CN206773140U - 一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置 - Google Patents
一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置,属于电子元器件测试装置领域。本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块,所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连,所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连,所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。本实用新型的有益效果为:适用于少量的电子元器件的测试检验,与自动化控制装置相比,成本大大降低,结构简单,操作便捷。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种测控装置,尤其涉及一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置。
背景技术
半导体测试系统的测试控制装置都是自动控制,设备体积大,价格较高;对于少量的电子元器件测试检验,使用自动控制装置成本非常高,为此,需要一种简易、成本低廉的人工测试控制装置。
实用新型内容
为解决现有技术中的问题,本实用新型提供一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置。
本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块,所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连,所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连,所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。
本实用新型作进一步改进,还包括指示模块,所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连。用于指示测试产品结果是合格还是不合格。
本实用新型作进一步改进,所述指示模块包括开关SW3、2个不同颜色的LED灯的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3,所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连,所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地,所述三极管Q2和三极管Q3的发射极分别通过灯组的不同LED灯接电阻R21的一端,所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。
本实用新型作进一步改进,所述控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元,所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连,所述电阻R22另一端接电源,所述晶振单元与微处理器A1的第18引脚和第19引脚相连。
本实用新型作进一步改进,所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3,所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端相连,所述晶振X1的另一端分别与微处理器A1的第19引脚和电容C3一端相连,所述电容C2和电容C3的另一端接地。
本实用新型作进一步改进,所述控制处理模块还包括重置模块,所述重置模块包括重置按键SW1、有极性电容C1和电阻R23,所述重置按键SW1、有极性电容C1并联后,有极性电容C1的正极端接电源,所述有极性电容C1的负极端分别与电阻R23一端和微处理器A1的第9引脚相连,所述电阻R23另一端接地。
本实用新型作进一步改进,所述测试启动模块包括电阻R24、电容C4和启动按钮SW2,所述电容C4和启动按钮SW2并联后一端接地,另一端分别与电阻R24一端和微处理器A1的第5引脚相连,所述电阻R24另一端接电源。
本实用新型作进一步改进,所述显示模块包括显示灯板DY1、开关管Q4、开关管Q5,所述显示灯板DY1包括十位数灯管和个位数灯管,所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的十位数灯管的显示,所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的个位数灯管的显示。
本实用新型作进一步改进,所述显示灯板DY1的十位数灯管和个位数灯管分别为七段数码管。
本实用新型作进一步改进,所述通讯接口为40500接口芯片U1。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:适用于少量的电子元器件的测试检验,与自动化控制装置相比,成本大大降低,结构简单,操作便捷。
附图说明
图1为本实用新型结构示意图;
图2为本实用新型的电路原理图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型做进一步详细说明。
如图1所示,本实用新型包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块,所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连,所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连,所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。
为了明确直观的知道电子元器件检测是合格还是不合格的测试结果,本实用新型还包括指示模块,所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连,用于指示测试产品结果是合格还是不合格。
如图2所示,作为本例的一个实施例,所述指示模块包括开关SW3、由红色LED灯和绿色LED灯组成的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3,所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连,所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地,所述三极管Q2的发射极通过绿色LED灯接电阻R21的一端,所述三极管Q3的发射极通过红色LED灯接电阻R21的一端,所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。开关SW3用来控制整个电路电源的通断,所述红灯亮时,表示测试不合格,绿灯亮时,表示测试合格。
