CN206292777U - 一种电子设备老化测试装置 - Google Patents

一种电子设备老化测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN206292777U
CN206292777U CN201621428404.1U CN201621428404U CN206292777U CN 206292777 U CN206292777 U CN 206292777U CN 201621428404 U CN201621428404 U CN 201621428404U CN 206292777 U CN206292777 U CN 206292777U
Authority
CN
China
Prior art keywords
pieces
electronic equipment
riser
horizontal
ageing tester
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201621428404.1U
Other languages
English (en)
Inventor
唐才韬
黎伟然
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Huizhou Fusheng Chuangxin Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Huizhou Fusheng Chuangxin Electronic Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Huizhou Fusheng Chuangxin Electronic Technology Co Ltd filed Critical Huizhou Fusheng Chuangxin Electronic Technology Co Ltd
Priority to CN201621428404.1U priority Critical patent/CN206292777U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN206292777U publication Critical patent/CN206292777U/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种电子设备老化测试装置,包括底板、横向立板和纵向立板,所述底板的中部设有两块平行设置的横向立板,所述底板两端设有纵向立板,所述两块横向立板之间设有输出电源,所述输出电源内设有保护电路板,可以起到过流过压保护,避免电流或电压变化过大而影响产品的正常工作,甚至是损坏产品。所述两块横向立板的外侧设有若干块隔板,相邻两块隔板之间形成置物槽,使本实用新型可以供多个产品同时进行老化测试,提升工作效率。本实用新型电子设备老化测试装置具有方便移动、提升工作效率、具有过流过压保护、可保护内部元器件等优点。

