CN207051711U - 用于地铁安全门的门顶灯测试装置 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了用于地铁安全门的门顶灯测试装置,包括多个与地铁安全门的门顶灯一一配套安装的多个测试单元、与多个测试单元通过电信号线连接的分站中控单元以及供电的电源;所述分站中控单元包括触发检测开关、采样数据滤波转换模块、触发检测控制模块、MCU;所述触发检测控制模块的信号控制端通过触发检测开关接整流滤波电路信号输入端,且所述测试面板数据输出端依次通过触发检测开关、采样数据滤波转换模块接入所述触发检测控制模块的信号输入端;所述触发检测控制模块、MCU相互连接并分别连接串行设备。本实用新型可实现一个地铁站所有门顶灯测试单元的统一控制,操作方便。

Description

用于地铁安全门的门顶灯测试装置
技术领域
本实用新型涉及地铁安全检测设备领域,尤其涉及用于地铁安全门的门顶灯测试装置。
背景技术
地铁安全门是乘客踏上列车的最后一道安全防线,同时也是隔离乘客与轨道的安全屏障,能有效的保护乘客的人身安全。在每一道安全门上方有一个橘黄色的指示灯,即为安全门的门顶灯。它是一个光电指示灯,为了保证其正常工作,需要定期进行性能测试。
申请号为:201620675388.X;专利名称为:用于地铁安全门的门顶灯测试装置的实用新型专利,公开了一种“用于地铁安全门的门顶灯测试装置”。但是,所述门顶灯测试装置采用手动切换开关进行操作:需要人工到每一个门顶灯对应位置进行人工检测控制,不利于在运输压力较大的地铁站进行操作;门顶灯测试数据反馈周期较长,无法高频监测。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供用于地铁安全门的门顶灯测试装置,对地铁安全门的门顶灯进行自动化检测,无需运维人员到各个地铁安全门现场就可以进行各个门顶灯测试装置的控制及数据采集。
本实用新型通过以下方式实现:用于地铁安全门的门顶灯测试装置,包括多个与地铁安全门的门顶灯一一配套安装的多个测试单元;所述测试单元包括与门顶灯电性连接的测试面板以及集成在测试面板上且依次连接的整流滤波电路、信号模拟电路;所述整流滤波电路将整流且滤波后的电信号输入信号模拟电路,所述信号模拟电路根据输入的电信号模拟测试门顶灯的各种测试信号并将模拟的测试信号输入测试面板,用以测试门顶灯。
用于地铁安全门的门顶灯测试装置,还包括与多个测试单元通过电信号线连接的分站中控单元以及分别与各个测试单元、分站中控单元连接供电的电源。
所述分站中控单元包括触发检测开关、采样数据滤波转换模块、触发检测控制模块、MCU;所述触发检测控制模块的信号控制端通过触发检测开关接整流滤波电路信号输入端,且所述测试面板数据输出端依次通过触发检测开关、采样数据滤波转换模块接入所述触发检测控制模块的信号输入端;所述触发检测控制模块、MCU相互连接并分别连接串行设备。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述触发检测开关为MAX350多路开关;所述采样数据滤波转换模块包括依次连接的放大器、低通滤波器、AD转换器;所述触发检测控制模块包括CPLD逻辑控制器和CPLD逻辑控制器外接的晶振;
所述CPLD逻辑控制器包括相互连接的分频控制电路、触发采样控制单元;所述分频控制电路、触发采样控制单元分别连接MCU连接且均外接晶振;所述触发采样控制单元还外接MAX350多路开关输入端、AD转换器输出端。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述MAX350多路开关包括与CPLD逻辑控制器连接的逻辑单元、分别与逻辑单元连接的完全独立的A组多路开关、B组多路开关两个4通道多路开关;所述A组多路开关的输入端接触发采样控制单元,且A组多路开关的输入端接测试单元的整流滤波电路;所述B组多路开关的输入端接测试单元的测试面板,且B组多路开关的输出端接放大器;
所述MAX350多路开关中逻辑单元还分别连接SCLK串行时钟输入引脚、CS片选引脚、DIN串行输入引脚、DOUT串行输出引脚、REST复位引脚、接电源正极的V+引脚、接电源负极的V-引脚、接地的GND接地引脚;所述MCU连接分别接SCLK串行时钟输入引脚、CS片选引脚、DIN串行输入引脚、DOUT串行输出引脚。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述测试单元四个为一组并接入同一个触发检测开关;所述测试单元数量为N个且N为正整数;若N≤4,则N个测试单元接入同一个触发检测开关,此时触发检测开关为一个;所述N>4,则每四个测试单元为一组并接入同一个触发检测开关且不足4的余数个测试单元为一组并接入同一个触发检测开关,此时触发开关为[(N+3)/4]个。