CN207423498U - 一种光纤阵列通光检验装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种光纤阵列通光检验装置，包括：CCD视觉光源、支架、电子显微镜和电子显示屏，光纤阵列的一端放置在CCD视觉光源的下方，光纤阵列的另一端放置在支架上，电子显微镜设置在支架的正上方，电子显微镜与电子显示屏连接。本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，通过采用CCD视觉光源给光纤阵列提供光照，能够快速地给光纤阵列通可见光，从而使得光纤阵列能够清晰成像，进而无需对光纤阵列的端面进行切纤操作，适用于任意光纤阵列的通光检验。同时，通过电子显示屏能够即时清晰地将光纤阵列的通光检验结果进行显示，方便人工对检验结果进行判定，有效提高了检验效率，确保了检验结果的准确性，并有效降低了漏检率。

Description

一种光纤阵列通光检验装置

技术领域

本实用新型涉及光通信技术领域，更具体地，涉及一种光纤阵列通光检验装置。

背景技术

根据“十三五”规划中的宽带建设规划，光通信投资成为“十三五”期间的插片盒式光分路器之一。光通信行业将会明显受益于运营商资本性支出结构性倾斜，光通信产业在“十三五”期间将有爆发性的增长。

光配线网(ODN)是基于无源光网络技术，通过光分路器为光线路终端(OLT)与光网络单元(ONU)之间提供光传输通道，光纤阵列(FA)作为平面波导型光分路器和波导阵列光栅的组成部分，出货量巨大，并且品质要求越来越高。通光检验可以大量减少纤损、无光等不良光纤阵列流入下道工序，是光纤阵列生产中必不可少的环节。

传统的光纤阵列通光检验装置采用普通LED光源通光，操作员对光速度慢，通光后成像不够清晰，且需要人工在显微镜下观察，效率低，漏检率高。

实用新型内容

本实用新型为了克服现有技术中光纤阵列通光检验装置检测效率低且漏检率高的问题，提供一种光纤阵列通光检验装置。

一方面，本实用新型提供一种光纤阵列通光检验装置，包括：CCD视觉光源、支架、电子显微镜和电子显示屏，光纤阵列的一端放置在所述CCD视觉光源的下方，所述光纤阵列的另一端放置在所述支架上，所述电子显微镜设置在所述支架的正上方，所述电子显微镜与所述电子显示屏连接。

优选地，所述CCD视觉光源的光照方向能够根据所述光纤阵列进行调节。

优选地，所述支架包括第一本体，所述第一本体竖直设置，所述第一本体的顶部与第二本体连接，所述第二本体水平设置，所述第二本体的端面上设置有与所述端面垂直连接的挡块。

优选地，所述第一本体的底部固定在滑块上，所述滑块设置在滑轨上。

优选地，所述电子显微镜的镜头为CCD镜头。

优选地，所述光纤阵列的端部呈长方体状。

本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，通过采用CCD视觉光源给光纤阵列提供光照，能够快速地给光纤阵列通可见光，从而使得光纤阵列能够清晰成像，进而无需对光纤阵列的端面进行切纤操作。同时通过可调节的支架对光纤阵列进行定位，可有效调节光纤阵列与电子显微镜的相对位置，使得电子显微镜依次采集光纤阵列的各个通道的通光检验结果，从而能够将光纤阵列的通光检验结果依次显示在电子显示屏上，适用于任意光纤阵列的通光检验。此外，通过电子显示屏能够即时清晰地将光纤阵列的通光检验结果进行显示，方便人工对检验结果进行判定，有效提高了检验效率，确保了检验结果的准确性，并有效降低了漏检率。

附图说明

图1为本实用新型的一种光纤阵列通光检验装置的整体结构示意图；

图2为本实用新型的一种光纤阵列通光检验装置的支架的结构示意图；

附图标记说明：

1：CCD视觉光源；2：支架；3：电子显微镜；4：电子显示屏；

5：光纤阵列；20：第一本体；21：第二本体；22：挡块；

23：定位孔。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

图1为本实用新型的一种光纤阵列通光检验装置的整体结构示意图，如图1所示，本实用新型提供一种光纤阵列通光检验装置，包括：CCD视觉光源1、支架2、电子显微镜3和电子显示屏4，光纤阵列5的一端放置在所述CCD视觉光源1的下方，所述光纤阵列5的另一端放置在所述支架2上，所述电子显微镜3设置在所述支架2的正上方，所述电子显微镜3与所述电子显示屏4连接。

具体地，光纤阵列(Fiber Array,FA)是利用V形槽把一条光纤、一束光纤或一条光纤带安装在阵列基片上。光纤阵列是除去光纤涂层的裸露光纤部分被置于该V形槽中，被加压器部件所加压并由粘合剂所粘合。在前端部，该光纤被精确定位，以连接到PLC上。不同光纤的接合部被安装在阵列基片上。光纤阵列主要用来直接传送图像。众多光纤按一定的顺序将端面排列成需要的几何形状，组成光纤阵列，阵列两端的光纤排列位置一一对应，阵列中一条光纤相当于一个像素，在光纤阵列一端的光图像就会在阵列的另一端重现。

