CN207281184U - 一种天线参数测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种天线参数测试系统,其特征在于:它包括测试天线、接口模块、耦合模块、参数测试模块、无源交调测试模块和天线参数处理终端;所述的测试天线的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的接口模块的输出端与所述耦合模块和所述天线参数处理终端的输入端连接;所述的耦合模块的输出端与所述无源交调测试的输入端连接;所述的耦合模块的耦合端与所述参数测试模块的输入端连接;所述的参数测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的无源交调测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接。
Description
技术领域
本实用新型涉及天线测试技术领域,尤其涉及一种天线参数测试系统。
背景技术
天线是一种变换器,它把传输线上传播的导行波,变换成在无界媒介(通常是自由空间)中传播的电磁波,或者进行相反的变换。在无线电设备中用来发射或接收电磁波的部件。无线电通信、广播、电视、雷达、导航、电子对抗、遥感、射电天文等工程系统,凡是利用电磁波来传递信息的,都依靠天线来进行工作。此外,在用电磁波传送能量方面,非信号的能量辐射也需要天线。
无源交调参数、驻波比、隔离度、增益以及天线的频率范围都是天线的重要指标,天线参数测试一般都需要对这几个指标进行测试。其中,用于测量无源交调性能参数的交调测试需要向天线输入大功率信号,驻波比和隔离度等测试需要向天线输入小功率信号。
而传统的测试因为各个参数之间信号的干扰导致最后测试结果出现偏差,而影响了对天线参数结果的判断;因此如何高效准确的测试天线参数是需要解决的问题。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供一种天线参数测试系统,解决了目前天线参数测试结果出现偏差的问题。
本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:一种天线参数测试系统,它包括测试天线、接口模块、耦合模块、参数测试模块、无源交调测试模块和天线参数处理终端;所述的测试天线的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的接口模块的输出端与所述耦合模块和所述天线参数处理终端的输入端连接;所述的耦合模块的输出端与所述无源交调测试的输入端连接;所述的耦合模块的耦合端与所述参数测试模块的输入端连接;所述的参数测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的无源交调测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接。
所述的接口模块包括第一接口、第二接口和第三接口;所述的测试天线的输出端与所述第一接口的输入端连接;所述的第一接口的输出端与所述第二接口的输入端连接;所述的第二接口的输出端与所述耦合模块的输入端连接;所述的参数测试模块的输出端与所述第三接口的输入端连接;所述的无源交调测试模块的输出端与所述第三接口的输入端连接;所述的第三接口的输出端与所述天线参数处理终端的输入端连接。
所述的耦合模块包括第一耦合单元、第二耦合单元和第三耦合单元;所述的第二接口的输出端与所述第一耦合单元的输入端连接;所述的第一耦合单元的输出端与所述第二耦合单元的输入端连接;所述的第二耦合单元的输出端与所述第三耦合单元的输入端连接;所述的第二耦合单元的耦合端与所述参数测试模块的输入端连接;所述的第三耦合单元的输出端与所述第一耦合单元的输入端连接;所述的第三耦合单元的耦合端与所述无源交调测试模块的输入端连接。
所述的参数测试模块包括增益测试单元、隔离度测试单元、驻波比测试单元和频率测试单元;所述的第二耦合单元的耦合端与所述增益测试单元、所述隔离度测试单元、所述驻波比测试单元和所述频率测试单元的输入端连接;所述的增益测试单元、隔离度测试单元、驻波比测试单元和频率测试单元的输出端与所述第三接口的输入端连接。
所述的第二耦合单元包括四个串联的耦合器;第一耦合器的耦合端与所述增益测试单元的输入端连接;第二耦合器的耦合端与所述隔离度测试单元的输入端连接;第三耦合器的耦合端与所述驻波比测试单元的输入端连接;第四耦合器的耦合端与所述频率测试单元的输入端连接。
所述的第一接口为AISG接口;所述的第一接口通过AISG电接收器与所述第二接口连接。
所述的第二接口和第三接口为PIN接口。
本实用新型的有益效果是:一种天线参数测试系统,通过多级耦合器耦合隔离对各个天线参数的耦合测试,有效防止了信号之间的干扰保证了天线参数测试的精度且测试效率高,能够对天线的各种参数进行采集测试,在产品出厂前保证产品质量以及产品寿命。
附图说明
图1为系统的结构图;
图2为第二耦合单元的结构图。
具体实施方式
下面结合附图进一步详细描述本实用新型的技术方案,但本实用新型的保护范围不局限于以下所述。
如图1所示,一种天线参数测试系统,它包括测试天线、接口模块、耦合模块、参数测试模块、无源交调测试模块和天线参数处理终端;所述的测试天线的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的接口模块的输出端与所述耦合模块和所述天线参数处理终端的输入端连接;所述的耦合模块的输出端与所述无源交调测试的输入端连接;所述的耦合模块的耦合端与所述参数测试模块的输入端连接;所述的参数测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的无源交调测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接。
