CN206727286U - 一种type‑c一体直插式测试头 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及USB测试装置领域，尤其是一种TYPE‑C一体直插式测试头，包括PCB板、上盖和下盖，PCB板的一端设置有TYPE‑C公端，另一端设置有测试连接端，公端位于上盖和下盖中间且与PCB板处在同一平面，公端、上盖和下盖均通过螺丝和销钉固定于PCB板，TYPE‑C公端为测试时对插被测产品使用，测试连接端则用于接入测试设备，提供一种TYPE‑C一体直插式测试头，生产成本低、组装方便，采用测试连接端和TYPE‑C公端一体直插式设计可以使整体受力更均匀，减轻TYPE‑C公端磨损，提升测试稳定性，增加插拔次数，拔插更方便省力，延长使用寿命。
Description
技术领域
本实用新型涉及USB测试装置领域，尤其是一种TYPE-C一体直插式测试头。
背景技术
随着科技发展，近年来对于电子产品的使用更加普及。而不论是个人电脑、移动装置、多媒体产品、周边耗材等等，彼此之间皆需通过特定接口互相连接以传输数据。其中一种目前被广泛应用的连接接口是通用序列总线(Universal Serial Bus,USB)，USB 接口支援热插拔和随插即用，常见于鼠标、键盘、打印机、数码相机以及一般消费性电子产品。
由于电子产品对于USB 接口的大量需求，为确保产品的出货品质，工厂在生产过程中，都会对USB 接口进行测试，从而确保出货成品的USB连接端口的品质，特别需要一款可以实现生产成本低、使用方便、测试稳定性好且耐用性强的USB测试头。
发明内容
本实用新型要解决的技术问题是提供一种TYPE-C一体直插式测试头，采用测试连接端和TYPE-C公端一体直插式设计，生产成本低、组装方便，拔插时整体受力更均匀，减轻TYPE-C公端磨损，提升测试稳定性，增加插拔次数，拔插更方便省力，延长使用寿命。
为了解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：
一种TYPE-C一体直插式测试头，包括PCB板、上盖和下盖，其特征在于：所述PCB板的一端设置有TYPE-C公端，所述PCB板的另一端设置有测试连接端，所述TYPE-C公端位于上盖和下盖中间且与PCB板处在同一平面，所述TYPE-C公端包含第一针脚部、第二针脚部、第一胶芯、第二胶芯和外壳，所述上盖和下盖均通过螺丝和销钉固定于PCB板。
优选的是，所述测试连接端为WAFER 5、USB-C母座11或者Micro USB母端10。
优选的是，所述第一针脚部和第二针脚部上下并排排布且针脚数量一一对应，所述第一针脚部和第二针脚部对应的一端分别嵌设于第一胶芯与第二胶芯内，所述第一针脚部和第二针脚部对应的另一端装设于外壳内。
优选的是，所述第一胶芯位于PCB板与上盖之间，所述第二胶芯位于PCB板与下盖之间，所述第一胶芯上表面与第二胶芯下表面分别设有第一凸起部和第二凸起部，所述外壳有适应第一凸起部和第二凸起部的第一卡孔和第二卡孔。
优选的是，所述第二胶芯与第一胶芯贴合面有相互适应的定位柱体和定位孔。
优选的是，所述PCB板一端上下表面分别设有与第一针脚部和第二针脚部相接触的焊接片。
优选的是，所述PCB板的上端面还设置有与螺丝相对应连接的螺纹孔，所述PCB板的上端面还设置有与销钉相对应连接的销孔。
优选的是，所述上盖和下盖均采用塑料材料制成。
本实用新型的有益效果在于：TYPE-C公端为测试时对插被测产品使用，测试连接端则用于接入测试设备，采用测试连接端和TYPE-C公端一体直插式设计可以使整体受力更均匀，减轻TYPE-C公端的磨损，通过长时间的插拔，不会导致针脚和PCB板因为受力不均而导致焊接的松动，从而影响测试稳定性，延长了使用寿命，一体式设计在插拔时也更加方便省力。
当TYPE-C公端达到使用寿命后，只需将螺丝拆开更换端子后仍可继续使用，针脚部和胶芯采用上下两部分生产，使得加工更容易，节约生产设备成本，TYPE C公端外壳与常规TYPE-C公端采用塑料制造，产品单价更便宜，TYPE C公端外壳和胶芯卡接，防止使用时造成插入过猛而造成PCB板的损坏，公头端产品没有卡钩且插入端周圈设计倒角结构，防止使用时造成被测产品刮花与损坏，实用性强。
