CN207502957U - 一种调试装置及系统 - Google Patents

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何国泰
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周笑云
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    • G05B19/00Programme-control systems
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    • G05B19/042Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers using digital processors

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Abstract

本实用新型属于计算机领域。公开一种调试装置,包括调试线体与两个端口,两个端口分别连接调试设备和被调试设备,调试线体包括一个调试开关和A、B、C、D4条引线,引线A连接调试设备的VCC接口与被调试设备VBUS接口,引线B连接调试设备的RX接口与被调试设备的TX接口,引线C连接调试设备的TX接口与被调试设备的RX接口,引线D连接移动调试设备的GND接口与被调试设备的GND接口,调试开关设置在引线A上,本实用新型通过在调试线线体上设置一个调试开关,该调试开关与调试设备的VCC电源接口连接,需要唤醒被调试设备时,只需按一下调试开关,被调试设备将输入一个高电平脉冲信号,得到唤醒。

Description

一种调试装置及系统
技术领域
本实用新型涉及计算机领域,尤其涉及一种调试装置及系统。
背景技术
在嵌入微控制器的电子产品中,通常需要对微控制器中运行的程序进行调试,常见MCU支持异步串行通信口(UART,简称串口)进行程序下载和调试,但是使用现有RS232(TTL电平)的调试线进行调试时,当MCU处于休眠状态下,把UART控制关掉后无法接收外部设备发送的命令数据。
这种情况下需要先对MCU通电进行唤醒,然后再接调试线对MCU进行调试,这样就极大降低了调试效率。
特别是基于共享单车的内嵌式MCU中,需要手动充电激活共享单车的内嵌式MCU,再接入调试设备进行调试,极大降低调试效率,增加工作量。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术的缺陷,提供一种调试装置,能够更直接对已经休眠的被调试设备进行唤醒及调试,提高了调试效率。
本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术的缺陷,提供一种调试系统,能够更直接对已经休眠的被调试设备进行唤醒及调试,提高了调试效率。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种调试装置,所述调试装置包括调试线体、设置在调试线体两端的调试接口和调试开关,该调试线体分别与调试设备和被调试设备连接,该调试线体至少包括两根数据传输线、GND线和电源线,该调试开关设置在电源线上;其中,该电源线通过调试接口与被调试设备I/O接口的VBUS引脚连接。
其中,较佳方案是:所述两个调试接口均为USB端口。
其中,较佳方案是:所述USB端口为4针USB端。
其中,较佳方案是:所述调试开关为按钮开关。
其中,较佳方案是:所述按钮开关为弹片式按钮开关,该调试开关在施加于调试开关上的外力消失时会自动复位并断开电源线。
其中,较佳方案是:所述调试开关通过外延引线与电源线串联,并支离调试线体设置。
为解决上述技术问题,本实用新型提供一种调试系统,该调试系统包括调试设备、被调试设备和调试装置,该调试线体分别与调试设备和被调试设备连接,该被调试设备的I/O接口包括VBUS引脚,该调试装置包括调试线体、设置在调试线体两端的调试接口和调试开关,该调试线体至少包括两根数据传输线、GND线和电源线,该调试开关设置在电源线上;其中,该电源线通过调试接口与被调试设备I/O接口的VBUS引脚连接。
其中,较佳方案是:被调试设备为设置于共享单车内的内嵌式MCU,该VBUS引脚接入高电平脉冲信号时唤醒内嵌式MCU。
其中,较佳方案是:调试设备为计算机、手机、平板和专用调试工具中的一种。
本实用新型的有益效果是:通过设计一种调试装置及系统,采用调试开关在调试设备通过调试线体接入被调试设备时,对被调试设备进行唤醒,可直接进行调试、数据下载等操作,而不需要额外对被调试设备先充电,大大提高了调试的效率。
附图说明
图1是本实用新型调试系统的电路示意图;
图2是本实用新型调试装置的结构示意图;
