所述可调电阻模块包括采用并联和/或串联设置的多个电阻以及与每 个电阻所对应设置的电阻加载开关,所述电阻加载开关由微处理器控制,所述电阻加载开 关优选为固态继电器。
[0009] 本实用新型中,可调电阻模块中的多个电阻采用并联和/或串联设置,且每个电阻 均对应有电阻加载开关,因此可根据需要将某些电阻串联或将某些电阻并联,也可根据温 度自动控制装置的输入电阻的要求打开或关闭某个或多个电阻对应的电阻加载开关,使得 可调电阻模块的输出电阻的调整范围和调整精度均可根据需要设置,从而保证了温度自动 控制装置的测试的精度。
[0010] 进一步地,所述电阻加载开关为固态继电器。
[0011] 进一步地,所述可调电阻模块由高精度箱电阻组成。
[0012] 本实用新型中,可调电阻模块由高精度箱电阻组成,可以保证温度自动控制装置 的输入电阻的精度,保证对温度自动控制装置的测试精度。
[0013] 进一步地,还包括第一通信模块、第二通信模块,所述微处理器与温度自动控制装 置通过第一通信模块进行通信,所述微处理器与工控机通过第二通信模块进行通信;所述 温度自动控制装置的测温输出口以通信方式连接到工控机的通信模块。
[0014] 进一步地,所述第一通信模块、第二通信模块均为RS232通信模块。
[0015] 进一步地,所述微处理器为单片机、DSP或FPGA。
[0016]本实用新型具有的优点和积极效果是:本实用新型能自动完成温度自动控制装置 测量的系统,此系统能够实现输入模拟阻值的自动变化、测温输入口和控温输入口的自动 切换、数据的自动记录和分析。本实用新型提供的温度自动控制装置测试系统,能广泛应用 于通过热敏电阻测量及调控环境温度的温度自动控制装置的测试,可完成模拟温度变化、 数据采集等工作,自动化程度高,可代替人工操作提高工作效率,避免人工测量的误差。 [0017]本实用新型专利公布了一种全新的温度自动控制装置测试系统,利用高精度箔电 阻模拟温度变化,能够自动测试温度自动控制装置的测温功能和控温功能。测试系统能够 实现温度自动控制装置测试的自动化,解决了人工测试工作效率低下、精度差的问题,且能 避免人工测量误差。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使 用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于 本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其 他的附图。
[0019]图1为本实用新型的实施例的温度自动控制装置测试系统与温度自动控制装置的 连接示意图;
[0020] 图2为本实用新型的实施例的温度自动控制装置测试系统与温度自动控制装置的 具体连接示意图。
[0021] 图中,1、工控机,2、测量模块,21、微处理器,2 2、可调电阻模块,2 3、A D转换模块, 24、第一多路切换开关,25、第一通信模块,26、第二通信模块,27、第二多路切换开关,3、温 度自动控制装置,31、测温输出口,32、测温输入口,33、控温输出口,34、控温输入口。
具体实施方式
[0022]下面将结合本申请的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述, 显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的 实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都 属于本申请保护的范围。
[0023] 实施例
[0024] 本实用新型中,温度自动控制装置测试系统对温度自动控制装置3进行测量,测试 当模拟温度变化时温度自动控制装置3的测温输出和控温输出。
[0025] 温度自动控制装置3可通过阻值对环境温度进行测量,且可通过阻值与温度的对 应关系对环境温度进行测量及控制。
[0026] 在温度自动控制装置3的工作原理为:在测温时,将所测温度信号转换为温度自动 控制装置3可接受的信号,对被控对象的温度进行测量;在控温时,将所测温度信号转换为 温度自动控制装置3可接受的信号,通过温度自动控制装置3输出的控温输出电压控制加热 介质流量的大小从而对被控对象的温度进行控制。
[0027] 如图1—图2所示,温度自动控制装置测试系统由狈遣模块2、工控机1组成。温度自 动控制装置测试系统包括相互连接的工控机1和微处理器21,还包括可调电阻模块22、AD转 换模块23、第一多路切换开关24、第二多路切换开关27;可调电阻模块22、第一多路切换开 关24、第二多路切换开关27均与微处理器21连接;可调电阻模块22的输出通过第一多路切 换开关24可切换地与温度自动控制装置3的各个测温输入口 32、各个控温输入口 34连接;AD 转换模块23的输入通过第二多路切换开关27可切换地与温度自动控制装置3的各个控温输 出口 33连接,其输出与微处理器21连接;温度自动控制装置3的测温输出口 31与工控机1连 接。
[0028] 工控机1的通信模块与温度自动控制装置3的测温输出口 31相连,接收测温输出数 据。
[0029] 所有的数据都在工控机1中进行处理。在工控机1中保存测试数据,对数据进行分 析,并打印分析结果。
[0030] 测量模块2用于模拟温度负载,采集控温输出电压。工控机1用于接收测温输出数 据、存储分析测量数据、显示分析结果。测量模块2的组成如图2所示,包括微处理器21、可调 电阻模块22、AD转换模块23、第一多路切换开关24、第二多路切换开关27及第一通信模块 25、第二通信模块26。
[0031]可调电阻模块22与第一多路切换开关24相连。第一多路切换开关24通过电缆分别 与温度自动控制装置3的各个测温输入口 32、各个控温输入口 34相连。AD转换模块23通过电 缆经第二多路切换开关27与温度自动控制装置3控温输出口 33相连。第一通信模块25与温 度自动控制装置3的通信模块相连,第二通信模块26与工控机1的通信模块相连。
[0032]可调电阻模块22用于模拟温度负载,即对所测温度进行模拟。可调电阻模块22包 括采用并联和/或串联设置的多个电阻以及与每个电阻所对应设置的电阻加载开关,电阻 加载开关由微处理器21控制,电阻加载开关优选为固态继电器。可调电阻模块22的阻值调 整范围根据需要测试的温度和实际需求确定,本领域技术人员可以理解。可调电阻模块22 由高精度箔电阻组成。可调电阻模块22通过串并联电路能够组合成总阻值不同的电阻。可 调电阻模块22由微处理器21控制。微处理器21控制可调电阻模块22内的程控开关,使得可 调电阻模块22能组合成若干组总阻值不同的电阻。所述可调电阻模块22的高精度箔电阻可 采用RJ711 (RCK)系列高精密金属箱电阻器。
[0033] 温度自动控制装置3上设置有测温输出口 31、控温输出口 33、测温输入口 32和控温 输入口 34。温度自动控制装置3通过对测温输入口 32测量得到的电阻对温度进行测量,并通 过测温输出口 31输出测量结果,温度自动控制装置3通过对控温输入口 34测量得到的电阻 对温度进行测量,将该温度与预设的温度值进行比较,并通过控温输出口 33输出控制电压, 从而将被控对象的温度调整为需控制的温度。
