CN205490607U - 一种高速误码测试仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供一种高速误码测试仪，包括时钟信号单元、LCD单元、微控制单元、电源单元、码型信号输出与检测单元、信号优化单元和待检测光单元，时钟信号单元分别电连接微控制单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，LCD单元连接微控制单元，微控制单元分别电连接时钟信号单元、LCD单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，电源单元分别连接码型信号输出与检测单元和信号优化单元，码型信号输出与检测单元分别电连接信号优化单元和待检测光单元，本实用新型设计合理，可靠性高，操作简单，价格较低，能够满足基本的误码测试需求，准确率高，有很好的应用前景。
Description
技术领域
本实用新型涉及，具体涉及一种高速误码测试仪。
背景技术
在高速通信系统中，误码测试仪作为检验数据传输质量的工具有着重要作用。随着10Gbps、40Gbps光模块与AOC的发展，市场上对价格适中，操作简单的误码仪的需求不断增长。虽然目前国内外对高速率误码仪的研究都有了一定的突破，但市场上多为国外产品，其价格高昂，操作复杂，维护困难。至于国内的误码仪产品相对较少，而且已推向市场的产品大都在测试速率、人机交互以及其它各项性能指标都未能达到国际水平。
实用新型内容
本实用新型的目的是为解决上述不足，提供一种高速误码测试仪。
本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的：
一种高速误码测试仪，包括时钟信号单元、LCD单元、微控制单元、电源单元、码型信号输出与检测单元、信号优化单元和待检测光单元，时钟信号单元分别电连接微控制单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，LCD单元连接微控制单元，微控制单元分别电连接时钟信号单元、LCD单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，电源单元分别连接码型信号输出与检测单元和信号优化单元，码型信号输出与检测单元分别电连接信号优化单元和待检测光单元。
微控制单元采用STM32F103RBT6单片机芯片。
电源单元包括220V市电、5V适配器、5V电源、第一LDO电源芯片、DC/DC电源芯片、3.3V电源、第二LDO电源芯片、第三LDO电源芯片、1.8V电源和1.2V电源，220V市电经过5V适配器转化为5V电源，5V电源经过第一LDO电源芯片转化为3.3V电源，5V电源经过DC/DC电源芯片转化为2.5V电源，2.5V电源分别经过第二LDO电源芯片和第三LDO电源芯片转化为1.8V电源和1.2V电源。
码型信号输出与检测单元采用VSC8248芯片。
本实用新型具有如下有益的效果：
本实用新型设计合理，可靠性高，操作简单，价格较低，能够满足基本的误码测试需求，准确率高，有很好的应用前景。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构示意图；
图2为本实用新型的电源单元结构图；
图3为本实用新型的5V转3.3V电路；
图4为本实用新型的时钟信号单元电路；
图5为本实用新型的信号优化单元电路；
图6为本实用新型的LCD单元电路。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明：
如图1所示，一种高速误码测试仪，包括时钟信号单元1、LCD单元2、微控制单元3、电源单元4、码型信号输出与检测单元5、信号优化单元6和待检测光单元7，时钟信号单元1分别电连接微控制单元3、电源单元4和码型信号输出与检测单元5，LCD单元2连接微控制单元3，微控制单元3分别电连接时钟信号单元1、LCD单元2、电源单元4和码型信号输出与检测单元5，电源单元4分别连接码型信号输出与检测单元5和信号优化单元6，码型信号输出与检测单元5分别电连接信号优化单元6和待检测光单元7，微控制单元3采用STM32F103RBT6单片机芯片。
电源单元包括220V市电8、5V适配器9、5V电源10、第一LDO电源芯片11、DC/DC电源芯片12、3.3V电源13、第二LDO电源芯片14、第三LDO电源芯片15、1.8V电源16和1.2V电源17，220V市电8经过5V适配器9转化为5V电源10，5V电源10经过第一LDO电源芯片11转化为3.3V电源13，5V电源10经过DC/DC电源芯片12转化为2.5V电源，2.5V电源分别经过第二LDO电源芯片14和第三LDO电源芯片15转化为1.8V电源16和1.2V电源17。
码型信号输出与检测单元采用VSC8248芯片。
