CN207215910U - 高功率射频测试切换装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种高功率射频测试切换装置，主要结构包括一数字逻辑电路基板、至少一设于该数字逻辑电路基板上的切换装置、至少一活动设置于该切换装置内的切换开关、复数设于该数字逻辑电路基板一侧且与该切换装置电性连接并供输入高功率讯号的讯号输入部、及至少一设于该数字逻辑电路基板一侧且与该切换装置电性连接的讯号输出部。藉上述结构，利用切换装置取代机构式IC，达到缩小体积，同时利用机械式的切换开关，改善固态式IC易受高功率谐波干扰的问题，并配合数字逻辑电路基板的整合动作，提升操作便利性及维修效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种高功率射频测试切换装置，尤指一种结构简单、体积较小、成本较低、操作方便且故障排除效率较高的高功率射频测试切换装置。
背景技术
按，科技的普及改变了人们的生活方式，对于行动通讯的质量要求，也不断的增加，为达到较高质量的行动通讯质量，除了要有良好的通讯系统设计外，天线与射频组件的设计也成为极重要的一环。另外频率样本的测试也是相当重要的一环，因为除了需检视射频组件的带宽，也需检视辐射能量是否达到标准，故射频组件的操作质量乃是最重要的一环。
而在进行高功率射频测试时，势必会产生电力谐波(Harmonic)，而谐波会使电能的生产、传输及利用等效率降低，并使电气设备过热、产生振动和噪声，尤其在高频条件下，电力系统会局部并联谐振或串联谐振，而使谐波含量放大，造成电容器等设备烧毁，甚至对电力系统外部、通信设备或电子设备会产生严重干扰，如引起继电保护和自动装置误动作。
请参阅图1所示，系为习知机构式切换器的立体图，目前的高功率射频测试系统，仍会因为测试系统本身的谐波表现直接影响测试结果，而业界的处理方式大多以传统的机构式切换器9(如Keysight 8762B)或固态式切换器(Solid State Switch)，达到测试条件较佳的要求。然而，该机构式切换器9本身体积尺寸较大，且其RF接头91位置固定无法调整，因此在整合系统上比较不方便；而固态式切换器，本身系由电子电路所构成，仍然有极大的可能受到谐波的影响，因此对于解决此问题的帮助较小。
如何解决上述习用的问题与缺失，即为本实用新型之申请人与从事此行业之相关厂商所亟欲研究改善的方向。
实用新型内容
故，本实用新型的申请人有鉴于上述缺失，乃搜集相关资料，经由多方评估及考虑，并以从事于此行业累积之多年经验，经由不断试作及修改，始设计出此种结构简单、体积较小、成本较低、操作方便且故障排除效率较高的高功率射频测试切换装置。
本实用新型的主要目的在于：以机械式切换装置执行高功率的射频测试，有效排除谐波的影响，并减少结构体积的空间需求。
本实用新型的另一主要目的在于：由数字逻辑电路基板整合各切换装置，弥补切换装置无TTL控制的缺憾，进而减少数字控制位、优化整体设计。
为达上述目的，本实用新型的结构包括：一数字逻辑电路基板，于该数字逻辑电路基板上设有至少一切换装置，而该切换装置内活动设置有至少一切换开关，且该数字逻辑电路基板一侧设有复数与该切换装置电性连接的讯号输入部、及至少一与该切换装置电性连接的讯号输出部，其中该讯号输入部系供输入高功率讯号。
俾当使用者利用本实用新型进行高功率射频测试时，因切换装置的动作主要以机械式的切换开关达成，故在高频环境下作业，可将谐波问题的影响降至最低，且该切换装置之体积小、成本低、可简单的焊接于数字逻辑电路基板上，再利用数字逻辑电路基板上的外部数字讯号(Transistor Transistor Logic，TTL)进行整合，减少控制组件的使用，进而降低成本、提升操作与维修之便利性。
藉由上述技术，可针对习用高功率射频测试系统所存在的以机构式IC测试有体积大、成本高的问题，而以固态式IC测试则有谐波干扰影响较大的问题点加以突破，达到上述优点的实用进步性。
附图说明
图1为习知机构式切换器的立体图。
图2为本实用新型较佳实施例的立体图。
图3为本实用新型较佳实施例的电路结构方块图。
图4为本实用新型较佳实施例的动作示意图。
图5为本实用新型较佳实施例的使用状态图。
其中：数字逻辑电路基板、1，电压输入部、11，逻辑控制器、12，晶体管、121，电阻组件、122，二极管、123，切换装置、2，切换开关、21，焊接部、22，讯号输入部、31，讯号输出部、32，射频测试机、4，电路板、41，端口、42，机构式切换器、9，RF接头、91。
具体实施方式
为达成上述目的及功效，本实用新型所采用的技术手段及构造，兹绘图就本实用新型较佳实施例详加说明其特征与功能如下，俾利完全了解。
请参阅图2和图3所示，由图中可清楚看出本实用新型系包括：
一数字逻辑电路基板1，该数字逻辑电路基板1系包含至少一逻辑控制器12，系供控制下述电压输入部11的电压，且该逻辑控制器12系包含至少一晶体管121、至少一设于该晶体管121一侧之电阻组件122、及至少一设于该晶体管121另一侧的二极管123；
至少一设于该数字逻辑电路基板1上之切换装置2，该切换装置2系包含至少一焊接部22，系透过表面黏贴技术(Surface-mount technology，SMT)连接该数字逻辑电路基板1；
至少一活动设置于该切换装置2内的切换开关21；
复数设于该数字逻辑电路基板1一侧且与该切换装置2电性连接的讯号输入部31，系供输入高功率讯号；
至少一设于该数字逻辑电路基板1一侧且与该切换装置2电性连接的讯号输出部32，其中该些讯号输入部31及该讯号输出部32系为射频端口(Radio FrequencyConnector)，并以硬式连接(Hard Docking)连结于一射频测试机；及
一设于该数字逻辑电路基板1一侧的电压输入部11，系供连接各该讯号输入部31及该讯号输出部32。
藉由上述的说明，已可了解本技术的结构，而依据这个结构的对应配合，更可达到结构简单、体积较小、成本较低、操作方便及故障排除效率较高等优势，而详细的解说将于下述说明。
