CN207456389U - 一种位移传感器校准验证装置 - Google Patents

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蔡天然
张卫民
谷龙飞
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HEBEI GAODA TECHNOLOGIES Co Ltd
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Abstract

本实用新型公开了一种位移传感器校准验证装置,属于传感器校准技术领域。其包括校准平台、步进电机以及与被校准位移传感器的感应基准同步运动的活动端,校准平台上设有测量轨道和移动体,测量轨道上设有与步进电机连接并用于驱动移动体沿测量轨道运动的丝杠,丝杠的一端设有与移动体位移同步的光栅尺,校准平台上还设有用于固定被校准位移传感器的主体、并使被校准位移传感器的测量方向与测量轨道同向的固定结构,活动端与移动体固定连接。本实用新型结构简单,成本低廉,使用方便,是对现有技术的一种有益改进。

Description

一种位移传感器校准验证装置
技术领域
本实用新型涉及传感器校准技术领域,特别是指一种位移传感器校准验证装置。
背景技术
位移传感器是工业领域中经常用到的一种传感器。常见的位移传感器有拉绳位移传感器、激光位移传感器、拉杆式直线位移传感器等等多种类型。测量准确性是位移传感器最重要的参数,直接决定了位移传感器的有效性。现有技术中存在许多位移传感器校准装置,但是这些装置或者结构复杂、价格昂贵,或者使用不便。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型提出一种位移传感器校准验证装置,其能够方便快捷地对位移传感器进行校准验证,具有结构简单、成本低廉、使用方便的特点。
基于上述目的,本实用新型提供的技术方案是:
一种位移传感器校准验证装置,其包括校准平台、步进电机以及与被校准位移传感器的感应基准同步运动的活动端,所述校准平台上设有测量轨道和移动体,所述测量轨道上设有与所述步进电机连接并用于驱动所述移动体沿所述测量轨道运动的丝杠,所述丝杠的一端设有与所述移动体位移同步的光栅尺,所述校准平台上还设有用于固定被校准位移传感器的主体、并使被校准位移传感器的测量方向与所述测量轨道同向的固定结构,所述活动端与所述移动体固定连接。
可选的,所述固定结构为跨越在所述测量轨道上方的固定架。
可选的,用于对激光位移传感器进行校准,所述活动端为竖立在所述移动体上的反射板。
可选的,用于对直拉式位移传感器进行校准,所述活动端为用于带动直拉式位移传感器测量头运动的夹具。
可选的,所述测量轨道的两端还设有用于感应所述移动体并使所述步进电机停转的第一接近开关。
可选的,所述测量轨道的沿线还设有多个用于感应所述移动体并使所述步进电机暂时停转的第二接近开关。
从上面的叙述可以看出,本实用新型技术方案的有益效果在于:
1、本实用新型采用光栅尺作为校准基准,能够有效地对位移传感器进行校准,校准精度高。
2、本实用新型结构简单,通过丝杠实现被校准位移传感器与作为基准的光栅尺的位移同步,使用时只要将被校准位移传感器进行固定即可开始校准,使用非常方便。
3、本实用新型既可用于对直拉式位移传感器的校准,也可用于对激光、红外等无线传感式位移传感器的校准,适用范围广,非常实用。
总之,本实用新型结构简单,成本低廉,使用方便,是对现有技术的一种有益改进。
附图说明
为了更加清楚地描述本专利,下面提供一幅或多幅附图,这些附图旨在对本专利的背景技术、技术原理和/或某些具体实施方案做出辅助说明。需要注意的是,这些附图可以给出也可以不给出一些在本专利文字部分已有描述且属于本领域普通技术人员公知常识的具体细节;并且,因为本领域的普通技术人员完全可以结合本专利已公开的文字内容和/或附图内容,在不付出任何创造性劳动的情况下设计出更多的附图,因此下面这些附图可以涵盖也可以不涵盖本专利文字部分所叙述的所有技术方案。此外,这些附图的具体内涵需要结合本专利的文字内容予以确定,当本专利的文字内容与这些附图中的某个明显结构不相符时,需要结合本领域的公知常识以及本专利其他部分的叙述来综合判断到底是本专利的文字部分存在笔误,还是附图中存在绘制错误。特别地,以下附图均为示例性质的图片,并非旨在暗示本专利的保护范围,本领域的普通技术人员通过参考本专利所公开的文字内容和/或附图内容,可以在不付出任何创造性劳动的情况下设计出更多的附图,这些新附图所代表的技术方案依然在本专利的保护范围之内。
图1是本实用新型实施例中位移传感器校准验证装置的一种结构示意图。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员对本专利技术方案的理解,同时,为了使本专利的技术目的、技术方案和有益效果更加清楚,并使权利要求书的保护范围得到充分支持,下面以具体案例的形式对本专利的技术方案做出进一步的、更详细的说明。