附图说明
图1是本实用新型实施例一的立体结构示意图。
图2是本实用新型实施例一的立体结构分解示意图。
图3是本实用新型的TYPE-C公端的分解结构示意图。
图4是本实用新型实施例二的立体结构示意图。
图5是本实用新型实施例三的立体结构示意图。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例对本实用新型作进一步的说明，实施方式提及的内容并非对本实用新型的限定。
实施例一：
如图1至图3所示，一种TYPE-C一体直插式测试头，包括PCB板1、上盖2和下盖3，其特征在于：所述PCB板1的一端设置有TYPE-C公端4，所述PCB板1的另一端设置有测试连接端，所述TYPE-C公端4位于上盖2和下盖3中间且与PCB板处在同一平面，所述TYPE-C公端4包含第一针脚部41、第二针脚部42、第一胶芯43、第二胶芯44和外壳6，所述上盖2和下盖3均通过螺丝8和销钉9固定于PCB板1，公端为测试时对插被测产品使用，母端则用于接入测试设备，采用测试连接端和TYPE-C公端一体直插式设计可以使整体受力更均匀，通过长时间的插拔，不会导致针脚和PCB板因为受力不均而导致焊接的松动，从而影响测试稳定性，延长了使用寿命，一体式设计在插拔时也更加方便省力。
当端子达到使用寿命后，只需将螺丝拆开更换端子后仍可继续使用，针脚部和胶芯采用上下两部分生产，使得加工更容易，节约生产设备成本，一体式设计也使得组装使用方便，进步性强。
本实施例中，所述测试连接端为USB-C母座11，所述USB-C母座11不需要连接电阻，使得测试成本低、效率高，便利性好。
本实施例中，所述第一针脚部41和第二针脚部42上下并排排布且针脚数量一一对应，所述第一针脚部41和第二针脚部42对应的一端分别嵌设于第一胶芯43与第二胶芯44内，所述第一针脚部41和第二针脚部42对应的另一端装设于外壳6内，针脚部位于胶芯和外壳之间，可以一体组装，降低组装难度。
本实施例中，所述第一胶芯43位于PCB板1与上盖2之间，所述第二胶芯43位于PCB板1与下盖3之间，所述第一胶芯43上表面与第二胶芯44下表面分别设有第一凸起部431和第二凸起部432，所述外壳6有适应第一凸起部431和第二凸起部432的第一卡孔61和第二卡孔62，USB TYPE C公端外壳和胶芯卡接，防止使用时造成插入过猛而造成PCB板的损坏，实用性强。
本实施例中，所述第二胶芯44与第一胶芯43贴合面有相互适应的定位柱体441和定位孔442，便于定位胶芯位置，组装方便，实用性强。
本实施例中，所述PCB板1一端上下表面分别设有与第一针脚部41和第二针脚部42相接触的焊接片14，便于针脚部和PCB板上的电路焊接。
本实施例中，所述PCB板1的上端面还设置有与螺丝8相对应连接的螺纹孔12，所述PCB板1的上端面还设置有与销钉9相对应连接的销孔13，方便固定各零部件，锁紧的外壳通过对公端外壳的垂直挤压，可以进一步的加强USB公端的紧固性。
本实施例中，所述上盖2和下盖3均采用塑料材料制成，通过采用塑料材质可以有效降低成本。
实施例二：
如图4所示为测试连接端为Micro USB母端10的TYPE-C一体直插式测试头，此测试连接端便于与Micro USB公端的机器连接。
实施例三：
如图5所示为测试连接端为WAFER 5的TYPE-C一体直插式测试头，此测试连接端便于与WAFER公端的机器连接。
在本实用新型的描述中，需要说明的是，对于方位词，如有术语“中心”，“横向(X)”、“纵向(Y)”、“竖向(Z)”“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示方位和位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于叙述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定方位构造和操作，不能理解为限制本实用新型的具体保护范围。