基于上述原理，本实施例中，为了检测光纤阵列在生产过程中可能存在的无光和纤损等不良，提供一种光纤阵列通光检验装置。在实际进行通光检验时中，如图1所示，光纤阵列5的一端放置在CCD视觉光源1处的下方，光纤阵列5的另一端放置在支架2上。相较于普通的LED光源，CCD视觉光源1提供的光线全面散射，能够快速地给光纤阵列通可见光，从而使得光纤阵列能够清晰成像。在CCD视觉光源1的光照下，光纤阵列5放置在CCD视觉光源1处的一端的图像就会在放置在支架2上的另一端显示，支架2上的正上方设置有电子显微镜3，从而通过电子显微镜3采集通光形成的图像，即为光纤阵列5的通光检验结果。

进一步地，鉴于电子显微镜3的聚焦范围一般在2～3mm，因此不便于人眼在电子显微镜3下对通光检验结果进行观察。为了便于人眼对通光检验结果进行观察，本实施例中，电子显微镜3和电子显示屏4连接，并通过电子显示屏4将通光检验结果进行显示，以便于人工对通光检验结果进行判定。

进一步地，光纤阵列5包括多个光纤通道，对应地，电子显示屏4上显示的通光形成的图像为多个光斑，且光斑的数量与所检验的光纤阵列5包含的光纤通道的数量相同。通过观察电子显示屏4上显示的光斑的连续性和清晰度，则可检验出光纤阵列5是否存在无光和纤损等不良。

本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，通过采用CCD视觉光源给光纤阵列提供光照，能够快速地给光纤阵列通可见光，从而使得光纤阵列能够清晰成像，进而无需对光纤阵列的端面进行切纤操作，适用于任意光纤阵列的通光检验。同时，通过电子显示屏能够即时清晰地将光纤阵列的通光检验结果进行显示，方便人工对检验结果进行判定，有效提高了检验效率，确保了检验结果的准确性，并有效降低了漏检率。

基于上述任一实施例，提供一种光纤阵列通光检验装置，所述CCD视觉光源的光照方向能够根据所述光纤阵列进行调节。

具体地，本实施例中，CCD视觉光源的光照方向是可以调节的，在实际应用中，由于待检验的光纤阵列的规格不尽相同，从而光纤阵列的长度也不尽相同。当对不同长度的光纤阵列进行检验时，可以手动对CCD视觉光源的光照方向进行调节，以使得光纤阵列充分接收CCD视觉光源提供的光照。

本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，CCD视觉光源的光照方向能够根据光纤阵列进行调节，从而使得光纤阵列充分接收CCD视觉光源提供的光照，进而使得检验结果能够清晰成像，进一步提高了检验结果的准确率。

图2为本实用新型的一种光纤阵列通光检验装置的支架的结构示意图，如图2所示，基于上述任一实施例，提供一种光纤阵列通光检验装置，所述支架包括第一本体20，所述第一本体20竖直设置，所述第一本体20的顶部与第二本体21连接，所述第二本体21水平设置，所述第二本体21的端面上设置有与所述端面垂直连接的挡块22。

具体地，鉴于光纤阵列的通光检验结果是通过电子显微镜进行采集的，为了更好地将光纤阵列放置在电子显微镜的可视范围内，故而通过支架对光纤阵列进行定位。如图2所示，本实施例中，支架包括第一本体20，第一本体20竖直设置，且第一本体20呈长方体状；第一本体20的顶部与第二本体21连接，第二本体21水平设置，且第二本体21呈长方体状，由此，第一本体20和第二本体21组成倒立的L形状。第二本体21的端面为长方形平面，且端面上设置有与其垂直的挡块22，挡块22呈长方体状，由此，第二本体21和挡块22的连接处呈直角状。在实际应用中，将待检验的光纤阵列放置在第二本体21和挡块22的连接处，并将电子显微镜设置在第二本体21和挡块22的连接处的正上方。

在其他实施例中，第一本体和第二本体的形状以及挡块的形状可以根据实际需要进行设置，此处不做具体限定。

本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，通过支架本体和挡块对光纤阵列进行定位，有利于显微镜对光纤阵列的通光检验结果进行采集，进而有利于确保检验结果的准确性。

