CN207505145U - 一种耳机阻抗测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种耳机阻抗测试装置，包括阻抗测试仪和插接座，所述插接座上设置有多个插接槽，单个所述插接槽中可拆卸地插接有单个引线块，所述引线块露出于所述插接槽的端面上设置有耳机插接孔，所述耳机插接孔内部设置有第一接触环、第二接触环和第三接触环，所述第一接触环、第二接触环和第三接触环之间相互绝缘，且所述第一接触环、第二接触环和第三接触环沿所述耳机插接孔向所述引线块内部依次排列。本技术方案用于解决现有耳机阻抗测试装置存在零件磨损拆换麻烦、拆装过程产生损伤的问题。
Description
技术领域
本实用新型属于耳机加工设备技术领域，具体涉及一种耳机阻抗测试装置。
背景技术
耳机(Earphones; Headphones; Head-sets; Earpieces)是一对转换单元，它接受媒体播放器或接收器所发出的电讯号，利用贴近耳朵的扬声器将其转化成可以听到的音波。
在耳机生产行业，特别是手机耳机的生产行业中，需要测试耳机的性能指标，以确定耳机是否合格。语音通话效果是衡量耳机质量好坏的重要指标之一，而耳机线的阻抗对耳机的听音效果具有直接的决定作用。目前，用于耳机线的导通测试仪一般设置有插接孔，用于插入耳机的插接头进行测试，由于生产过程中需要测试的耳机数量较大，每次测试均需在插接孔中插入和拔出插接头，在进行多次测试后，插接孔处容易发生磨损，使得接触面电阻增大，影响阻抗测试效果，从而需要拆机进行零件更换，更换较为麻烦，需要专业电工人员进行，同时容易在拆装的过程中对导通测试仪中的电子设备产生损伤。
实用新型内容
针对上述存在的技术问题，本实用新型提供了一种耳机阻抗测试装置，以解决现有耳机阻抗测试装置存在零件磨损拆换麻烦、拆装过程产生损伤的问题，该耳机阻抗测试装置能够实现对耳机插接孔的快速单独更换，减低更换成本和更换难度。
一种耳机阻抗测试装置，包括阻抗测试仪和插接座，所述插接座上设置有多个插接槽，单个所述插接槽中可拆卸地插接有单个引线块，所述引线块露出于所述插接槽的端面上设置有耳机插接孔，所述耳机插接孔内部设置有第一接触环、第二接触环和第三接触环，所述第一接触环、第二接触环和第三接触环之间相互绝缘，且所述第一接触环、第二接触环和第三接触环沿所述耳机插接孔向所述引线块内部依次排列，所述引线块中设置有第一引线、第二引线和第三引线，所述引线块朝向所述插接槽的端部设置有第一针脚、第二针脚和第三针脚，所述第一引线电连接所述第一接触环和所述第一针脚，所述第二引线电连接所述第二接触环和所述第二针脚，所述第三引线电连接所述第三接触环和所述第三针脚，所述插接槽中设置有与所述第一针脚、第二针脚和第三针脚相对应的第一针脚孔、第二针脚孔和第三针脚孔，所述第一针脚孔、第二针脚孔和第三针脚孔分别电连接至所述阻抗测试仪。
进一步的，所述插接槽的数量为3个，对应的，所述引线块的数量也为3个。
本实用新型设置有插接座以及与所述插接座可拆卸连接的引线块，通过在引线块上设置的耳机插接孔进行耳机的阻抗测试，进行作业时，可将引线块安装至所述插接槽中，再将耳机插接头插入到引线块的耳机插接孔中，通过插接座实现与阻抗测试仪之间的电连接，从而进行阻抗测试，当耳机插接孔出现磨损时，可单独对所述引线块进行更换，由于所述引线块为可拆卸连接，更换速度快，更换难度低，成本小，同时能够避免更换零件对耳机阻抗测试效率的影响。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种耳机阻抗测试装置的结构示意图；
图2为引线块的内部结构示意图。
具体实施方式
本实用新型公开了一种耳机阻抗测试装置，该耳机阻抗测试装置能够实现对耳机插接孔的快速单独更换，减低更换成本和更换难度。
下面将结合本实用新型中的附图，对本实用新型中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
