CN205426818U - 一种基于dsp的锂电池电极表面缺陷检测系统 - Google Patents
一种基于dsp的锂电池电极表面缺陷检测系统 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型涉及一种基于DSP的锂电池电极表面缺陷检测系统,属于电子设备领域。本实用新型包括光源、图像采集模块、DSP图像处理模块、存储模块、显示器,光源直接照射在被测锂电池表面,图像采集模块、DSP图像处理模块、显示器按照顺序连接起来,存储模块与DSP图像处理模块相连。本实用新型采用两只条形阵列灯从两边散射照明,锂电池电极材料的表面细节更容易被相机捕捉到,使得图像的采集更为精准;本实用新型采用线阵CCD摄像机,图像采集的速度更快,而且由于采用了型号为TCD1 501 D的线阵CCD摄像机,并采用Apo-Rodagon D 4.0/75 2x型号镜头,使得检测精度可以达到80μm×80μm,锂电池电极材料的移动速度也可以达到1m/s。
Description
技术领域
本实用新型属于电子设备领域,尤其涉及一种基于DSP的锂电池电极表面缺陷检测系统。
背景技术
锂电池具有的容量大、工作电压高、循环寿命长且没有记忆效应等诸多优点,因而已广泛应用于军事和民用等各种小型电器中,如移动电话、笔记本电脑、摄像机、照相机等。同时,大容量锂电池己在电动车辆中使用,将成为未来的便携应用中主要动力电源之一,并将在人造卫星、航空航天和储能方面得到应用。
缺陷在生产中是不可避免的,对于缺陷的检测方法,最简单的就是人工方法,设置专门人员通过视觉对产品进行检测。这种方法虽然简单,但是缺点也是非常明显的,浪费人力不说,在长时间连续工作的条件下,极容易漏检或出现错误;后来随着技术的进步,出现了由面阵CCD摄像机、图像采集卡、PC机组成的缺陷检测系统,但由于信息处理全部由PC机完成,系统不够灵活,而且检测速度和最小辨识度也有待提高。
实用新型内容
本实用新型旨在解决上述难题,提出一种基于DSP的锂电池电极表面缺陷检测系统。
本实用新型包括光源、图像采集模块、DSP图像处理模块、存储模块、显示器,光源直接照射在被测锂电池表面,图像采集模块、DSP图像处理模块、显示器按照顺序连接起来,存储模块与DSP图像处理模块相连;光源由两只条形LED阵列灯组成,两只条形LED阵列灯从两个侧面分别呈45°角照射被测锂电池,采用散射照明的方式使被测锂电池得到均匀的光照。
图像采集模块采用型号为TCD1501D的线阵CCD摄像机,并采用Apo-RodagonD4.0/752x型号镜头。
DSP图像处理模块采用了TMS320DM648作为核心处理器。
有益效果:
1、由于采用两只条形阵列灯从两边散射照明,锂电池电极材料的表面细节更容易被相机捕捉到,使得图像的采集更为精准。
2、由于采用线阵CCD摄像机,图像采集的速度更快,而且由于采用了型号为TCD1501D的线阵CCD摄像机,并采用Apo-RodagonD4.0/752x型号镜头,使得检测精度可以达到80μm×80μm,锂电池电极材料的移动速度也可以达到1m/s。
3、采用了DSP图像处理模块作为核心处理器使得整个系统的可移植性大大提高,方便扩展。
附图说明
图1为系统整体结构图。
图2为图像采集示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型进行进一步说明。
如图1所示:本实用新型包括光源1、图像采集模块2、DSP图像处理模块3、存储模块4、显示器5,光源1直接照射在被测锂电池表面,图像采集模块2、DSP图像处理模块3、显示器5按照顺序连接起来,存储模块4与DSP图像处理模块3相连。
本实用新型选择LED灯作为光源,LED灯有消耗功率低、功率因数高、光源启动稳定时间短、灯光输出对电源波动不敏感、光源寿命长、光源方向性好、视觉清晰度高、光源尺寸小、耐振动性好和表面温度低等优点;考虑到整个系统的机械位置以及电池电极材料的范围形状等原因,如图2所示:光源采用了两只条形LED阵列灯,两只条形LED阵列灯从两个侧面分别呈45°角照射被测锂电池,采用散射照明的方式使被测锂电池得到均匀的光照。
图像采集模块2采用型号为TCD1501D的线阵CCD摄像机201,并采用Apo-RodagonD4.0/752x型号镜头。一般来说面阵CCD的总象元数要多于线阵CCD,但是在同样的空间大小的限制条件下,线阵CCD每一行所采集到的像素要多很多,这就保证了线阵CCD在与面阵CCD采集同样幅宽的画面时,分辨率要高很多,或者也可以说成在达到相同的分辨率情况下,线阵CCD可以采集到更宽的画面。除此之外,由于面阵CCD是每次采集一个二维面像素阵列,而线阵CCD采集的则是一维像素阵列,所以在采集之后的传输过程中,线阵CCD速度要快于面阵CCD。面阵CCD的优势在于可以直接获得二维像素阵列,便于观察。但是面阵CCD并不适合本实用新型的实际情况。线阵CCD虽然也存在缺点,比如说线阵CCD由于采集到的总像素数要多于面阵CCD,会使得其图像处理算法更为复杂。而且线阵CCD在采集图像时,会因为被测物的相对纵向运动,而产生影响。对线阵CCD的缺点,在从图像采集到图像缺陷处理当中的这个过程,采用高采集频率来降低电极涂布纵向运动对图像质量的影响。具体做法是:
