CN205946169U - 扬声器振膜f0测试装置 - Google Patents

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朱剑峰
赵玉祥
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Abstract

本实用新型公开了一种扬声器振膜F0测试装置,包括F0测试仪,还包括测试底座、磁路系统、音圈、卡位音规及振膜活动安装架,所述磁路系统安装在测试底座上,卡位音规套插在音圈上,所述音圈与F0测试仪电连接,所述振膜活动安装架上、下可调地活动支承在测试底座上。采用本实用新型的扬声器振膜F0测试装置能适应各种折环材料振膜的检测,检测误差小,成本低。

Description

扬声器振膜F0测试装置
技术领域
本实用新型涉及一种检测设备,尤其涉及一种用于扬声器振膜共振频率的测试设备。
背景技术
扬声器是一种把电信号转变为声信号的换能器件,音频电能通过电磁、压电或静电效应使其振膜振动并与周围的空气产生共振(共鸣)而发出声音。振膜性能的优劣对扬声器音质有着很大的影响,共振频率F0是其主要性能参数之一,振膜共振频率F0也是的扬声器检测项目中的一个必检项目。
目前比较常用的振膜共振频率F0检测仪器是全电脑操作的自动化仪器,其原理为底端一只低音喇叭按设定的频率振动,带动放在上面的纸盆一起振动,从而捕捉到相应的振膜共振频率,这种仪器在振膜折环材料比较重的情况下(如橡胶、聚氨酯等)检测结果离散性比较大,并于对于尺寸较小的振膜(如宽度小于30mm长度小于50mm)测试散差也会比较大,同时这类检测仪器成本较高,因而在实际生产应用中存在一定的局限性。
实用新型内容
针对现有技术所存在的上述不足,本实用新型所要解决的技术问题是提供一种扬声器振膜F0测试装置,它能适应各种折环材料振膜的检测,检测误差小,成本低。
为了解决上述技术问题,本实用新型的一种扬声器振膜F0测试装置,包括F0测试仪,还包括测试底座、磁路系统、音圈、卡位音规及振膜活动安装架,所述磁路系统安装在测试底座上,卡位音规套插在音圈上,所述音圈与F0测试仪电连接,所述振膜活动安装架上、下可调地活动支承在测试底座上。
在上述结构中由于所述扬声器振膜F0测试装置除了包括F0测试仪外,还包括测试底座、磁路系统、音圈、卡位音规及振膜活动安装架,则该扬声器振膜F0测试装置由除振膜外的扬声器相关构件组成,通过卡位音规实现音圈的安装定位,这样在进行测试时模拟了扬声器的结构,从而能真实反映出振膜的实际工作状态,检测出振膜的共振频率,不管振膜具有何种材料的折环,都不会对检测结果造成影响,也就保证了检测的精确度,检测误差小。又由于所述磁路系统安装在测试底座上,卡位音规套插在音圈上,所述音圈与F0测试仪电连接,所述振膜活动安装架上、下可调地活动支承在测试底座上,则该扬声器振膜F0测试装置结构简单、实用,便于检测的实现,振膜活动安装架上、下可调地活动支承在测试底座上可适应不同高度尺寸的振膜的检测,成本相对较低。
本实用新型的一种优选实施方式,所述磁路系统包括磁钢及华司。采用该实施方式,磁路系统构成简洁,能适应振膜F0检测的要求。
本实用新型的另一种优选实施方式,所述测试底座为铁制构件。采用该实施方式,铁制的测试底座配合磁路系统形成磁场回路,同时又兼作整个测试装置的安装底座,进一步简化了测试装置的结构。
本实用新型的又一种优选实施方式,所述振膜活动安装架旋接在螺杆上,螺杆转动支承在测试底座上。采用该实施方式,通过转动螺杆可方便地调节振膜活动安装架的高低位置,便于不同高度尺寸的振膜的测试。
本实用新型进一步的优选实施方式,在振膜活动安装架与测试底座之间设置有限位导向杆。采用该实施方式,可使振膜活动安装架在上、下调节位置时不会绕螺杆旋转,保证测试过程中振膜处于确定的位置。
本实用新型另一进一步的优选实施方式,被测振膜外周安装在振膜活动安装架上,被测振膜的中心孔套接在卡位音规上。采用该实施方式,测试过程中被测振膜外周安装在振膜活动安装架上,被测振膜的中心孔套接在卡位音规上后通过卡位音规与音圈相连,形成与实际工作状态相似的安装形式,保证了测试的准确性。
附图说明
下面结合附图和具体实施例对本实用新型扬声器振膜F0测试装置作进一步的详细说明。
图1是本实用新型扬声器振膜F0测试装置一种具体实施方式的结构示意图;
图中:1-限位导向杆、2-螺杆、3-振膜活动安装架、4-测试底座、41-、42-、5-音圈、6-卡位音规、7-被测振膜、8-磁路系统、81-磁钢、82-华司、9-F0测试仪。
具体实施方式
在图1所示的扬声器振膜F0测试装置中,测试底座4为铁制板块型构件,在测试底座4上安装有磁路系统8,磁路系统8包括磁钢81及华司82;在测试底座4上还上、下可调地活动支承有振膜活动安装架3,振膜活动安装架3旋接在螺杆2上,螺杆2转动支承在测试底座4上,在振膜活动安装架3与测试底座4之间设置有限位导向杆1,限位导杆1固连在测试底座4上,振膜活动安装架3套插在限位导杆1上,被测振膜7外周安装在振膜活动安装架3上,被测振膜7的中心孔套接在卡位音规6上,卡位音规6套插在音圈5上,音圈5套插在磁路系统的磁隙之间,被测振膜7、卡位音规6及音圈5可随振膜活动安装架3上下移动,使音圈5在最佳磁场中上下运动,音圈5与F0测试仪9电连接,从而通过F0测试仪9对被测振膜7进行检测。
以上仅列出了本实用新型的一些具体实施方式,但本实用新型并不仅限于此,还可以作出较多的改进与变换,只要是在本实用新型基本原理基础上所作出的改进与变换,均应视为落入本实用新型的保护范围内。

Claims (6)

1.一种扬声器振膜F0测试装置,包括F0测试仪(9),其特征在于:还包括测试底座(4)、磁路系统(8)、音圈(5)、卡位音规(6)及振膜活动安装架(3),所述磁路系统(8)安装在测试底座(4)上,卡位音规(6)套插在音圈(5)上,所述音圈(5)与F0测试仪(9)电连接,所述振膜活动安装架(3)上、下可调地活动支承在测试底座(4)上。
2.根据权利要求1所述的扬声器振膜F0测试装置,其特征在于:所述磁路系统(8)包括磁钢(81)及华司(82)。
3.根据权利要求1所述的扬声器振膜F0测试装置,其特征在于:所述测试底座(4)为铁制构件。
4.根据权利要求1所述的扬声器振膜F0测试装置,其特征在于:所述振膜活动安装架(3)旋接在螺杆(2)上,螺杆(2)转动支承在测试底座(4)上。
5.根据权利要求4所述的扬声器振膜F0测试装置,其特征在于:在振膜活动安装架(3)与测试底座(4)之间设置有限位导向杆(1)。
6.根据权利要求1所述的扬声器振膜F0测试装置,其特征在于:被测振膜(7)外周安装在振膜活动安装架(3)上,被测振膜(7)的中心孔套接在卡位音规(6)上。
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