此外，如有术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或隐含指明技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”特征可以明示或者隐含包括一个或者多个该特征，在本实用新型描述中，“数个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
在本实用新型中，除另有明确规定和限定，如有术语“组装”、“相连”、“连接”术语应作广义去理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；也可以是机械连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介相连，可以是两个元件内部相连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述的术语在本实用新型中的具体含义。
以上所述实施例仅表达了本实用新型的若干实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (8)
1.一种TYPE-C一体直插式测试头，包括PCB板（1）、上盖（2）和下盖（3），其特征在于：所述PCB板（1）的一端设置有TYPE-C公端（4），所述PCB板（1）的另一端设置有测试连接端，所述TYPE-C公端（4）位于上盖（2）和下盖（3）中间且与PCB板处在同一平面，所述TYPE-C公端（4）包含第一针脚部（41）、第二针脚部（42）、第一胶芯（43）、第二胶芯（44）和外壳（6），所述上盖（2）和下盖（3）均通过螺丝（8）和销钉（9）固定于PCB板（1）。
2.根据权利要求1所述的一种TYPE-C一体直插式测试头，其特征在于：所述测试连接端为WAFER（5）、USB-C母座（11）或Micro USB母端（10）。
3.根据权利要求1所述的一种TYPE-C一体直插式测试头，其特征在于：所述第一针脚部（41）和第二针脚部（42）上下并排排布且针脚数量一一对应，所述第一针脚部（41）和第二针脚部（42）对应的一端分别嵌设于第一胶芯（43）与第二胶芯（44）内，所述第一针脚部（41）和第二针脚部（42）对应的另一端装设于外壳（6）内。
4.根据权利要求1所述的一种TYPE-C一体直插式测试头，其特征在于：所述第一胶芯（43）位于PCB板（1）与上盖（2）之间，所述第二胶芯（43）位于PCB板（1）与下盖（3）之间，所述第一胶芯（43）上表面与第二胶芯（44）下表面分别设有第一凸起部（431）和第二凸起部（432），所述外壳（6）有适应第一凸起部（431）和第二凸起部（432）的第一卡孔（61）和第二卡孔（62）。
5.根据权利要求1所述的一种TYPE-C一体直插式测试头，其特征在于：所述第二胶芯（44）与第一胶芯（43）贴合面有相互适应的定位柱体（441）和定位孔（442）。
6.根据权利要求1所述的一种TYPE-C一体直插式测试头，其特征在于：所述PCB板（1）一端上下表面分别设有与第一针脚部（41）和第二针脚部（42）相接触的焊接片（14）。
7.根据权利要求1所述的一种TYPE-C一体直插式测试头，其特征在于：所述PCB板（1）的上端面还设置有与螺丝（8）相对应连接的螺纹孔（12），所述PCB板（1）的上端面还设置有与销钉（9）相对应连接的销孔（13）。
8.根据权利要求1所述的一种TYPE-C一体直插式测试头，其特征在于：所述上盖（2）和下盖（3）均采用塑料材料制成。
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| CN108957054A (zh) * | 2018-08-21 | 2018-12-07 | 深圳市宇隆宏天科技有限公司 | Type c模组检测设备及其检测方法 |
| CN109861145A (zh) * | 2018-11-16 | 2019-06-07 | 合肥智瑞工程科技有限公司 | 一种网络工程布线用电缆线束固定装置 |
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