CN205643097U - 一种用于测量固体基质孔隙度的容器 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于测量固体基质孔隙度的容器，容器包括容器本体，容器本体的侧壁设有滤网和体积刻度尺，滤网的外侧设有滑动挡片结构，滑动挡片结构包括滑动轨道和用于遮挡滤网的挡片，滑动轨道固定在容器本体的外侧壁上所述挡片与滑动轨道连接，挡片可沿着滑动轨道相对于滤网上下移动，挡片具有防漏水结构，防漏水结构与容器本体外侧壁紧密贴合，通过在容器的侧壁设置滤网和滑动挡片结构，可以方便地调节基质的用量以及容器漏水的高度，将其用于基质的孔隙度测定，可以很好地控制排水，不会因为操作不当而导致过多的水或基质流失，进行重复试验，数据标准差很小，试验结果准确度非常高。

Description

一种用于测量固体基质孔隙度的容器

技术领域

本实用新型涉及一种测量工具，尤其涉及一种用于测量固体基质孔隙度的容器。

背景技术

固体无土栽培基质孔隙度的测定目前暂无标准检测方法，其孔隙度的测定多参考土壤容重测定方，土壤孔隙度测量是采用环刀法进行，常规环刀容积100cm³。现有固体无土栽培基质的测定方法为排水法，直接体积测量误差很大，称重法相能显著减小误差，所以实际工作中，主要通过称重法做测量，即用容器装满一定容积（V^’ mL）的基质，称重得到M₁ ^’（g），再向容器中缓慢注水，当水浸透基质后，在容器侧壁开口，排出高出基质的体积（V^’ mL）的水，称重得到M₂ ^’（g），则基质的总孔隙度TP（%）可通过公式TP=100（M₂ ^’-M₁ ^’）/V^’计算得到，再过滤除多余水分，得到基质饱和吸水的质量M₃ ^’，则基质的通气孔隙度（%）AFP可通过公式AFP=100（M₃ ^’-M₁ ^’）/V^’计算得到，而持水孔隙度WFP（%）可通过公式WFP=TP-AFP计算得到。

但是在实际操作过程中发现，无土栽培基质由于其具有遇水膨胀、颗粒度大、孔隙度大、容重小、斥水性强等特性，基于上述方法采用普通的烧杯来进行实验，排水过程难以掌控，平行试验测量结果的标准差较大，所得孔隙度结果准确度很低。有必要设计一个专门用于测量基质孔隙度的容器，使得实验操作更为简单，测量准确度更高。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于测量固体基质孔隙度的容器。

本实用新型所采取的技术方案是：

一种用于测量固体基质孔隙度的容器，所述容器包括容器本体，所述容器本体的侧壁设有滤网和体积刻度尺，所述滤网的外侧设有滑动挡片结构，所述滑动挡片结构包括滑动轨道和用于遮挡滤网的挡片，所述滑动轨道固定在所述容器本体的外侧壁上，所述挡片与所述滑动轨道连接，所述挡片可沿着所述滑动轨道相对于所述滤网上下移动，所述挡片具有防漏水结构，所述防漏水结构与所述容器本体外侧壁以及所述滑动轨道紧密贴合。

优选地，所述防漏水结构为凸起结构，所述凸起结构与所述容器本体外侧壁以及所述滑动轨道紧密贴合。

在本实用新型的一些实施方式中，所述容器本体为圆柱形杯体，所述滑动轨道包括平行相对设置的两条轨道，所述挡片的两侧边分别插入两条所述轨道中。

在本实用新型的另一些实施方式中，所述滑动轨道包括平行设置的两条轨道，所述滑动轨道设置于所述滤网的左右两侧边缘，所述滑动轨道内嵌设置于所述容器本体的侧壁中，所述滑动轨道朝向所述容器本体的外侧。

进一步优选地，所述挡片的左右侧边分别设有与所述滑动轨道配合的卡条，所述卡条插入所述滑动轨道中。

优选地，所述挡片的上边缘为水平边缘。

优选地，所述体积刻度尺临近所述滤网的侧边设置。

优选地，所述容器本体的上端设有滤水结构。

进一步优选地，所述滤水结构包括滤水板，所述容器本体的侧壁开设至少两个插孔，所述插孔包括插孔一和插孔二，所述插孔一的长度不小于所述滤水板的宽度，所述滤水板自所述插孔一插入所述容器本体，所述滤水板在对应所述插孔一的位置设有挡条，所述滤水板在对应所述插孔二的位置设有固定件。