整个系统共需要有5V、3.3V、1.8V和1.2V这4种电压，系统采用5V适配器(220V市电转5VDC开关电源)进行输人，一路接LDO稳压至3.3V；另一路通过DC/DC将5V转为2.5V，再接2个LDO分别稳压至1.8V和1.2V。5V转3.3V芯片输出端通过68μF的钽电容进行滤波，然后输出3路的3.3V电压对系统其它模块供电。
时钟信号电路主要由Si570时钟芯片与CDCP1803RGET时钟分配芯片组成。STM32通过I2C接口控制Si570芯片输出相应频率的时钟信号，信号通过分配芯片CDCP1803RGET后输出相问频率的两路差分信号。一路REFCLK±作为VSC8248的参考时钟源的输人，另一路作为同步时钟接至SMA接口输出。
码型信号输出与检测单元和信号优化单元电路主芯片GN2010E由3.3V电源供电，并联的去耦电容起到减少电源噪声的作用。工作时只用到TX端，码型信号通过差分线TXSDIP/N端进人，串联的电容能隔断直流。此时STM32通过SDA及SCL控制调整参数，实现对信号的CDR功能，然后经过优化的信号从输出端TXSDOP/N传输至外围SMA头输出。
工作原理：系统中的触控LCD收到用户对误码测试仪参数设置的信息，包括设定系统的4个通道的工作速率与输出伪随机码型等。设定完毕后STM32读取参数并通过I2C通信接口写人时钟芯片Si570使其输出相应时钟信号到VSC8248，然后STM32再控制VSC8248使其输出相应速率的伪随机码信号。该高速电信号通过信号优化电路，传输至被测模块环回传输后，送回VSC8248的接收通道进行检测，然后由其记录误码数。STM32读取误码数后计算出误码率，最终让其显7K在LCD上。
Claims (4)
1.一种高速误码测试仪，包括时钟信号单元、LCD单元、微控制单元、电源单元、码型信号输出与检测单元、信号优化单元和待检测光单元，其特征在于：时钟信号单元分别电连接微控制单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，LCD单元连接微控制单元，微控制单元分别电连接时钟信号单元、LCD单元、电源单元和码型信号输出与检测单元，电源单元分别连接码型信号输出与检测单元和信号优化单元，码型信号输出与检测单元分别电连接信号优化单元和待检测光单元。
2.根据权利要求1所述的一种高速误码测试仪，其特征在于：所述的微控制单元采用STM32F103RBT6单片机芯片。
3.根据权利要求1所述的一种高速误码测试仪，其特征在于：所述的电源单元包括220V市电、5V适配器、5V电源、第一LDO电源芯片、DC/DC电源芯片、3.3V电源、第二LDO电源芯片、第三LDO电源芯片、1.8V电源和1.2V电源，220V市电经过5V适配器转化为5V电源，5V电源经过第一LDO电源芯片转化为3.3V电源，5V电源经过DC/DC电源芯片转化为2.5V电源，2.5V电源分别经过第二LDO电源芯片和第三LDO电源芯片转化为1.8V电源和1.2V电源。
4.根据权利要求1所述的一种高速误码测试仪，其特征在于：所述的码型信号输出与检测单元采用VSC8248芯片。
Priority Applications (1)
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| CN201620051379.3U CN205490607U (zh) | 2016-01-12 | 2016-01-12 | 一种高速误码测试仪 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201620051379.3U CN205490607U (zh) | 2016-01-12 | 2016-01-12 | 一种高速误码测试仪 |
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| CN205490607U true CN205490607U (zh) | 2016-08-17 |
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|---|---|
| CN (1) | CN205490607U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114614890A (zh) * | 2022-03-11 | 2022-06-10 | 上海大学 | 一种误码测试仪及误码测试系统 |
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2016
- 2016-01-12 CN CN201620051379.3U patent/CN205490607U/zh not_active Expired - Fee Related
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