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述触发检测开关为两个或两个以上时,多个触发检测开关相互并联。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述信号模拟电路包括多路模拟开关和并联在多路模拟开关不同输出通道的半高门滑动门信号模拟电路、隔离信号模拟电路、故障信号模拟电路、全高门滑动门信号模拟电路、右应急门信号模拟电路、左应急门信号模拟电路;所述多路模拟开关与CPLD逻辑控制器连接。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述串行设备包括与触发采样控制单元双向连接的DPRAM存储器、与MCU双向连接的FLASH存储器;所述DPRAM存储器、FLASH存储器均通过SPI总线进行连接。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述串行设备还包括与MCU连接的触控屏。
进一步地,为了更好的实现本实用新型,所述串行设备还包括与MCU通过RS232接口连接的远程通讯模块,且MCU通过远程通讯模块与地铁站的总控中心进行数据通讯。
本实用新型的有益效果如下:
(1)本实用新型中测试单元通过分站中控单元对各个测试单元进行检测动作的控制及检测数据的采集反馈,用集中控制的触发检测开关替换人工操作的手动切换开关而同时对所有测试单元进行统一管理;
(2)本实用新型中利用触发检测开关对测试单元的信号通道进行通道控制,从而便于对各个测试单元的错时控制。
附图说明
图1为实施例1中本实用新型的连接关系示意图。
图2为实施例2中本实用新型的连接关系示意图。
图3为MAX350多路开关的内部结构示意图。
具体实施例
实施例1:
如图1所示,用于地铁安全门的门顶灯测试装置,包括多个与地铁安全门的门顶灯一一配套安装的多个测试单元、与多个测试单元通过电信号线连接的分站中控单元以及分别与各个测试单元、分站中控单元连接供电的电源。
例如:某一地铁站M,有P→Q方向的N1个地铁安全门以及Q→P方向的N2个地铁安全门。也就是地铁站M一共有N=(N1+N2)个地铁安全门,及N个测试单元。在地铁站M设置一个分站中控单元,分站中控单元分别与N个测试单元连接,并均由电源供电。所述分站中控单元可以通过内置程序自动定期进行测试动作及数据采集;也可以设置可进行人机交互的控制设备(如触摸屏等控制面板)便于人工触发测试动作及数据采集。但是无论是自动定期触发还是人为触发,分站中控单元开始工作后都是自动的对各个测试单元进行触发测试指令的发送和测试数据的采集。
所述测试单元包括与门顶灯电性连接的测试面板以及集成在测试面板上且依次连接的整流滤波电路、信号模拟电路;所述整流滤波电路将整流且滤波后的电信号输入信号模拟电路,所述信号模拟电路根据输入的电信号模拟测试门顶灯的各种测试信号并将模拟的测试信号输入测试面板,用以测试门顶灯。所述测试单元与门顶灯为一一对应连接的关系。
所述分站中控单元包括触发检测开关、采样数据滤波转换模块、触发检测控制模块、MCU;所述触发检测控制模块的信号控制端通过触发检测开关接整流滤波电路信号输入端,且所述测试面板数据输出端依次通过触发检测开关、采样数据滤波转换模块接入所述触发检测控制模块的信号输入端;所述触发检测控制模块、MCU相互连接并分别连接串行设备。
本实施例中,所述触发检测控制模块的控制端通过所述触发检测开关与测试单元的输入端连接,触发测试单元开始进行测试。所述触发测试单元的数据输出端通过触发检测开关、采样数据滤波转换模块后输入触发检测控制模块。
实施例2:
本实施例在实施例1的基础上进一步公开本申请,如图2所示,本实施例中,所述触发检测控制模块包括CPLD逻辑控制器和外接的晶振。
所述触发检测开关为MAX350多路开关。
所述触发检测开关由CPLD逻辑控制器控制以进行各个通道切换控制。
所述采样数据滤波转换模块包括依次连接的放大器、低通滤波器、AD转换器。所述采样数据滤波转换模块将测试单元输出的采样信号经放大器、低通滤波器、AD转换器转换为CPLD逻辑控制器可读取的采样数据。
所述CPLD逻辑控制器包括相互连接的分频控制电路、触发采样控制单元。所述分频控制电路、触发采样控制单元分别连接MCU连接,同时分频控制电路、触发采样控制单元分别外接晶振。所述触发采样控制单元还外接MAX350多路开关输入端、AD转换器输出端。
所述分频控制电路受MCU控制,通过连接的晶振,向触发采样控制单元提供不同的采样频率。
所述触发采样控制单元,一方面根据向触发检测开关发送触发检测指令使得测试单元开始进行门顶灯测试;另一方面接收AD转换器输出的采样数据并发送至MCU。其中,发出的触发检测指令可以是经过MCU发出的临时指令,也可以是受分频控制电路负责的常规指令。
