CN207515746U - 一种激光测平行系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种激光测平行系统，其包括第一待测平面、第二待测平面、激光发射器、分光装置、反光镜和接收装置，分光装置与第一待测平面之间设有孔径光阑；激光发射器放置于第一待测平面，激光发射器向分光镜发射与第一待测平面平行的激光，分光装置接收激光并反射，反射的激光经过孔径光阑的小孔后垂直入射至第一待测平面，并从第一待测平面透射；分光装置平行放置于第二待测平面，接收第一待测平面透射的激光并反射；接收装置放置于分光镜一侧，接收由反光镜反射回到分光装置后出射的激光。本实用新型的激光测平行系统利用激光发射器、分光镜、光阑和反光镜等常见的光学器材即可测量两平面之间的平行度，操作方便，成本低。
Description
技术领域
本实用新型涉及平行度检测领域，特别涉及一种激光测平行系统。
背景技术
在光学系统中，经常需要测量两个平面之间的平行度以及调整两个平面使之达到一定的平行度，而现有的平行度测量以及调整装置大多需要显示器和处理器等部件，可以直接得出平行度数值，但是这些装置结构复杂，成本较高，且操作过程较为复杂，对于普通的对检测平行度是否达标，并不需要准确数值的系统来说，现有的装置并不适合，现缺少一种结构简单，操作灵活，能够快速检测两平面之间平行度是否达标的系统。
实用新型内容
针对现有技术的不足，本实用新型旨在提供一种结构简单，操作灵活，能够快速检测两平面之间平行度是否达标的系统。
为实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案：
一种激光测平行系统，包括第一待测平面、第二待测平面、激光发射器、分光装置、反光镜和接收装置，所述分光装置与所述第一待测平面之间设有孔径光阑；
所述激光发射器放置于所述第一待测平面，所述激光发射器向所述分光镜发射与所述第一待测平面平行的激光，所述分光装置接收所述激光并反射，反射的激光经过所述孔径光阑的小孔后垂直入射至所述第一待测平面，并从所述第一待测平面透射；
所述分光装置平行放置于所述第二待测平面，接收所述第一待测平面透射的激光并反射；
所述接收装置放置于所述分光镜一侧，接收由所述反光镜反射回到所述分光装置后出射的激光。
作为本实用新型的进一步改进，所述孔径光阑的孔径大小可调。
作为本实用新型的进一步改进，所述孔径光阑孔径大小为0.5mm。
作为本实用新型的进一步改进，所述孔径光阑的小孔厚度可调。
作为本实用新型的进一步改进，所述分光装置为分光镜。
作为本实用新型的进一步改进，所述接收装置为光屏、CMOS或CCD。
相比于现有技术，本实用新型的激光测平行系统仅仅利用激光发射器、分光镜、光阑和反光镜等常见的光学器材即可测量两平面之间的平行度是否达标，并可调整两平面之间的角度来调整两平面的平行度，使之满足平行度标准，同时，我们也可以通过调整孔径光阑的孔径和厚度来改变系统的平行度测量精度，结构简单，操作方便，成本低，具有广阔的市场前景和应用前景。
上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1是本实用新型实施例中激光测平行系统的结构示意图。
标记说明：10、第一待测平面；20、第二待测平面；30、激光发射器；40、分光镜；50、孔径光阑；51、小孔；60、反光镜；70、光屏。
具体实施方式
下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述：
如图1所示，为本实用新型激光测平行系统，该系统包括第一待测平面10、第二待测平面20、激光发射器30、分光镜40、孔径光阑50、反光镜60和光屏70，激光发射器30和分光镜40放置于第一待测平面10，分光镜40与第一待测平面10之间还设有孔径光阑50，反光镜40平行放置于第二检测平面20，孔径光阑上有小孔51，小孔51的孔径大小和厚度可调。
激光发射器30发射的激光与第一待测平面10平行，激光发射器30发出的激光经过分光镜40发生反射，反射后的激光经过小孔51垂直入射至第一待测平面10，接着激光从第一待测平面10出射并照射至反光镜60，然后激光在反光镜60上发生反射，若第一待测平面10与第二待测平面20的平行度在该系统的检测精度之内，反射的激光会经过小孔51返回分光镜40，并从分光镜40出射至光屏70上，光屏70上会出现反射光点，若第一待测平面10与第二待测平面20的平行度在该系统的检测精度之外，反射的激光会被孔径光阑50挡住，从而光屏70上不会出现光点。此时，我们可以通过调整第二待测平面20与第一待测平面10之间的角度来调整二者的平行度，直至光屏70上出现清晰光点即可。
在本实用新型的其他实施例中，光屏70可以换作CMOS或CCD等可供人眼或计算机比对的装置。
在本实用新型的其他实施例中，第一待测平面10上设有通孔，反射后的激光经过小孔51后经过该通孔，接着激光从第一待测平面10出射并照射至反光镜60。
在实验中，我们采用的小孔51直径为0.5mm，厚度为5mm，分光镜40与反光镜60的距离为150mm，在人眼可观测的极限位置测得系统的最大偏差为0.0312°。在实际测量中，我们可以通过减小小孔51的孔径或增加小孔51的厚度来提高系统的精度。在实际测量中，还可以将接收装置由普通光屏改为CCD相机等装置，通过测量接受屏上光点的位置和可以计算出两待测平面之间的角度大小。
相比于现有技术，本实用新型的激光测平行系统仅仅利用激光发射器、分光镜、光阑和反光镜等常见的光学器材即可测量两平面之间的平行度是否达标，并可调整两平面之间的角度来调整两平面的平行度，使之满足平行度标准，同时，我们也可以通过调整孔径光阑的孔径和厚度来改变系统的平行度测量精度，结构简单，操作方便，成本低，具有广阔的市场前景和应用前景。
对于本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及变形，而所有的这些改变以及变形都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种激光测平行系统，其特征在于：包括第一待测平面、第二待测平面、激光发射器、分光装置、反光镜和接收装置，所述分光装置与所述第一待测平面之间设有孔径光阑；
所述激光发射器放置于所述第一待测平面，所述激光发射器向所述分光装置发射与所述第一待测平面平行的激光，所述分光装置接收所述激光并反射，反射的激光经过所述孔径光阑的小孔后垂直入射至所述第一待测平面，并从所述第一待测平面透射；
所述分光装置平行放置于所述第二待测平面，接收所述第一待测平面透射的激光并反射；
所述接收装置放置于所述分光装置一侧，接收由所述反光镜反射回到所述分光装置后出射的激光。
2.如权利要求1所述的激光测平行系统，其特征在于：所述孔径光阑的孔径大小可调。
3.如权利要求1所述的激光测平行系统，其特征在于：所述孔径光阑孔径大小为0.5mm。
4.如权利要求1所述的激光测平行系统，其特征在于：所述孔径光阑的小孔厚度可调。
5.如权利要求1所述的激光测平行系统，其特征在于：所述分光装置为分光镜。
6.如权利要求1所述的激光测平行系统，其特征在于：所述接收装置为光屏、CMOS或CCD。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2017
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