CN206756267U - 一种浮选机泡沫层厚度检测装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种浮选机泡沫层厚度检测装置，包括浮选槽(2)，所述浮选槽(2)自上而下依次包括空气层、泡沫层(7)和矿浆层(8)；所述浮选槽(2)的左侧设有X射线源(1)，浮选槽(2)的右侧对称地设有线性阵列探测器(3)；所述线性阵列探测器(3)通过数据处理器(5)与计算机(6)相连。本实用新型利用X射线透射技术，对浮选槽进行透射，依据浮选槽中矿浆、泡沫层以及空气的密度、性质的不同。其优点是：本实用新型能够在线精确自动检测浮选槽泡沫层的厚度，进而对浮选工况进行实时检测，对提高浮选技术指标、降低工人的劳动强度具有积极的意义。
Description
技术领域
本实用新型涉及选矿过程检测技术领域，特别涉及一种浮选机泡沫层厚度检测装置。
背景技术
泡沫浮选是一种应用最为广泛的选矿方法。它是以表面化学为基础，根据矿物表面润湿性的不同来分选矿物的分离方法。但是由于浮选工艺流程长、影响因素多、工艺指标不能有效监测等原因，造成浮选生产指标波动频繁，矿物原料流失严重，以及资源利用率较低等问题。泡沫浮选过程中的泡沫层厚度是影响浮选指标的重要变量。目前主要是依靠人工肉眼来观察泡沫表面状态，从而判断泡沫层的厚度来进行现场操作。这种方法主观性太强，难以对泡沫层的厚度进行准确的把握与认知，难以保证浮选过程的稳定运行。所以，需要研究一种能够准确自动监测泡沫层厚度的测量方法，为浮选生产工作提供实时监测和有效指导。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是:本实用新型提供了一种浮选机泡沫层厚度检测装置,通过计算机进行数据分析,可以实时检测泡沫浮选设备中泡沫层的厚度。
本实用新型采用的技术方案为：
一种浮选机泡沫层厚度检测装置，包括浮选槽2，所述浮选槽2自上而下依次包括空气层、泡沫层7和矿浆层8；所述浮选槽2的左侧设有X射线源1，浮选槽2的右侧对称地设有线性阵列探测器3；所述线性阵列探测器3通过数据处理器5与计算机6相连。
所述X射线源1、线性阵列探测器3均固定于一侧开口的防护壳体4内，防护壳体4的开口侧与浮选槽2相连。
所述防护壳体4由铅板制成。
所述X射线源1为发射平行的平面X射线束的X射线源。
所述线性阵列探测器3由若干块平行排列的阵列板组成，所述阵列板上设有接收信号点。
所述接收信号点均匀分布。
所述接收信号点从左至右依次包括闪烁体31、透明薄膜层32和光电二极管33。
X射线源1发射的X射线射入浮选槽2可同时穿过泡沫层7上方的空气层、泡沫层7和矿浆层8，透过的X射线束均被浮选槽右侧的线性阵列探测器3接收。
一种浮选机泡沫层厚度检测装置，包括X射线源1、线性阵列探测器3、防护壳体4、数据处理器5和计算机6，所述X射线源1设置于浮选槽2左侧的正中央位置；所述线性阵列3探测器设置于浮选槽右侧中央位置，对应于X射线源。
所述X射线源、线性阵列探测器均固定于防护壳体内。
所述防护壳体由铅板制成。
所述数据处理器连接于线性阵列探测器，并对线性阵列探测器传来的电信号进行处理和数模转换，并将转换后的数据传递给计算机。
所述计算机与数据处理器相连接，对数据处理器传递的数据进行分析、计算，得出泡沫层厚度，并为浮选工作提供指导信息。
X射线透射技术是一种比较成熟的技术，但是在选矿领域应用还很少。X射线是一种频率很高的电磁波，能穿透一般可见光不能穿透的各种不同密度的物质，并在穿透过程中受到一定程度的吸收。因此可以利用X射线的透射作用，提供一种测量浮选泡沫层厚度的装置。
本实用新型的有益效果在于：针对泡沫浮选过程中泡沫层厚度难以检测的问题，提供了一种能够在线精确自动检测浮选槽泡沫层的厚度的装置。进而对浮选工况进行实时预测，给现场工作人员提供了操作指导，对提高浮选技术指标、降低工人的劳动强度具有积极的意义。并把X射线透射技术应用到选矿领域，为泡沫浮选泡沫层厚度的检测提供了新思路。
附图说明：
图1是本实用新型的结构示意图；
图2是本实用新型中线性阵列探测器的俯视结构示意图；
图3是本实用新型中接收信号点地结构示意图；
其中：1—X射线源，2—浮选槽，3—线性阵列探测器，31—闪烁体，32—透明薄膜层，33—光电二极管，4—防护壳体，5—数据处理器，6—计算机，7—泡沫层，8—矿浆层。
