CN207248942U - 一种新型测试探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种新型测试探针，包括管套、第一凸块和第二固定块，所述管套的上方安装有连接头，且连接头的一侧安装有固定螺栓，所述管套内部设置有弹簧，且弹簧内部镶嵌有连接轴，所述弹簧的下方设置有第一固定块，且第一固定块中镶嵌有连接轴，所述针头的表面设置有第二凸块，且针头的顶端设置有连接槽，所述第二固定块内部镶嵌有针头，所述管头上方设置有卡子，所述连接头的底部设置有连接孔，且连接头的顶部设置有接线孔。该新型测试探针，便于摘去和安装弹簧，使该装置更加便于使用，另外固定套与管套之间为螺纹连接，且固定套的内部镶嵌有管头，并且管头与管套连接处的卡子为弧形结构，便于对针头进行更换安装。

Description

一种新型测试探针

技术领域

本实用新型涉及电子设备技术领域，具体为一种新型测试探针。

背景技术

随着科学技术的发展，电子设备也在不断的更新改进，电子原件检测的过程中经常使探针与电子原件进行接触，以探针作为媒介进行电信号的交流，探针是电测试的接触媒介，探针为高端精密型电子五金元器件，但是市场上的探针大多不便于使用和安装，降低了检测的效率，并且在进行更换针头的过程中较为麻烦，因此需要在现有设备的基础上进行改进，来适应市场的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种新型测试探针，以解决上述背景技术中提出的探针大多不便于使用和安装，降低了检测的效率，以及在进行更换针头的过程中较为麻烦的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案:一种新型测试探针，包括管套、第一凸块和第二固定块，所述管套的上方安装有连接头，且连接头的一侧安装有固定螺栓，所述管套内部设置有弹簧，且弹簧内部镶嵌有连接轴，所述弹簧的下方设置有第一固定块，且第一固定块中镶嵌有连接轴，所述第一凸块设置于连接轴的表面，所述管套底部安装有固定套，且固定套的内部安装有管头，所述管头的底部设置有堵头，所述堵头与管头的内部安装有针头，所述针头的表面设置有第二凸块，且针头的顶端设置有连接槽，所述第二固定块内部镶嵌有针头，所述管头上方设置有卡子，所述连接头的底部设置有连接孔，且连接头的顶部设置有接线孔。

优选的，所述管套与连接头之间为螺纹连接，且连接头与连接轴之间构成滑动连接。

优选的，所述第一固定块的直径大小与管套的内径大小相等，且第一固定块与管套之间为活动连接。

优选的，所述固定套与管套之间为螺纹连接，且固定套的内部镶嵌有管头，并且管头与管套连接处的卡子为弧形结构。

优选的，所述针头上方的连接槽为锥形结构，且连接槽的外形尺寸与连接轴底部的外形尺寸相吻合。

优选的，所述接线孔设置于连接头的上方中心，且接线孔与固定螺栓之间相贯通。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该新型测试探针设置有连接头，通过旋转摘去连接头，便于摘去和安装弹簧，使该装置更加便于使用，另外固定套与管套之间为螺纹连接，且固定套的内部镶嵌有管头，并且管头与管套连接处的卡子为弧形结构，便于对针头进行更换安装，因此该设备更加符合市场的需求。