如图1所示,一种位移传感器校准验证装置,其包括校准平台、步进电机5以及与被校准位移传感器的感应基准同步运动的活动端31,所述校准平台上设有测量轨道1和移动体3,所述测量轨道1上设有与所述步进电机5连接并用于驱动所述移动体3沿所述测量轨道1运动的丝杠2,所述丝杠2的一端设有与所述移动体3位移同步的光栅尺6,所述校准平台上还设有用于固定被校准位移传感器9的主体、并使被校准位移传感器9的测量方向与所述测量轨道1同向的固定结构,所述活动端31与所述移动体3固定连接。
本装置用于对直拉式位移传感器进行校准,所述活动端31为用于带动直拉式位移传感器测量头90运动的夹具。
可选的,仍见图1,所述固定结构为跨越在所述测量轨道上方的固定架4。
可选的,仍见图1,所述测量轨道1的两端还设有用于感应所述移动体3并使所述步进电机5停转的第一接近开关7。
可选的,仍见图1,所述测量轨道1的沿线还设有多个用于感应所述移动体3并使所述步进电机5暂时停转的第二接近开关8。
此外,该装置还可设计成用于对激光位移传感器进行校准,则活动端应当为竖立在所述移动体上的反射板,为了与上述装置相兼容,可以将反射板直接夹在上述装置的夹具上。
使用时,将待测位移传感器固定在本装置的固定架上,将光栅尺的输出接口与上位机连接,即可开始测试。测试时,步进电机运转带动移动体移动,当移动体通过接近开关时(或者预设通过上位机预设停止位置),步进电机暂时停转,待测位移传感器输出测量信号,待移动体运动到轨道末端时测量结束。然后上位机即可对每个采样点处待测位移传感器的输出测量信号与光栅尺的读数进行比较,若误差小于1毫米即可认为待测位移传感器通过校准。
可见,本实用新型结构简单,成本低廉,使用方便,是对现有技术的一种有益改进。
需要理解的是,上述对于本专利具体实施方式的叙述仅仅是为了便于本领域普通技术人员理解本专利方案而列举的示例性描述,并非暗示本专利的保护范围仅仅被限制在这些个例中,本领域普通技术人员完全可以在对本专利技术方案做出充分理解的前提下,以不付出任何创造性劳动的形式,通过对本专利所列举的各个例采取组合技术特征、替换部分技术特征、加入更多技术特征等等方式,得到更多的具体实施方式,所有这些具体实施方式均在本专利权利要求书的涵盖范围之内,因此,这些新的具体实施方式也应在本专利的保护范围之内。
此外,出于简化叙述的目的,本专利也可能没有列举一些寻常的具体实施方案,这些方案是本领域普通技术人员在理解了本专利技术方案后能够自然而然想到的,显然,这些方案也应包含在本专利的保护范围之内。
出于简化叙述的目的,上述各具体实施方式对于技术细节的公开程度可能仅仅达到本领域技术人员可以自行决断的程度,即,对于上述具体实施方式没有公开的技术细节,本领域普通技术人员完全可以在不付出任何创造性劳动的情况下,在本专利技术方案的充分提示下,借助于教科书、工具书、论文、专利、音像制品等等已公开文献予以完成,或者,这些细节是在本领域普通技术人员的通常理解下,可以根据实际情况自行作出决定的内容。可见,即使不公开这些技术细节,也不会对本专利技术方案的公开充分性造成影响。
总之,在结合了本专利说明书对权利要求书保护范围的解释作用的基础上,任何落入本专利权利要求书涵盖范围的具体实施方案,均在本专利的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种位移传感器校准验证装置,其特征在于,包括校准平台、步进电机以及与被校准位移传感器的感应基准同步运动的活动端,所述校准平台上设有测量轨道和移动体,所述测量轨道上设有与所述步进电机连接并用于驱动所述移动体沿所述测量轨道运动的丝杠,所述丝杠的一端设有与所述移动体位移同步的光栅尺,所述校准平台上还设有用于固定被校准位移传感器的主体、并使被校准位移传感器的测量方向与所述测量轨道同向的固定结构,所述活动端与所述移动体固定连接。
2.根据权利要求1所述的位移传感器校准验证装置,其特征在于,所述固定结构为跨越在所述测量轨道上方的固定架。
3.根据权利要求1所述的位移传感器校准验证装置,其特征在于,用于对激光位移传感器进行校准,所述活动端为竖立在所述移动体上的反射板。
4.根据权利要求1所述的位移传感器校准验证装置,其特征在于,用于对直拉式位移传感器进行校准,所述活动端为用于带动直拉式位移传感器测量头运动的夹具。
5.根据权利要求1所述的位移传感器校准验证装置,其特征在于,所述测量轨道的两端还设有用于感应所述移动体并使所述步进电机停转的第一接近开关。
6.根据权利要求1所述的位移传感器校准验证装置,其特征在于,所述测量轨道的沿线还设有多个用于感应所述移动体并使所述步进电机暂时停转的第二接近开关。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110530302A (zh) * 2019-09-29 2019-12-03 中国计量大学 非接触式配流盘平面度检测装置及方法
CN114577120A (zh) * 2022-04-19 2022-06-03 安正计量检测有限公司 一种计量仪器设备的质量检测装置

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