CN205643634U - 一种电路板功能测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及电路板功能测试技术领域，特别涉及一种电路板功能测试治具，包括有测试连接装置，第一、二、三、四固定板通过连接柱相连接，测试连接装置包括有上针管、测试针、下针管和导线，测试针由针头、上针管柱和下针管柱组成，上针管柱一端穿过上针管的通孔后与针头相固定连接，下针管柱一端依次穿过第二固定板、伸进下针管孔、弹簧孔后固定连接有弹簧，弹簧一端固定设置在弹簧孔的内底面上；导线一端穿过线孔、伸入弹簧孔后与弹簧相固定连接。在使用本实用新型时，定位方便，操作简单，提高了测试效率；降低治具的投入成本，降低电路板功能测试成本。本实用新型具有结构简单，设置合理，制作成本低等优点。

Description

一种电路板功能测试治具

技术领域

本实用新型涉及电路板功能测试技术领域，特别涉及一种电路板功能测试治具。

背景技术

在电路板的量产过程中，由于操作者、制作设备及工艺的不足，很有可能生产出来的电路板存在一些缺陷，这就要求在检测阶段加入各种各样的测试设备或工具，使得最终出厂的电路板与最初的设计保持规格和参数的完全一致。现有电路板功能测试治具庞大，结构复杂，导致整个测试时间长，效率低；另外，治具需占有大量地方，造成治具的投入成本高，进而提高电路板功能测试成本。

故有必要提供一种新型的电路板功能测试治具。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种结构简单，设计合理、使用方便的电路板功能测试治具。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

本实用新型所述的一种电路板功能测试治具，包括有从上往下设置的第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板，第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板通过连接柱相连接固定，它还包括有若干个测试连接装置，所述测试连接装置包括有上针管、测试针、下针管和导线，所述第一固定板表面设置有与上针管相匹配的上针管孔，所述上针管嵌套固定在上针管孔中；所述第四固定板表面设置有与下针管相匹配的下针管孔，下针管一端嵌套固定在下针管孔，下针管另一端伸出下针管孔外；所述下针管表面沿轴向由上往下依次设置有弹簧孔和线孔，所述弹簧孔的内圆直径大于线孔的内圆直径；

所述测试针由针头、上针管柱和下针管柱组成，上针管柱一端穿过上针管的通孔后与针头相固定连接，上针管柱另一端与下针管柱相固定连接，下针管柱一端依次穿过第二固定板、伸进下针管孔、弹簧孔后固定连接有弹簧，所述弹簧一端固定设置在弹簧孔的内底面上；导线一端穿过线孔、伸入弹簧孔后与弹簧相固定连接，针头、上针管柱和下针管柱经一体成型而成。

进一步地，所述针头的横截面呈梯形状。

进一步地，所述第三固定板一端铰接有两个线架，两个线架相互平行设置，两个线架的上表面沿长度方向设置有若干个线排，导线另一端与线排相连接。

采用上述结构后，本实用新型有益效果为：本实用新型所述的一种电路板功能测试治具，包括有从上往下设置的第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板，第一固定板、第二固定板、第三固定板和第四固定板通过连接柱相连接固定，它还包括有若干个测试连接装置，所述测试连接装置包括有上针管、测试针、下针管和导线，所述第一固定板表面设置有与上针管相匹配的上针管孔，所述上针管嵌套固定在上针管孔中；所述第四固定板表面设置有与下针管相匹配的下针管孔，下针管一端嵌套固定在下针管孔，下针管另一端伸出下针管孔外；所述下针管表面沿轴向由上往下依次设置有弹簧孔和线孔，所述弹簧孔的内圆直径大于线孔的内圆直径；

所述测试针由针头、上针管柱和下针管柱组成，上针管柱一端穿过上针管的通孔后与针头相固定连接，上针管柱另一端与下针管柱相固定连接，下针管柱一端依次穿过第二固定板、伸进下针管孔、弹簧孔后固定连接有弹簧，所述弹簧一端固定设置在弹簧孔的内底面上；导线一端穿过线孔、伸入弹簧孔后与弹簧相固定连接，针头、上针管柱和下针管柱经一体成型而成。在使用本实用新型时，将本装置放置在压板设备的工作台面上，电路板放置在本装置的上方，电路板的测试点抵压在测试针上，用压板设备压住电路板时，通电即可测试，本装置结构简单，定位方便，操作简单，极大地提高了测试效率；通过测试针下部设置的弹簧，能够保证电路板的测试点与测试针达到有效接触，保证测试效果；另外，节省设备占用空间，既降低治具的投入成本，又降低电路板功能测试成本。本实用新型具有结构简单，设置合理，制作成本低等优点。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是图1中A部位放大图；

附图标记说明：

1、第一固定板； 2、第二固定板； 3、第三固定板；3-1、下针管孔；

4、第四固定板；5、连接柱； 6、线架； 7、线排；8、上针管；

9、测试针；9-1、针头； 9-2、上针管柱； 9-3、下针管柱；10、弹簧；

11、下针管；11-1、弹簧孔；11-2、线孔； 12、导线。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