所述触发检测开关为MAX350多路开关。所述CPLD逻辑控制器的型号为EPM1270。所述MCU的型号为CY7C68013A/CY7C68014A。所述放大器的型号为OP111A。所述低通滤波器的型号为LBP30/S12-D18。所述AD转换器的型号为ADS8365。所述晶振为20MHz有源晶振。
所述串行设备包括与触发采样控制单元通过SPI总线双向连接的DPRAM存储器、与MCU通过SPI总线双向连接的FLASH存储器、与MCU通过RS232接口连接的触控屏、与MCU通过RS232接口连接的远程通讯模块。
所述MCU通过远程通讯模块与地铁站的总控中心进行数据通讯。实现地铁站中总控中心对整个门顶灯测试装置的统一管控。
实施例3:
本实施例在实施例1或2的基础上,进一步优化,如图3所示,所述MAX350多路开关包括与CPLD逻辑控制器连接的逻辑单元、分别与逻辑单元连接的完全独立的两个4通道多路开关、SCLK串行时钟输入引脚、CS片选引脚、DIN串行输入引脚、DOUT串行输出引脚、REST复位引脚、接电源正极的V+引脚、接电源负极的V-引脚、接地的GND接地引脚。
所述两个4通道多路开关分为由4路通道组成的A组多路开关、由4路通道组成的B组多路开关;所述A组多路开关包括NO0A、NO1A、NO2A、NO3A四个引出引脚和分别与NO0A、NO1A、NO2A、NO3A连接的公共端引脚COMA;所述B组多路开关包括NO0B、NO1B、NO2B、NO3B四个引出引脚和分别与NO0B、NO1B、NO2B、NO3B连接的公共端引脚COMB。
所述CPLD逻辑控制器的TXD引脚接MAX350多路开关的DIN引脚。所述CPLD逻辑控制器的RXD引脚接MAX350多路开关的DOUT引脚。所述CPLD逻辑控制器的ALE引脚接MAX350多路开关的SCLK引脚。所述CPLD逻辑控制器的P引脚接MAX350多路开关的COMA引脚、COMB引脚、CS引脚,进行控制。
本实施例的其他部分与上述实施例相同,故不再赘述。
实施例4:
本实施例在实施例1-3任一项的基础上,进一步优化,某一地铁站M,有P→Q方向的8个地铁安全门(依次编号:R11-R18)以及Q→P方向的8个地铁安全门(依次编号:R21-R28)。也就是地铁站M一共有N=(8+8)=16个地铁安全门,及16个测试单元。在地铁站M设置一个分站中控单元,分站中控单元分别与16个测试单元连接,并均由电源供电。
所述测试单元四个为一组并接入同一个触发检测开关。即编号为R11-R14的四个测试单元接入同一个触发检测开关D1、编号为R15-R18的四个测试单元接入同一个触发检测开关D2、编号为R21-R24的四个测试单元接入同一个触发检测开关D3、编号为R25-R28的四个测试单元接入同一个触发检测开关D4。所述触发检测开关D1、D2、D3、D4并联接入CPLD逻辑控制器。
本实施例的其他部分与上述实施例相同,故不再赘述。
实施例5:
本实施例在实施例1-3任一项的基础上,进一步优化,某一地铁站M,有P→Q方向的9个地铁安全门(依次编号:R11-R19)以及Q→P方向的9个地铁安全门(依次编号:R21-R29)。也就是地铁站M一共有N=(9+9)=18个地铁安全门,及18个测试单元。在地铁站M设置一个分站中控单元,分站中控单元分别与18个测试单元连接,并均由电源供电。
所述测试单元四个为一组并接入同一个触发检测开关。即编号为R11-R14的四个测试单元接入同一个触发检测开关D1、编号为R15-R18的四个测试单元接入同一个触发检测开关D2、编号为R21-R24的四个测试单元接入同一个触发检测开关D3、编号为R25-R28的四个测试单元接入同一个触发检测开关D4、编号为R19、R29的两个测试单元接入同一个触发检测开关D5任意两个通道即可。所述触发检测开关D1、D2、D3、D4、D5并联接入CPLD逻辑控制器。
本实施例的其他部分与上述实施例相同,故不再赘述。
实施例6:
所述信号模拟电路包括多路模拟开关和并联在多路模拟开关不同输出通道的半高门滑动门信号模拟电路、隔离信号模拟电路、故障信号模拟电路、全高门滑动门信号模拟电路、右应急门信号模拟电路、左应急门信号模拟电路;所述多路模拟开关与CPLD逻辑控制芯片连接。
所述多路模拟开关采用STC12C2052芯片。其中,P1(P1.0-P1.7)引脚作为输出控制引脚,分别接并联的半高门滑动门信号模拟电路、隔离信号模拟电路、故障信号模拟电路、全高门滑动门信号模拟电路、右应急门信号模拟电路、左应急门信号模拟电路。
本实施例的其他部分与上述实施例相同,故不再赘述。
实施例7:
本实施例在实施例1-6任一项的基础上,进一步优化,所述串行设备包括与触发采样控制单元通过SPI总线双向连接的DPRAM存储器、与MCU通过SPI总线双向连接的FLASH存储器、与MCU通过RS232接口连接的触控屏、与MCU通过RS232接口连接的远程通讯模块。
所述MCU通过远程通讯模块与地铁站的总控中心进行数据通讯。实现地铁站中总控中心对整个门顶灯测试装置的统一管控。