[0034] 控温输入口 34与控温输出口 33的数量一一对应。例如,若需要多个测试点,则将测 温输入口 32分别设置在各个测试点。若需要控制多个位置的温度,则将各个控温输入口 M 分别设置在需要控制温度的各个位置,将各个控温输出口 33对应设置在各个控温输入口 34 所在的位置,即将各个控温输出口 33设置在需要控制温度的各个位置。
[0035] 温度自动控制装置测试系统还包括与微处理器21连接的第一多路切换开关24,可 调电阻模块22的输出通过第一多路切换开关24可切换地与温度自动控制装置3的各个测温 输入口32、各个控温输入口34连接。即,当需要测温时,则第一多路切换开关24依次切换与 各个测温输入口 32连接,当需要控温时,则第一多路切换开关24依次切换与各个控温输入 口 34的连接。可调电阻模块22输出的总阻值不同的电阻用于模拟温度变化。
[0036] 微处理器21与温度自动控制装置3通过第一通信模块25进行通信,微处理器21与 工控机1通过第二通信模块26进行通信;温度自动控制装置3的测温输出口 31以通信方式连 接到工控机1的通信模块。第一通信模块25、第二通信模块26均为RS232通信模块。微处理器 21为单片机、DSP或FPGA。
[0037] 第一多路切换开关24可以切换可调电阻模块22与温度自动控制装置3测试通道的 连接。第一多路切换开关24通过电缆分别与温度自动控制装置3测温输入口 32、控温输入口 34相连;AD转换模块23通过电缆与温度自动控制装置3控温输出口 33相连,将温度自动控制 装置3的控温输出电压由模拟量转变为数字量。第一通信模块25与温度自动控制装置3的通 信模块相连,用于接收温度自动控制装置3的测温输入口 32序号,第二通信模块26与工控机 1的通信模块相连,用于收发模拟阻值数值与接收控温电压数值。
[0038]测温时,微处理器21控制第一多路切换开关24切换温度自动控制装置3的测温输 入口 32;控温时,微处理器21控制第一多路切换开关24切换温度自动控制装置3的控温输入 口 34。温度自动控制装置3通过测温输出口 31向工控机1发送测温数据。工控机1保存并分析 数据,显示分析结果,完成测温功能测试。
[0039]需要由测温转换为控温或由控温转换为测温时,微处理器21控制第一多路切换开 关24将测温输入口 32切换至控温输入口 34或由控温输入口 34切换至测温输入口 32。微处理 器21控制可调电阻模块22中的高精度箔电阻组合成若干组总阻值不同的电阻来模拟温度 变化。温度自动控制装置3获得温度数据后,根据设定值与获得值的差值输出控温输出电 压。AD采集模块采集来自温度自动控制装置3的控温输出口 33的控温输出电压,并与预设的 电压值进行比较,判断控温输出是否符合要求。预设的电压值即为可调电阻模块22的输出 对应的温度所对应的测温输出口 31的理论输出值。
[0040]微处理器21将可调电阻模块22的输出阻值和控温输出口 33输出的电压值通过第 二通信模块26发送给工控机1,即在工控机1中进行分析及处理。
[0041]工控机1通过微处理器21接收可调电阻模块22的输出阻值、温度自动控制装置3的 测温输入口 32的序号、控温输出口 33的实际输出值,且工控机丨接收测温输出口 31的实际输 出值。
[0042]在测温时,工控机1通过微处理器21接收可调电阻模块22的输出阻值、测温输入口 32的序号,且工控机1接收测温输出口 31的实际输出值,将接收到的可调电阻模块22的输出 阻值转换为测温输出口 31的理论输出值,将测温输出口 3丨的理论输出值与测温输出口 31的 实际输出值进行比较。
[0043]—在控温时,工控机1通过微处理器21接收可调电阻模块22的输出阻值、控温输出口 33的实际输出值,将接收到的可调电阻模块22的输出阻值转换为第三温度值,利用第二温 度值与第二温度值之差计算控温输出口 33的理论输出值,第二温度值为温度自动控制装置 3需要控制的目标温度值,第三温度值即为可调电阻模块m所模拟的温度值,并将控温输出 口 33的理论输出值与控温输出口 33的实际输出值进行比较。
[0044]工控机1的通信模块与温度自动控制装置3的测温输出口 31相连。
[0045]本实用新型中,利用上述温度自动控制装置测试系统对温度自动控制装置进行测 试时,利用微处理器21控制第一多路切换开关24,使得可调电阻模块22的输出与温度自动 控制装置3的其中一个测温输入口 32连接;利用微处理器21调整可调电阻模块22的输出阻 值且记录该阻值;利用工控机1接收温度自动控制装置3的测温输出口 31的实际输出值;将 测温输出口 31的实际输出值与测温输出口 31的理论输出值进行比较,判断该测温输出口 31 对应的测温通道的精度是否满足精度要求,测温输出口 31的理论输出值由第一温度值计算 得到,第一温度值与记录的阻值具有一一对应的已知关系。在工控机1中设置测温输出口 31 的理论输出值,该测温输出口 31的理论输出值与第一温度值一一对应,第一温度值即为可 调电阻模块22所模拟的温度值,即为调整的可调电阻模块22的输出阻值;若判断该测温输 出口 31对应的测温通道的精度不满足精度要求,则重复三次测量,若在三次测量中该测温 输出口 31的输出均不满足精度要求,则该测温输入口 32对应的测温通道不符合测温要求; 利用微处理器21控制第一多路切换开关24,使得可调电阻模块22的输出分别与温度自动控 制装置3的其余各个测温输入口 32连接,判断其余各个测温输入口 32的输出是否满足精度 要求;利用微处理器21控制第一多路切换开关24,使得可调电阻模块22的输出与温度自动 控制装置3的其中一个控温输入口 34连接;利用微处理器21调整可调电阻模块22的输出阻 值且记录该阻值,可调电阻模块22的输出阻值与需模拟的温度具有一一对应的已知关系; 利用微处理器21接收温度自动控制装置3的控温输出口 33的实际输出值;将控温输出口 33 的实际输出值与控温输出口 33的理论输出值进行比较,判断该控温输出口 33对应的控温通 道的精度是否满足精度要求,控温输出口 33的理论输出值由第二温度值与第三温度值之差 计算得到,第二温度值为温度自动控制装置3需要控制的目标温度值,第三温度值与记录的 阻值具有一一对应的己知关系。在工控机1中设置控温输出口 33的理论输出值,第二温度值 与第三温度值之差与该控温输出口 33的理论输出值--对应,第二温度值为温度自动控制 装置3需要控制的目标温度值,第三温度值即为可调电阻模块22所模拟的温度值;若判断该 控温输出口 33对应的控温通道的精度不满足精度要求,则重复三次测量,若在三次测量中 该控温输出口 33的输出均不满足精度要求,则该控温输出口 33对应的控温通道不符合控温 要求;利用微处理器21控制第一多路切换开关24,使得可调电阻模块22的输出分别与温度 自动控制装置3的其余各个控温输入口 34连接,判断其余各个控温输入口 34的输出是否满 足精度要求。
[0046] 需要说明的是,本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重 点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。 [0047] 以上对本实用新型的实施例进行了详细说明,但内容仅为本实用新型的较佳实施 例,不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型范围所作的均等变化与 改进等,均应仍归属于本专利涵盖范围之内。