参见图1和图2所示，本实用新型公开了一种耳机阻抗测试装置，包括阻抗测试仪1和插接座8，所述插接座8上设置有多个插接槽4，单个所述插接槽4中可拆卸地插接有单个引线块3，所述引线块3露出于所述插接槽4的端面上设置有耳机插接孔9，所述耳机插接孔9用于插接耳机插接头2，所述耳机插接孔9内部设置有第一接触环10、第二接触环11和第三接触环12，所述第一接触环10、第二接触环11和第三接触环12之间相互绝缘，且所述第一接触环10、第二接触环11和第三接触环12沿所述耳机插接孔9向所述引线块3内部依次排列，所述引线块3中设置有第一引线13、第二引线14和第三引线15，所述引线块3朝向所述插接槽4的端部设置有第一针脚16、第二针脚17和第三针脚18，所述第一引线13电连接所述第一接触环10和所述第一针脚16，所述第二引线14电连接所述第二接触环11和所述第二针脚17，所述第三引线15电连接所述第三接触环12和所述第三针脚18，所述插接槽4中设置有与所述第一针脚16、第二针脚17和第三针脚18相对应的第一针脚孔5、第二针脚孔6和第三针脚孔7，所述第一针脚孔5、第二针脚孔6和第三针脚孔7分别电连接至所述阻抗测试仪1。
所述插接槽4的数量为3个，对应的，所述引线块3的数量也为3个。
本实用新型设置有插接座以及与所述插接座可拆卸连接的引线块，通过在引线块上设置的耳机插接孔进行耳机的阻抗测试，进行作业时，可将引线块安装至所述插接槽中，再将耳机插接头插入到引线块的耳机插接孔中，通过插接座实现与阻抗测试仪之间的电连接，从而进行阻抗测试，当耳机插接孔出现磨损时，可单独对所述引线块进行更换，由于所述引线块为可拆卸连接，更换速度快，更换难度低，成本小，同时能够避免更换零件对耳机阻抗测试效率的影响。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。
Claims (2)
1.一种耳机阻抗测试装置，其特征在于，包括阻抗测试仪和插接座，所述插接座上设置有多个插接槽，单个所述插接槽中可拆卸地插接有单个引线块，所述引线块露出于所述插接槽的端面上设置有耳机插接孔，所述耳机插接孔内部设置有第一接触环、第二接触环和第三接触环，所述第一接触环、第二接触环和第三接触环之间相互绝缘，且所述第一接触环、第二接触环和第三接触环沿所述耳机插接孔向所述引线块内部依次排列，所述引线块中设置有第一引线、第二引线和第三引线，所述引线块朝向所述插接槽的端部设置有第一针脚、第二针脚和第三针脚，所述第一引线电连接所述第一接触环和所述第一针脚，所述第二引线电连接所述第二接触环和所述第二针脚，所述第三引线电连接所述第三接触环和所述第三针脚，所述插接槽中设置有与所述第一针脚、第二针脚和第三针脚相对应的第一针脚孔、第二针脚孔和第三针脚孔，所述第一针脚孔、第二针脚孔和第三针脚孔分别电连接至所述阻抗测试仪。
2.根据权利要求1所述的一种耳机阻抗测试装置，其特征在于，所述插接槽的数量为3个，对应的，所述引线块的数量也为3个。
Priority Applications (1)
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| CN201721372898.0U CN207505145U (zh) | 2017-10-24 | 2017-10-24 | 一种耳机阻抗测试装置 |
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| CN201721372898.0U CN207505145U (zh) | 2017-10-24 | 2017-10-24 | 一种耳机阻抗测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN207505145U true CN207505145U (zh) | 2018-06-15 |
Family
ID=62501548
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201721372898.0U Expired - Fee Related CN207505145U (zh) | 2017-10-24 | 2017-10-24 | 一种耳机阻抗测试装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN207505145U (zh) |
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2017
- 2017-10-24 CN CN201721372898.0U patent/CN207505145U/zh not_active Expired - Fee Related
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