1)采集到第一行图像的时候,把它直接存储起来,等待调用;
2)在同样一行上再采集一次,把此行与上一次采集到的行帧作比较,两行相同的部分即认为是稳定存在的,不同的部分认为是噪声产生的点,加以剔除,从而得到稳定帧;
3)把稳定帧作为待处理图像存储,等待处理。
通过以上的办法,可以减少线阵CCD的缺点在应用中的实际影响。
本实用新型选择LinosApo-RodagonD系列中的Apo-RodagonD4.0/752x型号镜头,它是特意为线扫描应用和大幅面传感器而设计的定焦75mm工业镜头,能够适应的最小像元尺寸为5μm。它在近红外波长范围内提供高达98%的相应,特别适合如电池电极材料、视频检测、医疗药品检测等应用。
DSP图像处理模块3采用了TMS320DM648作为核心处理器。TMS320DM648是整个系统的核心部分,此芯片是TI公司于2007年左右推出,2012年修正的一款64位定点DSP芯片,主要面向图像处理,属于C6000系列DSP芯片。DM648在保留了C64x原有的内核结构与大部分外设的基础上额外增加了3个双通道数字视频端口,可同时处理多路数字视频流。TMS320DM648芯片内除CPU外,同时还含有存储器和外部设备。在诸多数字信号处理器中,DM648芯片有着自己独特的优势。其最高核心时钟可达到1.1GHz,是TI公司专门为视频处理开发设计的专用芯片,可以满足绝大部分情况下的视频处理任务需要。在满足速度的同时,从实际生产情况出发,生产成本显然是一个重要的制约因素。DM648在同样的高速DSP芯片中,性价比是最高的,所以本实用新型选择了TMS320DM648作为新设计的系统的核心处理芯片。
存储模块4的作用在于储存图像采集模块采集到的图像。存储模块选择MT47H128M16RT-25EAIT芯片。此芯片具有14条地址线[A0~A13]、3条片选线[BA0~BA2]、16位数据总线,此芯片可以提供2G的存储空间,存储速度可以达到800MHz,由1.8V电压驱动。
综合以上技术方案,整个系统的工作流程可以这样描述:图像采集模块2采集到在合适光源1下的图像,然后通过数据线将图像传送至DSP图像处理模块3,再由DSP图像处理模块3为其分配存储位置,图像会存储到存储模块4当中,等待DSP图像处理模块3的处理指令。当前端采集到的图像达到门限值或者满足处理的条件是,DSP图像处理模块3会开始发出处理指令,把存储模块4中的图像提取出来进行处理,最终的处理结果和数据会存入到DSP图像处理模块3的闪存中当中备份,同时处理的图像结果也会在显示器5上显示出来。
以上所述,仅是本实用新型的较佳实施例而已,并非对本实用新型作任何形式的限制,本领域的技术人员利用上述揭示的技术内容做出些许简单修改、等同变化或修饰,均落在本实用新型的保护范围内。
Claims (3)
1.一种基于DSP的锂电池电极表面缺陷检测系统,包括光源、图像采集模块、DSP图像处理模块、存储模块、显示器,其特征在于:所述光源直接照射在被测锂电池表面,所述图像采集模块、所述DSP图像处理模块、所述显示器按照顺序连接起来,所述存储模块与DSP图像处理模块相连;所述光源由两只条形LED阵列灯组成,两只条形LED阵列灯从两个侧面分别呈45°角照射被测锂电池,采用散射照明的方式使被测锂电池得到均匀的光照。
2.根据权利要求1所述的一种基于DSP的锂电池电极表面缺陷检测系统,其特征在于:所述图像采集模块采用型号为TCD1501D的线阵CCD摄像机,并采用Apo-RodagonD4.0/752x型号镜头。
3.根据权利要求1所述的一种基于DSP的锂电池电极表面缺陷检测系统,其特征在于:所述DSP图像处理模块采用了TMS320DM648作为核心处理器。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN108732507A (zh) * | 2018-05-21 | 2018-11-02 | 中国科学技术大学 | 一种基于电池温度场以及可见光图像的锂电池缺陷检测装置 |
CN109324060A (zh) * | 2018-10-11 | 2019-02-12 | 广东德尔智慧工厂科技有限公司 | 一种锂电涂布表面缺陷检测系统 |
CN112255246A (zh) * | 2020-08-31 | 2021-01-22 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 面向锂电池极板表面缺陷检测的新型光学成像系统及其方法 |
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2015
- 2015-11-24 CN CN201520941360.1U patent/CN205426818U/zh not_active Expired - Fee Related
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