CN206892191U - 晶体电阻测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于晶体电阻测试设备领域，尤其涉及一种晶体电阻测试装置。包括装置本体，所述装置本体上设置有固定电极座以及与固定电极座相配合的滑动电极座，所述固定电极座以及滑动电极座上设置有测试电极，所述滑动电极座滑动设置在装置本体上，所述固定电极座与滑动电极座之间设置有待测晶体放置平台，所述待测晶体放置平台与滑动电极座固定连接，所述固定电极座上设置有用于测晶体放置平台穿过的通孔。本实用新型利用相互配合的固定电极座、滑动电极座以及待测晶体放置平台的相互配合，有效的实现了晶体的电阻测试，解决了现有晶体电阻装置缺乏的技术问题，本实用新型结构简单、加工方便、测试效果好，适合大规模推广使用。

Description

晶体电阻测试装置

技术领域

本实用新型属于晶体电阻测试设备领域，尤其涉及一种晶体电阻测试装置。

背景技术

电光效应晶体器件在应用时需要KV级别的高压作用到晶体器件上，所以器件的晶体材料的需要能够承受KV级别的高压正常工作而不发生电致损伤。该性能一般由材料的电阻率参数进行表征，同时需要测试在具体的应用高压下材料的泄漏电流是否在要求范围内。目前常规的电阻测试仪其量程和测试方式都不能满足晶体材料的测试要求，晶体材料的体电阻一般都大于1010Ω级别，万用表，LCR电桥，电阻箱这些常用的电阻测试仪量程难以满足，而且测试时晶体器件的尺寸结构不一样，其电极形式一般需要面接触电极，而常规的测试仪器都是点接触电极，应用不便，因此，迫切需要一种能够满足晶体材料电阻测试的装备。

实用新型内容

本实用新型针对上述的现有的电阻测试仪无法满足晶体材料测试的技术问题，提出一种设计合理、结构简单、加工方便且测试效果好的晶体电阻测试装置。

为了达到上述目的，本实用新型采用的技术方案为，本实用新型提供一种晶体电阻测试装置，包括装置本体，所述装置本体上设置有固定电极座以及与固定电极座相配合的滑动电极座，所述固定电极座以及滑动电极座上设置有测试电极，所述滑动电极座滑动设置在装置本体上，所述固定电极座与滑动电极座之间设置有待测晶体放置平台，所述待测晶体放置平台与滑动电极座固定连接，所述固定电极座上设置有用于待测晶体放置平台穿过的通孔。

作为优选，所述滑动电极座通过贯穿装置本体侧壁的螺杆实现滑动设置在装置本体上。

作为优选，所述固定电极座包括固定在装置本体的固定架以及设置在固定架上的滑杆，所述滑杆的顶部设置有测试电极固定座。

作为优选，所述滑动电极座包括滑动电极固定架以及设置在滑动电极固定架上的滑动滑杆，所述滑动滑杆的顶部设置有测试电极滑动固定座。

作为优选，所述测试电极的引线贯穿测试电极滑动固定座或测试电极固定座设置，所述测试电极的引线上设置有电极引线护套。

作为优选，所述通孔将固定架分隔呈对称设置的两部分。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于，

1、本实用新型通过提供一种晶体电阻测试装置，利用相互配合的固定电极座、滑动电极座以及待测晶体放置平台的相互配合，有效的实现了晶体的电阻测试，解决了现有晶体电阻装置缺乏的技术问题，本实用新型结构简单、加工方便、测试效果好，适合大规模推广使用。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为实施例1提供的晶体电阻测试装置的结构示意图；

图2为实施例1提供的晶体电阻测试装置的测试电路图；

以上各图中，1、装置本体；2、固定电极座；21、固定架；22、滑杆； 23、测试电极固定座；24、通孔；3、滑动电极座；31、滑动电极固定架； 32、滑动滑杆；33、测试电极滑动固定座；4、测试电极；5、待测晶体放置平台；6、螺杆；7、电极引线护套。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本实用新型的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。