图3是本实用新型调试装置另一实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图,对本实用新型进行详细说明。
如图1和图2所示,本实用新型提供一种调试系统的优选实施例。
一种调试系统,包括调试设备30、被调试设备40和调试装置,调试装置包括调试线体10、设置在调试线体10两端的调试接口20和调试开关11,该调试线体10分别与调试设备30和被调试设备40连接,该调试线体10至少包括两根数据传输线(13、14)、GND线15和电源线12,该调试开关11设置在电源线12上;其中,该电源线12通过调试接口20与被调试设备40I/O接口的VBUS引脚连接。
具体地,电源线12连接调试设备30的VCC引脚与被调试设备40的VBUS引脚,在电源线12上设置一个开关11。需要唤醒被调试设备40时,在已连接的基础上点击调试开关11,调试设备30的VCC引脚将对被调试设备40的VBUS引脚输入一个高电平脉冲,这个高电平脉冲将会唤醒已经休眠的被调试设备40。
优选地,调试线体10两端的两个调试接口20为4针USB端口。使用USB端口通用性好,方便连接调试设备30与被调试设备40。当然,调试接口20也可以为其他不同类型的端口,同时与调试设备30连接的调试接口20的端口类型和与被调试设备40连接的调试接口20的端口类型不相同。
优选地,调试开关11为弹片式按钮开关,该开关在施加于开关上的外力消失时会自动回位断开。该调试开关设置在调试线体10上。
如图1和图3所示,本实用新型提供一种调试装置的较佳实施例。
调试装置包括调试线体210、设置在调试线体两端的调试接口220和调试开关211,该调试线体220分别与调试设备30和被调试设备40连接,该调试线体210至少包括两根数据传输线(13、14)、GND线15和电源线12,该调试开关211设置在电源线12上;其中,该电源线12通过调试接口220与被调试设备40I/O接口的VBUS引脚连接。
优选地,调试线体210两端的两个调试接口220为4针USB端口。当然,调试接口220也可以为其他不同类型的端口,同时与调试设备30连接的调试接口220的端口类型和与被调试设备40连接的调试接口220的端口类型不相同。
优选地,调试开关211为弹片式按钮开关,该开关在施加于开关上的外力消失时会自动回位断开。该调试开关通过外延引线230与电源线12串联,并支离调试线体210设置。
在本实用新型中,提供一种调试系统的较佳实施例。
并参考图1,被调试设备40为设置于共享单车内的内嵌式MCU,该VBUS引脚接入高电平脉冲信号时唤醒内嵌式MCU。进一步地,被调试设备40包括一与主控芯片连接的休眠唤醒模块,或设置在主控芯片内的休眠唤醒模块,该休眠唤醒模块的唤醒引脚为VBUS引脚,当VBUS引脚接收到一高电平脉冲信号时,激活唤醒主控芯片,实现信号传输。
其中,调试设备30为计算机、手机、平板和专用调试工具中的一种。
上面结合附图对本实用新型的实施方式作了详细说明,但是本实用新型并不限于上述实施方式,在本领域普通技术人员所具备的知识范围内,任何对本实用新型的简单修改、替换,均应落入本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.一种调试装置,其特征在于:所述调试装置包括调试线体、设置在调试线体两端的调试接口和调试开关,该调试线体分别与调试设备与被调试设备连接,该调试线体至少包括两根数据传输线,GND线和电源线,该调试开关设置在电源线上;其中,该电源线通过调试接口与被调试设备I/O接口的VBUS引脚连接。
2.根据权利要求1所述的调试装置,其特征在于,两个所述调试接口均为USB端口。
3.根据权利要求2所述的调试装置,其特征在于,所述USB端口为4针USB端口。
4.根据权利要求1所述的调试装置,其特征在于,所述调试开关为按钮开关。
5.根据权利要求4所述的调试装置,其特征在于,所述按钮开关为弹片式按钮开关,该开关在施加于开关上的外力消失时会自动复位并断开电源线。
6.根据权利要求1、4或5所述的调试装置,其特征在于:所述调试开关通过外延引线与电源线串联,并支离调试线体设置。
7.一种调试系统,其特征在于:所述调试系统包括调试设备、被调试设备和调试装置,该调试线体分别与调试设备和被调试设备连接,该被调试设备的I/O接口包括VBUS引脚,该调试装置包括调试线体、设置在调试线体两端的调试接口和调试开关,该调试线体至少包括两根数据传输线、GND线和电源线,该调试开关设置在电源线上;其中,该电源线通过调试接口与被调试设备I/O接口的VBUS引脚连接。
8.根据权利要求7所述的调试系统,其特征在于:所述被调试设备为设置于共享单车内的内嵌式MCU,该VBUS引脚接入高电平脉冲信号时唤醒内嵌式MCU。
9.根据权利要求7所述的调试系统,其特征在于:所述调试设备为计算机、手机、平板电脑和专用调试工具的一种。
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