所述的接口模块包括第一接口、第二接口和第三接口;所述的测试天线的输出端与所述第一接口的输入端连接;所述的第一接口的输出端与所述第二接口的输入端连接;所述的第二接口的输出端与所述耦合模块的输入端连接;所述的参数测试模块的输出端与所述第三接口的输入端连接;所述的无源交调测试模块的输出端与所述第三接口的输入端连接;所述的第三接口的输出端与所述天线参数处理终端的输入端连接。
所述的耦合模块包括第一耦合单元、第二耦合单元和第三耦合单元;所述的第二接口的输出端与所述第一耦合单元的输入端连接;所述的第一耦合单元的输出端与所述第二耦合单元的输入端连接;所述的第二耦合单元的输出端与所述第三耦合单元的输入端连接;所述的第二耦合单元的耦合端与所述参数测试模块的输入端连接;所述的第三耦合单元的输出端与所述第一耦合单元的输入端连接;所述的第三耦合单元的耦合端与所述无源交调测试模块的输入端连接。
所述的参数测试模块包括增益测试单元、隔离度测试单元、驻波比测试单元和频率测试单元;所述的第二耦合单元的耦合端与所述增益测试单元、所述隔离度测试单元、所述驻波比测试单元和所述频率测试单元的输入端连接;所述的增益测试单元、隔离度测试单元、驻波比测试单元和频率测试单元的输出端与所述第三接口的输入端连接。
如图2所示,所述的第二耦合单元包括四个串联的耦合器;第一耦合器的耦合端与所述增益测试单元的输入端连接;第二耦合器的耦合端与所述隔离度测试单元的输入端连接;所述的第三耦合器的耦合端与所述驻波比测试单元的输入端连接;所述的第四耦合器的耦合端与所述频率测试单元的输入端连接。
所述的第一接口为AISG接口;所述的第一接口通过AISG电接收器与所述第二接口连接。
所述的第二接口和第三接口为PIN接口。
优选地,第一、第二、第三和第四耦合器记忆第一耦合单元、第三耦合单元均为定向耦合器;驻波比测试单元和隔离度测试单元的测试设备为矢量网络分析仪,频率测试单元的测试设备为频谱仪;测试天线通过AISG接口和PIN接口将参数信号输入到第一耦合单元;然后信号通过四个串联的定向耦合器对增益测试单元、隔离度测试单元、驻波比测试单元和频率测试单元的信号分别进行耦合;通过第三耦合单元与无源交调测试模块耦合连接;三个耦合单元之间为环形串联,能够对各个参数的信号进行多次耦合防止信号之间的干扰;最后通过第三接口将各个参数传递到天线参数处理终端进行分析、处理以及保存等。
以上所述仅是本实用新型的优选实施方式,应当理解本实用新型并非局限于本文所披露的形式,不应看作是对其他实施例的排除,而可用于各种其他组合、修改和环境,并能够在本文所述构想范围内,通过上述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本实用新型的精神和范围,则都应在本实用新型所附权利要求的保护范围内。
Claims (7)
1.一种天线参数测试系统,其特征在于:它包括测试天线、接口模块、耦合模块、参数测试模块、无源交调测试模块和天线参数处理终端;所述的测试天线的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的接口模块的输出端与所述耦合模块和所述天线参数处理终端的输入端连接;所述的耦合模块的输出端与所述无源交调测试的输入端连接;所述的耦合模块的耦合端与所述参数测试模块的输入端连接;所述的参数测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接;所述的无源交调测试模块的输出端与所述接口模块的输入端连接。
2.根据权利要求1所述的一种天线参数测试系统,其特征在于:所述的接口模块包括第一接口、第二接口和第三接口;所述的测试天线的输出端与所述第一接口的输入端连接;所述的第一接口的输出端与所述第二接口的输入端连接;所述的第二接口的输出端与所述耦合模块的输入端连接;所述的参数测试模块的输出端与所述第三接口的输入端连接;所述的无源交调测试模块的输出端与所述第三接口的输入端连接;所述的第三接口的输出端与所述天线参数处理终端的输入端连接。
3.根据权利要求2所述的一种天线参数测试系统,其特征在于:所述的耦合模块包括第一耦合单元、第二耦合单元和第三耦合单元;所述的第二接口的输出端与所述第一耦合单元的输入端连接;所述的第一耦合单元的输出端与所述第二耦合单元的输入端连接;所述的第二耦合单元的输出端与所述第三耦合单元的输入端连接;所述的第二耦合单元的耦合端与所述参数测试模块的输入端连接;所述的第三耦合单元的输出端与所述第一耦合单元的输入端连接;所述的第三耦合单元的耦合端与所述无源交调测试模块的输入端连接。
4.根据权利要求3所述的一种天线参数测试系统,其特征在于:所述的参数测试模块包括增益测试单元、隔离度测试单元、驻波比测试单元和频率测试单元;所述的第二耦合单元的耦合端与所述增益测试单元、所述隔离度测试单元、所述驻波比测试单元和所述频率测试单元的输入端连接;所述的增益测试单元、隔离度测试单元、驻波比测试单元和频率测试单元的输出端与所述第三接口的输入端连接。
5.根据权利要求4所述的一种天线参数测试系统,其特征在于:所述的第二耦合单元包括四个串联的耦合器;第一耦合器的耦合端与所述增益测试单元的输入端连接;第二耦合器的耦合端与所述隔离度测试单元的输入端连接;第三耦合器的耦合端与所述驻波比测试单元的输入端连接;第四耦合器的耦合端与所述频率测试单元的输入端连接。
6.根据权利要求2所述的一种天线参数测试系统,其特征在于:所述的第一接口为AISG接口;所述的第一接口通过AISG电接收器与所述第二接口连接。
7.根据权利要求2所述的一种天线参数测试系统,其特征在于:所述的第二接口和第三接口为PIN接口。
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