请同时配合参阅图2至图5所示，藉由上述构件组构时，可由图中清楚看出，本实用新型主要将体积小、成本低的切换装置2(本实施例以三颗机械式ICR596搭配三进二出之讯号输入部31与讯号输出部32为代表，但不以此为限，例如以单颗切换装置2搭配二进一出的讯号输入部31与讯号输出部32亦可)设置于数字逻辑电路基板1上，并利用数字逻辑电路基板1上的逻辑控制器12(Transistor Transistor Logic，TTL)进行整合控制，以降低高功率测试时的谐波影响，同时增加操作与维修的便利性。
实际使用时，因切换装置2内具有切换开关21(本实施例以簧片做说明)为标准的机械式IC，而机械式IC在高功率测试条件下，不会产生谐波问题，也不会产生非线性的失真，故相较于固态式切换器(Solid State Switch)，可有效排除谐波问题的影响。
然而该切换装置2本身不支持数字讯号控制，一般而言每个切换装置2需配合两组外部电源才得以驱动，但此做法需要耗费大量成本于电源供应器上，故本实用新型系利用逻辑控制器12连接各切换装置2的讯号输入部31与讯号输出部32，以晶体管121、电阻组件122与二极管123的电路设计，让用户可以简单的用0或1的讯号对切换装置2进行控制，也藉由逻辑控制器12的配置，让本实用新型只需要使用单一电压输入部11(外部电源)，即可自由开关各切换装置2。且以该切换装置2取代机构式切换器(如Keysight 8762B)，不但体积相对缩小了30％、成本也大约少了15％，且本实用新型为了整合方便，将射频端口(RadioFrequency Connector)，即本实用新型之讯号输入部31与讯号输出部32，设计成可直接采用硬式连接(Hard Docking)的方式连接射频测试机4上(将讯号输入部31与讯号输出部32的位置对应其内部电路板41的端口42，直接公母对接)，以节省人员在设置上的时间。
此外，为了让切换装置2与逻辑控制器12的配合较为简便，系于切换装置2的端口上设置一焊接部22(本实施以焊接脚为例)，让切换装置2得以简单透过表面黏贴技术(Surface-mount technology，SMT)连接该数字逻辑电路基板1，而呼应上述可直连接射频测试机4的射频端口。
惟，以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，非因此即局限本实用新型的专利范围，故举凡运用本实用新型说明书及说明书附图内容所为的简易修饰及等效结构变化，均应同理包含于本实用新型的专利范围内，合予陈明。
故，请参阅全部附图所示，本实用新型使用时，与习用技术相较，着实存在下列优点：
一、以机械式的切换装置2IC R596取代传统的机构式IC，大幅缩小结构体积及所需材料成本。
二、以机械式的切换装置2IC R596取代传统的固态式IC，将谐波的影响降至最低，更适用于高功率的射频测试。
三、配合逻辑控制器12(TTL)整合各切换装置2，仅以单一电压输入部11即可完成控制，减少所需之数字控制位，提升操作与维修的便利性，也间接降低体积需求、结构成本及高频的影响。
Claims (10)
1.一种高功率射频测试切换装置，其特征在于，包括：
一数字逻辑电路基板；
至少一设于该数字逻辑电路基板上的切换装置；
至少一活动设置于该切换装置内的切换开关；
复数设于该数字逻辑电路基板一侧且与该切换装置电性连接的讯号输入部，系供输入高功率讯号；及
至少一设于该数字逻辑电路基板一侧且与该切换装置电性连接的讯号输出部。
2.如权利要求1所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该数字逻辑电路基板一侧具有一电压输入部，系供连接该讯号输入部及该讯号输出部。
3.如权利要求2所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该数字逻辑电路基板系包括至少一逻辑控制器，系供控制该电压输入部的电压。
4.如权利要求3所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该逻辑控制器系包括至少一晶体管、至少一设于该晶体管一侧的电阻组件、及至少一设于该晶体管另一侧的二极管。
5.如权利要求1所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该讯号输入部及该讯号输出部系为射频端口。
6.如权利要求5所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该射频端口系硬式连接于一射频测试机。
7.如权利要求1所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该切换装置系包括至少一焊接部，系透过表面黏贴技术连接该数字逻辑电路基板。
8.如权利要求1所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该切换装置系为机械式IC。
9.如权利要求8所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该切换装置系为ICR596。
10.如权利要求1所述的高功率射频测试切换装置，其特征在于，该切换装置为复数时系彼此耦合。
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI833333B (zh) * | 2022-08-19 | 2024-02-21 | 全智科技股份有限公司 | 高功率測試切換裝置 |
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2017
- 2017-07-28 CN CN201720932285.1U patent/CN207215910U/zh active Active
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