实施例1，如图1所示，本实施例提供一种晶体电阻测试装置，包括装置本体1，在本实施例中，装置本体1的形状类似于倾倒的L型，在装置本体1 上设置有固定电极座2以及与固定电极座2相配合的滑动电极座3，固定电极座2以及滑动电极座3的主要目的是放置测试电极，固定电极座2和滑动电机座3上的测试电极4相对设置，考虑到测试晶体的长度可能不一，为了使本装置能够针对不同的晶体进行测试，故滑动电极座3滑动设置在装置本体1上，在固定电极座2与滑动电极座3之间设置有待测晶体放置平台5，待测晶体放置平台5的主要作用就是放置待测晶体，在本实施例中，其形状为长方体状。同样，考虑到晶体大小的不同，为了调节固定电极座2与滑动电极座3之间的距离，在本实施例中，待测晶体放置平台5与滑动电极座3固定连接，在固定电极座2上设置有用于待测晶体放置平台5穿过的通孔24，这样，通过滑动滑动电极座3，进而推动待测晶体放置平台5进入通孔24，进而达到缩短滑动电极座3与固定电极座2之间距离的目的，当然，也可以为在滑动电机座3上设置通孔，待测晶体放置平台5固定在装置本体1上的结构也行，在本实施例中，滑动电极座3通过贯穿装置本体1侧壁的螺杆6实现滑动设置在装置本体1上，故待测晶体放置平台5采用与滑动电极座3一体的结构设计，在装置本体1上设置了与螺杆6相配合的蜗轮(图中未示出)，来实现滑动电极座3的滑动。

考到到晶体的高度不同，为了确保测试电极能够准确的接触到晶体，在本实施例中，固定电极座2包括固定在装置本体1的固定架21以及设置在固定架 21上的滑杆22，滑杆22的顶部设置有测试电极固定座23，测试电极固定座23 上设置有测试电极4，滑杆22可上下固定在固定架21上，进而实现了测试电极4的高度调整，从而使本实施例所提供的晶体电阻测试装置的测试范围更广。

为了配合固定电极座2的结构设计，本实施例所提供的滑动电极座3包括滑动电极固定架31以及设置在滑动电极固定架31上的滑动滑杆32，滑动滑杆32的顶部设置有测试电极滑动固定座33，测试电极滑动固定座33上设置有测试电极4，滑动滑杆32可上下固定在滑动电极固定架31上，进而实现了测试电极4的高度调整，从而使本实施例所提供的晶体电阻测试装置的测试范围更广。

为了提高本装置的安全性，在本实施例中，测试电极4的引线贯穿测试电极滑动固定座33或测试电极固定座23设置，在测试电极的引线上设置有电极引线护套7，电极引线护套7不仅保护电极引线的连接强度，起到增强固定连接，同时，增加绝缘安全防护的作用。

为了提高资源的利用率，降低材料的消耗率，在本实施例中，通孔24将固定架21分隔呈对称设置的两部分。

使用方法:

首先将KV级测试电源，晶体电阻测试装置，电压表，电流表，按照图2 所示连接在一起。然后，将待测晶体放置在晶体电阻测试装置上，设定需要的测试电压。打开测试电源，记录电流表和电压表的数值，通过欧姆定律：R＝U/I，计算待测晶体的电阻，最后，通过观测电流表的数值，判断泄露电流是否合格。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非是对本实用新型作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的技术内容加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本实用新型技术方案内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本实用新型技术方案的保护范围。

Claims (6)

1.一种晶体电阻测试装置，其特征在于，包括装置本体，所述装置本体上设置有固定电极座以及与固定电极座相配合的滑动电极座，所述固定电极座以及滑动电极座上设置有测试电极，所述滑动电极座滑动设置在装置本体上，所述固定电极座与滑动电极座之间设置有待测晶体放置平台，所述待测晶体放置平台与滑动电极座固定连接，所述固定电极座上设置有用于测晶体放置平台穿过的通孔。

2.根据权利要求1所述的晶体电阻测试装置，其特征在于，所述滑动电极座通过贯穿装置本体侧壁的螺杆实现滑动设置在装置本体上。

3.根据权利要求2所述的晶体电阻测试装置，其特征在于，所述固定电极座包括固定在装置本体的固定架以及设置在固定架上的滑杆，所述滑杆的顶部设置有测试电极固定座。

4.根据权利要求3所述的晶体电阻测试装置，其特征在于，所述滑动电极座包括滑动电极固定架以及设置在滑动电极固定架上的滑动滑杆，所述滑动滑杆的顶部设置有测试电极滑动固定座。

5.根据权利要求4所述的晶体电阻测试装置，其特征在于，所述测试电极的引线贯穿测试电极滑动固定座或测试电极固定座设置，所述测试电极的引线上设置有电极引线护套。

6.根据权利要求5所述的晶体电阻测试装置，其特征在于，所述通孔将固定架分隔呈对称设置的两部分。