本实施例的其他部分与上述实施例相同,故不再赘述。
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例,并非对本实用新型做任何形式上的限制,凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化,均落入本实用新型的保护范围之内。

Claims (9)

1.用于地铁安全门的门顶灯测试装置,包括多个与地铁安全门的门顶灯一一配套安装的多个测试单元;所述测试单元包括与门顶灯电性连接的测试面板以及集成在测试面板上且依次连接的整流滤波电路、信号模拟电路;所述整流滤波电路将整流且滤波后的电信号输入信号模拟电路,所述信号模拟电路根据输入的电信号模拟测试门顶灯的各种测试信号并将模拟的测试信号输入测试面板,用以测试门顶灯;其特征在于:
还包括与多个测试单元通过电信号线连接的分站中控单元以及分别与各个测试单元、分站中控单元连接供电的电源;
所述分站中控单元包括触发检测开关、采样数据滤波转换模块、触发检测控制模块、MCU;所述触发检测控制模块的信号控制端通过触发检测开关接整流滤波电路信号输入端,且所述测试面板数据输出端依次通过触发检测开关、采样数据滤波转换模块接入所述触发检测控制模块的信号输入端;所述触发检测控制模块、MCU相互连接并分别连接串行设备。
2.根据权利要求1所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述触发检测开关为MAX350多路开关;所述采样数据滤波转换模块包括依次连接的放大器、低通滤波器、AD转换器;所述触发检测控制模块包括CPLD逻辑控制器和CPLD逻辑控制器外接的晶振;
所述CPLD逻辑控制器包括相互连接的分频控制电路、触发采样控制单元;所述分频控制电路、触发采样控制单元分别连接MCU连接且均外接晶振;所述触发采样控制单元还外接MAX350多路开关输入端、AD转换器输出端。
3.根据权利要求2所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述MAX350多路开关包括与CPLD逻辑控制器连接的逻辑单元、分别与逻辑单元连接的完全独立的A组多路开关、B组多路开关两个4通道多路开关;所述A组多路开关的输入端接触发采样控制单元,且A组多路开关的输入端接测试单元的整流滤波电路;所述B组多路开关的输入端接测试单元的测试面板,且B组多路开关的输出端接放大器;
所述MAX350多路开关中逻辑单元还分别连接SCLK串行时钟输入引脚、CS片选引脚、DIN串行输入引脚、DOUT串行输出引脚、REST复位引脚、接电源正极的V+引脚、接电源负极的V-引脚、接地的GND接地引脚;所述MCU连接分别接SCLK串行时钟输入引脚、CS片选引脚、DIN串行输入引脚、DOUT串行输出引脚。
4.根据权利要求3所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述测试单元四个为一组并接入同一个触发检测开关;所述测试单元数量为N个且N为正整数;若N≤4,则N个测试单元接入同一个触发检测开关,此时触发检测开关为一个;所述N>4,则每四个测试单元为一组并接入同一个触发检测开关且不足4的余数个测试单元为一组并接入同一个触发检测开关,此时触发开关为[(N+3)/4]个。
5.根据权利要求4所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述触发检测开关为两个或两个以上时,多个触发检测开关相互并联。
6.根据权利要求2所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述信号模拟电路包括多路模拟开关和并联在多路模拟开关不同输出通道的半高门滑动门信号模拟电路、隔离信号模拟电路、故障信号模拟电路、全高门滑动门信号模拟电路、右应急门信号模拟电路、左应急门信号模拟电路;所述多路模拟开关与CPLD逻辑控制器连接。
7.根据权利要求2-6任一项所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述串行设备包括与触发采样控制单元双向连接的DPRAM存储器、与MCU双向连接的FLASH存储器;所述DPRAM存储器、FLASH存储器均通过SPI总线进行连接。
8.根据权利要求7所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述串行设备还包括与MCU连接的触控屏。
9.根据权利要求7所述的用于地铁安全门的门顶灯测试装置,其特征在于:所述串行设备还包括与MCU通过RS232接口连接的远程通讯模块,且MCU通过远程通讯模块与地铁站的总控中心进行数据通讯。
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