CN207571197U - 一种测量电导率与温度的关系实验装置机构 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种测量电导率与温度的关系实验装置机构,它涉及电气设备技术领域,其组成包括,所述的实验装置左端有一个氪离子激光器,氪离子激光器右方依次放置衰减片和扩束镜,所述的测试样品,可调稳压电源,电阻通过导线依次连接,所述的电阻和电压表并联,所述的可调稳压电源低电位端接地,所述的样品放入恒温加热器中。本实用新型通过设计温度可调,电压可调的结构,可以选择最合适的电压下测量不同温度下实验样品的电导率,使用方便,节省时间。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测量电导率与温度的关系实验装置机构,它涉及电气设备技术领域。
背景技术
电导率,物理学概念,也可以称为导电率。在介质中该量与电场强度E之积等于传导电流密度J。对于各向同性介质,电导率是标量,对于各向异性介质,电导率是张量。生态学中,电导率是以数字表示的溶液传导电流的能力。
电导率是表示物质传输电流能力强弱的一种测量值。当施加电压于导体的两端时,其电荷载子会呈现朝某方向流动的行为,因而产生电流。电导率是以欧姆定律定义为电流密度和电场强度的比率,电导率是电阻率的倒数。
电导率与温度具有很大相关性。金属的电导率随着温度的升高而减小。半导体的电导率随着温度的升高而增加。在一段温度值域内,电导率可以被近似为与温度成正比。为了要比较物质在不同温度状况的电导率,必须设定一个共同的参考温度。电导率与温度的相关性,时常可以表达为,电导率对上温度线图的斜率。
测量电导率与温度的关系实验装置机构加有恒温加热器和可调稳压电源,可以不拆电路的情况下选取合适的电压,并能随时调节试验样品的温度。使用方便,可供科研、生产及各类大、专、中学校作上述各项测试与实验使用;传统的测量电导率与温度的关系实验装置机构选取合适电压不方便,操作复杂,并且不能随时改变试样温度,操作不便。
实用新型内容
针对上述问题,本实用新型要解决的技术问题是提供一种测量电导率与温度的关系实验装置机构。
本实用新型是一种测量电导率与温度的关系实验装置机构。它包含氪离子激光器、衰减片、扩束镜、测试样品、恒温加热器、导线、可调稳压电源、电阻、电压表。氪离子激光器,衰减片和扩束镜由左到右依次放置,所述的测试样品,可调稳压电源,电阻通过导线依次连接,电阻和电压表并联,可调稳压电源低电位端接地,样品放入恒温加热器中。
作为优选所述的实验样品放置在恒温加热器中。
作为优选装置所使用的电压源是可调稳压电源。
本实用新型的有益效果为:可以调节实验的最合适电压,使用方便,测试样品的温度可稳定调节,操作方便,节省时间。
附图说明
为了易于说明,本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。
图1为本实用新型的结构示意图;
图中:1-氪离子激光器、2-衰减片、3-扩束镜、4-测试样品、5-恒温加热器、6-导线、7-可调稳压电源、8-电阻、9-电压表。
图 2为传统的测量电导率与温度的关系实验装置机构示意图
图中:1-氪离子激光器、2-衰减片、3-扩束镜、4-测试样品、5-导线、6-高压电源、7-电阻、8-电压表。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了,下面通过附图中示出的具体实施例来描述本实用新型。但是应该理解,这些描述只是示例性的,而并非要限制本实用新型的范围。此外,在以下说明中,省略了对公知结构和技术的描述,以避免不必要地混淆本实用新型的概念。
如图1所示,本机构具体实施方式采用以下技术方案:它包含氪离子激光器(1)、衰减片(2)、扩束镜(3)、测试样品(4)、恒温加热器(5)、导线(6)、可调稳压电源(7)、电阻(8)、电压表(9)。氪离子激光器(1),衰减片(2)和扩束镜(3)由左到右依次放置,所述的测试样品(4),可调稳压电源(7),电阻(8)通过导线依次连接,电阻(8)和电压表(9)并联,可调稳压电源(7)低电位端接地,测试样品(4)放入恒温加热器(5)中。
进一步的,所述的实验样品(4)放置在恒温加热器(5)中。
进一步的,所述的装置所使用的电压源是可调稳压电源(7)。
本机构具体实施方式的工作原理为:将试验样品(4)放入恒温加热器(5)中,观察电压表(9),调节可调稳压电源(7)到合适的电压,然后调节恒温加热器(5),得出最佳的电导率与温度的关系。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
Claims (3)
1.一种测量电导率与温度的关系实验装置机构,它涉及电气设备技术领域,其特征在于:它包含氪离子激光器(1)、衰减片(2)、扩束镜(3)、测试样品(4)、恒温加热器(5)、导线(6)、可调稳压电源(7)、电阻(8)、电压表(9);氪离子激光器(1),衰减片(2)和扩束镜(3)由左到右依次放置,所述的测试样品(4),可调稳压电源(7),电阻(8)通过导线依次连接,电阻(8)和电压表(9)并联,可调稳压电源(7)低电位端接地,测试样品(4)放入恒温加热器(5)中。
2.根据权利要求1所述的一种测量电导率与温度的关系实验装置机构,其特征在于所述的测试样品(4)放置在恒温加热器(5)中。
3.根据权利要求1所述的一种测量电导率与温度的关系实验装置机构,其特征在于装置所使用的电压源是可调稳压电源(7)。
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CN201721551697.7U CN207571197U (zh) | 2017-11-20 | 2017-11-20 | 一种测量电导率与温度的关系实验装置机构 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109188086A (zh) * | 2018-09-19 | 2019-01-11 | 许昌学院 | 一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法 |
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2017
- 2017-11-20 CN CN201721551697.7U patent/CN207571197U/zh not_active Expired - Fee Related
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