本例的控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元,所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连,所述电阻R22另一端接电源,所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3,所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端相连,所述晶振X1的另一端分别与微处理器A1的第19引脚和电容C3一端相连,所述电容C2和电容C3的另一端接地。晶振模块用于向测试系统发送1ms的低电平脉冲信号来控制系统进行测试。
此外,本例控制处理模块还包括重置模块,所述重置模块包括重置按键SW1、有极性电容C1和电阻R23,所述重置按键SW1、有极性电容C1并联后,有极性电容C1的正极端通过开关SW3接电源,所述有极性电容C1的负极端分别与电阻R23一端和微处理器A1的第9引脚相连,所述电阻R23另一端接地,与测试启动模块相对应,顾名思义,所述重置模块用于将所述人工测试控制装置显示重置。
本例测试启动模块包括电阻R24、电容C4和启动按钮SW2,所述电容C4和启动按钮SW2并联后一端接地,另一端分别与电阻R24一端和微处理器A1的第5引脚相连,所述电阻R24另一端接通过开关SW3接电源。
本例显示模块包括显示灯板DY1、开关管Q4、开关管Q5,所述显示灯板DY1包括十位数灯管和个位数灯管,所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的十位数灯管的显示,所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的个位数灯管的显示。具体地,所述三极管Q4的基极通过电阻R19与微处理器A1的第22引脚相连,所述三极管Q5的基极通过电阻R19与微处理器A1的第23引脚相连;所述三极管Q4和三极管Q5的发射极通过开关SW3接电源,所述三极管Q4的集电极与显示灯板DY1的十位数灯管输入端相连,所述三极管Q5的集电极与显示灯板DY1的个位数灯管输入端相连。
本例显示灯板DY1的十位数灯管和个位数灯管分别为七段数码管,所述十位数七段数码管的g、h、a、f四个引脚单独接一个电阻R9~R12,分别与微处理器A1的第32~34、39引脚相连,所述个位数七段数码管的d、e、b、c四个引脚单独接一个电阻R13~R16,分别与微处理器A1的第35~38引脚相连。所述电阻R1串在微处理器A1的第39引脚和第40引脚之间,所述电阻R2串在微处理器A1的第38引脚和第40引脚之间,以此类推,电阻R3~R8分别接微处理器A1的第37~32引脚和第40引脚之间。本例的通讯接口为40500接口芯片U1,包括50个通讯引脚。
本例的工作原理为:
本实用新型使用时,通过通讯接口与测试系统相连接,微处理器A1接收到测试启动模块的信号后,微处理器向测试系统发送1ms的低电平脉冲信号来控制系统进行测试,当微处理器检测到测试系统发送的2ms低电平信号作为测试结束信号,微处理器通过引脚1~引脚4、引脚7、引脚8读取测试系统的档位信号,经过运算,向显示模块输出显示信号,显示测试结果,同时,指示模块从通讯接口读取并通过LED灯指示测试结果。
本实用新型在少量的电子元器件测试检验时,不需要使用成本高昂的自动化控制装置,从而使成本大大降低,此外,本实用新型结构简单,操作便捷。
以上所述之具体实施方式为本实用新型的较佳实施方式,并非以此限定本实用新型的具体实施范围,本实用新型的范围包括并不限于本具体实施方式,凡依照本实用新型所作的等效变化均在本实用新型的保护范围内。
Claims (10)
1.一种用于半导体测试系统的人工测试控制装置,其特征在于:包括通讯接口、测试启动模块、控制处理模块、显示模块,所述控制处理模块通过所述通讯接口与半导体测试系统相连,所述测试启动模块的输出端与控制处理模块输入端相连,所述控制处理模块输出端与所述显示模块输入端相连。
2.根据权利要求1所述的人工测试控制装置,其特征在于:还包括指示模块,所述指示模块的输入端与所述通讯接口的输出端相连。
3.根据权利要求2所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述指示模块包括开关SW3、2个不同颜色的LED灯的灯组、电阻R21、三极管Q2和三极管Q3,所述三极管Q2和三极管Q3的基极分别与通讯接口的相连,所述三极管Q2和三极管Q3的集电极接地,所述三极管Q2和三极管Q3的发射极分别通过灯组的不同LED灯接电阻R21的一端,所述电阻R21的另一端通过开关SW3接电源。
4.根据权利要求1-3任一项所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述控制处理模块包括设有多个引脚的微处理器A1、电阻R22和晶振单元,所述微处理器A1的第21引脚分别与通讯接口和电阻R22一端相连,所述电阻R22另一端接电源,所述晶振单元与微处理器A1的第18引脚和第19引脚相连。
5.根据权利要求4所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述晶振单元包括晶振X1、电容C2和电容C3,所述晶振X1的一端分别与微处理器A1的第18引脚和电容C2一端相连,所述晶振X1的另一端分别与微处理器A1的第19引脚和电容C3一端相连,所述电容C2和电容C3的另一端接地。
6.根据权利要求4所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述控制处理模块还包括重置模块,所述重置模块包括重置按键SW1、有极性电容C1和电阻R23,所述重置按键SW1、有极性电容C1并联后,有极性电容C1的正极端接电源,所述有极性电容C1的负极端分别与电阻R23一端和微处理器A1的第9引脚相连,所述电阻R23另一端接地。
7.根据权利要求4所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述测试启动模块包括电阻R24、电容C4和启动按钮SW2,所述电容C4和启动按钮SW2并联后一端接地,另一端分别与电阻R24一端和微处理器A1的第5引脚相连,所述电阻R24另一端接电源。
8.根据权利要求4所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述显示模块包括显示灯板DY1、开关管Q4、开关管Q5,所述显示灯板DY1包括十位数灯管和个位数灯管,所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的十位数灯管的显示,所述微处理器A1通过开关管Q4控制所述显示灯板DY1的个位数灯管的显示。
9.根据权利要求8所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述显示灯板DY1的十位数灯管和个位数灯管分别为七段数码管。
10.根据权利要求1-3任一项所述的人工测试控制装置,其特征在于:所述通讯接口为40500接口芯片U1。
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