再进一步优选地，所述固定件为可弯折的固定片，所述容器本体的外侧壁对应所述固定片的位置设有卡槽，所述固定片插入所述卡槽从而将所述滤水板固定在所述容器本体上。

本实用新型的有益效果是：

针对目前固体无土栽培基质的孔隙度测定所使用的容器难以操作，导致测定结果准确度很低的问题，本实用新型提供了一种用于测量固体基质孔隙度的容器，所述容器包括容器本体，所述容器本体的侧壁设有滤网和体积刻度尺，所述滤网的外侧设有滑动挡片结构，所述滑动挡片结构包括滑动轨道和用于遮挡滤网的挡片，所述滑动轨道固定在所述容器本体的外侧壁上，所述挡片与所述滑动轨道连接，所述挡片可沿着所述滑动轨道相对于所述滤网上下移动，所述挡片靠近所述容器本体的一面上具有防漏水结构，所述防漏水结构与所述容器本体外侧壁紧密贴合，通过在容器的侧壁设置滤网和滑动挡片结构，可以方便地调节基质的用量以及容器漏水的高度，将其用于基质的孔隙度测定，可以先在容器中加入一定容积（VmL）的基质，将挡片移动位置到VmL的刻度尺的位置，即挡片挡住了VmL高度以下的滤网，称重得到M₁（g），再向容器中缓慢注水，当水浸透基质后，水从VmL高度以上的滤网漏出，带基质完全浸润后，称重得到M₂（g），则基质的总孔隙度TP（%）可通过公式TP=100（M₂-M₁）/V计算得到。实验操作非常简单，由于所述容器可以很好地控制排水，不会因为操作不当而导致过多的水或基质流失，进行重复试验，数据标准差很小，试验结果准确度非常高。

附图说明

图1为实施例1的用于测量固体基质孔隙度的容器的主视图；

图2为图1中A-A截面剖视图；

图3为实施例1的用于测量固体基质孔隙度的容器的左视图；

图4为实施例1中滤水板的俯视图；

图5为实施例1中滤水板的主视图；

图6为实施例2的用于测量固体基质孔隙度的容器的主视图；

图7为图6中B-B截面剖视图。

具体实施方式

以下将结合实施例和附图对本实用新型的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本实用新型的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本实用新型的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本实用新型的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本实用新型保护的范围。另外，专利中涉及到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本实用新型创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。

实施例 1 ：

参照图1，图1为快速测量基质孔隙度的容器的主视图，本实用新型提供了一种快速测量基质孔隙度的容器，所述容器包括容器本体1，所述容器本体1的侧壁设有滤网2和体积刻度尺3，所述滤网2的孔径≤2000μm，所述滤网2的外侧设有滑动挡片结构，所述滑动挡片结构包括滑动轨道4和用于遮挡滤网2的挡片5，所述滑动轨道4固定在所述容器本体1的外侧壁上，所述挡片5与所述滑动轨道4连接，所述挡片5可沿着所述滑动轨道4相对于所述滤网2上下移动，所述挡片5具有防漏水结构6，在优选的实施例中，所述防漏水结构6设于所述挡片5靠近所述容器本体1的一面上，所述防漏水结构6与所述容器本体1外侧壁紧密贴合。

参照图2，图2为图1中A-A截面剖视图，本实施例中，所述容器本体1为圆柱形杯体，所述滑动轨道4包括平行相对设置的两条轨道，所述挡片5的两侧边分别插入两条所述滑动轨道4中，在优选的实施例中，所述滑动轨道4为平行于所述容器本体1的轴向设置的两条轨道，所述滑动轨道4朝向所述容器本体1的圆周的切向方向设置。所述防漏水结构6为凸起结构，所述凸起结构与所述容器本体1外侧壁以及所述滑动轨道4紧密贴合，能够有效阻挡水自被所述挡片5遮挡的所述滤网2部分漏出。所述滑动轨道4和所述挡片5的连接处是不漏水的。在优选的实施例中，所述挡片5的上边缘为水平边缘，所述滤网2的下边缘为水平边缘，可以更好地控制出水高度。当所述水平边缘可以设于所述容器本体1的1/2容积位置时，所述挡片5的高度可以为所述容器本体1的1/2有效高度，通常情况下，用于测量的基质体积越大，其误差越小。通过在所述容器本体1的侧壁设置滤网2和滑动挡片结构，可以方便地调节容器漏水的高度，将其用于基质的孔隙度测定，可以先在容器中加入一定容积（VmL）的基质，将挡片移动固定在VmL的刻度尺的位置，即挡片挡住了VmL高度以下的滤网，称重得到M₁（g），再向容器中缓慢注水，当水浸透基质后，水从VmL高度以上的滤网漏出，带基质完全浸润后，称重得到M₂（g），则基质的总孔隙度TP（%）可通过公式TP=100（M₂-M₁）/V计算得到。实验操作非常简单，由于所述容器可以很好地控制排水，不会因为操作不当而导致过多的水或基质流失，进行重复试验，数据标准差很小，试验结果准确度非常高。

