CN206531593U - 一种热电阻/热电偶响应速度测试仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种热电阻/热电偶响应速度测试仪，包括测试端口、嵌入式处理器、计时器、控制面板、信号整流电路、数字信号处理电路、温度控制器，热电阻/热电偶的输出端与信号整流电路的输入端连接，信号整流电路的输出端与数字信号处理电路的输入端连接，数字信号处理电路的输出端与嵌入式处理器的输入端连接，嵌入式处理器的第一控制输出端与计时器的输入端连接，嵌入式处理器的第二控制输出端与温度控制器的输入端连接，控制面板的输出端与嵌入式处理器的输入端连接，温度控制器设置在测试端口内并与测试元件连接。本实用新型通过温度控制器对测试元件进行升温操作从而可以判断测试元件的响应速度，结构简单，易操作，成本低，且测试速度快可广泛应用于热电阻/热电偶等传感器的响应速度测试领域。

Description

一种热电阻/热电偶响应速度测试仪

技术领域

本实用新型涉及一种测试设备，尤其涉及一种热电阻/热电偶响应速度测试仪。

背景技术

传统工艺中对用传感器元件(热电阻/热电偶)响应速度测试进行测试时，一般都是通过人眼配合秒表来测试。而且由于人工的反应受限制只能测1秒以上的热电阻/热电偶的测温响应速度，而且主观性强，误差很大，因此需要一种测试测试速度快，结构简单的设备。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于为了解决上述问题而提供一种热电阻热电偶响应速度测试仪。

本实用新型通过以下技术方案来实现上述目的：

本实用新型包括测试端口、还包括嵌入式处理器、计时器、控制面板、信号整流电路、数字信号处理电路和温度控制芯片，所述测试端口的输入端与所述信号整流电路的输入端连接，所述信号整流电路的输出端与所述数字信号处理电路的输入端连接，所述数字信号处理电路的输出端与所述温度控制芯片的输入端连接，所述温度控制芯片的输出端与所述嵌入式处理器的输入端连接，所述嵌入式处理器的控制输出端与所述计时器的控制输入端连接。

本实用信息包括控制面板,所述控制面板的输出端与所述嵌入式处理器的输入端连接。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型通过温度控制器对测试元件进行升温操作并得出结果从而可以判断测试元件的响应速度，结构简单，易操作，成本低，且测试速度快可广泛应用于热电阻/热电偶传感器响应速度测试领域。

附图说明

图1是本实用新型结构示意图；

图2是本实用新型外观结构示意图；

图中1-控制面板，2-计时器，3-测试端口。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明：

如图1和2所示，本实用新型包括测试端口、还包括嵌入式处理器、计时器、控制面板、信号整流电路、数字信号处理电路和温度控制芯片，所述测试端口的输入端与所述信号整流电路的输入端连接，所述信号整流电路的输出端与所述数字信号处理电路的输入端连接，所述数字信号处理电路的输出端与所述温度控制芯片的输入端连接，所述温度控制芯片的输出端与所述嵌入式处理器的输入端连接，所述嵌入式处理器的控制输出端与所述计时器的控制输入端连接。

本实用信息包括控制面板,所述控制面板的输出端与所述嵌入式处理器的输入端连接。

本实用新型的工作原理如下：

将传感器测试元件接入测试端口的输入端，利用温度控制器的响应捕捉热测试元件的温度变化，通过控制面板设置温度控制芯片的温度上下限阈值后，当测试元件插入热的介质后温度马上升高，当温度到达温度控制芯片的温度下限阈值(比如25摄氏度时)，嵌入式处理器通过传感器测试元件采集到温度的变化，控制计时器开始计时，当温度到达温度控制芯片的温度上限阈值(比如60摄氏度时)，嵌入式处理器控制计时器停止计时,从而得出测试元件的热响应速度和上升趋势图。如果需要重新测量(让时间归零)只需按控制面板上的“RST”键即可，另外此温控器可以接受测试元件信号，接上热电阻或者热电偶后通过操作温控器的面板按键，操作简单。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围内。

Claims (2)

1.一种热电阻/热电偶响应速度测试仪，包括测试端口，其特征在于：还包括嵌入式处理器、计时器、控制面板、信号整流电路、数字信号处理电路和温度控制芯片，所述测试端口的输入端与所述信号整流电路的输入端连接，所述信号整流电路的输出端与所述数字信号处理电路的输入端连接，所述数字信号处理电路的输出端与所述温度控制芯片的输入端连接，所述温度控制芯片的输出端与所述嵌入式处理器的输入端连接，所述嵌入式处理器的控制输出端与所述计时器的控制输入端连接。

2.根据权利要求1所述的一种热电阻/热电偶响应速度测试仪，其特征在于：还包括控制面板,所述控制面板的输出端与所述嵌入式处理器的输入端连接。