Claims (7)

1. 一种温度自动控制装置测试系统,所述温度自动控制装置(3)上设置有测温输出口 (31)、控温输出口(33)、测温输入口(3¾和控温输入口(34),其特征在于:所述温度自动控 制装置测试系统包括相互连接的工控机(1)和微处理器(21),还包括可调电阻模块(22)、AD 转换模块(23)、第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27);所述可调电阻模块(22)、 第一多路切换开关(24)、第二多路切换开关(27)均与微处理器(2D连接;所述可调电阻模 块(22)的输出通过第一多路切换开关(24)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个测温输 入口(32)、各个控温输入口(34)连接;所述AD转换模块(2¾的输入通过第二多路切换开关 (27)可切换地与温度自动控制装置(3)的各个控温输出口(33)连接,其输出与微处理器 (21) 连接;所述温度自动控制装置⑶的测温输出口(3丨)与工控机⑴连接。
2. 根据权利要求1所述的温度自动控制装置测试系统,其特征在于:所述可调电阻模块 (22) 包括采用并联和/或串联设置的多个电阻以及与每个电阻所对应设置的电阻加载开 关,所述电阻加载开关由微处理器(21)控制。
3. 根据权利要求2所述的温度自动控制装置测试系统,其特征在于:所述电阻加载开关 为固态继电器。
4. 根据权利要求2所述的温度自动控制装置测试系统,其特征在于:所述电阻为高精度 箱电阻。
5. 根据权利要求1-4中任一项所述的温度自动控制装置测试系统,其特征在于:还包括 第一通信模块(25)、第二通信模块(26),所述微处理器(21)与温度自动控制装置(3)通过第 一通信模块(25)进行通信,所述微处理器(21)与工控机(1)通过第二通信模块(26)进行通 信;所述温度自动控制装置(3)的测温输出口(31)以通信方式连接到工控机(1)的通信模 块。
6.根据权利要求5所述的温度自动控制装置测试系统,其特征在于:所述第一通信模块 (25)、第二通信模块(26)均为RS232通信模块。
7.根据权利要求1-4中任一项所述的温度自动控制装置测试系统,其特征在于:所述微 处理器(21)为单片机、DSP或FPGA。
CN201721687450.8U 2017-12-06 2017-12-06 一种温度自动控制装置测试系统 Active CN207586739U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721687450.8U CN207586739U (zh) 2017-12-06 2017-12-06 一种温度自动控制装置测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201721687450.8U CN207586739U (zh) 2017-12-06 2017-12-06 一种温度自动控制装置测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN207586739U true CN207586739U (zh) 2018-07-06