所述容器本体1的上端设有滤水结构。参照图1、3、4、5，图3为实施例1的快速测量基质孔隙度的容器的左视图，图4为实施例1中滤水板的俯视图，图5为实施例1中滤水板的主视图。在本实施例中，所述滤水结构包括滤水板9，所述容器本体的侧壁开设至少两个插孔，所述插孔包括插孔一7和插孔二8，所述插孔一7的长度不小于所述滤水板9的宽度，所述滤水板9自所述插孔一7插入所述容器本体1，所述滤水板9在对应所述插孔一7的位置设有挡条10，所述档条10的长度大于所述插孔一7的长度，所述档条10的宽度大于所述插孔一7的宽度，所述档条10可以防止所述滤水板9向所述插孔二8的方向移动，而且可以防止基质和水从所述插孔一7漏出。所述滤水板9在对应所述插孔二8的位置设有固定件。所述固定件为可弯折的固定片11，所述容器本体1的外侧壁对应所述固定片11的位置设有卡槽12，所述固定片11插入所述卡槽12从而将所述滤水板9固定在所述容器本体1上。

将所述滤水板9插入所述容器本体1，并将所述固定片11插入所述卡槽12，将装有含水的基质的容器倒置，将基质间隙的水通过所述滤水板9排出，然后沉重，得到基质饱和吸水的质量M₃（g），则基质的通气孔隙度（%）AFP可通过公式AFP=100（M₃-M₁）/V计算得到，过滤过程非常简单，无须转移基质，可以有效防止因基质转移而带来的误差，而持水孔隙度WFP（%）也可通过公式WFP=TP-AFP计算得到。

实施例 2 ：

本实施例与实施例1所述用于测量固体基质孔隙度的容器基本相同，不同之处在于：参照图6，图6为实施例2的用于测量固体基质孔隙度的容器的主视图，所述滑动轨道4包括平行设置的两条轨道，所述滑动轨道4设置于所述滤网2的左右两侧边缘，所述滑动轨道4内嵌设置于所述容器本体1的侧壁中，所述滑动轨道4朝向所述容器本体1的外侧。所述刻度尺3临近所述滤网2的侧边设置。

参照图7，图7为图6中B-B截面剖视图，所述挡片的左右侧边分别设有与所述滑动轨道4配合的卡条13，所述卡条13插入所述滑动轨道4内，所述卡条13可沿所述滑动轨道4上下移动。所述挡片5的下端设有防漏水结构6，在本实施例中，所述防漏水结构6为阻水条14，所述阻水条14与所述容器本体1的外侧壁紧密贴合。所述阻水条14厚度大于所述挡片5的厚度，方便抓拿，便于调节所述挡片5的高度。

Claims (10)

1.一种用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述容器包括容器本体，所述容器本体的侧壁设有滤网和体积刻度尺，所述滤网的外侧设有滑动挡片结构，所述滑动挡片结构包括滑动轨道和用于遮挡滤网的挡片，所述滑动轨道固定在所述容器本体的外侧壁上，所述挡片与所述滑动轨道连接，所述挡片可沿着所述滑动轨道相对于所述滤网上下移动，所述挡片具有防漏水结构，所述防漏水结构与所述容器本体外侧壁以及所述滑动轨道紧密贴合。

2.根据权利要求1所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述防漏水结构为凸起结构，所述凸起结构与所述容器本体外侧壁以及所述滑动轨道紧密贴合。

3.根据权利要求1所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述容器本体为圆柱形杯体，所述滑动轨道包括平行相对设置的两条轨道，所述挡片的两侧边分别插入两条所述轨道中。

4.根据权利要求1所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述滑动轨道包括平行设置的两条轨道，所述滑动轨道设置于所述滤网的左右两侧边缘，所述滑动轨道内嵌设置于所述容器本体的侧壁中，所述滑动轨道朝向所述容器本体的外侧。

5.根据权利要求4所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述挡片的左右侧边分别设有与所述滑动轨道配合的卡条，所述卡条插入所述滑动轨道中。

6.根据权利要求1所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述挡片的上边缘为水平边缘。

7.根据权利要求1所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述体积刻度尺临近所述滤网的侧边设置。

8.根据权利要求1或2所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述容器本体的上端设有滤水结构。

9.根据权利要求8所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述滤水结构包括滤水板，所述容器本体的侧壁开设至少两个插孔，所述插孔包括插孔一和插孔二，所述插孔一的长度不小于所述滤水板的宽度，所述滤水板自所述插孔一插入所述容器本体，所述滤水板在对应所述插孔一的位置设有挡条，所述滤水板在对应所述插孔二的位置设有固定件。

10.根据权利要求9所述的用于测量固体基质孔隙度的容器，其特征在于，所述固定件为可弯折的固定片，所述容器本体的外侧壁对应所述固定片的位置设有卡槽，所述固定片插入所述卡槽从而将所述滤水板固定在所述容器本体上。