CN205282474U - 一种mosfet保护电路 - Google Patents

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詹乐
曾小平
胡洋
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Abstract

本实用新型公开了一种MOSFET保护电路,包括控制器MCU、第三限流电阻R3、MOSFET驱动器U1、第四驱动限流电阻R4、MOSFET管Q1、第六电流取样电阻R6,设置在第六电流取样电阻R6两端的差分放大电路、电连接差分放大电路的RC延时电路和施密特触发器二U4,施密特触发器二U4经第一二极管D1接入到第三限流电阻R3与MOSFET驱动器U1的电连接点上,通过RC延时电路,可以在MOSFET管Q1过流的情况下,让MOSFET管Q1以固定频率进行工作,不会因快速反复开关而损坏;另外,MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接诊断反馈电路,以读取负载低边状态,实现故障诊断功能。

Description

一种MOSFET保护电路
技术领域
本实用新型涉及一种MOSFET保护电路,尤其涉及一种具备过流保护的MOSFET保护电路,特别涉及大功率半导体开关器件作为低边开关使用时,具备过流保护及负载状态诊断的MOSFET保护电路。
背景技术
近年来,随着电子电力及电子技术的迅猛发展,作为关键技术的大功率半导体器件在技术和应用上有了新的突破,开关速度越来越快,耐压等级越来越高,载流能力越来越大,应用范围也越来越广。目前,公知的在控制器不能实时处理MOSFET采集过流信号或实时采集电流模拟信号的情况下,MOSFET低边开关保护电路一般由MOSFET驱动器、电流采样电路、比较器电路组成,当通过MOSFET管的电流流过取样电阻时,在取样电阻两端产生电压差,将此电压差与比较器设置的参考电压比较,若取样电阻上产生的电压差大于设置的参考电压,比较器输出发生翻转,关闭MOSFET管以达到过流保护的目的。由于MOSFET关闭后,取样电阻上的电流瞬间变为“0”,比较器很快就会翻转重新打开MOSFET,造成反复地、快速地开关MOSFET,开关过程中,MOSFET开关损耗较大,MOSFET内部产生的大量热量,使MOSFET管损坏,达不到过流保护的目的。
发明内容
为解决上述公知的MOSFET保护电路由于比较器输出翻转速度较快,使MOSFET管损坏,达不到过流保护的目的问题,本实用新型提供一种MOSFET保护电路。
本实用新型的一种MOSFET保护电路,其特征在于:包括控制器MCU、第三限流电阻R3、MOSFET驱动器U1、第四驱动限流电阻R4、MOSFET管Q1、第六电流取样电阻R6,所述的控制器MCU经第三限流电阻R3电连接到MOSFET驱动器U1的输入端,MOSFET驱动器U1输出端经第四驱动限流电阻R4与MOSFET管Q1的栅极(G极)相连,所述的MOSFET管Q1的源极(S极)经第六电流取样电阻R6后接地,所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接外部负载;
设置在第六电流取样电阻R6两端,把从第六电流取样电阻R6两端取样的代表电流大小的压差信号放大的差分放大电路;
电连接所述的差分放大电路的RC延时电路;以及,设置在所述的RC延时电路输出端的施密特触发器二U4,所述的施密特触发器二U4的输出端与第一二极管D1的负极相连;第一二极管D1的正极接入到第三限流电阻R3与MOSFET驱动器U1的输入端的电连接点上。
进一步,所述的差分放大电路包括运算放大器U3、第五输入电阻R5、第八输入电阻R8、第九分压电阻R9和第十反馈电阻R10,所述的运算放大器U3的负输入端经第八输入电阻R8电连接第六电流取样电阻R6的接地端,所述的运算放大器U3的正输入端经第五输入电阻R5电连接在第六电流取样电阻R6的另一端,第十反馈电阻R10电连接运算放大器U3的输出端和负输入端,所述的第五输入电阻R5经第九分压电阻R9后接地。
进一步,所述的RC延时电路包括第七限流电阻R7和第一电容C1,所述的第七限流电阻R7的一端电连接差分放大电路的运算放大器U3的输出端,所述的第七限流电阻R7的另一端电连接所述的施密特触发器二U4的输入端和所述的第一电容C1。
进一步,所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接诊断反馈电路,所述的诊断反馈电路包括电连接所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)的第一限流电阻R1、与所述的第一限流电阻R1串联的第二分压电阻R2和输入端与所述的第二分压电阻R2电连接的施密特触发器一U2,所述的施密特触发器一U2输出端电连接到控制器MCU的输入口上。
本实用新型的具有如下积极效果,本实用新型的一种MOSFET保护电路,通过RC延时电路,可以在MOSFET管Q1过流的情况下,让MOSFET管Q1以固定频率进行工作,以保证MOSFET管Q1不会因快速反复开关而损坏;MOSFET管Q1的漏极(D极)经限流、分压后接入施密特触发器一U2,再电连接到控制器MCU的输入口上,以读取负载低边状态,实现故障诊断功能。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要说明。显然,所描述的附图只是本实用新型的部分实施例,而不是全部实施例,本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他设计方案和附图:
图1是本实用新型的一种MOSFET保护电路的电路原理图。
具体实施方式
图1是本实用新型的一种MOSFET保护电路的实施例的电路原理图,本实用新型的一种MOSFET保护电路,其特征在于:包括控制器MCU、第三限流电阻R3、MOSFET驱动器U1、第四驱动限流电阻R4、MOSFET管Q1、第六电流取样电阻R6,所述的控制器MCU经第三限流电阻R3电连接到MOSFET驱动器U1的输入端,MOSFET驱动器U1输出端经第四驱动限流电阻R4与MOSFET管Q1的栅极(G极)相连,所述的MOSFET管Q1的源极(S极)经第六电流取样电阻R6后接地,所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接外部负载;
设置在第六电流取样电阻R6两端,将从第六电流取样电阻R6两端取样的代表电流大小的压差信号放大的差分放大电路;
电连接所述的差分放大电路的RC延时电路;以及,设置在所述的RC延时电路输出端的施密特触发器二U4,所述的施密特触发器二U4的输出端与第一二极管D1的负极相连;第一二极管D1的正极接入到第三限流电阻R3与MOSFET驱动器U1的输入端的电连接点上。
进一步,所述的差分放大电路包括运算放大器U3、第五输入电阻R5、第八输入电阻R8、第九分压电阻R9和第十反馈电阻R10,所述的运算放大器U3的负输入端经第八输入电阻R8电连接第六电流取样电阻R6的接地端,所述的运算放大器U3的正输入端经第五输入电阻R5电连接在第六电流取样电阻R6的另一端,第十反馈电阻R10电连接运算放大器U3的输出端和负输入端,所述的第五输入电阻R5经第九分压电阻R9后接地。
进一步,所述的RC延时电路包括第七限流电阻R7和第一电容C1,所述的第七限流电阻R7的一端电连接差分放大电路的运算放大器U3的输出端,所述的第七限流电阻R7的另一端电连接所述的施密特触发器二U4的输入端和所述的第一电容C1。
进一步,所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接诊断反馈电路,所述的诊断反馈电路包括电连接所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)的第一限流电阻R1、与所述的第一限流电阻R1串联的第二分压电阻R2和输入端与所述的第二分压电阻R2电连接的施密特触发器一U2,所述的施密特触发器一U2输出端电连接到控制器MCU的输入口上。
当控制器MCU发出打开MOSFET的控制信号,即逻辑电平高,第三限流电阻R3输出同样的逻辑电平给MOSFET驱动器U1,MOSFET驱动器U1输出放大了电压和电流的驱动信号,经第四驱动限流电阻R4驱动MOSFET管Q1打开,打开MOSFET管Q1后,电流通过外部负载到MOSFET管Q1漏极;电流经过MOSFET管Q1后,从源极出来再经过串联的第六电流取样电阻R6到地,电流经过第六电流取样电阻R6时,在第六电流取样电阻R6的两端产生压差,压差大小与通过的电流成正比,差分放大电路把从第六电流取样电阻R6两端取样的代表电流大小的压差信号放大,经过RC延时电路的第七限流电阻R7给第一电容C1缓慢充电。正常工作时,第一电容C1上的电压达不到施密特触发器二U4的正跳变阀值,施密特触发器二U4输出高电平,使第一二极管D1工作在非正向导通状态,不会改变第三限流电阻R3输出的状态;当MOSFET管Q1上流过的电流到达设定的最大值,并维持了一定时间后,第一电容C1上的电压达到施密特触发器二U4的正跳变阀值,施密特触发器二U4输出低电平,第一二极管D1正向导通状态,将第三限流电阻R3的输出电平拉低,MOSFET驱动器U1输出低电平,使MOSFET管Q1关闭,实现过流关断功能。在MOSFET管Q1关断后,第六取样电阻R6上的电流变为0A,两端的电压差也变为0V,差分放大电路的输出也很快变为0V,第一电容C1通过第七限流电阻R7缓慢向运算放大器U3的输出端放电。当第一电容C1上的电压达到施密特触发器二U4的负跳变阀值时,施密特触发器二U4输出高电平,MOSFET管Q1恢复工作。通过RC延时电路,可以在MOSFET管Q1过流的情况下,让MOSFET管Q1以固定频率进行工作,以保证MOSFET管Q1不会因快速反复开关而损坏。MOSFET管Q1的开关频率可以通过第一电容C1和第七限流电阻R7进行调节。
同时,与MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接的诊断反馈电路,经第一限流电阻R1限流和第二分压电阻R2分压后接入施密特触发器一U2的输入端,将施密特触发器一U2的输出端反馈信号至控制器MCU,控制器MCU根据输出的控制信号逻辑以及施密特触发器一U2输出的反馈信号的逻辑,可以准确诊断外部负载的状态,即:
当控制器MCU输出低电平,MOSFET管Q1关闭,外部负载电路电连接正常时,控制器反馈信号为低电平。
当控制器MCU输出高电平,MOSFET管Q1打开,外部负载正常工作没有出现过流时,控制器MCU反馈信号为高电平。
当外部负载短电源时,控制器MCU不论输出高电平还是低电平,控制器反馈信号保持低电平;
当外部负载对地短路或开路时,控制器MCU不论输出高电平还是低电平,控制器反馈信号保持高电平。
外部负载状态诊断真值表:

Claims (4)

1.一种MOSFET保护电路,其特征在于:包括控制器MCU、第三限流电阻R3、MOSFET驱动器U1、第四驱动限流电阻R4、MOSFET管Q1、第六电流取样电阻R6,所述的控制器MCU经第三限流电阻R3电连接到MOSFET驱动器U1的输入端,MOSFET驱动器U1输出端经第四驱动限流电阻R4与MOSFET管Q1的栅极(G极)相连,所述的MOSFET管Q1的源极(S极)经第六电流取样电阻R6后接地,所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接外部负载;
设置在第六电流取样电阻R6两端,把从第六电流取样电阻R6两端取样的代表电流大小的压差信号放大的差分放大电路;
电连接所述的差分放大电路的RC延时电路;以及,
设置在所述的RC延时电路输出端的施密特触发器二U4,所述的施密特触发器二U4的输出端与第一二极管D1的负极相连;第一二极管D1的正极接入到第三限流电阻R3与MOSFET驱动器U1的输入端的电连接点上。
2.根据权利要求1所述的一种MOSFET保护电路,其特征在于:所述的差分放大电路包括运算放大器U3、第五输入电阻R5、第八输入电阻R8、第九分压电阻R9和第十反馈电阻R10,所述的运算放大器U3的负输入端经第八输入电阻R8电连接第六电流取样电阻R6的接地端,所述的运算放大器U3的正输入端经第五输入电阻R5电连接在第六电流取样电阻R6的另一端,第十反馈电阻R10电连接运算放大器U3的输出端和负输入端,所述的第五输入电阻R5经第九分压电阻R9后接地。
3.根据权利要求1所述的一种MOSFET保护电路,其特征在于:所述的RC延时电路包括第七限流电阻R7和第一电容C1,所述的第七限流电阻R7的一端电连接差分放大电路的运算放大器U3的输出端,所述的第七限流电阻R7的另一端电连接所述的施密特触发器二U4的输入端和所述的第一电容C1。
4.根据权利要求1、2或3所述的一种MOSFET保护电路,其特征在于:所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)电连接诊断反馈电路,所述的诊断反馈电路包括电连接所述的MOSFET管Q1的漏极(D极)的第一限流电阻R1、与所述的第一限流电阻R1串联的第二分压电阻R2和输入端与所述的第二分压电阻R2电连接的施密特触发器一U2,所述的施密特触发器一U2输出端电连接到控制器MCU的输入口上。
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