如图1至2所示，本实用新型所述的一种电路板功能测试治具，包括有从上往下设置的第一固定板1、第二固定板2、第三固定板3和第四固定板4，第一固定板1、第二固定板2、第三固定板3和第四固定板4通过连接柱5相连接固定。

它还包括有若干个测试连接装置，所述测试连接装置包括有上针管8、测试针9、下针管11和导线12，所述第一固定板1表面设置有与上针管8相匹配的上针管孔，所述上针管8嵌套固定在上针管孔中；所述第四固定板4表面设置有与下针管11相匹配的下针管孔3-1，下针管11一端嵌套固定在下针管孔3-1，下针管11另一端伸出下针管孔3-1外；所述下针管11表面沿轴向由上往下依次设置有弹簧孔11-1和线孔11-2，所述弹簧孔11-1的内圆直径大于线孔11-2的内圆直径。

所述测试针9由针头9-1、上针管柱9-2和下针管柱9-3组成，上针管柱9-2一端穿过上针管8的通孔后与针头9-1相固定连接，上针管柱9-2另一端与下针管柱9-3相固定连接，下针管柱9-3一端依次穿过第二固定板2、伸进下针管孔3-1、弹簧孔11-1后固定连接有弹簧10，所述弹簧10一端固定设置在弹簧孔11-1的内底面上；设置弹簧10的作用是：使电路板的测试点与针头9-1达到有效接触，保证测试效果。

导线12一端穿过线孔11-2、伸入弹簧孔11-1后与弹簧10相固定连接，针头9-1、上针管柱9-2和下针管柱9-3经一体成型而成。电路板的测试点抵压在针头9-1上，用压板设备压住电路板时，通电即可测试。

进一步地，所述针头9-1的横截面呈梯形状，便于针头9-1与电路板的测试点相接觛。

进一步地，所述第三固定板3一端铰接有两个线架6，两个线架6相互平行设置，两个线架6的上表面沿长度方向设置有若干个线排7，导线12另一端与线排7相连接，线排7通过数据线与外部测试设备相连接。

在使用本实用新型时，将本装置放置在压板设备的工作台面上，电路板放置在本装置的上方，电路板的测试点抵压在测试针上，用压板设备压住电路板时，通电即可测试，本装置结构简单，定位方便，操作简单，极大地提高了测试效率；通过测试针下部设置的弹簧，能够保证电路板的测试点与测试针达到有效接触，保证测试效果；另外，节省设备占用空间，既降低治具的投入成本，又降低电路板功能测试成本。另外，该结构简单、设计合理，制造成本低。

以上所述仅是本实用新型的较佳实施方式，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。

Claims (3)

1.一种电路板功能测试治具，其特征在于：包括有从上往下设置的第一固定板（1）、第二固定板（2）、第三固定板（3）和第四固定板（4），第一固定板（1）、第二固定板（2）、第三固定板（3）和第四固定板（4）通过连接柱（5）相连接固定，

它还包括有若干个测试连接装置，所述测试连接装置包括有上针管（8）、测试针（9）、下针管（11）和导线（12），所述第一固定板（1）表面设置有与上针管（8）相匹配的上针管孔，所述上针管（8）嵌套固定在上针管孔中；所述第四固定板（4）表面设置有与下针管（11）相匹配的下针管孔（3-1），下针管（11）一端嵌套固定在下针管孔（3-1），下针管（11）另一端伸出下针管孔（3-1）外；所述下针管（11）表面沿轴向由上往下依次设置有弹簧孔（11-1）和线孔（11-2），所述弹簧孔（11-1）的内圆直径大于线孔（11-2）的内圆直径；

所述测试针（9）由针头（9-1）、上针管柱（9-2）和下针管柱（9-3）组成，上针管柱（9-2）一端穿过上针管（8）的通孔后与针头（9-1）相固定连接，上针管柱（9-2）另一端与下针管柱（9-3）相固定连接，下针管柱（9-3）一端依次穿过第二固定板（2）、伸进下针管孔（3-1）、弹簧孔（11-1）后固定连接有弹簧（10），所述弹簧（10）一端固定设置在弹簧孔（11-1）的内底面上；导线（12）一端穿过线孔（11-2）、伸入弹簧孔（11-1）后与弹簧（10）相固定连接，针头（9-1）、上针管柱（9-2）和下针管柱（9-3）经一体成型而成。

2.根据权利要求1所述的一种电路板功能测试治具，其特征在于：所述针头（9-1）的横截面呈梯形状。

3.根据权利要求1所述的一种电路板功能测试治具，其特征在于：所述第三固定板（3）一端铰接有两个线架（6），两个线架（6）相互平行设置，两个线架（6）的上表面沿长度方向设置有若干个线排（7），导线（12）另一端与线排（7）相连接。