附图说明

图1为本实用新型主视剖面结构示意图；

图2为本实用新型管头剖面结构示意图；

图3为本实用新型连接头结构示意图。

图中：1、管套，2、连接头，3、固定螺栓，4、弹簧，5、连接轴，6、第一固定块，7、第一凸块，8、固定套，9、管头，10、堵头，11、针头，12、第二凸块，13、连接槽，14、第二固定块，15、卡子，16、连接孔，17、接线孔。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-3，本实用新型提供一种技术方案：一种新型测试探针，包括管套1、连接头2、固定螺栓3、弹簧4、连接轴5、第一固定块6、第一凸块7、固定套8、管头9、堵头10、针头11、第二凸块12、连接槽13、第二固定块14、卡子15、连接孔16和接线孔17，管套1的上方安装有连接头2，且连接头2的一侧安装有固定螺栓3，管套1与连接头2之间为螺纹连接，且连接头2与连接轴5之间构成滑动连接，便于连接轴5在连接头2上滑动，管套1内部设置有弹簧4，且弹簧4内部镶嵌有连接轴5，弹簧4的下方设置有第一固定块6，且第一固定块6中镶嵌有连接轴5，第一固定块6的直径大小与管套1的内径大小相等，且第一固定块6与管套1之间为活动连接，便于第一固定块6在管套1内部滑动，第一凸块7设置于连接轴5的表面，管套1底部安装有固定套8，且固定套8的内部安装有管头9，固定套8与管套1之间为螺纹连接，且固定套8的内部镶嵌有管头9，并且管头9与管套1连接处的卡子15为弧形结构，便于对针头11进行更换安装，管头9的底部设置有堵头10，堵头10与管头9的内部安装有针头11，针头11上方的连接槽13为锥形结构，且连接槽13的外形尺寸与连接轴5底部的外形尺寸相吻合，有利于针头11与连接轴5相互接触，针头11的表面设置有第二凸块12，且针头11的顶端设置有连接槽13，第二固定块14内部镶嵌有针头11，管头9上方设置有卡子15，连接头2的底部设置有连接孔16，且连接头2的顶部设置有接线孔17，接线孔17设置于连接头2的上方中心，且接线孔17与固定螺栓3之间相贯通，便于将接线孔17内部的导线固定。

工作原理：在使用该新型测试探针时，首先将新型测试探针的接线孔17上插入导线，然后旋转接线孔17，将导线固定在连接头2上，接着将固定套8旋转取下，然后在管头9内部安装上对应的针头11，之后再次将固定套8安装在管套1上，此时针头11上方的连接槽13内镶嵌有连接轴5，完成探针的组装，接着当针头11与电子元件接触的时候，针头11开始向管头9内部收缩，同时针头11带动连接轴5滑动，连接轴5将弹簧4进行挤压，电信号依次经过针头11、连接轴5和连接头2传递到导线上，这就是用于此新型测试探针的工作原理。

尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种新型测试探针，包括管套(1)、第一凸块(7)和第二固定块(14)，其特征在于：所述管套(1)的上方安装有连接头(2)，且连接头(2)的一侧安装有固定螺栓(3)，所述管套(1)内部设置有弹簧(4)，且弹簧(4)内部镶嵌有连接轴(5)，所述弹簧(4)的下方设置有第一固定块(6)，且第一固定块(6)中镶嵌有连接轴(5)，所述第一凸块(7)设置于连接轴(5)的表面，所述管套(1)底部安装有固定套(8)，且固定套(8)的内部安装有管头(9)，所述管头(9)的底部设置有堵头(10)，所述堵头(10)与管头(9)的内部安装有针头(11)，所述针头(11)的表面设置有第二凸块(12)，且针头(11)的顶端设置有连接槽(13)，所述第二固定块(14)内部镶嵌有针头(11)，所述管头(9)上方设置有卡子(15)，所述连接头(2)的底部设置有连接孔(16)，且连接头(2)的顶部设置有接线孔(17)。

2.根据权利要求1所述的一种新型测试探针，其特征在于：所述管套(1)与连接头(2)之间为螺纹连接，且连接头(2)与连接轴(5)之间构成滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种新型测试探针，其特征在于：所述第一固定块(6)的直径大小与管套(1)的内径大小相等，且第一固定块(6)与管套(1)之间为活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种新型测试探针，其特征在于：所述固定套(8)与管套(1)之间为螺纹连接，且固定套(8)的内部镶嵌有管头(9)，并且管头(9)与管套(1)连接处的卡子(15)为弧形结构。

5.根据权利要求1所述的一种新型测试探针，其特征在于：所述针头(11)上方的连接槽(13)为锥形结构，且连接槽(13)的外形尺寸与连接轴(5)底部的外形尺寸相吻合。

6.根据权利要求1所述的一种新型测试探针，其特征在于：所述接线孔(17)设置于连接头(2)的上方中心，且接线孔(17)与固定螺栓(3)之间相贯通。