CN206648612U - 一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置 - Google Patents
一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型公开了一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，所述激光测量装置包括：装置底板，所述装置底板上设有激光器、固定激光器的支架、刻度板、固定刻度板的定位架、置件台；所述刻度板设于所述激光器与置件台之间；所述置件台上设有工件台，所述置件台上设有位置调节器；所述刻度板呈矩形，所述刻度板上设有光学刻度。通过上述方式，本实用新型能够实现对特殊圆柱面带契角的光学晶体的角度测量，操作简单便捷，测量角度时能够直观的读取产品的测量角度，测量精度高；并且被测产品装夹方便，且能任意调整位置。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学晶体加工领域，具体涉及一种光学晶体加工过程中的角度测量装置。
背景技术
光学玻璃是能改变光的传播方向，并能改变紫外、可见或红外光的相对光谱分布的玻璃。狭义的光学玻璃是指无色光学玻璃；广义的光学玻璃还包括有色光学玻璃、激光玻璃、石英光学玻璃、抗辐射玻璃、紫外红外光学玻璃、纤维光学玻璃、声光玻璃、磁光玻璃和光变色玻璃。光学玻璃可用于制造光学仪器中的透镜、棱镜、反射镜及窗口等。由光学玻璃构成的部件是光学仪器中的关键性元件。光学玻璃具有高度的透明性、化学及物理学(结构和性能)上的高度均匀性，具有特定和精确的光学常数。
滤波器光学晶体是用于对于固定波长的激光进行频率转换，由于光反射角度的需要，光学晶体的角度要求较高，需要仪器测量合格后才能进行包装。但圆柱面带契角的光学晶体由于受规格形状的限制，无法采用常规仪器比较测角仪器设备来测量角度，从而给生产带来不便。因此在实际生产中，工厂迫切需要一种能够准确检测各种形状光学晶体的角度的设备。
实用新型内容
针对上述现有技术中的不足，本实用新型的主要目的是提供一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，该激光测量装置能够对圆柱面带契角的光学晶体的角度进行测量，操作简单，测量角度直观精准，提高生产效率。
为实现上述目的，本实用新型公开的技术方案是：一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，所述激光测量装置包括：装置底板，所述装置底板上设有激光器、固定激光器的支架、刻度板、固定刻度板的定位架、置件台；所述刻度板设于所述激光器与置件台之间；所述置件台上设有工件台，所述置件台上设有位置调节器；所述刻度板呈矩形，所述刻度板上设有光学刻度。
优选的，所述置件台上的位置调节器包括角度调节器、横向调节器、纵向调节器、俯仰调节器。
优选的，所述支架能调节高度。
优选的，所述激光器采用的是短波长光纤激光器。优选的，是532nm光纤激光器。
优选的，所述定位架能调节高度。
优选的，所述刻度板的尺寸在200mm-300mm之间。优选的，是在240mm—250mm之间。
优选的，所述工件台呈矩形，所述工件台表面平整光滑。
优选的，所述工件台的尺寸在40mm-60mm之间。优选的，是在48mm—48.5mm之间。
本实用新型的有益效果是：本实用新型激光测量装置能够实现对特殊圆柱面带契角的光学晶体的角度测量，操作简单便捷，测量角度时能够直观的读取产品的测量角度，测量精度高；并且被测产品装夹方便，且能任意调整位置。
附图说明
图1是本实用新型激光测量装置一较佳实施例的结构示意图；
图2图1中刻度板的示意图；
图3是本实用新型激光测量装置的测量原理示意图；
图4是本实用新型激光测量装置的另一测量原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。
请参考附图1-4，本实用新型包括如下实施例：
实施例1：一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，所述激光测量装置包括：装置底板1，装置底板1上设有激光器3、固定激光器3的支架2、刻度板5、固定刻度板5的定位架4、置件台6；刻度板5设于激光器3与置件台6之间；置件台6上设有工件台7，置件台6上设有位置调节器；刻度板5呈矩形，刻度板5上设有光学刻度。
本实施例中，置件台6上的位置调节器包括角度调节器、横向调节器、纵向调节器、俯仰调节器。本实施例中，：将支架2需将激光器3水平固定，从而使激光射出平行光。
实施例2：本实施例与实施例1的不同之处在于，本实施例中，支架2与定位架5均能调节高度，从而满足不同尺寸规格的光学晶体的检测。
实施例中，激光器3采用的是532nm光纤激光器。
实施例3：本实施例与实施例1的不同之处在于，本实施例中，刻度板5的尺寸在200mm-300mm之间，优选的，是在240mm—250mm之间。本实施例中，工件台7呈矩形，表面平整光滑。工件台7的尺寸是在40mm-60mm之间，优选的，是在48mm—48.5mm之间。
本实用新型所述的激光测量装置用于光学晶体角度测量时，首先将待检测的光学晶体放置在工件台7上，通过置件台6上的位置调节器调节好位置，然后开启激光器3发射激光，激光水平射到带有角度的光学晶体上，其反射光射到标有角度数字的刻度板5上，根据相应的读数来得出检测的光学晶体的角度。
以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
Claims (8)
1.一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置，其特征在于，所述激光测量装置包括：装置底板，所述装置底板上设有激光器、固定激光器的支架、刻度板、固定刻度板的定位架、置件台；所述刻度板设于所述激光器与置件台之间；所述置件台上设有工件台，所述置件台上设有位置调节器；所述刻度板呈矩形，所述刻度板上设有光学刻度。
2.根据权利要求1所述的激光测量装置，其特征在于，所述置件台上的位置调节器包括角度调节器、横向调节器、纵向调节器、俯仰调节器。
3.根据权利要求1所述的激光测量装置，其特征在于，所述支架能调节高度。
4.根据权利要求1所述的激光测量装置，其特征在于，所述激光器采用的是短波长光纤激光器。
5.根据权利要求1所述的激光测量装置，其特征在于，所述定位架能调节高度。
6.根据权利要求1所述的激光测量装置，其特征在于，所述刻度板的尺寸在200mm-300mm之间。
7.根据权利要求1所述的激光测量装置，其特征在于，所述工件台呈矩形，所述工件台表面平整光滑。
8.根据权利要求7所述的激光测量装置，其特征在于，所述工件台的尺寸在40mm-60mm之间。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201720365645.4U CN206648612U (zh) | 2017-04-10 | 2017-04-10 | 一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201720365645.4U CN206648612U (zh) | 2017-04-10 | 2017-04-10 | 一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置 |
Publications (1)
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| CN206648612U true CN206648612U (zh) | 2017-11-17 |
Family
ID=60275644
Family Applications (1)
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| CN201720365645.4U Active CN206648612U (zh) | 2017-04-10 | 2017-04-10 | 一种用于光学晶体角度测量的激光测量装置 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN206648612U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111765854A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-10-13 | 东莞市翔通光电技术有限公司 | 一种用于光学晶体的角度检验装置及检测方法 |
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2017
- 2017-04-10 CN CN201720365645.4U patent/CN206648612U/zh active Active
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| CN111765854A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-10-13 | 东莞市翔通光电技术有限公司 | 一种用于光学晶体的角度检验装置及检测方法 |
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