Description

一种电子设备老化测试装置
技术领域
本实用新型涉及电子设备测试辅助装置领域,具体为一种电子设备老化测试装置。
背景技术
随着科技的飞速发展和人们生活水平的不断提高,人们对智能产品的性能要求越来越高,特别是电子设备,因此电子设备的一些性能测试也随之不断的完善。电子设备、平板等电子设备在制作完成后,一般都会进行老化测试,主要测试这些电子设备内的功能和质量,以保证生产加工的电子设备不会出现死机、无故停机等障碍。目前,在进行电子设备的老化测试,一般都是将电子设备进行通电测试,使电子设备在通电状态下正常使用规定时间,若电子设备在通电状态下可以正常使用一定时间,则可说明此电子设备通过了老化测试。通常,在进行电子设备的老化测试时都是直接连接排插电源,然后进行老化测试,这种方式占用工作面积大,数据线摆放混乱,影响工作人员的其他工作,而且其效率低下,没有防护措施,容易导致跌落而损坏电子设备。
实用新型内容
本实用新型提供了一种方便移动、提升工作效率、具有过流过压保护、可保护内部元器件的电子设备老化测试装置。
本实用新型可以通过以下技术方案来实现:
一种电子设备老化测试装置,包括底板、横向立板和纵向立板,所述底板的中部设有两块平行设置的横向立板,所述底板两端设有纵向立板,所述两块横向立板之间设有输出电源,所述两块横向立板的外侧设有若干块隔板,相邻两块隔板之间形成置物槽。本实用新型电子设备老化测试装置,包括底板、横向立板和纵向立板,所述横向立板的外侧设有若干块隔板,其构成部件少,整体体积小,方便移动;所述两块横向立板的外侧设有若干块隔板,相邻两块隔板之间形成置物槽,每个置物槽可以放置一个产品,可以供多个产品同时进行老化测试,有效的提升工作效率。
进一步地,所述两块横向立板上方设有顶板,所述顶板上设有若干个电源孔,每个电源孔对应一个输出电源;这样可以方便每个置物槽可以对应使用一个输出电源,避免出现电源使用混乱的现象。
进一步地,每个输出电源内设有保护电路板。所述保护电路板是过流过压保护电路板,可以避免电流或电压变化过大而影响产品的正常工作,甚至是损坏产品。
进一步地,所述两块横向立板之间的一端设有散热装置,所述散热装置与纵向立板连接。所述散热装置一般采用散热风扇,散热风扇可以给输出电源排出热量,避免本实用新型使用时间过长而损坏内部元器件,起到保护内部元器件的作用。
进一步地,所述散热装置的一侧设有电源插座,所述电源插座设在纵向立板的外侧。所述电源插座可以连接外部电源,供给各输出电源。
进一步地,所述隔板的外侧设有挡板,所述挡板上设有过线孔;或者所述挡板上设有过线槽。所述挡板可以防止产品滑出置物槽,避免因掉落而损坏产品,所述过线孔或过线槽可固定数据线,使数据线可以整体的摆放使用,防止数据线杂乱摆放。
进一步地,所述底板、横向立板、纵向立板和隔板采用防静电材料制成。所述底板、横向立板、纵向立板和隔板可以采用电木板制成,使本实用新型具有很好的防静电性能。
本实用新型电子设备老化测试装置,与现有技术相比,具有如下的有益效果:
第一、方便移动,本实用新型电子设备老化测试装置,包括底板、横向立板和纵向立板,所述横向立板的外侧设有若干块隔板,其构成部件少,整体体积小,方便移动;
第二、提升工作效率,所述两块横向立板的外侧设有若干块隔板,相邻两块隔板之间形成置物槽,每个置物槽可以放置一个产品,可以供多个产品同时进行老化测试,有效的提升工作效率;
第三、具有过流过压保护,每个输出电源内设有保护电路板。所述保护电路板是过流过压保护电路板,可以避免电流或电压变化过大而影响产品的正常工作,甚至是损坏产品;
第四、可保护内部元器件,所述两块横向立板之间的一端设有散热装置,所述散热装置与纵向立板连接。所述散热装置一般采用散热风扇,散热风扇可以给输出电源排出热量,避免本实用新型使用时间过长而损坏内部元器件,起到保护内部元器件的作用。
附图说明
图1为本实用新型电子设备老化测试装置带过线孔的结构示意图;
图2为本实用新型电子设备老化测试装置带过线槽的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本实用新型的技术方案,下面结合实施例及附图对本实用新型产品作进一步详细的说明。
一种电子设备老化测试装置,包括底板1、横向立板2和纵向立板3,所述底板1、横向立板2和纵向立板3均采用防静电材料制成。所述底板1的中部设有两块平行设置的横向立板2,所述底板1两端设有纵向立板3,所述两块横向立板2之间设有输出电源4,所述两块横向立板2上方设有顶板7,所述顶板7上设有若干个电源孔8,每个电源孔6对应一个输出电源4,每个输出电源4内设有保护电路板。所述两块横向立板2之间的一端设有散热装置9,所述散热装置9与纵向立板3连接;所述散热装置9的一侧设有电源插座10,所述电源插座10设在纵向立板3的外侧。所述两块横向立板2的外侧设有若干块隔板5,所述隔板5采用防静电材料制成,相邻两块隔板5之间形成置物槽6。所述隔板3的外侧设有挡板11,所述挡板11上设有过线孔12。使用时,将本实用新型通过电源插座10与外部电源连通,产品的数据线穿过过线孔12并与产品连接,然后将产品整齐的摆放在置物槽6内,数据线的另一头与输出电源4连接,使产品在通电状态下正常使用一定时间进行老化测试。
如图2所示,除上述挡板11的过线孔12设置外,还可如下设置:所述挡板11上设有过线槽13。
以上所述,仅为本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式上的限制;凡本行业的普通技术人员均可按说明书附图所示和以上所述而顺畅地实施本实用新型;但是,凡熟悉本专业的技术人员在不脱离本实用新型技术方案范围内,可利用以上所揭示的技术内容而作出的些许更动、修饰与演变的等同变化,均为本实用新型的等效实施例;同时,凡依据本实用新型的实质技术对以上实施例所作的任何等同变化的更动、修饰与演变等,均仍属于本实用新型的技术方案的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种电子设备老化测试装置,其特征在于:包括底板(1)、横向立板(2)和纵向立板(3),所述底板(1)的中部设有两块平行设置的横向立板(2),所述底板(1)两端设有纵向立板(3),所述两块横向立板(2)之间设有输出电源(4),所述两块横向立板(2)的外侧设有若干块隔板(5),相邻两块隔板(5)之间形成置物槽(6)。
2.根据权利要求1所述的电子设备老化测试装置,其特征在于:所述两块横向立板(2)上方设有顶板(7),所述顶板(7)上设有若干个电源孔(8),每个电源孔(8)对应一个输出电源(4)。
3.根据权利要求1或2所述的电子设备老化测试装置,其特征在于:每个输出电源(4)内设有保护电路板。
4.根据权利要求1所述的电子设备老化测试装置,其特征在于:所述两块横向立板(2)之间的一端设有散热装置(9),所述散热装置(9)与纵向立板(3)连接。
5.根据权利要求4所述的电子设备老化测试装置,其特征在于:所述散热装置(9)的一侧设有电源插座(10),所述电源插座(10)设在纵向立板(3)的外侧。
6.根据权利要求1所述的电子设备老化测试装置,其特征在于:所述隔板(3)的外侧设有挡板(11),所述挡板(11)上设有过线孔(12);或者所述挡板(11)上设有过线槽(13)。
7.根据权利要求1所述的电子设备老化测试装置,其特征在于:所述底板(1)、横向立板(2)、纵向立板(3)和隔板(5)采用防静电材料制成。
CN201621428404.1U 2016-12-24 2016-12-24 一种电子设备老化测试装置 Expired - Fee Related CN206292777U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201621428404.1U CN206292777U (zh) 2016-12-24 2016-12-24 一种电子设备老化测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201621428404.1U CN206292777U (zh) 2016-12-24 2016-12-24 一种电子设备老化测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN206292777U true CN206292777U (zh) 2017-06-30

Family

ID=59154264

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201621428404.1U Expired - Fee Related CN206292777U (zh) 2016-12-24 2016-12-24 一种电子设备老化测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN206292777U (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108508353A (zh) * 2018-05-22 2018-09-07 杭州博日科技有限公司 Pcr仪器的驱动线路板高温加速测试老化装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108508353A (zh) * 2018-05-22 2018-09-07 杭州博日科技有限公司 Pcr仪器的驱动线路板高温加速测试老化装置
CN108508353B (zh) * 2018-05-22 2023-08-08 杭州博日科技股份有限公司 Pcr仪器的驱动线路板高温加速测试老化装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN206292777U (zh) 一种电子设备老化测试装置
CN206773015U (zh) 一种电源老化测试柜体
CN104716580A (zh) 一种配电柜
CN202649399U (zh) 二极管电压老化试验台
CN203982937U (zh) 手动头投切式电阻负载箱
CN206788264U (zh) 一种直流配电产品测试装置
CN205140911U (zh) 万能式断路器灭弧室
CN203368930U (zh) 一种拼接式pcb板
CN209420106U (zh) 一种网络共享装置
CN203725358U (zh) 小体积散热式超声波发生器
CN203150743U (zh) 一种接线端子
CN206516328U (zh) 一种高亮度低能耗led显示屏驱动电路板
CN204925162U (zh) 一种空调功能测试工装
CN203376411U (zh) 电气测试作业台
CN214590083U (zh) 一种交流低压配电柜
CN209803229U (zh) 报警测试装置
CN217388525U (zh) 用于无功测试设备的交流控制箱
CN204230706U (zh) 一种配电柜散热防尘装置
CN211377118U (zh) 组合插座
CN204855680U (zh) 电子产品批量通电测试和老化试验平台
CN207559308U (zh) 一种智能散热配电柜
CN202676766U (zh) 一种新型电表箱
CN204405702U (zh) 变压器负载测试铜排短接线
CN202854239U (zh) 一种用于130mm功率器件的结电容测试电路及装置
CN210806354U (zh) 一种抽屉式低压配电柜

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20170630

Termination date: 20191224