具体实施方式
结合图1至图3对本实用新型做进一步的说明。
一种浮选机泡沫层厚度检测装置，包括浮选槽2，所述浮选槽2自上而下依次包括泡沫层7和矿浆层8；所述浮选槽2的左侧设有X射线源1，浮选槽2的右侧对称地设有线性阵列探测器3；所述线性阵列探测器3通过数据处理器5与计算机6相连。
所述X射线源1、线性阵列探测器3均固定于一侧开口的防护壳体4内，防护壳体4的开口侧与浮选槽2相连。
所述防护壳体4由铅板制成。
所述X射线源1为发射平行的平面X射线束的X射线源。
所述线性阵列探测器3由30块平行排列的阵列板组成，所述阵列板上设有接收信号点。
所述接收信号点均匀分布。
所述接收信号点从左至右依次包括闪烁体31、透明薄膜层32和光电二极管33。
一种浮选机泡沫层厚度检测装置，包括X射线源1、线性阵列探测器3、防护壳体4、数据处理器5、计算机6，所述X射线源1设置于浮选槽左侧的正中央位置；所述线性阵列探测器3设置于浮选槽右侧中央位置，对应于X射线源1。
首先，由X射线源1发射出平行的平面X射线束，垂直照射在浮选槽上。当X射线束穿过物体时会被部分吸收，被吸收的份额与穿行路径上的物质的密度、有效原子序数和性质有关。所以能量相同的X射线束透过浮选槽中的矿浆和泡沫层之后，X射线束的能量就有所不同，透过的X射线束被浮选槽右侧的线性阵列探测器3接收，并进行转化、处理。
所述线性阵列探测器3共有30块阵列板平行排列在一起，相互之间无缝交接。每块阵列板上有32个接收信号点，32个点均匀分布，每点间距1.5mm，每个点与接收的X射线束方向垂直。当经过浮选槽透射过来的X射线束透过覆盖在闪烁体31表面的不透明物质后，照射在闪烁体31上，使闪烁体31发出可见光，发出的可见光经过反射后只能从靠近光电二极管33的一侧出来，经过一个透明薄膜层32，传递给光电二极管33，光电二极管33再把光信号转换为电信号，传递给数据处理器5。
所述数据处理器5将光电二极管33传递过来的电信号进行放大、积分以及数模转换，以矩阵的形式将数据传递给计算机6。因为在矿浆-泡沫层以及泡沫层-空气的分界面附近，矩阵数据有阶跃变化，所以计算机6通过对数据处理器5传递过来的矩阵数据进行分析和判断，就可以得到矿浆-泡沫层与泡沫层-空气的分界面的位置，从而得到泡沫层的厚度。
为了避免X射线源1发出的X射线束对附近工作人员造成影响，采用由铅板制成的防护壳体4将X射线源1和线性阵列探测器3固定，防止X射线外漏。
Claims (7)
1.一种浮选机泡沫层厚度检测装置，其特征在于：包括浮选槽(2)，所述浮选槽(2)自上而下依次包括空气层、泡沫层(7)和矿浆层(8)；所述浮选槽(2)的左侧设有X射线源(1)，浮选槽(2)的右侧对称地设有线性阵列探测器(3)；所述线性阵列探测器(3)通过数据处理器(5)与计算机(6)相连。
2.根据权利要求1所述一种浮选机泡沫层厚度检测装置，其特征在于：所述X射线源(1)、线性阵列探测器(3)均固定于一侧开口的防护壳体(4)内，防护壳体(4)的开口侧与浮选槽(2)相连。
3.根据权利要求2所述一种浮选机泡沫层厚度检测装置，其特征在于：所述防护壳体(4)由铅板制成。
4.根据权利要求1或2所述一种浮选机泡沫层厚度检测装置，其特征在于：所述X射线源(1)为发射平行的平面X射线束的X射线源。
5.根据权利要求1所述一种浮选机泡沫层厚度检测装置，其特征在于：所述线性阵列探测器(3)由若干块平行排列的阵列板组成，所述阵列板上设有接收信号点。
6.根据权利要求5所述一种浮选机泡沫层厚度检测装置，其特征在于：所述接收信号点均匀分布。
7.根据权利要求5或6所述一种浮选机泡沫层厚度检测装置，其特征在于：所述接收信号点从左至右依次包括闪烁体(31)、透明薄膜层(32)和光电二极管(33)。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112945993A (zh) * | 2021-02-08 | 2021-06-11 | 格力电器（芜湖）有限公司 | 电器设备的检测方法、系统和存储介质 |
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