基于上述任一实施例，提供一种光纤阵列通光检验装置，所述第一本体的底部固定在滑块上，所述滑块设置在滑轨上。

具体地，由于待检验的光纤阵列的规格多样，包括4通道光纤阵列、8通道光纤阵列、16通道光纤阵列、32通道光纤阵列和64通道光纤阵列。光纤阵列的通道数量与显示在电子显示屏上显示的光斑数量相同，而电子显示屏一般最多仅能够显示8个光斑，当待检验的光纤阵列的通道数量大于8时，该光纤阵列的通光检验的结果不能一次性完全显示在电子显示屏上，因此，需要动态调节光纤阵列与电子显微镜的相对位置，使得电子显微镜能够依次采集光纤阵列的各个通道的通光检验结果，进而使得光纤阵列各个通道的通光检验结果依次显示在电子显示屏上。

有鉴于此，本实施例中，支架的位置为动态可调，如图2所示，第一本体20的底部设置定位孔23，通过定位孔23将支架固定在滑块上，滑块设置在滑轨上，以使得支架能够在滑轨上移动，进而有效调节放置在支架上的光纤阵列与电子显微镜的相对位置，使得电子显微镜依次采集光纤阵列的各个通道的通光检验结果，从而能够将光纤阵列的通光检验结果依次显示在电子显示屏上。

本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，通过将支架固定在滑块上，并将滑块设置在滑轨上，使得支架能够在滑轨上移动，有利于调节放置在支架上的光纤阵列与电子显微镜的相对位置，使得电子显微镜能够依次采集光纤阵列的各个通道的通光检验结果，从而能够将光纤阵列的通光检验结果依次显示在电子显示屏上，适用于任意光纤阵列的通光检验，实用性强。

基于上述任一实施例，提供一种光纤阵列通光检验装置，所述电子显微镜的镜头为CCD镜头。

具体地，为了能够清晰地采集光纤阵列的通光检验结果，本实施例中采用的电子显微镜的镜头为CCD镜头，CCD由许多感光单位组成，通常以百万像素为单位，CCD上感光组件的表面具有储存电荷的能力，并以矩阵的方式排列。当CCD表面感受到光线时，会将电荷反应在组件上，整个CCD上的所有感光组件所产生的信号，就构成了一个完整的画面。

此外，电子显微镜可以根据实际需求设置为移动式或固定式，此处不做具体限定。

本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，采用CCD镜头的电子显微镜对光纤阵列的通光检验结果进行采集，确保能够清晰地采集通光检验结果，进而确保了通光检验结果的准确性。

基于上述任一实施例，提供一种光纤阵列通光检验装置，所述光纤阵列的端部呈长方体状。

具体地，众多光纤按一定的顺序将端面排列成需要的几何形状，组成光纤阵列。本实施例中，光纤阵列的端部呈长方体状，在实际进行通光检验时，通过人工用手指按压光纤阵列端部的上表面，使下表面和第一本体的端面贴紧，光纤阵列端部的侧面和挡块贴紧，即可完成对光纤阵列的定位。

进一步地，光纤阵列端部的材料为玻璃，此外，光纤阵列端部的形状和材料可以根据实际需求进行设置，此处不做具体限定。

本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，光纤阵列的端部呈长方体状，从而使得光纤阵列能够更好地与支架配合，实现对光纤阵列的精准定位，确保光纤阵列在电子显微镜的聚焦范围内，进而确保了光纤阵列通光检验结果的准确性。

综上所述，本实用新型提供的一种光纤阵列通光检验装置，通过采用CCD视觉光源给光纤阵列提供光照，能够快速地给光纤阵列通可见光，从而使得光纤阵列能够清晰成像，进而无需对光纤阵列的端面进行切纤操作。同时通过可调节的支架对光纤阵列进行定位，可有效调节光纤阵列与电子显微镜的相对位置，使得电子显微镜依次采集光纤阵列的各个通道的通光检验结果，从而能够将光纤阵列的通光检验结果依次显示在电子显示屏上，适用于任意光纤阵列的通光检验。此外，通过电子显示屏能够即时清晰地将光纤阵列的通光检验结果进行显示，方便人工对检验结果进行判定，有效提高了检验效率，确保了检验结果的准确性，并有效降低了漏检率。

最后，本申请的方法仅为较佳的实施方案，并非用于限定本实用新型的保护范围。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种光纤阵列通光检验装置，其特征在于，包括：CCD视觉光源、支架、电子显微镜和电子显示屏，光纤阵列的一端放置在所述CCD视觉光源的下方，所述光纤阵列的另一端放置在所述支架上，所述电子显微镜设置在所述支架的正上方，所述电子显微镜与所述电子显示屏连接。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述CCD视觉光源的光照方向能够根据所述光纤阵列进行调节。

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述支架包括第一本体，所述第一本体竖直设置，所述第一本体的顶部与第二本体连接，所述第二本体水平设置，所述第二本体的端面上设置有与所述端面垂直连接的挡块。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述第一本体的底部固定在滑块上，所述滑块设置在滑轨上。

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述电子显微镜的镜头为CCD镜头。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光纤阵列的端部呈长方体状。