Family

ID=62735926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201721687450.8U Active CN207586739U (zh) 2017-12-06 2017-12-06 一种温度自动控制装置测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN207586739U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111381530A (zh) * 2018-12-29 2020-07-07 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 应用于空间遥感载荷的集成控制系统

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111381530A (zh) * 2018-12-29 2020-07-07 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 应用于空间遥感载荷的集成控制系统

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN207586739U (zh) 一种温度自动控制装置测试系统
CN202694136U (zh) 多通道热控系统测试设备
CN107247249A (zh) 一种交直流电表校验仪校准装置及校准方法
CN102998644B (zh) 一种直流电阻测试仪校准系统
CN102455701B (zh) 采用可编程继电器结构的可编程逻辑控制器自动测试平台
CN107908178A (zh) 一种温度自动控制装置测试系统及测试方法
CN103823128B (zh) 一种定制化电子产品的fct/ict综合测试装置
CN105931446A (zh) 用于燃气数据采集单元的测试系统及其工作方法
CN205992050U (zh) 一种绝缘在线监测装置校验系统
CN204389956U (zh) 电阻输出仪器以及测试系统
CN202473455U (zh) 精密过渡多用电阻箱
CN103295710B (zh) 热敏电阻模拟模块及对该模块的电阻输出校准方法
CN203688108U (zh) 一种变压器测温系统校验仪
CN201607243U (zh) 基于模块化设计的的汽车仪表耐久性能通用检测装置
CN105842566A (zh) 自动化测绘数字滤波器幅频特性曲线的系统及其测绘方法
CN201654216U (zh) 电容器高温老化系统校准装置
CN207570576U (zh) 计量校准适配装置和系统
CN107976234A (zh) 一种水表校表系统及其校表方法
CN104635592A (zh) 电阻输出仪器、测试系统以及输出不同电阻值的方法
CN207502618U (zh) 非线性负荷功率输出装置
CN211123230U (zh) 一种便携式校验仪自动调试系统
CN205751214U (zh) 用于燃气数据采集单元的测试系统
CN202305841U (zh) 一种大气数据计算机测试装置
CN206146591U (zh) 基于压力变送器性能测试系统
CN102081150B (zh) 基于“虚拟复阻抗法”实现的工频线路参数测试仪检定装置及其检定方法

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant