CN206281915U - 一种电容式触摸按键的测试装置及系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例公开了一种用于电容式触摸按键的测试装置及系统。其中，该用于电容式触摸按键的测试装置包括容性电路和电容值检测电路，所述容性电路的一端接地，所述容性电路的另一端用于与电容式触摸按键连接，所述电容值检测电路的测试端用于与所述电容式触摸按键连接，所述电容值检测电路用于检测所述电容式触摸按键的对地电容值。本实用新型实施例解决了对具有触控功能的终端设备等进行测试时，只能通过测试人员用手指去触摸按键来进行测试，从而造成测试效率低的问题，使得测试过程达到自动化，进而提高测试效率。

Description

一种电容式触摸按键的测试装置及系统

技术领域

本实用新型实施例涉及测试装置技术，尤其涉及一种用于电容式触摸按键的测试装置及系统。

背景技术

现在的终端设备大多可以实现触控操作，即用户通过手指触摸触控屏来实现各种控制指令的触发，尤其是智能手机和平板电脑等移动终端，更是离不开触控操作。

目前测试电容式触摸按键性能是通过测试人员用手指去触摸按键来进行测试的。这种人工操作的测试方法，测试效率低，使得产品的生产周期长，生产效率低。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种用于电容式触摸按键的测试装置及系统，以提高测试效率。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种用于电容式触摸按键的测试装置，该装置包括容性电路和电容值检测电路，所述容性电路的一端接地，所述容性电路的另一端用于与电容式触摸按键连接，所述电容值检测电路的测试端用于与所述电容式触摸按键连接，所述电容值检测电路用于检测所述电容式触摸按键的对地电容值。

进一步地，所述容性电路包括相互串联的电容和开关模块。

进一步地，所述容性电路还包括串联在所述电容与所述开关模块的电路中的测试针，所述测试针与所述电容式触摸按键连接。

进一步地，所述电容内置于所述测试针中。

进一步地，所述开关模块包括第一NMOS管，所述第一NMOS管的栅极为所述开关模块的控制端，所述第一NMOS管的漏极与所述电容的一端相连，所述第一NMOS管的源极接地。

进一步地，所述开关模块包括第二NMOS管和第三NMOS管，所述第二NMOS管的栅极和第三NMOS管的栅极相连作为所述开关模块的控制端，第二NMOS管的漏极与第三NMOS管的漏极相连，所述第二NMOS管的源极接地，所述第三NMOS管的源极与所述电容的一端相连。

进一步地，所述开关模块包括继电器。

进一步地，所述开关模块还包括NPN三极管，其中，所述继电器的线圈的一端与所述NPN三极管的集电极相连，所述继电器的触点开关与所述电容串联，所述NPN三极管的基极为所述开关模块的控制端，所述NPN三极管的发射极接地。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种用于电容式触摸按键的测试系统，该测试系统包括测试台和如本实用新型任意实施例提供的用于电容式触摸按键的测试装置，所述测试台上设置第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽用于安装电容式触摸按键，所述第二卡槽用于安装所述用于电容式触摸按键的测试装置。

进一步地，还包括工控机，所述工控机的输出端与所述容性电路的控制端相连，所述工控机输出所述容性电路的控制信号，控制所述容性电路与所述电容式触摸按键的通断。

本实用新型实施例，通过将容性电路的一端接地，容性电路的另一端用于与电容式触摸按键连接，进而控制容性电路的另一端与电容式触摸按键的连接状态或方式，来模拟手指是否触摸电容式触摸按键的情况，并通过电容值检测电路检测电容式触摸按键的对地电容值，可以根据该电容值，获取输入的触摸参数，解决了对具有触控功能的终端设备等进行测试时，只能通过测试人员用手指去触摸按键来进行测试，从而造成测试效率低的问题，使得测试过程达到自动化，进而提高测试效率。

附图说明

图1是本实用新型实施例一中提供的一种用于电容式触摸按键的测试装置的结构示意图；

图2是本实用新型实施例一中提供的另一种用于电容式触摸按键的测试装置的结构示意图；

图3是本实用新型实施例一中提供的一种开关模块的结构示意图；

图4是本实用新型实施例一中提供的另一种开关模块的结构示意图；

图5是本实用新型实施例一中提供的另一种开关模块的结构示意图；

图6是本实用新型实施例二中提供的一种用于电容式触摸按键的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1为本实用新型实施例一提供的一种用于电容式触摸按键的测试装置的结构示意图，如图1所示，该测试装置包括容性电路110和电容值检测电路120，所述容性电路110的一端接地，所述容性电路110的另一端用于与电容式触摸按键130连接，所述电容值检测电路120的测试端用于与所述电容式触摸按键130连接，所述电容值检测电路120用于检测所述电容式触摸按键130的对地电容值。

其中，容性电路110的一端可以用于接地，容性电路110的另一端可以用于与电容式触摸按键120(可以是触控电极)连接，容性电路110的一端与地的连接状态或方式可以包括通态或断态，容性电路110的另一端与电容式触摸按键130的连接状态或方式可以包括通态或断态，可以通过控制容性电路110的一端与地的连接状态或方式或者通过控制容性电路110的另一端与电容式触摸按键130的连接状态或方式，与手指触摸和未触摸电容式触摸按键的情况相对应。电容值检测电路120的测试端用于与电容式触摸按键130(可以是触控电极)连接，电容值检测电路120用于检测电容式触摸按键的对地电容值，通过检测该电容值，可以根据该电容值，获取输入的触摸参数。

优选的，如图1所示，所述容性电路110包括相互串联的电容C1和开关模块111。

其中，容性电路110包括电容C1和开关模块111，电容C1和开关模块111串联连接，串联后的一端可以接地，另一端可以与电容式触摸按键130连接。电容C1的容量值可以为预设电容值，该预设电容值的大小的设置可以与设置有电容式触摸按键130的电子设备的外壳材料等有关。开关模块111的开通和关断可以分别对应手指触摸和未触摸电容式触摸按键的情况。

优选的，所述容性电路110还包括串联在所述电容C1与所述开关模块111的电路中的测试针112，所述测试针与所述电容式触摸按键130连接。

其中，容性电路110可以还包括串联在电容C1与开关模块111的电路中的测试针112，测试针112与电容式触摸按键130连接。测试针112可以与电容式触摸按键130的测试点接触良好，相比于将引线焊接在电容式触摸按键的测试点等方式，可以避免拆卸焊接的引线，可以方便后续处理。

优选的，如图2所示，所述电容C1内置于所述测试针112中。

其中，测试针112包括触点、接线柱和外套管，其中，触点的底部从外套管的下部插入，接线柱的一端从外套管的上部插入，电容可以内置于测试针中，可以设置在触点和接线柱之间，相比于将电容焊接在印刷电路板上等方式，可以方便更换电容，且节省成本。

优选的，如图3所示，所述开关模块包括第一NMOS管Q1，所述第一NMOS管Q1的栅极为所述开关模块111的控制端，所述第一NMOS管Q1的漏极与所述电容C1的一端相连，所述第一NMOS管Q1的源极接地。

其中，当开关模块111的控制端的控制信号为高电平时，第一NMOS管Q1的栅极为高电平，使得第一NMOS管Q1的源极和漏极导通，使得容性电路110的另一端与电容式触摸按键130为通态，对应手指触摸电容式触摸按键的情况。当开关模块111的控制端的控制信号为低电平时，第一NMOS管Q1的栅极为低电平，使得第一NMOS管Q1截止，使得容性电路110的另一端与电容式触摸按键130为断态，对应手指未触摸电容式触摸按键的情况。还可以通过控制开关模块111的控制端的控制信号的高电平持续时间，与触摸操作的点触和长按等情况对应。可以控制多个位置连续的电容式触控按键对应的开关模块的控制端的控制信号来实现触摸操作的滑动操作等情况。

优选的，如图4所示，所述开关模块包括第二NMOS管Q2和第三NMOS管Q3，所述第二NMOS管Q2的栅极和第三NMOS管Q3的栅极相连作为所述开关模块111的控制端，第二NMOS管Q2的漏极与第三NMOS管Q3的漏极相连，所述第二NMOS管Q2的源极接地，所述第三NMOS管Q3的源极与所述电容C1的一端相连。

其中，第三NMOS管Q3的源极可以与电容C1的一端相连当开关模块111的控制端的控制信号为高电平时，第二NMOS管Q2的栅极和第三NMOS管Q3的栅极均为高电平，使得第二NMOS管Q2的源极和漏极导通，第三NMOS管Q3的源极和漏极导通，使得容性电路110的另一端与电容式触摸按键130为通态，对应手指触摸电容式触摸按键的情况。当开关模块的控制端的控制信号为低电平时，第二NMOS管Q2的栅极和第三NMOS管Q3的栅极均为低电平，使得第二NMOS管Q2的源极和漏极不导通，第三NMOS管Q3的源极和漏极不导通，使得容性电路110的另一端与电容式触摸按键130为断态，对应手指未触摸电容式触摸按键的情况。还可以通过控制开关模块的控制端的控制信号的高电平持续时间，与触摸操作的点触和长按等情况对应。可以控制多个位置连续的电容式触控按键对应的开关模块的控制端的控制信号来实现触摸操作的滑动操作等情况。

优选的，所述开关模块111包括继电器1111。

其中，开关模块111包括继电器1111，继电器1111包括线圈和触点开关。

优选的，如图5所示，所述开关模块111还包括NPN三极管Q4，其中，所述继电器1111的线圈的一端与所述NPN三极管Q4的集电极相连，所述继电器1111的触点开关与所述电容C1串联，所述NPN三极管Q4的基极为所述开关模块111的控制端，所述NPN三极管Q4的发射极接地。

其中，继电器1111的线圈的另一端可以与电压电源连接。当开关模块111的控制端的控制信号为高电平时，NPN三极管Q4的基极为高电平，使得NPN三极管Q4的集电极和发射极导通，使得容性电路110的另一端与电容式触摸按键130为通态，对应手指触摸电容式触摸按键的情况。当开关模块111的控制端的控制信号为低电平时，NPN三极管Q4的基极为高电平，使得NPN三极管Q4的集电极和发射极导通，使得容性电路110的另一端与电容式触摸按键130为断态，对应手指未触摸电容式触摸按键的情况。还可以通过控制开关模块111的控制端的控制信号的高电平持续时间，与触摸操作的点触和长按等情况对应。可以控制多个位置连续的电容式触控按键对应的开关模块的控制端的控制信号来实现触摸操作的滑动操作等情况。

本实施例的技术方案，通过将容性电路的一端接地，容性电路的另一端用于与电容式触摸按键连接，进而控制容性电路的另一端与电容式触摸按键的连接状态或方式，来模拟手指是否触摸电容式触摸按键的情况，并通过电容值检测电路检测电容式触摸按键的对地电容值，可以根据该电容值，获取输入的触摸参数，解决了对具有触控功能的终端设备等进行测试时，只能通过测试人员用手指去触摸按键来进行测试，从而造成测试效率低的问题，使得测试过程达到自动化，进而提高测试效率。

实施例二

图6为本实用新型实施例二提供的一种用于电容式触摸按键的测试系统的结构示意图，如图6所示，该测试系统包括测试台210和如本实用新型任意实施例提供的用于电容式触摸按键的测试装置220，所述测试台上设置第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽用于安装电容式触摸按键130，所述第二卡槽用于安装所述用于电容式触摸按键的测试装置220。

其中，测试系统包括测试台210和如本实用新型任意实施例提供的用于电容式触摸按键的测试装置220，本实用新型任意实施例提供的用于电容式触摸按键的测试装置和对应的电容式触摸按键的数量可以为多个，如可以是终端设备的触控屏上的多个触控按键。

优选的，还包括工控机230，所述工控机230的输出端与所述容性电路的控制端相连，所述工控机230输出所述容性电路的控制信号，控制所述容性电路与所述电容式触摸按键的通断。

其中，工控机230输出容性电路的控制信号，该控制信号可以控制容性电路与电容式触摸按键的通断状态、持续时间和通断时刻等，从而实现模拟各种触摸操作(可以是点触、长按和滑动等操作)。

本实施例的技术方案，通过将电容式触摸按键和用于电容式触摸按键的测试装置分别安装在测试台的第一卡槽和第二卡槽中，并通过工控机输出容性电路的控制信号，控制容性电路与电容式触摸按键的通断，来模拟各种触摸操作的情况，进而实现测试过程自动化和智能化。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于：包括容性电路(110)和电容值检测电路(120)，所述容性电路(110)的一端接地，所述容性电路(110)的另一端用于与电容式触摸按键(130)连接，所述电容值检测电路(120)的测试端用于与所述电容式触摸按键(130)连接，所述电容值检测电路(120)用于检测所述电容式触摸按键(130)的对地电容值。

2.根据权利要求1所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述容性电路包括相互串联的电容(C1)和开关模块(111)。

3.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述容性电路还包括串联在所述电容(C1)与所述开关模块(111)的电路中的测试针(112)，所述测试针(112)与所述电容式触摸按键(130)连接。

4.根据权利要求3所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述电容(C1)内置于所述测试针(112)中。

5.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)包括第一NMOS管(Q1)，所述第一NMOS管(Q1)的栅极为所述开关模块(111)的控制端，所述第一NMOS管(Q1)的漏极与所述电容(C1)的一端相连，所述第一NMOS管(Q1)的源极接地。

6.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)包括第二NMOS管(Q2)和第三NMOS管(Q3)，所述第二NMOS管(Q2)的栅极和第三NMOS管(Q3)的栅极相连作为所述开关模块(111)的控制端，第二NMOS管(Q2)的漏极与第三NMOS管(Q3)的漏极相连，所述第二NMOS管(Q2)的源极接地，所述第三NMOS管(Q3)的源极与所述电容(C1)的一端相连。

7.根据权利要求2所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)包括继电器(1111)。

8.根据权利要求7所述的用于电容式触摸按键的测试装置，其特征在于，所述开关模块(111)还包括NPN三极管(Q4)，其中，所述继电器(1111)的线圈的一端与所述NPN三极管(Q4)的集电极相连，所述继电器(1111)的触点开关与所述电容(C1)串联，所述NPN三极管(Q4)的基极为所述开关模块(111)的控制端，所述NPN三极管(Q4)的发射极接地。

9.一种用于电容式触摸按键的测试系统，其特征在于，包括测试台(210)和如权利要求1至8任一项所述的用于电容式触摸按键的测试装置(220)，所述测试台上设置第一卡槽和第二卡槽，所述第一卡槽用于安装电容式触摸按键(130)，所述第二卡槽用于安装所述用于电容式触摸按键的测试装置(220)。

10.根据权利要求9所述的用于电容式触摸按键的测试系统，其特征在于，还包括工控机(230)，所述工控机(230)的输出端与所述容性电路(110)的控制端相连，所述工控机(230)输出所述容性电路(110)的控制信号，控制所述容性电路(110)与所述电容式触摸按键(130)的通断。