CN207423669U - 一种发软检测装置 - Google Patents

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金立国
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Abstract

本实用新型提供了一种发软检测装置,所述发软检测装置包括重块,重块下方固定设有挡块,所述重块或挡块固定设有可驱动挡块下压产品的驱动机构。重块的上方设有光栅尺;挡块中部设有套筒,所述套筒底部与挡块底部平齐可测量挡块下压产品后产品的反弹数据,所述光栅尺电连接套筒并接收套筒测量得出的反弹数据。本实用新型结构简单,测量方便,大大地提高了检测效率。

Description

一种发软检测装置
技术领域
本实用新型涉及一种涉及自动检测设备,尤其是发软检测装置。
背景技术
传统发软检测装置结构过于复杂,而且无法保证每次压头接触产品时光栅尺清零,因此产品的尺寸公差对光栅尺清零影响较大,检测一致性差,精度低,合格率低。
实用新型内容
本实用新型的目的在于为了克服现有发软检测装置检测不精确、使用不方便的问题,创造性地提供一种发软检测装置。
为了实现上述目的,本实用新型提供了一种发软检测装置,所述发软检测装置包括重块,重块下方固定设有挡块,所述重块或挡块固定设有可驱动挡块下压产品的驱动机构。
重块的上方设有光栅尺;挡块中部设有套筒,所述套筒底部与挡块底部平齐可测量挡块下压产品后产品的反弹数据,所述套筒底部设有厚度为2-3mm的PP材料层,所述光栅尺电连接套筒并接收套筒测量得出的反弹数据。
对本实用新型进一步的说明,所述重块为不锈钢材料。
对本实用新型进一步的说明,所述套筒为压敏材料。
对本实用新型进一步的说明,所述驱动机构为气缸或电机。
由此可见,由于本实用新型提供了一种发软检测装置,所述发软检测装置包括重块,重块下方固定设有挡块,所述重块或挡块固定设有可驱动挡块下压产品的驱动机构。重块的上方设有光栅尺;挡块中部设有套筒,所述套筒底部与挡块底部平齐可测量挡块下压产品后产品的反弹数据,所述套筒底部设有厚度为2-3mm的PP材料层,所述光栅尺电连接套筒并接收套筒测量得出的反弹数据。本实用新型结构简单,测量方便,大大地提高了检测效率。
附图说明
图1是本实用新型的发软检测装置的结构示意图;
图2是本实用新型的套筒的局部放大图;
图3是本实用新型的PP材料层的结构图。
附图标记说明如下:
重块1、挡块2、驱动机构3、光栅尺4、套筒21、PP材料层22。
具体实施方式
为了使审查员能够进一步了解本实用新型的结构、特征及其他目的,现结合所附较佳实施例附以附图详细说明如下,本附图所说明的实施例仅用于说明本实用新型的技术方案,不限定任何形式、尺寸或者比例。
如图1、图2所示,本实用新型提供的一种发软检测装置,所述发软检测装置包括重块1,重块1下方固定设有挡块2,所述重块1或挡块2固定设有可驱动挡块2下压产品的驱动机构3。
重块1的上方设有光栅尺4;挡块中部设有套筒21,所述套筒21底部与挡块2底部平齐可测量挡块2下压产品后产品的反弹数据,所述套筒21底部设有厚度为2-3mm的PP材料层22,PP材料可以保护压敏材料和被测物体也减低下压时的震荡并且不影响测量精度,PP材料层22的靠近套筒一侧向内凹陷,增强反弹时光栅尺测量的灵敏度,可根据被测物件的不同调整PP材料层的凹陷度,所述光栅尺4电连接套筒并接收套筒21测量得出的反弹数据。
所述重块1为不锈钢材料。所述套筒21为压敏材料。所述驱动机构3为气缸或电机。
如下附图1所示,光栅尺与挡块始终处于接触状态;当外界信号传输到这个机构中,使得光栅尺,重块和套筒一起相对向下运动;由于套筒可移动,当它与产品的端面接触,在相对重块反方向力的作用下,套筒向上运动,直到产品不接触,光栅尺的位移清零;这时重块继续向下运动直到与套筒上端面接触,这时在重块重力的作用下,套筒的下端面与产品的上端面接触。当光栅尺有位移变化,判定产品发软,不合格;当光栅尺位移无变化,判定产品合格。
需要声明的是,上述实用新型内容及具体实施方式意在证明本实用新型所提供技术方案的实际应用,不应解释为对本实用新型保护范围的限定。本领域技术人员在本实用新型的精神和原理内,不可作各种修改、等同替换或改进。本实用新型的保护范围以所附权利要求书为准。

Claims (4)

1.一种发软检测装置,所述发软检测装置包括重块,重块下方固定设有挡块,所述重块或挡块固定设有可驱动挡块下压产品的驱动机构,其特征在于,
重块的上方设有光栅尺;
挡块中部设有套筒,所述套筒底部与挡块底部平齐可测量挡块下压产品后产品的反弹数据,所述套筒底部设有厚度为2-3mm的PP材料层,所述光栅尺电连接套筒并接收套筒测量得出的反弹数据。
2.如权利要求1所述的发软检测装置,其特征在于,所述重块为不锈钢材料。
3.如权利要求1所述的发软检测装置,其特征在于,所述套筒为压敏材料。
4.如权利要求1所述的发软检测装置,其特征在于,所述驱动机构为气缸或电机。
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